№ п/п;Организация;Наименование оборудования;Назначение 1;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Прецизионный многофункциональный анализатор удельной поверхности AUTOSORB iQ (Quantachrome Instruments);Предназначен для анализа удельной поверхности, пористости и хемосорбции с двумя портами анализа. Каждый порт анализа может быть оборудован для анализа микропор при низких парциальных давлениях. Один порт можно использовать для хемосорбционных анализов с высокотемпературной печью (до 1100 °С) с принудительным охлаждением. 2;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 (Shimadzu);Прецизионное определение параметров решётки, определение остаточного аустенита, расчёт степени кристалличности, определение размеров кристаллитов, анализ напряжений, анализ текстур,программное обеспечение Rietveld. Качественный и количественный анализ с использованием баз данных PDF-2. 3;ФГБУН Институт органического синтеза им. И.Я. Постовского Уральского отделения Российской академии наук;Спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian) с криогенной системой Fast Track Optistat DN;Предназначен для записи спектров флуоресценции, фосфоресценции, хемо- и биолюминесценции органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах. В режиме фосфоресценции сбор данных проводится каждую микросекунду. Чувствительность Сагу Eclipse позволяет определять пикомольные концентрации в пробах малого (0.5 мл в стандартной кювете) объема. Геометрия горизонтального пучка обеспечивает максимальную эффективность светоотдачи освещенной части пробы, а применение оптики Шварцшильда - максимальную эффективность использования источника света. Малые размеры (60 х 62.5 х 27.5 см) облегчают установку и работу прибора в лабораторных условиях, а большое кюветное отделение (19.8 х 27.3 х 20.5) позволяет без проблем устанавливать в прибор различные приставки и нестандартные образцы. Сагу Eclipse создан с применением полностью отражающей оптики с кварцевым покрытием. Как и во всех спектрофотометрах серии Сагу, оптические компоненты смонтированы на трехмерной стальной базе для повышенной стабильности при проведении измерений. 4;ООО Промэнерголаб;Спектроскопический рефлектометр Elli-RS (Ellipso Technology);Предназначен для измерения в режиме реального времени толщин тонких пленок и оптических констант (n и k) с очень небольшим размером пятна, что используется для определения характеристик различных материалов (например, диэлектриков, полупроводников, органики и т.д.). Это может быть весьма полезно для определения характеристик образца больших размеров с нанесенной локальной моделью. 5;ООО Промэнерголаб;Спектральный эллипсометр Elli-SE (Ellipso Technology);Предназначен для измерения толщины тонких пленок и оптических показателей (n и k). Спектроэллипсометр используется для определения характеристик всех типов материалов: диэлектриков, полупроводников, органики и многих других. Является отраслевым стандартом для исследования сложных многослойных структур, используется всей полупроводниковой промышленностью и производителями топ-дисплеев. Это мощная и надежная оптическая технология позволяет получать информацию об амплитудных и фазовых изменениях в широком спектральном диапазоне. Эллипсометрические измерения позволяют определять оптические показатели многих сложных пленок, в том числе OLED пленок, антибликовых покрытий, солнечных ячеек и пленок с низкими и высокими значениями оптических констант и т.д. Особенности 6;ООО Промэнерголаб;Рамановский спектрометр высокого разрешения i-Raman Pro (B&W Tek);Обеспечивает улучшенное отношение сигнал/шум в течение 30 минутного времени интегрирования, что позволяет проводить измерение слабых рамановских сигналов. Может выполнять анализ, используя встроенное программное обеспечение BWSpec, или при подключении к ПК. Комбинации широкого спектрального диапазона и высокого разрешения с настройкой измерения в диапазоне от 65 см-1 до 4200 см-1, и позволяет измерять линии, растянутые до 3100 см-1. Компактный дизайн, объединенный с планшетным компьютером с технологией touch screen, позволяют проводить исследования в любом месте. 7;ФГБУН Институт спектроскопии Российской академии наук;Спектрометр кругового дихроизма (дихрометр) СКД-2МУФ (ОЭП ИСАН);Предназначен для регистрации спектров кругового дихроизма и определение в жидкости концентрации биологически активных веществ и наночастиц. Рабочий диапазон 190 - 800 нм, минимально обнаружимый круговой дихроизм – 10-6 (?А/А), пределы биосенсорного определения биологически активных соединений 10-7 ? 10-14 М/л. 8;ФГБУН Институт химической кинетики и горения им. В.В. Воеводского Сибирское отделение Российской академии наук;Прибор для измерения удельной поверхности SORBI-M (МЕТА);Предназначен для измерения текстурных характеристик дисперсных и пористых материалов методом низкотемпературной адсорбции инертных газов. Прибор имеет возможность измерения высокопылящих нанопорошков с размером частиц от 10 нм. Специализированное программное обеспечение позволяет представить процесс измерения в реальном масштабе времени в графическом виде. Прибор имеет один универсальный порт для подготовки и анализа образца. 9;АО Найтек Инструментс;ИСП-спектрометр высокого разрешения Ultima Expert (Horiba);Предназначен для решении наиболее сложных задач, недоступных для обычных ИСП-систем. Оптическая система с высокой светосилой, запатентованная система плазменного блока и горелка, оптимизированная для распыления растворов с высокой засоленностью, детектор с увеличенным динамическим диапазоном (HDD) – все эти особенности обеспечивают максимально возможные аналитические характеристики спектрального анализа. Как результат, по своим параметрам Ultima Expert превосходит любой из представленных на рынке аналогов. 10;ФГБУН Институт механики Уральского отделения Российской академии наук;Рамановский спектрометр HR 800 (Horiba Jobin Yvon);"Идентификация твёрдых веществ (включая минералы), жидкостей, газов; Фазовая диагностика включений в минералах (твёрдые, газовые, жидкие, газово-жидкие включения); Оценка степени кристалличности вещества, структурного состояния; Исследование изоморфизма и полиморфизма. Спектрометр оборудован встроенным стандартным He-Ne лазером (Pmax = 20 мВт, l = 632.8 нм, красный цвет). Уникальный ахроматический спектрограф Черни-Тернера с фокальным расстоянием F=800 мм позволяет работать при соблюдении высочайшего оптического разрешения 0.3 см-1. Спектрометр укомплектован двумя стандартными решётками 600 ш/мм и 1800 ш/мм. Спектрограф спектрометра LabRam HR 800 позволяет сканировать диапазон 450-950 нм для решётки 1800 ш/мм и 450-2850 нм для решётки 600 ш/мм. Спектральное разрешение прибора зависит от решётки и диапазона регистрации спектра, который, в свою очередь, простирается от длины волны возбуждающего лазерного излучения в длинноволновую область." 11;АО Сибирский научно-исследовательский институт геологии, геофизики и минерального сырья;Портативный XRF анализатор металлов DELTA Element (Olympus Innov-X);Предназначен для быстрого и высокоточного анализа металлов (от титана Ti и выше), а также драгоценных металлов (Au, Ag, Pt, Pd, Rh, Ir). Имеет широкие возможности и прочный дизайн, присущий приборам серии DELTA. Быстрая окупаемость анализатора для металлов Delta Element обеспечивается благодаря высокой скорости анализа и идентификации марки сплава. 12;Казанский государственный архитектурно-строительный университет;Кондуктометр-солемер портативный АНИОН-7020 (Инфраспак-Аналит);Предназначен для ведения физико- химических анализовжидкостей физико-химическими методами: потенциометрии, кондуктометрии и амперометрии. Используется для определения удельной электрической проводимости (УЭП), солесодержания (Сsal) в пересчете на произвольный электролит в списке из 30 солей и оснований, а также температуры растворов. 13;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Квадрупольный масс-спектрометр QMS 403 C (Netzsch);Предназначен для совместной работы с ДСК, ТГ, СТА- анализаторами и дилатометрами. Возможность работы всей газовой системы до температуры 300°C. Система регулируемой подачи газа, совмещенная с низкореакционным кварцевым капилляром и ионным источником с ультразвуковым излучателем. Интегрированное с масс-спектрометром программное обеспечение Proteus® существенно облегчает пользователю проведение исследований в области термического анализа. 14;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Спектрометр с компенсацией астигматизма SL40-2 (Solar TI);Малогабаритный двухканальный анализатор спектра. Имеет в своем составе два независимых спектральных канала (спектрографа), конструктивно расположенных в одном корпусе, и встроенный линейный детектор. Каждый из спектрографов построен по оригинальной оптической схеме с использованием асферических зеркал и ахроматизированных объективов. Спектрографы имеют фокусное расстояние 40 мм и относительное отверстие 1/4.9. 15;Саратовский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского;Волоконно-оптическая система рамановской спектроскопии MiniRam (B&WTek);Предназначен для изучения различных методов комбинационного рассеяния в процессе анализа материалов. Сочетая в себе лазер, выполненный по запатентованной технологии CleanLaze® с термоэлектрическим охлаждением приемника излучения, MiniRam обеспечивает лучшую точность и воспроизводимость в своем классе. 16;ФГБУН Институт экологических проблем Севера Уральского отделения Российской академии наук;Микропроцессорный портативный многодиапазонный кондуктометр HI 8733 (Hanna Instruments);Предназначен для проведения высокоточных измерений проводимости растворов с автоматической температурной компенсацией. 17;ФГУП Институт физического материаловедения СО РАН;Быстродействующий лазерный эллипсометр ЛЭФ-752 (ИФП СО РАН);Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и объемных материалов. Измерение параметров производится посредством анализа состояния поляризации отраженного от поверхности образца поляризованного монохроматического пучка света с последующим математическим расчетом физических параметров. 18;ООО «ТБС»;Ручная зондовая станция TS200 (MPI);Предназначена для точных и воспроизводимых измерений постоянных (DC/CV), высокочастотных (RF) сигналов и сигналов большой мощности (High Power). Станция имеет широкие возможности применения для таких нужд, как снятие характеристик и моделирование устройств, оценка надежности кристаллов на подложке, анализ дефектов технологии ИС, МЭМС и измерения высокой мощности. 19;АО Научно-исследовательский институт технической физики и автоматизации;Портативный рентгенофлюоресцентный анализатор состава вещества РЛП-3-03 (НИИТФА);Предназначен для оперативного анализа металлов и сплавов, а также многоэлементный анализ металлов, сплавов и изделий на их основе, определение содержания химических элементов от алюминия до нептуния в веществах, находящихся в твердом (образцы горных пород, руд и др.), порошкообразном (образцы руд, концентратов, продуктов порошковой металлургии и др.) и жидком (неагрессивные жидкости) состояниях. 20;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Вакуумный эллипсометрический комплекс ВЭК-600 (ЛЭПМиС);Предназначен для исследования оптических свойств тонкоплёночных структур в широком диапазоне температур, адсорбционно-десорбционных и других процессов, обусловленных взаимодействием атомарно чистой поверхности с газовой фазой. Комплекс состоит из быстродействующего лазерного эллипсометра, сопряженного с вакуумной камерой, оснащенной системой откачки, напуска газов, терморегулирования и контроля параметров. 21;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-101 ЭЛХ (НПК ЦН);Предназначен для in situ диагностики поверхности металлов и полупроводников методом быстродействующей эллипсометрии в процессах электрохимического окисления и роста тонкопленочных оксидных структур. Работа комплекса основана на измерении эллипсометрических параметров во времени, на базе которых могут быть в деталях описаны свойства отражающей системы, такие как: толщина растущей оксидной пленки и ее оптические характеристики, наличие рельефа оксидной пленки и подложки, образование пористой структуры анодного оксида. 22;Ивановский государственный химико-технологический университет;Анализатор удельной поверхности и пористости Sorbi®- МS (Meta);Предназначен для измерения удельной поверхности, внешней удельной поверхности, объема мезопор, распределения пор по размерам при научных исследованиях в области материаловедения, а также для контроля качества в высокотехнологичных отраслях промышленности. Метрологически обеспечен аттестованными государственными стандартными образцами удельной поверхности дисперсных пористых материалов (ГСО 7912-2001). Измерения проводятся полностью в автоматическом режиме и отображаются в реальном масштабе времени. 23;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Установка вакуумного напыления Z-650 (Leybold);Предназначена для разработки процессов напыления и мелкосерийных производств. Обеспечивает нанесение высокоточных секвенций слоев для прецизионной оптики и оптоэлектроники. Возможность размещения и одновременной работы 2-х электронных пушек, обеспечит возможность роста надежным, многокомпонентным слоям для датчиков и силовой электроники. 24;ФГБУН Институт электрофизики и электроэнергетики РАН;Рентгеноспектральный микроанализатор MICROBEAM (Cameca);Предназначен для качественного и количественного анализа состава материала в микрообъеме порядка 1-3 к3 на все элементы таблицы Менделеева, начиная с бора. Определение состава тонких пленок с толщиной от 50 нм. Получение профилей (распределения) элементов в многослойных структурах. 25;ООО Научно-исследовательский центр ТК ОМЗ-Ижора;Мобильный спектрометр для анализа металлов SPECTROTEST (Spectro Analytical Instruments);"Предназначен для измерений массовой доли элементов в сталях, сплавах на основе меди, алюминия, никеля; для проведения сортировки и идентификации материалов в производственных и лабораторных условиях." 26;ЗАО Научно-производственное предприятие Промышленная электроника;Портативный анализатор жидкости АТОН-201МП (НПП Атон);Предназначен для потенциометрического, амперометрического и кондуктометрического анализа водных сред в лаборатории или на месте пробоотбора. 27;ООО Научно-производственное объединение СПЕКТРОН;Квадрупольный масс-спектрометр 8800 Triple Quadrupole ICP-MS (Agilent Techologies);Благодаря новейшим комплектующим и разнообразным приставкам, масс-спектрометр имеет высокую чувствительность при низком уровне фона. Все характеристики данного анализатора в значительной степени превосходят параметры аналогичных квадрупольных ИСП-МС анализаторов. Специально разработанная тандемная конфигурация прибора предназначена для МС-МС для контроля процессов, протекающих в октапольной ячейке реакционной системы третьего поколения (ORS3). Путем перенаправления ионов в реакционную ячейку достигаются поразительно точные результаты исследований даже тогда, когда состав матрицы неоднороден и может изменяться от пробы к пробе. 28;Южный научный центр Российской академии наук;Масс-спектрометр MALDI-TOF Autoflex II (Bruker);Предназначен для идентификации и проведения комплексного анализа пептидов, белков, олигонуклеотидов в биологических жидкостях и тканях организма человека и животных. 29;ФГБУН Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур Российской академии наук;Установка фотоэлектронной и оже-электронной спектроскопии Multitecnique PHI-5500 (PHYSICAL ELECTRONICS);Предназначена для фотоэлектронной спектроскопии (ЭСХА, РФЭС), оже-электронной спектроскопии (ОЭС) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (СХПЭЭ). В методе РФЭС исследуемая плоская поверхность образца облучается ренгеновским пучком с энергией квантов 1,2 или 1,5 кэВ, при этом анализируется энергетический спектр выбитых в вакуум вторичных электронов (внешний фотоэффект). Среди вторичных электронов выделяются электроны, возбужденные поглотившимся рентгеновским квантом с остовных уровней атомов образца или из делокализованных состояний и не испытавшие неупругих рассеяний в процессе их транспорта в вакуум. Такие электроны имеют вполне определенные кинетические энергии, спектр которых измеряется электростатическим анализатором. 30;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр QMS 403 C Aeolos (Netzsch);Предназначен для разделения ионов исследуемого вещества по величинам m/z, измерение этих величин и токов раз-деленных ионов. Метод анализа вещества, основанный на определении отношения массы к заряду ионов m/z, обра-зующихся при ионизации пробы материала («взвешивание» молекул вещества). 31;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Вакуумная напылительная установка Q150R ES (Quorum Technologies);Нанесение покрытий в виде тонких пленок электропроводников на поверхность непроводящих ток материалов (диэлектриков). Подготовка образцов к сканирующей электронной микроскопии. 32;ОАО Научно-исследовательский институт точного машиностроения;Малогабаритная вакуумная установка плазмохимического осаждения плёнок из газовой фазы с ICP источником МВУ ТМ ИЗОФАЗ 02 (НИИТМ);"Предназначена для осаждения диэлектрических материалов из газовой фазы с плазменной активацией в ВЧ разряде. Рабочая поверхность стола-ВЧ электрода O180 мм; Реактор с источником ICP плазмы; Регулирование и автоматическое поддержание уровня мощности ВЧ ICP источника плазмы в диапазоне 400-600 Вт; Нагрев подложек до 400° С; Микропроцессорная система управления; Мощность потребления не более 3 кВт; Безмасляная система откачки (ТМН300); Площадь, занимаемая одной установкой ~ 2,5 м2." 33;ОАО Научно-исследовательский институт точного машиностроения;Вакуумная установка плазмохимического осаждения слоёв из газовой фазы с ICP источником и шлюзовой загрузкой ИЗОФАЗ ТМ 200 (НИИТМ);"Предназначена для осаждения диэлектрических материалов из газовой фазы с плазменной активацией в ВЧ разряде. Обработка подложек в одном технологическом цикле: 60 х 48 мм – 3 шт.; O 76, 100, 150, 200 мм – 1 шт. Шлюзовая камера для загрузки – выгрузки подложек; Транспортная система переноса подложек из шлюзовой камеры в рабочую камеру на основе манипулятора; Вращающийся ВЧ электрод с нагревом подложек; Регулирование и автоматическое поддержание уровня мощности ВЧ ICP источника плазмы в диапазоне 400-600 Вт; Безмасляная (сухая) откачка на базе форвакуумного и туромолекулярного насосов;Микропроцессорная система управления; Мощность потребления не более 5 кВт; Площадь, занимаемая одной установкой ~ 5 м2." 34;ОАО Научно-исследовательский институт точного машиностроения;Многофункциональная вакуумная установка осаждения слоев методами ALD и CVD МВУ ТМ ИЗОФАЗ 03 (НИИТМ);"Предназначена для осаждения сверхтонких слоев, атомарной толщины. Рабочая поверхность стола-ВЧ электрода O180 мм; Измерение ВЧ смещения на ВЧ электроде-подложкодержателе в диапазоне от 0 до 1000 В;Регулирование и автоматическое поддержание уровня мощности ВЧ электрода-подложкодержателя в диапазоне 30-200 Вт; Нагрев ВЧ электрода-подложкодержателя до 300° С; Регулирование и автоматическое поддержание уровня мощности ВЧ ICP источника плазмы в диапазоне 400-600 Вт; Безмасляная система откачки (ТМН300);Микропроцессорная система управления; Мощность потребления не более 3 кВт; Площадь, занимаемая одной установкой ~ 2,5 м2." 35;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Цифровой профилемер E223-2 (ELCOMETER);Предназначен для измерения высоты неровностей поверхности с дополнительной функцией прямого вывода данных и цифровым дисплеем. Вывод данных через порт RS232 для передачи показаний на ПК, регистратор данных, для вывода на принтер и т. д., что обеспечивает сохранение копии отчета о результатах измерений. Увеличенное разрешение дисплея. Мгновенное получение значений для построения профиля поверхности. 36;ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова Сибирского отделения Российской академии наук;Электронно-зондовый микроанализатор Superprobe-733 (JEOL);Предназначен для получения изображений с поверхности, излома или шлифа образца, определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава 37;ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгенофлуоресцентный волновой спектрометр VRA-30 (Carl Zeiss);"Предназначен для качественного и количественного анализа элементов от натрия до урана в твердых, жидких и сыпучих образцах. Спектрометр представляет собой стационарную аналитическую установку, состоящую из следующих основных блоков: блок возбуждения; блок спектрометра; электронный блок индикации." 38;ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова Сибирского отделения Российской академии наук;Спектрометр рентгеновский многоканальный СРМ-25 (Научприбор);Оптимальное и эффективное применение в металлургии, горнодобыче, машиностроении, производстве стройматериалов, энергетике для качественного и количественного (точного) определения концентраций химических элементов. 39;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Прибор для измерения удельной поверхности и пористости Sorbi-M (Meta);Предназначен для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов многоточечным методом БЭТ. Приборы имеют возможность измерения высокопылящих нанопорошков с размером частиц от 10 нм. Специализированное программное обеспечение позволяет представить процесс измерения в реальном масштабе времени в графическом виде. Прибор имеет один универсальный порт для подготовки и анализа образца. 40;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Ручная зондовая станция TS150 (MPI Corporation);Предназначена для точных и воспроизводимых измерений постоянных (DC/CV), высокочастотных (RF) сигналов и сигналов большой мощности (High Power). Станция имеет широкие возможности применения для таких нужд, как снятие характеристик и моделирование устройств, оценка надежности кристаллов на подложке, анализ дефектов технологии ИС, МЭМС и измерения высокой мощности. 41;Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет Российской академии наук;Синхронный детектор SR 810 (Stanford Research System);Предназначен для детектирования спектров излучения полупроводниковых и диэлектрических материалов (в том числе полупроводниковых наногетероструктур наоснове III-V соединений) в спектральном диапазоне 185 нм-1700нм с высокимспектральным разрешением (0,008 нм) и пространственным разрешением до (1 мкм). 42;ФГБУН Физико-технологический институт Российской академии наук;Установка ионной имплантации с системой RBS анализа K2MV (НVЕЕ);Предназначена для внедрения ускоренных в электромагнитном поле ионов в пластину полупроводника. Глубина проникновения легирующей примеси при этом зависит от типа бомбардирующих ионов, их энергии и кристаллической структуры мишени. Процесс внедрения ионов в мишень обычно приводит к образованию нарушений кристаллической структуры полупроводниковой пластины, которые затем частично устраняются во время отжига. 43;ФГБУН Физико-технологический институт Российской академии наук;Трехмерный оптический бесконтактный интерферометр New View 5000 (ZYGO);Предназначен для получения трехмерного цифрового образа поверхности. 44;ФГБУН Физико-технологический институт Российской академии наук;Оже-электронный спектрометр PHI-660 (PerkinElmer);Анализ элементного состава поверхности и распределение элементов по глубине (отLi до U). Разрешение по глубине 3 нм. Локальность 0,1 мкм. Чувствительность 0,1 ~ 1,0 ат.%. 45;ФГБУН Физико-технологический институт Российской академии наук;Вторичный ионный масс-спектрометр IMS-4F (CAMECA);Прибор может работать в двух режимах: Ионный микроскоп: с помощью ионной оптической системы в фокальной плоскости анализатора создаётся отсепарированное по массе ионное изображение поверхности подобно тому, как это происходит в оптическом и просвечивающем электронном микроскопе. Для создания однородной плотности изображения первичный пучок разворачивается в растр. При этом его диаметр может оставаться достаточно большим, что никак не сказывается на латеральном разрешении, которое определяется только настройкой ионно-оптической системы и может достигать 1 мкм. Ионный микрозонд: спектрометр работает по принципу растрового электронного микроскопа, в котором электронный пучок заменён ионным. В этом случае латеральное разрешение определяется диаметром первичного ионного пучка. 46;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;Хромато-масс-спектрометр Turbomass Golg (PerkinElmer);Высокоэффективный, исследовательского уровня аналитический квадрупольный масс-анализатор с блоком квадрупольного префильтра пропускает только те ионы, которые выбрали по отношению масса/заряд. Блок префильтра защищает стержни аналитического квадруполя от загрязняющих ионных налетов.Ионы, выходящие из квадрупольного масс-анализатора, определяются детекторной системой фотоумножителя. Низкошумный фотоумножитель обычно действует с коэффициентом усиления в 105, что увеличивает собранный поток ионов. 47;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;Время-пролетный МАLDI-TOF масс-спектрометр LTQ™ FT (Thermo Finnigan);Предназначен для наиболее сложных аналитических применений в изучении метаболизма, анализе белков, разработке новых лекарственных средств и других применений, требующих сложных структурных исследований. Высокое разрешение для анализа сложных смесей. Разрешение более 500,000 (на полувысоте)Одновременное определение точной массы, достижение высокого разрешения и высокой чувствительности на одной декаде масс (например, 200 - 2000 а.е.м.). Быстрая запись сигнала (1 сек) с высоким разрешением (100,000 на m/z 400 а.е.м.) для беспрецендентного качества работы в режиме ВЭЖХ/МС. Чувствительность на уровне единиц фемтомоль 48;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;Квадрупольный хромато-масс-спектрометр TRACE MS Plus (Thermo Finnigan);для рутинных работ исследовательского класса, доступный любой лаборатории. Обеспечивает бесподобную гибкость, чувствительность, воспроизводимость и надежность и отвечает жесточайшим требованиям любой аналитической лаборатории. 49;Сыктывкарский государственный университет имени Питирима Сорокина;Анализатор площади проективного покрытия LAI-2200C (Li-Cor);Анализатор предназначен для определения площади проективного покрытия образцов растительного происхождения 50;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Быстродействующий лазерный эллипсометр ЛЭФ-757 (ИФП СО РАН);Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и объемных материалов. Измерение параметров производится посредством анализа состояния поляризации отраженного от поверхности образца поляризованного монохроматического пучка света с последующим математическим расчетом физических параметров. 51;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Установка электронно-лучевого напыления STE EB 48 (SemiTEq);Предназначена для напыления тонких пленок различных материалов в сверхвысоком вакууме на подложку диаметром до 150 мм или нескольких подложек меньшего размера с использованием соответствующего адаптера. 52;ФГБУН Институт физико-химических и биологических проблем почвоведения Российской академии наук;Рентгеновский комплекс X8 PROTEUM (Oxford Instruments);Предназначен для проведения рентгеноструктурного анализа макромолекул. Комплекс позволяет регистрировать рассеянные с кристаллов рентгеновские лучи и определять структуры как макромолекул (белки, РНК, ДНК, их комплексы), так и небольших органических веществ (лекарств, комплексов металлов с органическими молекулами и т.д.). Может быть также использован для получения рентгенограмм с упорядоченных волокон и т.п. 53;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Масс-спектрометр вторичных ионов МС-7201М (Электрон) с приставкой ионного травления;Предназначен для определения химического (элементного) состава в микрообъемах. Имеет двухканальный иммерсионный объектив для отбора и фокусировки вторичных ионов, в фокусе которого находится прижатый к первому вытягивающему электроду образец. На первый электрод подается напряжение от 0 до 200 В, на два других соответственно от 0 до - 700 В и от 0 до - 500 В. 54;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Рентгено-флюоресцентный спектрометр ED-2000 (Oxford Instruments);"Предназначен для экспрессного анализа макро- и микроэлементного состава природных систем. Возможности приборной базы в плане анализа: диагностика валового состава инженерных материалованализ примесей элементов в золах и органических средах; экспрессное аналитическое обеспечение рядового опробования при производстве геолого-разведочных работ; количественное определение валового состава горных пород и руд" 55;Иркутский институт химии им. А.Е. Фаворского СО РАН;Тандемный TOF/TOF масс-спектрометр ultrafeXtreme (Bruker);Предназначен для анализа биологических и синтетических полимеров. Точность определения масс до 40 000 с точностью 1 ppm с высочайшей достоверностью. 56;ФГБУН Институт аналитического приборостроения Российской академии наук;Настольный квадрупольный масс-спектрометр МС7-800 (ИАП РАН) с ионизацией электронным ударом;Предназначен для количественного анализа состава газовых смесей и смесей летучих жидкостей, содержащих органические примеси сложного химического состава.Прибор может работать в сочетании с любым отечественным газовым хроматографом. В составе хромато-масс-спектрометра может быть использован для массовых анализов в контрольно-аналитических службах экологического и таможенного мониторинга, в диагностических медицинских лабораториях, при контроле технологических процессов, в различных отраслях промышленности. 57;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Анализатор удельной поверхности и пористости TriStar 3000 (Micromeritics);Позволяет измерять площадь поверхности и размер пор на основании адсорбции и десорбции азота на поверхности и в порах твердого тела при температуре жидкого азота. Молекулы газа сталкиваются с чистой (дегазированной) поверхностью образца и либо отталкиваются, либо адсорбируются на ней. Время, за которое молекулы газа адсорбируются на поверхности зависит от энергетики поверхности, физической и химической природы образца и газа и температуры. В процессе адсорбции концентрация молекул в газе и соответственно давление газа снижаются. Детектор давления регистрирует это изменение и по температуре газа и объему контейнера анализатор определяет число адсорбированных молекул. Затем автоматически вычисляется площадь удельной поверхности образца, размер пор и распределение мезапор с помощью методов BET и BJH. Для анализа объема и площади поверхности микропор применяется t-plot метод. 58;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Квадрупольный хромато-масс-спектрометр TRACE MS plus (Thermo Finnigan);Позволяет сканировать со скоростью около 11,000 а.е.м. в секунду. Это открывает новые возможности, например, можно практически одновременно получать полный масс-спектр соединения для его однозначной идентификации и вести селективный мониторинг ионов (SIM), на несколько порядков понижающий предел обнаружения. 59;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Флуоресцентный спектрометр с системой измерения времени жизни флуоресценции в пикосекундном диапазоне FL3- 221-NIR (Horiba Jobin Yvon);Предназначен для стационарных и динамических измерений, измерения времен затухания флуоресценции и фосфоресценции, детекторы для работы в ИК и УФ областях, флуоресцентная микроскопия 60;ФГБУН Институт биологического приборостроения с опытным производством РАН;Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian);Измерения флуоресценции, фосфоресценции, биолюминисценции, хемилюминисценции биообразцов, жидких и твердых образцов, порошков и монокристаллов. Устройство для быстрого смешивания RX.2000 (Applied Photophysics) 61;Санкт-Петербургский государственный университет;Спектрофлуориметр FluoroLog 3 (HORIBA Scientific);Предназначен для исследования квантового выхода, анализа времени жизни флуоресценции, анизотропии времени жизни, поляризации флуоресценции. Анализ спектров флуоресценции в широком спектральном диапазоне от 200 нм до 5 мкм. 62;ООО Си Си Эс Сервис;Мобильный рентгено-флуоресцентный анализатор драгметаллов DXL (Thermo Niton);Предназначен для точного и быстрого анализа содержания золота, серебра, платины и примесей других металлов в любых ювелирных изделиях, монетах и слитках, отходах ювелирного производства и т.д. Дает возможность провести экспертизу украшений без любых разрушений за считанные минуты. Основные преимущества: повышение надежности и скорости анализа содержания драгоценных металлов, экспресс-анализ подлинности и определения пробы. 63;ООО Химико-аналитический центр Плазма;Иономер-кондуктометр-кислородомер портативный АНИОН-7051;Предназначен для измерения температуры воды, ЭДС электродных систем, активности ионов водорода, молярной концентрации ионов, массовой концентрации ионов, окислительно-восстановительного потенциала Eh, концентрации кислорода, общей минерализации в перерасчете на NaCl и других электролитов. 64;ФГБУН Институт физико-химических и биологических проблем почвоведения Российской академии наук;Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian);Измерения флуоресценции, фосфоресценции, биолюминисценции, хемилюминисценции биообразцов, жидких и твердых образцов, порошков и монокристаллов. 65;ФГБУН Институт физико-химических и биологических проблем почвоведения Российской академии наук;Зондовая нанолаборатория ИНТЕГРА Вита (НТ-МДТ);Предназначена для исследований белков, нуклеиновых кислот, вирусов, бактерий, эукариотических клеток и их компонентов, тканей. Конфигурация прибора базируется на инвертированном оптическом микроскопе и включает следующие основные системы и блоки: базовый блок, инвертированный оптический микроскоп, измерительный блок, измерительную головку, оптическое сменное основание, жидкостные ячейки, защитный колпак, систему видеонаблюдения, систему виброизоляции, систему управления, СЗМ контроллер, термоконтроллер, компьютер, интерфейсную плату. 66;Ростовский государственный университет путей сообщения;Анализатор микроструктуры поверхности твердых тел Thixomet (Тиксомет);Предназначен для измерения геометрических размеров объектов, оценки качества структуры материалов, сохранения изображений наблюдаемой структуры в электронном и печатном виде (с помощью программного обеспечения). Могут использоваться в области металлографии, материаловедения, гранулометрии и в других областях. 67;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Квадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр с ионизацией электроспреем maXis impact (Bruker);Предназначен для определения точной массы и неискаженного изотопного распределения в режимах MS и MS/MS со значительно улучшенными в сравнении с аналогичными приборами характеристиками. На сегодняшний день он является единственным прибором, сочетающим высокую скорость сбора данных с высоким разрешением, превосходящим 50 000 FWHM, гарантированной точностью в режимах измерения значений масс, как целых, так и фрагментных ионов в пределах 0.00008 % и чувствительностью на уровне 1 фмоль. 68;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Масс-спектрометр MALDI TOF ultrafleXtreme (Bruker);Предназначен для: Определения массы гомогенного негидролизованного белка или пептида с точностью 0,5 – 0,01% Да. Top-down подход: идентификация белков, пробоподготовка включает 2D гели и трипсинолиз в гелеBottom-Up подход: секвенирование последовательности белка de novo. Определение посттрансляционных модификаций. Метод матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации обладает высокой чувствительностью, позволяет работать с гетерогенными образцами. 69;ООО Центр трансфера технологий;Анализатор размера пор и площади поверхности NOVA 1200 (Quantachrome);Предназначен для определения пористости и площади поверхности различных веществ. Образец исследуемого вещества предварительно очищается путем нагрева в условиях вакуума либо путем продувки в динамическом газовом потоке. После очистки в ячейку с образцом добавляется небольшое количество газа - адсорбата, молекулы которого конденсируются на поверхности образца, образуя монослой.По изменению давления адсорбата можно судить о количестве сорбированного газа, следовательно, и об удельной поверхности образца, исходя из БЕТ- теории (Brunauer, Emmet, Teller). 70;ООО Центр трансфера технологий;Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой ICP-MS NexION 300D NWR213 (Perkin Elmer);"Предназначен для определения изотопного состава Sr, Nd, Pb в горных породах, рудах, природных водах; Rb- Sr, Sm-Nd; геохронология горных пород и минералов" 71;ООО Центр трансфера технологий;Оже-микрозонд JAMP-9500F (JEOL);Сочетает в себе свойства высокоточного Оже-анализатора с энергетическим разрешением (?E/E=0.05%) и хорошего растрового электронного микроскопа с разрешением во вторичных электронах не хуже 3 нм на 24-миллиметровом рабочем отрезке. Использование термоэмиссионной электронной пушки и высокостабильной электронно-оптической колонны с максимальным током пучка 200 нА открывает широкие аналитические возможности 72;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ЭМС-3 (ФТИ УрО РАН);Предназначен для изучения электронной структуры и химического строения сверхтонких поверхностных слоев, релаксационных процессов в высокотемпературных расплавах. Относительное энергетическое разрешение спектрометра – 10-4: светосила - 0.1%, вакуум 10-5 Торр. Чувствительность до доли моноатомного слоя. Время определения концентрации элемента - 10 сек. -доли сек. Рабочий диапазон температур до 1500оС. Глубина анализируемого слоя 3-5 нм. 73;Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет Российской академии наук;Установка высокочастотного магнетронного напыления Auto 500 RF (Boc Edwards);Предназначена для вакуумного магнетронного напыления металлов и диэлектрических покрытий различного функционального назначения: просветляющие покрытия, контактные площадки, маски для фотолитографии, прозрачные проводящие покрытия. Основной особенностью метода является высокая адгезия покрытий и большая скорость напыления. Благодаря многоканальной системе напуска газа, покрытия можно осаждать с помощью реактивного напыления. Предусмотрена система нагрева подложек до 200°С. Контроль толщины покрытия осуществляется методом микробаланса кварцевого кристалла. 74;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Прибор для определения объема и кажущейся плотности твердых пористых материалов GeoPyc 1360 (Micromeritics);Предназначен для определения кажущейся плотности пористых материалов неправильной формы, а также насыпной плотности порошковых и гранулированных материалов при различных давлениях 75;Санкт-Петербургский государственный университет;Установка для вакуумного напыления Q-150T ES (Quorum Tehnologies);Универсальная вакуумная система позволяющая получать пленки металлов методами термического испарения и катодного распыления материалов, а также углеродных пленок методом вакуумно-дугового испарения графита. 76;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс 1891 САГ;"Предназначен для проведения прецизионных измерений толщины однослойных и многослойных тонкопленочных структур, а также исследования спектральных оптических постоянных (показателя преломления и коэффициента поглощения), структурных свойств материалов (пористость; наличие, концентрация и распределение примесей в пленке)." 77;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Модернизированная установка газофазной эпитаксии LQ529A с импульсным Nd:YAG лазером со встроенным генератором второй гармоники (НИФТИ);Установка обладает возможностью лазерного распыления твердотельных мишеней и позволяет производить методом эпитаксии из металлорганических соединений выращивание квантоворазмерных гетеронаноструктур структур на основе твердых растворов InGaAsP, таких как структуры с квантовыми ямами InGaAs и структуры с квантовыми точками InAs. Источниками материалов служат: металлоорганические соединения TMGa (триметилгаллий), (TMIn) (триметилиндий), гидриды AsH3 (арсин), PH3 (фосфин). В качестве легирующей примеси p-типа используется Zn и C (источник CCl4), в качестве примеси n-типа используется Si. Особенностью установки является возможность проведения лазерного распыления твердотельных мишеней. 78;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Анализатор удельной поверхности TriStar 3000 (Micromeritics);"Предназначен для определения удельной поверхности катализаторов, адсорбентов и других дисперсных и пористых материалов путем измерения количества поглощенного образцом газа и дальнейшего расчета указанной характеристики с использованием математической модели, для применения в химических лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтах. Параметры оборудования: площадь поверхности: 0,01 до 1500 м2/г ± 5%; объем пор: от 4х 1 0-6 см3/г и выше; распределение мезопор от 20 до 4000 ангстрем; измерение давления: диапазон: от 0 до 999 мм рт. ст.; разрешение: до 0.05 мм рт. ст.; точность: до 0.5%; линейность: до 0.25 %; окружающая среда: температура от 1 до 350 С, влажность от 20 до 80%; вакуум до 20 мм рт. ст." 79;ООО Современное лабораторное оборудование;Анализатор удельной поверхности и пористости Мультисорб (СОЛО);Предназначен для измерения удельной площади поверхности, общей площади поверхности, и общего объема пор методом динамической адсорбции. Анализатор может применяться при научных исследованиях, контроле качества в заводских лабораториях, при разработках новых перспективных материалов, а также при обучении студентов ВУЗов. 80;ООО Техноаналитприбор;Последовательный спектрометр S8 Tiger (Bruker);"Оснащен следующими элементами: экран из упрочненного бериллия и колесо с фильтрами, защищающими окно рентгеновской трубки; устройство смены масок и вакуум-затвор защищают камеру гониометра. Все это позволяет при просыпании или проливания пробы на позицию измерения быть уверенным, что это не повредит компоненты системы. Открытый доступ к позиции измерения дает возможность пользователю убрать все загрязнения из камеры. Диапазон определяемых элементов - от Be (4) до U (92). S8 Tiger позволяет определять элементы в образцах, находящихся в различных состояниях- твердом, жидком и порошкообразном. При использовании спектрометра S8 Tiger (для измерения порошков и жидкостей) достаточно продувания гелием только небольшого объема камеры пробы, которое занимает всего несколько секунд. К примеру, в приборах, в которых гелием заполняют всю камеру,измерение может занять приблизительно 15 мин. Преимущества спектрометра S8 TIGER очевидны: быстрое переключение между режимами измерения для жидких, твердых и порошковых проб, низкое потребление гелия, защита измерительной камера с гониометром." 81;ООО Техноаналитприбор;РФА-спектрометр параллельного действия S8 DRAGON (Bruker);Обеспечивает точный анализ в области контроля качества в металлургии и литейных цехах. Спектрометр дает возможность проводить высокоточный и скоростной элементный анализ большинства элементов периодической таблицы. Для упрощения работы с прибором и снижения ошибки оператора в спектрометре S8 DRAGON использована система TouchControl™. Такая система позволяет обеспечить максимальное время безотказной работы за счет нахождения трубки над пробой, что дает возможность защитить спектрометр от высыпания пробы. Конструкция S8 DRAGON обеспечивает быструю бесшовную интеграцию в автоматические линии. Загрузка проб может производиться в магазин спектрометра манипулятором или конвейерной лентой с задней панели спектрометра. Рентгенофлуоресцентный анализ (S8 DRAGON) совместно с оптико-эмиссионной спектрометрией Q8 MAGELLAN дают возможность поднять контроль качества в металлургической промышленности на высокий уровень. В спектрометр встроен порт Ethernet, позволяющий результаты анализа и оптико-эмиссионной спектрометрии направить в систему управления лабораторной информацией (LIMS) или управляющее ПО. 82;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Интерференционный профилометр Maxim-GP 200 (Zygo Corporation);"Предназначен для трёхмерного анализа геометрической структуры поверхности различных объектов, изготовленных из разного материала: металла, керамики, стекла и т.д.. Он создаёт графические изображения и проводит их цифровой анализ с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта. На основе данных об относительной высоте микроскоп позволяет определять:параметры шероховатости поверхности, нормируемые в отечественных и международных стандартах;радиус кривизны поверхности, в том числе радиус сферы;относительную высоту.Проведенные экспериментальные исследования модернизированных интерференционных микроскопов на наборе мер нанометрового диапазона показали, что они обеспечивают измерения параметров шероховатости и рельефа с неопределенностью ?/800 мкм." 83;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Установка напыления металлов LAB 18 (Kurt Lesker);Предназначена для магнетронного распыления (напыления) металлов. Для термического распыления установка оснащается тремя испарителями «лодочками». Для магнетронного распыления могут устанавливаться до четырех магнетронов. Электронно-лучевой испаритель доступен в различных модификациях и может комбинироваться с термическим, магнетронным или испарителем органических материалов. В качестве опции очистки предлагается ионная пушка. Управление установкой осуществляется при помощи ПК с «тач-скрин» дисплеем. Установка работает как в полностью ручном, так и в автоматическом режиме по рецептам. В автоматическом режиме выполнение программы происходит по нажатию одной кнопки. Система настраивается таким образом, что стандартный процесс инициируется кнопкой старт сразу после закрытия камеры: откачка, очистка, напыления и напуск происходят автоматически по заранее заложенной программе. 84;Мурманский государственный технический университет;Портативный иономер, кондуктометр, кислородомер, ph-метр АНИОН 7051;"Предназначен для измерения следующих параметров жидкости: активность ионов (pX); молярная (М) концентрация ионов (моль/л); массовая (С) концентрация ионов (мг/л); ЭДС электродных систем (мВ); окислительно-восстановительный потенциал Eh (мВ); удельная электрическая проводимость (мСм/см); общая минерализация в пересчете на NaCl и другие электролиты (г/л); концентрация кислорода (%, мг/дм3); температуры водных сред (°C)" 85;Мурманский государственный технический университет;Анализатор жидкости кондуктометрический лабораторный Мультитест КСЛ-101 (НПП Семико);Предназначен для измерения активности (рХ, в том числе рН), молярной и массовой концентрации ионов в водных растворах методом прямой потенциометрии 86;Дальневосточный федеральный университет;Лазерный дифракционный анализатор размеров частиц ANALIZETTE-22 модель NanoTec plus (Fritch);Предназначен для измерения размера частиц в суспензиях, эмульсиях, порошках и аэрозолях 87;Дальневосточный федеральный университет;Портативный рентгенофлуоресцентный спектрометр Х-50 MLab (Innov-X SyStemS);Переносной рентгенофлуоресцентный спектрометр улучшенной точности применяется для быстрого элементного анализа в диапазоне от Ti (22) до U (92). Анализирует твердые пробы (сплавы, руду...), сыпучие вещества и порошки, а так же жидкие пробы. Анализ проводится на основе моделей фундаментальных параметров и имеется возможность загрузки эмперических моделей. 88;Институт биологии гена Российской академии наук;Многофункцианальный планштный ридер Synergy 4 (BioTek Instruments);"Модульная изменяемая архитектура ридера позволяет определять: интенсивность флюоресценции; флюоресценцию с временным разрешением; поляризацию флюоресценции; быстро (flash-) и медленно (glow-) протекающую люминесценцию; поглощение в УФ и видимой области спектра; FRET (исследование резонансного переноса энергии флюоресценции); TR-FRET (исследование резонансного переноса энергии флюоресценции с временным разрешением); BRET (исследование резонансного переноса энергии биолюминесценции); спектральное сканирование." 89;Дальневосточный федеральный университет;Последовательный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800 (Shimadzu);Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U за 2,5 минуты Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм Локальный анализ в точке O 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент) Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий Уникальная система пробоподачи образца 90;Российский университет дружбы народов;Зондовая нанолаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ);Позволяет исследовать оптические свойства образца за пределом дифракции с использованием методов АСМ, сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (СБОМ) и КР-спектроскопии. 91;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Газовый хроматомасс-спектрометр GCMS-QP2010NC Plus (Shimadzu);Позволяет проводить разделения при высоких давлениях (до 970 кПа) и высоких скоростях потока газа-носителя (до 1200 мл/мин), и один из самых быстрых на современном рынке квадрупольный масс-спектрометр с диапазоном регистрируемых масс 1.5 – 1090 m/z, максимальной скоростью сканирования 10000 amu/s и частотой сбора данных 50 сканирований/сек. 92;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Профилометр model 130 (Протон-МИЭТ);Предназначен для измерений параметров профиля и параметров шероховатости поверхности по системе средней линии (ГОСТ 25142-82), с разделением «волнистости» и «шероховатости» по ГОСТ 2789-73. Прибор внесен в Государственный реестр средств измерения, регистрационный № 33319-06. Область применения — метрологические центры, лаборатории научно-исследовательских и учебных институтов, лаборатории и центры экспертизы и контроля, предприятия машиностроительной, автомобильной, подшипниковой и других отраслей промышленности. 93;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Универсальная автоматическая рассеивающая машина для проведения ситового анализа RP-200-N (CISA);Проведение мелкодисперсной квалификации порошков 94;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Анализатор размеров наночастиц IG-1000 plus (Shimadzu);Предназначен для анализа размера наночастиц в диапазоне 0,5 - 200 нм 95;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Установка микрорентгеноспектрального анализа МАР-2 (Зенит);Предназначена для микрорентгеноспектрального анализа 96;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр настольного типа EDX 800 HS (Shimadzu);Прибор предназначен для определения качественного и количественного состава материала в диапазоне таблицы Менделеева от углерода до урана 97;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Анализатор размера частиц Analysette-22 NanoTec (Fritsch);Предназначен для анализа частиц размером 0,01 - 1000 нм 98;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Комплекс на базе установки плазменного напыления APS Spray-Equipment MFP-1000 (GTV);Предназначена для получения функциональных моно и мультипокрытий 99;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Дисковая центрифуга DC24000 (CPS Instrument);Предназначен для анализа размера частиц с помощью дифференциальной высокоскоростной седиментации в диапазоне 0,005 - 70 мкм 100;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Экспресс-анализатор углерода и серы в металлах АУС-8144 (Черметавтоматика);Предназначен для одновременного определения содержания углерода и серы в металлах.Принцип действия анализатора основан на сжигании пробы в потоке кислорода и количественном анализе продуктов сжигания методом инфракрасного поглощения. Результат анализа индицируется на цифровом табло в массовых процентах углерода и серы. 101;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама (Люмэкс);Предназначен для определения органических и неорганических веществ по флуоресценции растворов 102;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Анализатор удельной поверхности и пористости Nova 2200 (Quantachrome);"Определение удельной поверхности и пористости образцов. Диапазон измеряемых площадей: 0,01 ? свыше 2000 м2/г; Снятие изотерм адсорбции и десорбции; Диапазон диаметров пор: 3,5 ? 2000" 103;ФГБУН Институт химии твердого тела и механохимии Сибирского отделения Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7500A (Agilent Technologies);Прибор даёт возможность обнаруживать следовые количества микропримесей (на уровне до нг/л) или быстро просматривать содержание большого количества элементов (свыше 70) для получения сведений о составе исследуемых образцов. Программное обеспечение Agilent 7500 a Chem Station автоматизирует выполнение анализов и способствует расшифровке полученных данных. 104;АНО Институт медико-биологических исследований и технологий;Сканирующий зондовый микроскоп ИНТЕГРА Спектра (НТ-МДТ);Представляет собой комбинированную систему, включающую конфокальный сканирующий лазерный спектрометр высокого пространственного разрешения, оптический микроскоп и универсальный сканирующий зондовый микроскоп. Система способна работать в режиме регистрации пространственного, трехмерного распределения спектров люминесценции и комбинационного рассеяния света, а также в различных режимах сканирующей зондовой микроскопии, включая наноиндентацию, наноманипуляцию и нанолитографию. 105;ФГБУН Институт прикладной физики Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku);Предназначен для фазового анализа проб, количественного анализа, определения размеров частиц и пор 106;ФГБУН Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур Российской академии наук;Сканирующий оже-электронный профилометр МР-2000 (Riber);Предназначен для анализа электронной структуры образца и, в некоторых случаях, элементный анализ, и неразрушающее исследование приповерхностной области на глубины до нескольких десятков нанометров. СХПЭЭ применяется для исследования разнообразных металлических, полупроводниковых гетероструктур 107;ФГБУН Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур Российской академии наук;Универсальный вторично-ионный микроанализатор Ion Microanalyzer IMS-4F (Cameca);"Области применения: локальный элементный и изотопный анализ; анализ глубинных профилей распределения основных и примесных элементов в образцах, неоднородных по толщине, например, в гетероструктурах; изучение строения гетерограниц; явлений сегрегации и диффузии; исследование двумерных и трехмерных распределений атомов в сложных гетерофазных структурах (конструкционные материалы, структуры опто- и микроэлектронных приборов и др.)" 108;ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеноспектральный электронно - зондовый микроанализатор JXA 8200 (JEOL);Предназначен для исследования макро-состава и микропримесей в минералах горных пород и руд 109;ФГБУН Уфимский научный центр Российской академии наук;Тензиометр оптический Theta (Attension);Предназначен для измерения величины поверхностного натяжения 110;Бурятский государственный университет;Настольная напылительная установка JEC-3000FC (Jeol);Предназначена для напыления тонкого слоя металла на непроводящий образец и служит устройством пробоподготовки для растровой электронной микроскопии 111;ФГБУН Физико-технический институт имени А.Ф. Иоффе Российской академии наук;Специализированный высоковакуумный стенд STE IBS (НиТО);Предназначен для проведения исследования низкодозной и низкоэнергетической ионной модификации приповерхностных слоев вольфрама 112;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Стационарный рН-метр S20-K (Mettler Toledo);Предназначен для электрохимического анализа жидкостей 113;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Спектрометр рентгенофлуорисцентный волнодисперсионный S8 Tiger (Bruker) 43018325;Проведение химического анализа металлических сплавов 114;Московский государственный индустриальный университет;Жидкостный экструзионный порозиметр LEP-100 (PMI);Предназначен для измерения объёма сквозных пор, распределения объёма и жидкостной проницаемости без использования ртути. 115;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Мaya 2000 Pro (Ocean Optics);Предназначен для фиксации спектров излучения в диапазоне 165-300 нм 116;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М (ВНИИОФИ);Предназначен для оптических измерений и исследований 117;Ставропольский государственный аграрный университет;Универсальный рентгенофлуоресцентный анализатор X-ART-M, Научно-технического управления ЗАО Комита;Предназначен для определения количественного и качественного состава материлов 118;Воронежский государственный университет инженерных технологий;Портативный кондуктометр HI 8733 N (HANNA);Принцип действия этого прибора заключается в изменении электропроводности раствора обусловленной концентрацией в нем каких-либо химических соединений. Таким образом, измеряя электропроводность определенного раствора, кондуктометр дает представление о величине концентрации растворенных в нем химических соединений. 119;Южный федеральный университет;Рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALAB-250 (Thermo Fisher Scietific);Предназначен для исследования элементного состава, химической связи, пространственного распределения элементов 120;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Научно-образовательный комплекс рентгеновской дифрактометрии;Предназначен для проведения широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов. Среди основных назначений следует отметить: проведение исследований общего характера (качественный и количественный фазовый анализ, исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и др.), исследование полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристаллов, проведение исследований текстуры 121;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Бесконтактный 3D профилометр NV-1800 (Nanosystem);Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков 122;Северо-Кавказский федеральный университет;Кондуктометр Эксперт 002 портативный;Предназначен для анализа питьевых, природных, сточных вод, технологических растворов, растворов почв, растительной продукции, дистиллированной воды и т.д. 123;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Анализатор коррозии CANIN (PROCEQ);Предназначен для определения степени коррозии арматуры 124;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Эллипсометр UVISEL 2 HORIBA (Jobin Yvon);Позволяет измерять образцы толщиной от нескольких Ангстрем до десятков микрон благодаря широкому спектральному диапазону. Патентованная система наблюдения образца MyAutoView, расположенная непосредственно в детектирующей головке эллипсометра, позволяет видеть точную форму и положение аналитического пятна на образце, в отличие от систем наблюдения под прямым углом к образцу. 125;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S (Shimadzu);Прецизионное определение параметров решётки, определение остаточного аустенита, расчёт степени кристалличности, определение размеров кристаллитов, анализ напряжений, анализ текстур, программное обеспечение Rietveld 126;Уфимский государственный авиационный технический университет;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9010MX (JEOL);Позволяет проводить анализ элементного (химического) состава поверхности и по глубине поверхностного слоя материалов деталей на различных этапах (технологиях) их изготовления, а также после длительной эксплуатации (воздействия температуры, окислительной среды, нагрузки). Данный спектрометр может эффективно использоваться для контроля технологических параметров и режимов нанесения наноструктурных покрытий на поверхность деталей, а также оценивать их эксплуатационные характеристики 127;Югорский государственный университет;Газоанализатор ГАНК-4 (ООО ГАНК);Предназначен для автоматического непрерывного контроля концентраций вредных веществ в воздухе 128;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Спектрометр рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный портативный СПЕКТРОСКАН GEO D (Спектрон);Предназначен для исследования состава и структуры вещества 129;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Анализатор площади поверхности наночастиц Acorn Area (XiGo Nanotools);Предназначен для исследования структурного состава порошков и дисперсий твердых частиц нанометровых и микронных размеров, диспергированных в жидкости 130;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Растровый электронный микроанализатор JXA-8600S с 4 кристалл-дифракционными спектрометрами;Предназначен для сверхточного микроанализа твердых образцов материалов 131;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий спектральный эллипсометр Uvisel 2 (Horiba);Исследование оптических характеристик и толщин тонких пленок 132;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Спектральный эллипсометр NIR 2.1 AGMS (UVISEL);Предназначен для измерения характеристик поляризованного света 133;ФГБУН Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;Спектральный эллипсометр Спектроскан (ИФП СО РАН);Позволяет измерять экстинкцию и показатель преломления тонких слоев веществ или определять толщину слоя известного вещества по эллипсометрическим данным в видимом диапазоне спектра. 134;Тверской государственный технический университет;Автоматический анализатор хемосорбции AutoChem 2950НР (Micromeritics);Анализ состава и структуры поверхности твердых образцов методом хемосорбции 135;ФГБУН Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;Установка осаждения покрытий VSE-PVD-100-2;Вакуумная установка для нанесения тонкопленочных покрытий методом магнетронного распыления 136;ГНЦ Научно-исследовательский институт атомных реакторов;Система микроанализа INCF WAVE 700 (Oxford Instruments);Анализ элементного состава облучённых материалов 137;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Система анализа поверхности органических, гибридных и биоматериалов PHI Versa Probe II 5000 (ULVAC-PHI);Дополнительные опции к рентгеновскому фотоэлектронному спектрометру PHI Versa Probe II 5000 позволяют проводить анализ поверхности органических, гибридных и биоматериалов в интервале температур. 138;Южный федеральный университет;Прибор определения удельной поверхности материалов ПСХ-10;Определение удельной поверхности порошков, среднемассового размера частиц, газопроницаемости пористых образцов. 139;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Масс-спектрометр квадрупольно-времяпролетный высокого разрешения Agilent 1260/6550 (Agilent Technologies);Масс-спектрометр квадрупольно-времяпролетный высокого разрешения 140;Санкт-Петербургский государственный университет;Волюметрический адсорбомер ASAP 2020MP (Micromeritics);Измерение уделенной поверхности дисперсных материалов, открытой пористости и распределения пор по размерам 141;ФГБУН Институт водных и экологических проблем Дальневосточного отделения Российской академии наук;Кондуктометр /pH метр SevenMulti S47K (Mettler Toledo);Универсальная модульная система для измерения величины удельной электрической проводимости, pH и ионометрических измерений. 142;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Система с приводным механизмом Platit AG для размещения и загрузки изделия для осаждения нанокомпозитных покрытий;Предназначена для осаждения нанокомпозитных покрытий на субстраты сложной геометрической формы с регулятором зоны активного проникновения паро-газовой фазы 143;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Дифрактометр рентгеновский X PERT PRO MRD (PANalytical);Предназначен для рентгеновской микроскопии имикротомографии 144;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Анализатор площади поверхности и пористости Tristar 3020 (Micromeritics Instrument Corporation);Предназначен для анализа площади поверхности и пористости 145;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Рентгенофлуоресцентный анализатор металлов Альфа-8000 LZX (Innov-X Systems Inc.);Предназначен для рентгенофлуоресцентного анализа металлов 146;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Анализатор хемосорбции ChemiSorb 2750 (Micromeritics);Предназначен для хемосорбционного анализа вещества 147;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Спектрометр рентгенофлуоресцентный волно-дисперсионный последовательного действия XRF-1800 (Shimadzu);Предназначен для анализа вещества методом рентгенофлуоресцентной волно-дисперсионной спектрометрии 148;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализатор Oxford ED 200 (Oxford Instruments);Предназначен для исследования и анализа материала методом оптической спектроскопии 149;ОАО Ведущий научно-исследовательский институт химической технологии;Анализатор удельной поверхности и размеров пор NOVA 1200e (Quantachrome);Предназначен для определения удельной поверхности и размеров пор 150;ОАО НИИизмерения;USB Профилограф-профилометр БВ-7669М;Предназначен для регистрации, анализа профиля и измерения параметров шероховатости наружных и внутренних поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию. 151;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7500A (Agilent Technologies);Прибор даёт возможность обнаруживать следовые количества микропримесей (на уровне до нг/л) или быстро просматривать содержание большого количества элементов (свыше 70) для получения сведений о составе исследуемых образцов. Программное обеспечение Agilent 7500 a Chem Station автоматизирует выполнение анализов и способствует расшифровке полученных данных. 152;ОАО Электростальское научно-производственное объединение Неорганика;Анализатор газовый адсорбционный ASAP 2020 (Mikromeritics);Предназначен для измерения удельной адсорбции (сорбционной емкости) с использованием физически и химически сорбирующихся газов для дисперсных и пористых материалов, и дальнейшего определения их характеристик: интегральной удельной площади поверхности, объема и размера пор, распределения объема и поверхностипор по их эффективным размерам при физической сорбции и селективной удельной поверхности металлов на инертных носителях при хемосорбции по специально разработанным методикам измерений, регламентированным нормативными документами. 153;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Автоматический анализатор удельной поверхности и пористости методом физической абсорбции газов AutosorbiQ MP (Quantachrome Instruments);Прецизионный многофункциональный анализатор удельной поверхности, пористости и хемосорбции с двумя портами анализа. Каждый порт анализа может быть оборудован для анализа микропор при низких парциальных давлениях. Один порт можно использовать для хемосорбционных анализов с высокотемпературной печью (до 1100 °С) с принудительным охлаждением. Используется при исследованиях физики сорбционных параметров (изотерма адсорбции и десорбции, удельная поверхность, распределение микро- и мезопор по размерам) имеют все преимущества приборов серии Autosorb-iQ MP. Анализаторы серии Autosorb-iQ-С незаменимы при необходимости всесторонних исследований катализаторов, них реализованы все важнейшие методы анализа: от удельной поверхности по БЭТ до проведения высокотемпературных (до 1000°С) программируемых реакций с использованием различных газов и опционального детектора теплопроводности. 154;Сургутский государственный университет;Квадрупольный хромато-масс-спектрометр CLARUS 500MS (PerkinElmer);Представляет из себя квадрупольный хромато-масс-спектрометр с электронной и химической ионизацией, имеет высокую скорость сканирования до 60 спектров в секунду. Конструкция хромато-масс-спектрометра позволяет легко адаптировать его к любому сложному анализу благодаря широкому выбору систем ввода проб и модулей управления газовыми потоками. Благодаря наличию карусели автосамплера на 82 позиции, автоматического дозатора и автоматического ввода проб, спектрометр может работать в режиме «нон-стоп», обеспечивая при этом высокое качество проведения анализов. 155;ООО «Микротрак»;Прецизионный порозиметр для абсорбционного анализа - BELSORP-MINI II (Микротрак);Предназначен для определения размеров и удельной поверхности микропор в широком диапазоне методом газовой адсорбции. Высокий уровень автоматизации (автоматическое измерение давления насыщенных паров и компенсация изменения уровня жидкого азота за счет использования инновационного запатентованного метода измерения мертвого объема – AFSM) и возможность подключения до четырех анализаторов к одному управляющему компьютеру открывает широкие возможности как для организации централизованных исследовательских кластеров, так и эффективных учебных практикумов. Управляющий порозиметром программный комплекс оснащен мощным аналитическим функционалом. 156;ООО «Микротрак»;Прецизионный анализатор адсорбции паров BELSORP-AQUA3 (Микротрак);Предназначен для измерения адсорбции паров воды и некоторых органических растворителей (объемный метод) с возможностью построения изотерм адсорбции/десорбции, вычисления объема микропор и расчета дифференциальных энтальпий адсорбции. Комплекс автоматизирован, оснащен термостатируемой воздушной печью и имеет три порта для адсорбтивов с возможностью параллельного анализа, что значительно упрощает работу оператора. 157;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Спектрометр рентгеновский фотоэлектронный PHI-5500 (Physical Electronics);Исследование химического состава твердофазных материалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) основано на анализе энергетического распределения фотоэлектронов, эмитированных с поверхности вещества в вакууме при его возбуждении рентгеновскими фотонами. 158;ФГУП НПП Торий;Кондуктометр SevenCompact S230 (Mettler Toledo);Предназначен для работы с широким спектром образцов – предназначен для любой отрасли. SevenCompact 230 позволяет также измерять уровень солености, удельное сопротивление и зольность. Поставляемый с прибором штатив uPlace с полностью вертикальным ходом электрода обеспечивает наиболее удобную и безопасную позицию электрода для измерений, что позволяет проводить измерения быстрее и снижает риск опрокидывания посуды с исследуемым образцом и повреждения датчика. Кондуктометр (солемер) позволяет увидеть всю информацию об измерении на дисплее или сосредоточиться на самом необходимом значении (uFocus). Переключение режимов осуществляется всего одним нажатием на клавишу. 159;ФГБУН Институт машиноведения им. А.А. Благонравова Российской академии наук;Профилометр бесконтактный оптический S3P (Perthen Mahr);Предназначен для распознавания профиля: волнистость и шероховатость 160;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующая зондовая нанолаборатория Integra Aura (НТ-МДТ);Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне. Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии. Создание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию. 161;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Система магнетронного напыления МАГ-2000 (Протон-МИЭТ);Предназначена для напыления проводящих и панцирно-жёстких плёнок на образцы для зондовых микроскопов. Отличается рекордно малой толщиной сплошного покрытия, 8 A для W и 10 A для С, мало зависящей от угла наклона. Распыляет проводящие немагнитные материалы, в т.ч. легированные полупроводники. Диаметр пятна равнотолщинного напыления 50 мм, скорость напыления 1 А/с. Состоит из равновесного 30 Вт магнетрона и блока управления с заданием времени экспозиции. Магнетрон встраивается пользователем в любой пост с вакуумом до 10-5 Торр и напуском аргона до 10-3 Торр, например, ВУП-5. 162;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Прибор для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов СОРБИ-MS;Предназначен для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов путем сравнения объемов газа-адсорбата, сорбируемого исследуемым образцом и стандартным образцом материала с известной удельной поверхностью. Измерение удельной поверхности проводится по 4-х точечному методу БЭТ, а также методом определения полной, внешней удельной поверхности и распределения пор по размерам, применяя градуировку по заданному объему газа-адсорбата. 163;Федеральное государственное унитарное предприятие «Специальное конструкторско-технологическое бюро «Технолог»;Кондуктометр Waterproof ECS can Pure;Предназначен для оперативного контроля проводимости. Серия карманных кондуктометров HANNA DIST приобрела новый эргономичный облегченный корпус со значительно большим ЖК-экраном, и возможностью смены электрода. 164;Федеральное государственное унитарное предприятие «Специальное конструкторско-технологическое бюро «Технолог»;Кондуктометр МАРК-603/1;Предназначен для оперативного определения проводимости водных сред применительно к различным отраслям промышленности и народного хозяйства 165;ФГБУН Научно-исследовательский институт физико-химической медицины Федерального медико-биологического агентства;Люминисцентный спектрофлуориметр LS-50 (Perkin Elmer);Предназначен для регистрации в ближней и средней ИК области спектров поглощения твердых, жидких и газообразных веществ (в том числе наркотиков, лаков и красок, нефтепродуктов, взрывчатых веществ, фармакологических препаратов) с их последующей идентификацией, а также для качественного и количественного анализа смесей, содержащих несколько компонентов. 166;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu);Приставка используется для анализа тонких пленок, полностью совместима с рентгеновским дифрактометром XRD-7000S. Приставка для исследования тонких пленок включает: приставку, плоский монохроматор с Cu-мишенью и программное обеспечение 167;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Вакуумная напылительная установка SPI (SPI Supplies);Предназначена для напыления золотого/углеродного покрытий на токонепроводящие образцы для исследований на СЭМ 168;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский микроанализатор CAMEBAX (Cameca);Предназначен для анализа элементного состава микрообъемов различных материалов: металлов и сплавов, покрытий, геологических пород, порошков и т.д., может анализировать любой материал не разрушающийся в вакууме и выдерживающий температуру не менее 150 °С в металлургической промышленности, геологии, экологии,криминалистике, химической, электронной промышленности, а также научных исследований. 169;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Микрозондовый аналитический комплекс LEO1455VP (Carl Zeiss);Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов). Разрешение в высоком вакууме 4 нм, при низком вакууме 5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 15В. Увеличения в диапазоне 5 - 1000000х. 170;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Оже-электронный спектрометр PHI-660 (PerkinElmer);Предназначен для исследовании поверхности и в области материаловедения. В основе спектроскопического метода лежит эффект Оже, который основан на анализе заполнения электроном вакансии, образованной на одной из внутренних электронных оболочек атома путём «выбивания» другого электрона рентгеновским излучением. 171;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Станция зондовой и конфокальной микроскопии ИНТЕГРА Спектра (НТ-МДТ);Позволяет исследовать объект с помощью арсенала методов сканирующей зондовой микроскопии - АСМ, МСМ, СТМ, СБМ. Благодаря зондово-усиленному КР (TERS) позволяет проводить спектроскопию / микроскопию с разрешением до 10 нм. 172;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс-1891 (НПК ЦН);Предназначен для проведения прецизионных измерений толщин многослойных тонкопленочных структур с субмикронным разрешением, а также исследования спектральных оптических постоянных и структурных свойств материалов с высоким быстродействием в широком спектральном диапазоне 173;ФГБУН Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра Российской академии наук;Тензиометр оптический Attension Theta;Предназначен для измерения величины углов контакта и поверхностного натяжения, для изучения процессов смачиваемости и адсорбции, чистоты, межфазного натяжения, неоднородности поверхности, межфазной реологии и определения величин свободной поверхностной энергии 174;ФГБУН Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра Российской академии наук;Фотоэлектронный спектрометр ЭС-3201;Получение спектров ионизации молекул, при удалении электрона с разных энергетических уровней молекулы, что обеспечивает экспериментальной информацией об электронном, а также пространственном строении молекулы в ее основном состоянии 175;Центр Биоинженерия РАН;Масс-спектрометр Ultraflex III MALDI-TOF/TOF (Bruker);Предназначен для секвенирования рекомбинантных белков «сверху вниз». Подход к секвенированию с использованием reISD использует сверх-быстрые фрагментации в ионном источнике MALDI длительностью порядка наносекунд, чем обеспечивает доминирование фрагментных ионов c- и z/y-типа. Средства MALDI-TDS также включают направленное секвенирование N- и C-«концов» белковых последовательностей с помощью запатентованной технологии Bruker T?-секвенирования. При T?-секвенировании фрагментные ионы, образованные из участков, близким к «хвостам» негидролизованных пептидов, затем анализируются на масс-спектрометре ultraflex III TOF/TOF 176;Юго-Западный государственный университет;Универсальный двухканальный спектральный эллипсометр ES-2LED;Предназначен для определения оптических параметров материалов, толщины оптически прозрачных и полупрозрачных слоев в многослойных структурах, качества обработки и шероховатости поверхностей. В приборе используются оригинальные поляризационные устройства и экспрессные алгоритмы измерений. 177;ООО «Нанодиагностика»;Зондовая лаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ);Измерительный комплекс, включающий сканирующий зондовый микроскоп, ближнепольный оптический микроскоп и конфокальный микрорамановский спектрометр высокого разрешения. Предназначен для проведения измерений характеристик рельефа поверхности образца, а также его электрических, магнитных, наномеханических и других свойств методами контактной и полуконтактной атомно-силовой микроскопии и наносклерометрии с разрешением вплоть до атомарного. 178;ООО «Нанодиагностика»;Профилометр Wyko NT9080 (Bruker AXS);Позволяет исследовать шероховатость и рельеф поверхности наноструктурированных слоев и тонкопленочных покрытий в нанометровом масштабе. 179;ООО «Нанодиагностика»;Анализатор площади поверхности и размеров пор AUTOSORB iQ-C (Quantachrome);Высокоскоростной анализатор площади поверхности и размеров пор позволяет получать изотермы адсорбции и десорбции для широкого спектра газов, определять удельную площадь поверхности по методам БЭТ и Лэнгмюра, анализировать распределения пор по размерам и определять их фрактальную размерность по методам Неймарка-Киселёва и Френкеля-Хелси- Хилла. 180;ООО «Нанодиагностика»;Нанотрибоиндентометр TI950 TriboIndenter (Hysitron);Предназначен для полного спектра наномеханических испытаний материалов посредством динамического индентирования. Позволяет определять микро- и нанотвердость, модуль Юнга, коэффициент трения, исследовать ползучесть, адгезию пленок и покрытий, а также детально изучить механизмы деформации и разрушения материалов на различных иерархических уровнях. 181;ООО «Нанодиагностика»;Наноиндентометр G200 (MTS NanoInstruments);"Предназначен для прецизионного измерения механических характеристик материалов в наношкале методом наноиндентирования. Разрешающая способность: 0,01 нм; диапазон нагрузок: 1 мкН – 10 Н; разрешение по нагрузке: 50 нН." 182;ООО «Нанодиагностика»;Спектрометр энергетического дифракционного рентгеновского микроанализа Inca Energy 350X – Max 80 (Oxford Instruments);Позволяет проводить качественные и количественные исследования элементного и фазового состава образцов, а также получать информацию о пространственном расположении и ориентации микрокристаллитов и зерен в поликристаллических материалах. 183;ООО «Нанодиагностика»;Исследовательский комплекс для анализа зеренной структуры магнетит-гематитовых руд;Предназначен для анализа структуры магнетит-гематитовой руды по изображению шлифа с возможностью определения фазового состава и прогнозирования содержания компонент (фаз) в концентрате (после обогощения) 184;Магнитогорский государственный технический университет им. Г.И. Носова;Контактный профилометр MarSurf XR20 with XT20 (Mahr);"Предназначен для мобильных измерений параметров шероховатости поверхностей в заводских условиях, позволяет проводить измерения на поверхности изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию (на цилиндрических поверхностях; в отверстиях; на плоских поверхностях)." 185;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Спектрометр мессбауэровский МС-1104 Ем (НИИ физики ЮФУ);Изучение состава, магнитной и кристаллической структуры, свойств ферритов и наноматериалов 186;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Анализатор удельной площади поверхности и размеров пор NOVA 1200 e (Quantachrome);Предназначен для определения пористости и площади поверхности различных веществ. Образец исследуемого вещества предварительно очищается путем нагрева в условиях вакуума либо путем продувки в динамическом газовом потоке. После очистки в ячейку с образцом добавляется небольшое количество газа - адсорбата, молекулы которого конденсируются на поверхности образца, образуя монослой.По изменению давления адсорбата можно судить о количестве сорбированного газа, следовательно, и об удельной поверхности образца, исходя из БЕТ- теории (Brunauer, Emmet, Teller). 187;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Универсальный лазерный станок LaserPro Mercury III ME-12 (Hansen);Предназначен для поверхностной обработки и резки различных материалов с помощью CO2 лазера. Система LaserPro Mercury включает в себя управляемый с помощью ПЭВМ модуль лазерного отжига. Мощность лазера = 40 Вт, длинна волны ?=10,6 мкм, частота n=2000 Гц. Температура в рабочей зоне поддерживается на уровне 15 – 30 °С. Максимальная скорость сканирования 100 см/с. Разрешение варьируется от 80 до 390 точек на сантиметр. 188;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Спектральный оптический когерентный микроскоп Michelson Diagnostics;Оптический когерентный микроскоп, работающий на принципе спектральной интерференции в ближнем ИК-диапазоне с перестройкой длины волны источника излучения и обеспечивающий отображение внутренней микроструктуры различных материалов (В- сканов). Оптическая разрешающая способность по глубине среды не хуже 10 мкм. Оптическая разрешающая способность в среде в поперечном направлении не хуже 10 мкм. 189;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Система лазерной модификации поверхности Мини-Маркер 2;Предназначена для гравировки и маркировки различных материалов на основе волоконного лазера. Высокая точность позиционирования до 1 мкм и размер пучка в области перетяжки 50 мкм (и менее при других объективах) позволяют осуществлять микрообработку металлов, а также наноструктурирование поверхности кремния. 190;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Система лазерной искровой спектроскопии LIBS2500plus (Big Sky Laser Technologies);Предназначена для определения качественного состава твердых тел, растворов и газов в реальном времени. Позволяет проводить спектральный анализ в широком диапазоне 200–980 нм (в зависимости от системы) с высоким оптическим разрешением ~ 0.1 нм (FWHM). 191;ФГБУН Институт нефтехимии и катализа Российской академии наук;Хромато-масс-спектрометр GCMS QP2010 (Shimadzu);Позволяет проводить разделение при высоких давлениях (до 970 кПА) и высоких скоростях потока газа-носителя (до 1200 мл/ мин). В сочетании с высокоэффективной системой вакуумирования и быстрым квадруполем это обеспечивает проведение анализа в режиме быстрой хромато-масс-спектрометрии. 192;Санкт-Петербургский государственный университет;Лазерный эллипсометр ЛЭФ-3М (ИФП СО РАН);"Определение параметров поляризации отраженного света для расчета толщины и показателя преломления прозрачных пленок на плоских подложках. Расположение оптических элементов по ходу луча; лазер ? = 632.8 нм; диапазон угла падения пучка света на образец от 45 до 90 градусов." 193;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891М (ИФП РАН);"Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов. Спектроэллипсометр отличается однозначностью вычисления эллипсометрических параметров: они измеряются в полном диапазоне их значений (? - от 0 до 90 градусов; ? - от 0 до 360 градусов) с одинаковой точностью и чувствительностью, что обеспечивает однозначную интерпретацию результатов измерений." 194;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Модуль оптической профилометрии MicroXAM-100 (KLA-Tencor Corp.);Предназначен для измерения неровностей поверхности оптическим методом. Для оценки неровности поверхности часто используют специальный показатель - шероховатость поверхности. Содержит шкалу, на которой и отсчитываются значения показателя шероховатости поверхности. 195;Палеонтологический институт им. А.А.Борисяка РАН;Рентгеновский микроанализатор LINK-860 (JEOL);Предназначен для исследования состава и структуры биологических материалов 196;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Зондовая нанолаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ);Позволяет исследовать оптические свойства образца за пределом дифракции с использованием методов АСМ, сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (СБОМ) и КР-спектроскопии. 197;ФГБУН Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук;Быстродействующий спектральный эллипсометр Эллипс-1891 (ИФП СО РАН);Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов (металлов, полупроводников, диэлектриков и др.), в том числе анизотропных и жидких. В основу комплекса положена быстродействующая статическая схема эллипсометрических измерений. Алгоритмыс читывания сигналов и расчета рабочих параметров обеспечивают очень высокую чувствительность, необходимую для проведения измерений с высоким спектральным разрешением. Использование новой измерительной схемы обеспечивает быстрое сканирование всего спектра или отдельных участков спектра с повышенным спектральным разрешением. С использованием эллипсометра определены составы силицидов железа на границе раздела Si/Fe при разных температурах кремниевой подложки. 198;ФГБУН Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук;Спектрометр поглощения UV-3600 (Shimadzu);Предназначен для получения спектров поглощения конденсированных сред в диапазоне 180–3300 нм. 199;Северо-Кавказский федеральный университет;Универсальный вакуумный комплекс сканирующей зондовой нанолаборатории Интегра Аура (НТ-МДТ);Изучения морфологии поверхностей методом зондовой микроскопии в вакуумной среде. Позволяет анализировать физические (в т.ч. электрические, магнитные, оптические) и химические свойства объекта в диапазоне характерных размеров от миллиметров до ангстрем. 200;Северо-Кавказский федеральный университет;Сканирующая зондовая нанолаборатория ИНТЕГРА Прима (НТ-МДТ);Предназначена для изучения морфологии поверхностей методом зондовой микроскопии. Поддерживает все основные методики АСМ и СТМ. Может быть сконфигурирована для проведения узко-специализированных исследований. 201;Северо-Кавказский федеральный университет;Установка вакуумного напыления Varicoat 430 (Leybold-Heraeus);Предназначен для получения тонких пленок термическим методом, методом лазерной абляции совместно с твердотельным импульсным лазером LS-2138. 202;ФГБУН Институт гидродинамики им. М.А. Лаврентьева Сибирского отделения Российской академии наук;Установка детонационного напыления CCDS-2000 (ИГиЛ СО РАН);Покрытия наносятся на поверхности деталей из металлов, керамики и пластмасс. Установка детонационного напыления, отличается от аналогов точной системой газопитания, дозированной локальной подачей порошка и компьютерным управлением пушкой и манипулятором. Применение двух дозаторов порошка позволяет в автоматическом режиме формировать многослойные композитные покрытия и смесевые слои с программно-заданным соотношением компонентов в слое. 203;Санкт-Петербургский государственный университет;Зондовая станция РМ-5 (Cascade Microtech);Позволяет проводить измерения электрофизических свойств полупроводниковых структур (вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики). 204;Санкт-Петербургский государственный университет;Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс 1891 САГ;"Предназначен для проведения прецизионных измерений толщины однослойных и многослойных тонкопленочных структур, а также исследования спектральных оптических постоянных (показателя преломления и коэффициента поглощения), структурных свойств материалов (пористость; наличие, концентрация и распределение примесей в пленке)." 205;Санкт-Петербургский государственный университет;Автоматизированная система ASAP 2020MP (Micromeritics);Предназначена для анализа площади поверхности и исследования пористой структуры дисперсных материалов. Позволяет проводить полный анализ микро- и мезопор, их распределения по размерам и определение площади поверхности, теплоты и скорости адсорбции. Диапазон измерения диаметра пор от 0.35 до 500 нм. Возможен анализ образцов с удельной поверхностью от 0.2 м2. 206;ФГБУН Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр Microvision 2 (MKS Instruments);Позволяет проводить газовый анализ и регистрировать масс-спектры в режиме реального времени. 207;ФГБУН Институт механики сплошных сред Уральского отделения Российской академии наук;Эллипсометр Эллипс-1891 САГ (ИФП СО РАН);Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов (металлов, полупроводников, диэлектриков и др.), в том числе анизотропных и жидких. 208;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Комплекс для микроанализа в РЭМ IE350-IW500-HKL (OXFORD INSTRUMENTS);Предназначен для проведения энергодисперсионного экспресс-анализа состава и структуры образца 209;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Система напыления металлов JFC-1600 (JEOL);Предназначена напыление различных металлов (золота, платины) на поверхность непроводящих геологических образцов для высокоразрешающей РЭМ. 210;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Мессбауэровский спектрометр Ms-1104Em (НИИ ИФ);Измерение мессбауэровских спектров железосодержащих веществ. Мессбауэровский источник гамма-излучения закрытого типа кобальт-57. 211;Владимирский государственный университет;Зондовая станция Ntegra-Spectra Upright max (НТ-МДТ);Позволяет в процессе сканирования проводить наблюдение участка образца непосредственно под зондом с разрешением 0.4 мкм. Оптическая измерительная головка обеспечивает получение оптического изображения высокого разрешения (0.4 мкм) поверхности исследуемого объекта, в том числе, и непосредственно под острием зонда, облучение светом видимого диапазона поверхности и сбор светового излучения образца из-под острия зонда. Кроме того, в сочетании со спектрометром прибор может функционировать как Конфокальный Рамановский микроскоп. Большое значение числовой апертуры использованного объектива (NA=0.7) обеспечивает возможность возбуждения светом поверхности образца под значительными углами падения. Это дает возможность сформировать под острием зонда световое пятно, обладающее значительной компонентой электрического поля, направленной нормально к поверхности. Такое поле оптимально для организации усиленных острием зонда оптических эффектов ближнего поля, таких как гигантское комбинационное рассеяние. 212;Владимирский государственный университет;Учебно-научный комплекс, зондовая станция Nanoeducator II (НТ-МДТ);Предназначен для ведения проектной и исследовательской деятельности в рамках дополнительного образования. Комплекс оборудования используется для преподавания естественнонаучных дисциплин, междисциплинарного подхода, и для преподавания основ нанотехнологии, а так же для обучения и повышения квалификации работников образования субъектов РФ по соответствующим дисциплинам. 213;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Установка высшей точности УВТ-100-А-2000 (НИЦПВ);Предназначена для воспроизведения и передачи единицы длины в нанометровом диапазоне 214;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Спектроскопический УФ-ВИД (UV-VIS) эллипсометр SE 800 (SENTECH Instruments GmbH);Высокоточные измерения толщины и оптических характеристик, как однослойных пленок, так и многослойных пленочных наноструктур (коэффициент преломления, показатель поглощения) в УФ и видимом диапазоне длин волн (280 - 850 нм)Спектральный диапазон: 280 – 850 нмПринцип функционирования: PSA/PCSAРазмер образца: до 150 ммТолщина подложки: до 7 ммИсточник света: ксеноновая лампа 75 ВтПоляризатор/ анализатор: призма Глана-ТейлораКоэффициент затухания: 10-6Угловое разрешение: 0,01° 215;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Профилометр Протон-МИЭТ, модель 130;Профилометр измеряет 28 параметров шероховатости и 4 параметра волнистости наружных и внутренних (пазы, отверстия) поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляет, как прямую, так и изогнутую по радиусу линию (шарики, валы и т.д.), с измерением этого радиуса. Рабочая температура в диапазоне 25 - 1600°C Точность 5% полной шкалы Разрешение 1,25 нм/разряд Воспроизводимость 150 нм Диапазон измерений 100 – 5000 мкм Точность измерения 0,1 – 0,5 мкм Скорость измерения 0,5 – 2 мм/с Чувствительность индуктивного датчика 0.002 мкм Усилие зонда 4 мН Диаметр индукционного датчика 10 мкм 216;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс-1881А;Предназначен для определения коэффициента экстинкции и показателя преломления 217;ЗАО Концерн Наноиндустрия;Кондуктометр лабораторный переносной КПЦ-026Т;Предназначен для измерения удельной электропроводности (УЭП) воды и водных растворов низкой концентрации. 218;ЗАО Концерн Наноиндустрия;Фотометрический спектральный эллипсометр Эльф (ИН МФК);Предназначен для измерения толщин пленок и слоев в тонкопленочных структурах, исследования структуры материалов и наноструктур, анализа состояния поверхности и структуры тонких поверхностных слоев методами эллипсометрии. Исследует в обычной атмосфере, при различных температурах и давлениях, в различных средах, включая агрессивные. Обеспечивает: бесконтактность, неразрушающий характер, оперативность измерения. Может работать в режиме спектрального фотометра. Применение: для исследования и технологического контроля процессов производства наноразмерных материалов и структур, электронных компонентов и др. 219;ООО «ВНИИ «Спектр»;Мобильный ОЧГ спектрометр для полевого применения СЕГР-MCA527 (ВНИИ Спектр);Предназначен для регистрации гамма и рентгеновского излучения при радиологическом контроле радиационно опасных объектов. 220;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Анализатор удельной поверхности по методу БЭТ ASAP-2000 (Micromeritics);Предназначен для анализа площади поверхности и исследования пористой структуры материалов с применением методов физической сорбции. Полный анализ микро- и мезопор, их распределения по размерам и определение площади поверхности. Диапазон измерения диаметра пор от 0.35 до 500 нм. 221;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Спектрофлуориметр Флюорат-02-Панорама (Альфа-Эталон);"Предназначен для широкого круга научных и методических исследований спектрально-временных характеристик люминесценции самых разнообразных объектов: растворы; твёрдые образцы, в том числе замороженные до температуры жидкого азота; оптические стёкла; порошки. Для прибора разработана гамма приставок, позволяющих проводить измерения вне кюветного отделения прибора. Вместе с тем, прибор аттестован как анализатор Флюорат®-02, что позволяет проводить измерения массовой концентрации веществ в соответствии с утверждёнными методиками (кроме хрома и урана). Имеется модификация прибора являющаяся спектрофлуориметрическим детектором для ВЭЖХ. Компьютерное программное обеспечение обеспечивает управление прибором во время проведения измерений и позволяет проводить обработку результатов." 222;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Прибор SORBI-M® со станцией подготовки образцов SORBIPREP® (МЕТА);Предназначены для измерения текстурных характеристик дисперсных и пористых материалов методом низкотемпературной адсорбции инертных газов. Приборы имеют возможность измерения высокопылящих нанопорошков с размером частиц от 10 нм. Специализированное программное обеспечение позволяет представить процесс измерения в реальном масштабе времени в графическом виде. Приборы имеют один универсальный порт для подготовки и анализа образца. 223;ООО Энергоавангард;Установка совмещения и экспонирования MDA-400LJ (MIDAS SYSTEM);Предназначена для технологий изготовления MEMS, оптоэлектроники и др. В режиме контактного экспонирования система может достигнуть прецизионной точности разрешения в 1 мкм. MDA-400LJ - это идеальный и экономичный вариант для использования в лаборатории для проведения НИОКР и для малых объемов производства. Обработка пластин до 100 мм. 224;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Профилометр Talystep (Taylor-Hobson);Прибор для измерения параметров шероховатости, при перемещении алмазного зонда малого радиуса кривизны 0,1 мкм по исследуемой поверхности. В качествеобразца измерений на рис. 1. приведен профиль поверхности ситалловой подложки, записанный на длине 0,32 мм. 225;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Вакуумный пост ВУП-5 с приставками для термического и электронно-лучевого напыления пленок;Предназначен для получения пленок из различных материалов с высокой производительностью методом магнетронного распыления, а также для подготовки объектов, исследуемых с помощью электронного микроскопа или других аналитических приборов. Прибор может быть применен для исследований в области физики, химии, биологии, медицины и других областях нayки и техники. 226;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Ручная зондовая станция Cascade M150 (Cascade Microtech);Предназначена для проведения точных и надежных измерений вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик в непрерывном или импульсном режиме на пластине, возможных только при осуществлении качественного, стабильного и надежного контакта 227;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9010MX (JEOL);Предназначен для высокоточного исследования химического состава и типа химической связи на поверхности исследуемых образцов. Возможно тестирование поверхности большого количества образцов, включая металлы, полупроводники, высокомолекулярные полимеры и др. 228;Рязанский государственный радиотехнический университет;Квадрупольный фильтр масс УАВ.Э-100/2-006;Предназначен для контроля состава газовой среды при давлении 1•10-3 Па (7,5•10-6 мм рт.ст.). Масс-спектрометр обеспечивает разрешающую способность, измеренную на уровне 10 % высоты массового пика, не менее номера регистрируемой массы. Диапазон массовых чисел: верхний предел - не менее 100 а.е.м., нижний предел - не более 2 а.е.м.Пороговая чувствительность по аргону - не более 10-9 Па (7,5•10-12 мм рт.ст.). Квадрупольный фильтр масс относится к группе динамических масс-спектрометров пролетного типа. Его аналитическая часть, ответственная за выработку сигналов спектра масс, содержит ионный источник, анализатор и приемник ионов. 229;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Регистратор магнитных наночастиц БиоМаг;Сверхчувствительный прибор для регистрации магнитных наночастиц, основанный на нелинейном намагничивании МЧ на двух частотах и регистрации отклика на комбинаторных частотах. 230;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Рамановский спектрометр Jobin Yvon HR 800 (Horiba);Позволяет производить: -Идентификацию твердых веществ (включая минералы), жидкостей, газов -Фазовую диагностику включений в минералах (твердые, газовые, жидкие, газово-жидкие включения) -Оценку степени кристалличности вещества, структурного состояния -Исследование изоморфизма и полиморфизма -Изучение политипии минералов 231;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Спектрометрический комплекс PHOIBOS-150 (SPECS) для исследования поверхности;"Предназначен для определения химического состава веществ и материалов с содержанием элементов Li - U от 0,1 до 100 ат.%; для установления особенностей электронного строения и химического состояния; для изучения геометрических особенностей." 232;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Раман-спектрометр TRI VISTA 777 (S&I);Позволяет проводить измерения КР жидкостей, газов, твердых тел: кристаллов, стекол, порошков, полимеров. Система полностью автоматизирована, перестройка от одного режима к другому осуществляется простым нажатием мышки. Предусмотрена возможность согласования системы с микроскопом и оборудованием для проведения температурных измерений. 233;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Автоматизированная спектрометр RamanSpec RSO 785 (Thermo Scientific);Предназначен для исследования состава и структуры вещества методом рамановской спектроскопии 234;ООО Энергоавангард;Установка вакуумного напыления Nexdep (Angstrom Engineering);Предназначена для различных процессов вакуумного нанесения пленок, таких как магнетронное напыление (sputter deposition), электронно-лучевое испарение (electron beam evaporation), ионное напыление (ion-assisted deposition), резистивное термическое испарение (resistive thermal evaporation), а также оборудование для эмуляции космического пространства. 235;ООО Энергоавангард;Установка вакуумного напыления Covap II (Angstrom Engineering);Предназначена для проведения множества процессов осаждения. Конфигурируется устройством с обратной связью для управления процессами соосаждения, системой хранения рецептов и уникальной складной камерой для улучшенного доступа. 236;ФГБУН Якутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Анализатор удельной поверхности Сорбтометр-М;Предназначен для измерения объема газа-адсорбата (азота, аргона, либо иного инертного газа), адсорбируемого на поверхности дисперсных и пористых материалов, при температуре жидкого азота и различных значениях пропорционального состава газовой смеси с целью получения изотерм адсорбции (десорбции). 237;ФГБУН Якутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий РФ-спектрометр SRS 3400 (SIEMENS);Предназначен для определения элементного (химиче­ского) состава твердых, порошкообразных, жидких и газообразных веществ. Выполнение экспресс-анализов SRS-3400 в сравнении с традиционно применяемыми сканирующими РФ-спектрометрами занимают меньше време­ни и отличаются более высокой аналитической универсальностью. 238;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;СЗМ комплекс рамановской спектроскопии ИНТЕГРА Спектра (НТ-МДТ);Предназначен для исследования трехмерного распределения спектров люминесценции и комбинационного рассеяния света в различных режимах сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ), включая наноиндентацию, наноманипуляцию и нанолитографию, а также исследование оптических свойств объектов за пределом дифракционных ограничений. 239;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Спектроскопический эллипсометр PhE-102 (Micro Photonics Inc.);Предназначен для измерения показателя преломления, коэффициента экстинкции и толщины тонких пленок на различных подложках. Объекты исследования: объемные образцы, тонкие пленки, многослойные оптические покрытия. 240;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Быстродействующий встраиваемый эллипсометр ЛЭФ-959 (ИФП СО РАН);Принцип действия основан на измерении состояния поляризации светового пучка, которое определяется по результатам сравнения углов поворота поляризатора, компенсатора и анализатора. Решаемые задачи: определение показателя преломления и поглощения (оптических постоянных) материалов (в твердом и жидком состояниях), исследование пленок и пористых объектов, включая, шероховатости поверхностей, а также профили распределения компонентов в многослойных структурах. 241;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Автоматический эллипсометр АСЭБ-10 М (ИФП СО РАН);Предназначен для нанодиагностики поверхности шероховатых, неоднородных, анизотропных и пористых материалов, а также слоистых и многослойных наноструктур методом полной эллипсометрии. 242;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Анализатор удельной поверхности СОРБТОМЕТР-М (ИК СО РАН);Прибор позволяет быстро и просто определять величины удельной поверхности катализаторов, адсорбентов, сенсоров и других пористых тел по методу адсорбции-десорбции стандартного газа азота при криогенных условиях. Принцип работы обладают рядом преимуществ по сравнению с дорогостоящими вакуумными установками объемного типа. Имеет высокую производительность. 243;ФГБУН Институт аналитического приборостроения Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр МС7-100 (ИАП РАН);"Предназначен для анализа состава газовых смесей, в том числе для определения концентраций компонентов выдыхаемого воздуха и их идентификации в процессе дыхательного цикла. Решаемые задачи: • исследование процессов дыхания человека и животных;• оценка состояния окружающей среды• контроль газовыделения в технологических процессах напроизводстве.Прибор может быть использован в медицине, экологии, промышленном производстве, геологии, как для массовых анализов, так и для научных исследований.Конструктивное исполнение масс-спектрометра МС7-100 и его относительно малые габариты позволяют использовать прибор в передвижных контрольно-аналитических лабораториях." 244;ФГБУН Институт аналитического приборостроения Российской академии наук;Рентгеноэлектронный спектрометр для экспрессного химического анализа (ИАП РАН);Ориентирован на решение задач определения и контроля химического состава твердых материалов, в том числе физико-химических свойств материалов порошковых катализаторов. Спектрометр дает информацию о качественном и количественном составах, обеспечивая неразрушающий контроль образца. Спектрометр разработан с целью оснащения учебно-исследовательских лабораторий аналитическими средствами для экспрессной диагностики химического состава материалов. 245;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Адсорбционная установка Sorptomatic-1900 (Carlo Erba);Прибор объемного, вакуумного статического типа для измерения характеристик пористой структуры и удельной поверхности массивных и порошкообразных твердых объектов. Основан на принципе адсорбции десорбции стандартных газов: азот, аргон, диоксид углерода. Получение данных проводится из интерпретации изотерм адсорбции-десорбции. 246;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Анализатор поверхности и пористости ASAP-2020 (Micromeritics);Предназначен для определения удельной площади поверхности и исследования характеристик пористой структуры материалов разного химического состава с применением методов физической сорбции. Полный анализ микро- и мезопор, их распределения по размерам. Диапазон измерения диаметра пор от 0.35 до 500 нм. 247;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Хемосорбционная установка AutoChem-2920 (Micromeritics);Полностью автоматизированный хемосорбционный анализатор, который обеспечивает исследование поверхностных реакций, кислотности поверхности, термо восстановление и термоокисление различных материалов, включая измерение дисперсности нанесенных металлов. 248;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Гелиевый пикнометр AccuPyc-1330 (Micromeritics);Обеспечивает высокоскоростное и высокоточное измерение объема и вычисление истинной плотности порошков, твердых материалов, паст. Стандартные объем камеры газового пикнометра: 10 мл. Время анализа 2-3 мин. Без вмешательства оператора собираются данные, выполняются вычисления, точно и достоверно отображаются полученные результаты. Принцип работы прибора заключается в помещении образца в калиброванную камеру, наполненную гелием. Молекулы газа проникают в самые мельчайшие поры образца. То есть образец вытесняет объем газа, равный объему только истинно твердой фазы. Таким образом получают значения истинной плотности материала, близкой к рентгеновской. 249;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский флуоресцентный спектрометр ARL OPTIM’X (Thermo Techno);Предназначен способом рентгеноспектральной флуоресцентной спектрометрии на основе волнодисперсионного метода для элементного количественного анализа от натрия до урана всех элементов. 250;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance с высокотемпературной HТK16 и реакционной камерами XRK-900 (Bruker);Область применения: Качественный и количественный фазовый анализ проб. Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Полнопрофильный структурный анализ по РитфельдуОпределение степени кристалличности цеолитов.Определение и уточнение параметров кристаллической решетки. 251;ООО Энергоавангард;Термополевой электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530F Hyperprobe (JEOL);Благодаря радикальному улучшению характеристик, расширяются области использования микрозонда, включая ранее недоступные, такие, как анализ наночастиц, точный количественный анализ низких концентраций элементов, в том числе легких, использование микрозонда в решении задач геохронологии и т.д. На колонну, в дополнение к волновым спектрометрам, можно установить один энергодисперсионный спектрометр, который позволяет качественный экспресс-анализ всего спектра (10-20 сек), а также количественный анализ основных элементов (60-150 сек), картирование по площади и вдоль линии. 252;ООО Энергоавангард;Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230 Superprobe (JEOL);Электронно-оптическая система с мощной системой стабилизации, от 1 до 5 волновых спектрометров плюс один энергодисперсионный, большой выбор программного обеспечения, высокоточный гониометрический столик с моторизованным приводом, – все это позволяет оператору днем только намечать точки для анализа. 253;ООО Энергоавангард;ОЖЕ-микроанализатор JAMP-9500F (JEOL);Обеспечивают получение информации о химсоставе образцов из малого информационного объёма, что определяет их высокие показатели по пространственному разрешению. Преимущество Оже-электронных микроанализаторов заключается в возможности исследования одномерных нанообъектов, а именно тонких (вплоть до одного монослоя) пленок, а также весьма высокая локальность анализа в латеральном направлении. Данные приборы в массивных образцах обеспечивают получение информации по элементному и химическому составу в областях глубиной до 1 нм и диаметром около 8 нм. 254;ООО Энергоавангард;Аналитическая зондовая станция LCS-4000 с интегрированным лазерным резаком (analytical probe stations with laser cutting system) MicroXact Inc.;Зондовая станция с интегрированным лазерным резаком с высоким соотношением цена/качество с управлением с ПК или ручным управлением для исследований и мелкосерийных производств с возможностью апгрейда DC и RF измерения, измерение емкости. Дает максимум гибкости в исследовании полупроводников, лазерной подгонке, лазерного перерезания контактов, анализе отказов, маркировке и лазерного снятия поверхностного слоя в многослойных структурах. Все действия делаются на микроскопическом уровне. Предлагается как с полностью ручным управлением так и с полуавтоматическим управлением и может быть легко сконфигурирована для большого числа применений с большим числом различных опций. 255;ООО Энергоавангард;Полуавтоматическая аналитическая зондовая станция SPS-2600 (analytical probe stations) MicroXact Inc.;Полуавтоматическая зондовая станция с высоким соотношением цена/качество с управлением с ПК или ручным управлением для исследований и мелкосерийных производств с возможностью апгрейда. DC и RF измерения, измерение емкости возможностью апгрейда. 256;ООО Энергоавангард;Аналитическая зондовая станция SPS-2000 с ручным управлением (analytical probe stations) MicroXact Inc.;Предназначена для DC, RF и ёмкостных измерений, однако станция также может быть сконфигурирована для температурных и светочувствительных измерений и высоко частотных измерений. Станция полностью готова к апгрейду и возможности конфигурации под любые требования заказчиков. 257;ООО Энергоавангард;Оптический асферический профилометр PLu APEX для инспекции поверхности (SENSOFAR);Оптический профилометр, способный измерять любые оптические поверхности – от асферических до плоских, а так же поверхности произвольной формы. Это особенно полезно при измерении оптики. Позволяет производить очень быстрые и точные измерения со скоростью до 1 мм/сек. Оснащен высокоточным предметным столиком на пневмо подшипниках и поставляется с мощным программным обеспечением, позволяющим быстро получать точные результаты измерений. 258;ООО Энергоавангард;Оптический профилометр NEOX для инспекции поверхности (SENSOFAR);Предназначен для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества. 259;ООО Энергоавангард;Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments);Предназначен для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. 260;ООО Энергоавангард;Лазерный эллипсометр SE 400adv (SENTECH Instruments);Предназначен для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. 261;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Анализатор удельной поверхности Quantochrome NOVA1200e;Определение удельной и общей площади поверхности по методу БЭТ, определение пористости порошков и объемных образцов 262;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Анализатор площади поверхности и размеров пор Nova 1200e (Quantachrome);"Предназначен для определения пористости и площади поверхности различных веществ. Образец исследуемого вещества предварительно очищается путем нагрева в условиях вакуума либо путем продувки в динамическом газовом потоке. После очистки в ячейку с образцом добавляется небольшое количество газа - адсорбата, молекулы которого конденсируются на поверхности образца, образуя монослой. По изменению давления адсорбата можно судить о количестве сорбированного газа, следовательно, и об удельной поверхности образца, исходя из БЕТ- теории (Brunauer, Emmet, Teller). При дальнейшем добавлении газа поверхность продолжает покрываться молекулами адсорбата; таким образом происходит постепенное заполнение пор. Расчет распределения пор по размерам проводится различными методами: BJH. (Barrett, Joyner, Halenda), использующим зависимость между размерами мезопор и равновесным давлением газа над ними, t - метод (carbon black) для исследования микропор; NLDFT, позволяющий получить точное распределение микро- и мезопор одновременно, метод Дубинина-Радушкевича, характеризующий энергию адсорбции микропор, и другие методы. Также вычисляется общий объем и средний радиус пор." 263;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Сканирующий зондовый комплекс микрорамановской спектроскопии NTEGRA Spectra (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 264;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Оптический спектрофлуориметр с компьютерным управлением FLSP920 Steady State (Edinburgh Instruments);Предназначен для оптических исследований флуоресценции 265;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Масс-спектрометр Bruker ultraflex III MALDI-TOF/TOF;Предназначен для секвенирования рекомбинантных белков «сверху вниз». Подход к секвенированию с использованием reISD использует сверх-быстрые фрагментации в ионном источнике MALDI длительностью порядка наносекунд, чем обеспечивает доминирование фрагментных ионов c- и z/y-типа. Средства MALDI-TDS также включают направленное секвенирование N- и C-«концов» белковых последовательностей с помощью запатентованной технологии Bruker T?-секвенирования. При T?-секвенировании фрагментные ионы, образованные из участков, близким к «хвостам» негидролизованных пептидов, затем анализируются на масс-спектрометре ultraflex III TOF/TOF 266;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Комбинированный квадруполь-времяпролётный масс-спектрометр сверхвысокого разрешения MaXis impact (Bruker);Прибор позволяет обнаруживать и идентифицировать как известные соединения и их метаболиты, так и неизвестные соединения в широком диапазоне масс от 20 до 40 000 Да (лекарственные препараты, наркотики, пестициды и др.). Используется для количественной оценки соединений. 267;ФГБУН Институт химической биологии и фундаментальной медицины Сибирского Отделения Российской Академии Наук;Жидкостный масс-спектрометр QQQ 6420 (Agilect Ntchnologies);Предназначен для сверхчувствительного количественного анализа, с большим выбором ионных источников и расширенными возможностями по модернизации. 268;ФГБУН Институт химической биологии и фундаментальной медицины Сибирского Отделения Российской Академии Наук;Масс-спектрометр MALDI-TOF REFLEX III (Bruker Daltonics);"Широкоапертурная ионная оптика: Сфокусированный поток ионов; Минимальный риск загрязнения источника ионизации; Минимальная потребность в очистке и обслуживании источника ионизации. Запатентованный сверхбыстрый лазер: 2кГц сверхбыстрый твердотельный УФ лазер 355 нм, совместимый с различными матрицами и образцами; Варьируемая фокусировка пучка от 10 мкм до более чем 100 мкм; Длительный срок непрерывной работы.Визуализация образца в HD качестве: Ультрасовременная оптика для визуализации образцов с высоким разрешением и кристально чистым изображением; Цветное изображение в формате FullHD (1080р); Управляемый переменный фокус для просмотра различных поверхностей.TrueCleanTM: Запатентованная полностью автоматизированная лазерная система очистки ионного источника; Высокоэффективная быстрая очистка в автономном режиме." 269;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Механический профилометр Dektak 150 (Veeco Instruments);Анализа формы плоских поверхностей в различных областях промышленности, исследование шероховатости поверхности. Физика конденсированного состояния вещества (физика тонких пленок, физика поверхности), лазерная физика и лазерная технология, микроэлектроника, физика плазмы, контроль качества поверхности. 270;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Стилусный профилометр Dektak XT (Bruker AXS);"В микро- и наноэлеткронике для получения и анализа данных о профиле поверхности образца. Сканирование поверхности с помощью стилуса (контактный метод), измерение шероховатости поверхности.2D-измерение профиля поверхности; возможность 3D-измерения / анализа." 271;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Зондовая станция EPC1000 (Ecopia);Установка предназначена для тестирования электрических свойств полупроводниковых компонентов (чипов, ламп, подложек, элементов smd типа и т.п.) с использованием внешних генераторов и анализаторов сигналов. 272;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Порометр POROMETER 3G zh (Quantachrome Instruments);Прибор предназначен для измерения пористости. 273;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Измерительная станция AUTOSORB-iQ-MP (Quantachrome Instruments);Комплекс автоматического анализа удельной поверхности и размеров пор предназначен для исследования микропористых материалов. 274;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Системы осаждения тонких пленок PVD 75 (Kurt J. Lesker Company);"Установка предназначена для осаждения тонких металлических покрытий из паровой фазы на поверхность изделий из полупроводниковых; кварцевых, стеклянных и прочих диэлектрических материалов в вакууме. Применяется в цикле изготовления микроэлектронных компонентов, интегральных микросхем и подобных устройств микроэлектронной промышленности." 275;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Масс-спектрометрический детектор MS-8040 (Shimadzu);Предназначен для надежной идентификации и воспроизводимого количественного анализа следов аналитов в сложных матрицах, который находит применение в различных областях: анализ пищевых продуктов, фармацевтика (включая фармакокинетику), экология, токсикология, перинатальный скрининг. В сочетании с хроматографической системой для ультра-ВЭЖХ LC-30 Nexera, базируясь на патентованных технологиях (UltraFastTechnologies), включающих высокоскоростную регистрацию MRM-переходов , высочайшую скорость сканирования и минимальное время переключение полярностей, LCMS-8040 может резко увеличить аналитическую производительность. В дополнение к этому, усовершенствованная ионная оптическая система UF-LensTM и уникальная соударительная ячейка UF-SweeperTM II обеспечивают более высокую чувствительность, расширяя потенциальный диапазон применения LC/MS/MS. 276;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Рентгеновский спектрометр СПЕКТРОСКАН МАКС-GV;Предназначен для определения содержаний элементов в диапазоне от Na до U в веществах, находящихся в твердом, порошкообразном, растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности или осажденных на фильтры. 277;ФГБУН Лимнологический институт Сибирского отделения Российской академии наук;Кондуктометр «Horiba»;Предназначен для определения электропроводимости растворов 278;ФГБУН Лимнологический институт Сибирского отделения Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7500;Предназначен для определения концентраций элементов (от Be до U) с высокой чувствительностью в воде и почве, который обеспечивает проведение детальных экологических исследований природных систем как на макро-, так и на микроуровне. 279;ФГУП «Центральный научно-исследовательский институт химии и механики»;Анализатор удельной поверхности и пористости Nova 4200e (Quantachrome);Предназначен для измерения удельной площади поверхности по методам БЭТ, STSA, Лэнгмюра и другими методами, а также анализа размеров пор и их распределения по размерам по различным моделям. 280;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Установка вакуумного напыления Edwards Auto306 (BOC Edwards);Напыление металлов и углерода в вакууме на поверхность образцов для подготовки образцов для электронной микроскопии 281;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Масс-спектрометр PHI-6300 (Physical Electronics) время-пролетный;Предназначен для анализа элементного состава в твердых пробах различных материалов 282;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Профилограф-профилометр ПМ7 (Абрис);Предназначен для измерения шероховатостей поверхности 283;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Трехмерный профилометр MICRO MEASURE 3D station (STIL);Трехмерная бесконтактная профилометрия. Исследование морфологии поверхности и толщины тонких пленок. 284;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Оже-электронный спектрометр Шхуна-2 (Электрон);Предназначен для анализа элементного состава материалов, а также: Анализ элементного состава поверхностных слоев материалов.Исследование профилей концентрации элементов по глубине в соединениях, сплавах, тонкопленочных структурах и на границах раздела.Исследование диффузионных процессов.Определение толщин пленок и толщин границ раздела между тонкими пленками. 285;Уфимский государственный нефтяной технический университет;Портативный рентгенофлуоресцентный анализатор химического состава (спектрометр) Delta Premium (Olympus NDT);Предназначен для определения химического состава материалов 286;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ;Предназначен для нанодиагностики поверхности шероховатых, неоднородных и анизотропных материалов и слоистых наноструктур методом полной эллипсометрии. Работа комплекса основана на измерения полного вектора Стокса или 16 элементов матрицы Мюллера, которые дают исчерпывающую информацию об оптических свойствах анизотропной, а также несовершенной диффузно-ассеивающей поверхности деполяризующих материалов применяемых в наноиндустрии. 287;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс-1891;"Назначение: технологический контроль многослойных структур; технологический контроль роста сложных наноструктур в реальном времени" 288;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Лазерный быстродействующий эллипсометр ЛЭФ-757;"Назначение: технологический контроль поверхности и слоистых наноструктур; технологический контроль ростовых процессов в реальном времени." 289;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Анализатор Флюорат-02-2М (Люмэкс);Измерение массовой концентрации органических и неорганических веществ в области спектра 200...650 нм 290;ФГБУН Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения Российской академии наук;Интерференционный микроскоп-нанопрофилометр МНП;Предназначен для измерения высоты рельефа поверхностей высокого класса чистоты с разрешением менее 0.1 нм в диапазоне от 0 до 50 мкм. 291;ФГБУН Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения Российской академии наук;Оптико-электронная система контроля основных геометрических параметров дистанционирующих решеток «РЕШЕТКА-М»;Автоматические бесконтактные измерения и контроль геометрических параметров дистанционирующих решеток (ДР) тепловыделяющих сборок реакторов (количество ячеек > 300 шт.). 292;ФГБУН Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения Российской академии наук;Оптико-электронное устройство контроля геометрических параметров ТВЭЛ КОНТРОЛЬ-1;Автоматические бесконтактные измерения с высокой точностью и производительностью наружных диаметров длинномерных цилиндрических изделий (проволок, кабелей, труб), а также длин и отклонений от прямолинейности трубочных изделий (например,ТВЭЛ ядерных реакторов). 293;ФГБУН Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения Российской академии наук;Оптико-электронная система ПРОФИЛЬ;Автоматические бесконтактное измерение глубины и профиля дефектов на поверхности оболочки тепловыделяющих элементов (ТВЭЛ) атомных электростанций. 294;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments);Предназначен для проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Для измерения нанопленок. 295;Уфимский государственный нефтяной технический университет;Пикнометр Поромер (Экогеоспром);Определение физических свойств высоковязких сред 296;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (МКS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов;Для выполнения магистрантами ЕНМФ лабораторных, практических и научных работ по специальным дисциплинам в рамках магистерских программ Физика конденсированного состояния, Физика плазмы 297;Бурятский государственный университет;Кондуктометр Эксперт-002 (мод2-6п);Предназначен для измерений удельной электрической проводимости (УЭП), температуры и расчетов по результатам измерений УЭП, приведенной к температуре 25°С, удельного сопротивления, общей минерализации контролируемой среды (вода, водные растворы веществ, прочие жидкости) 298;Кубанский государственный университет;Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ (ЦНТ);Предназначен для определения толщины неорганических и органических тонкопленочных материалов. 299;ООО Институт Рентгеновской Оптики;Портативный рентгеновский дифрактометр «РИКОР-6»;Предназначен для исследования фазового и элементного состава неорганических материалов любых форм и размеров, для структурного и элементного анализа порошковых и жидких образцов, а также крупногабаритных деталей. Функционально рентгеновский дифрактометр совмещен со спектрометрическим энергодисперсионным каналом, что позволяет получать информацию, как об элементном составе, так и о структуре образца. 300;ООО Институт Рентгеновской Оптики;Рентгеновский флуоресцентный спектрометр - Анализатор Сенсор «XFA - 200»;Предназначен для рентгеноспектральной флуоресцентной спектрометрии на основе метода энергетической дисперсии. Широко применяется для обнаружения металлов и других компонентов в жидкостях (растворах) со средней и относительно высокой концентрацией целевых элементов. Предел обнаружения для стандартного варианта данного метода составляет приблизительно несколько десятков ррm. 301;ООО Институт Рентгеновской Оптики;Микрофокусный рентгенофлюоресцентный спектрометр МХ-10;Предназначен для проведения рентгенофлюоресцентной спектрометрии веществ. Рекордно маленькое фокальное пятно — 10 микрон достигнуто использованием поликапиллярной оптики (линзы) Кумахова. Спектрометр предназначен для неразрушающего качественного и количественного определения массовой концентрации элементов от Mg12 до U92 содержащихся в образце. Образцы могут быть жидкими, твердыми или порошкообразными 302;Государственный университет - учебно-научно-производственный комплекс;Профилометр-профилограф Абрис ПМ7.2;Измерения шероховатости и запись профиля поверхностей деталей 303;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Гибридный квадрупольно-времяпролетный хромато-масс-спектрометр micrOTOF-Q II (Bruker);Определение молекулярной массы с высоким разрешением в целях: установления строения органических веществ, состава материалов, анализа сложных смесей. Качественный и количественный анализа в криминалистике и экологии, исследования метаболомики, молекулярной фрагментации органических веществ. 304;Петрозаводский государственный университет;Профилометр, модель 130 (ПРОТОН-МИЭТ);Предназначен для измерения неровностей поверхности 305;Петрозаводский государственный университет;Установка для микротравления Veeco 7760;Предназначена для ионной имплантации и травления 306;ОАО «Волжский научно-исследовательский институт углеводородного сырья»;Рентгенофлюоресцентный анализатор элементного состава «MINIMATE»;Количественное определение содержания серы в нефтепродуктах по ГОСТ Р 51947-2002 «Нефть и нефтепродукты. Определение серы методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектрометрии» (до 50 ppm). 307;Комсомольский-на-Амуре государственный технический университет;Измеритель шероховатости TR-200 (Time Group);Прибор предназначен для измерения шероховатости твердых поверхностей изделий 308;Северо-Кавказский федеральный университет;Универсальный энерго-дисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Х-Calibur с опцией SDD - детектор в комплекте;Исследование химического состава веществ 309;Южный федеральный университет;Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектральной эллипсометрии 310;Ульяновский государственный университет;Масс-спектрометрический детектор ISQ (Thermo Scientific);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области квадрупольной масс-спектрометрии 311;Ульяновский государственный университет;Анализатор рентгеновский БРА-17;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеноспектрального анализа 312;Южный федеральный университет;Многофункциональный рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALA B250 (Thermo Fisher Scientific);Многофункциональный рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALAB 250 вместе с опциями представляет собой систему анализа поверхности, использующую следующие методы анализа: рентгеноэлектроная спектроскопия РФЭС (XPS), ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия УФЭС (UPS), оже-электронная спектроскопия ОЭС (AES), спектроскопия рассеяния медленных ионов (ISS). 313;Институт «Международный томографический центр» Сибирского отделения Российской академии наук;Масс-спектрометр тандемный Ultraflex в комплекте с рабочей станцией (Bruker Daltonics);"Научное лабораторное оборудование Ионизация MALDI, источник ионов scoutMTP™ с системой широкодиапазон-нойимпульсной экстракции ионов PAN™; твердотельный лазер с частотой им-пульсов 200 Гц и технологи-ей smartbeam™; Время-пролетный (TOF) анализатор для работы в линейном иотражательном режимах; тандемный блок LIFT™ для работы вTOF/TOF (MS/MS) режиме; блок для ударной диссоциации ионов (CID)" 314;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Сканирующий нанотвердомер Наноскан-3D (ТИСНУМ);Реализуемые методики: 1. Контактный динамический режим сканирования (профиль поверхности карта модуля упругости/тангенс потерь). Шаг сканирования: 0.15 нм по вертикали, 1.50 нм по горизонтали. 2. Индентирование и царапание с заданной нагрузкой/на заданную глубину. Максимальная нагрузка до 150 мН. 3. Измерение твердости методом склерометрии до 80 ГПа. 4. Измерение механических свойств методом инструментального наноиндентирования (в соответствии с ISO 14577). 5. Измерение модуля упругости методом силовой спектроскопии в диапазоне значений до 1000 ГПа. 6. Измерение механических свойств тонких пленок (твердость, адгезия, толщина) методом склерометрии с переменной нагрузкой. 315;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Сканирующий оптический профилометр CHR-150-XY (Реверс);Сканирующий профилометр «CHR-150-XY» (далее – профилометр) предназначен для измерения микрорельефа поверхности зеркальных и матовых образцов в диапазоне до 20 мкм. Параметры: минимальный шаг сканирования по осям X, Y -50нм, точность позиционирования -200 нм, измерительный диапазон по Z -20 мкм, вертикальное разрешение -2 нм, диаметр измерительного пучка -3 мкм. 316;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Вакуумный спектральный эллипсометр КАТАКОН;"Комплекс предназначен для изучения оптических характеристик поверхности и тонких слоев в вакууме в широком интервале температур и изучения кинетики температурно-индуцированных процессов (плавления, кристаллизации, структурных превращений и т п.). Технические характеристики: температурный диапазон измерений от комнатной температуры до 1100°С, размеры исследуемого образца 10х3 мм2; длина волны зондирующего света 632.8 нм; быстродействие эллипсометрических измерений 1 мс." 317;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Комплекс спектрально-эллипсометрический быстродействующий КАТАКОН;"Спектральный эллипсометр предназначен для: исследования многослойных структур, состоящих из полупроводниковых, диэлектрических и металлических слоев в произвольном сочетании; измерения спектров оптических постоянных полупроводников, диэлектриков, металлов и других материалов; характеризации структурных и композиционных свойств материалов; исследования свойств поверхности (наличие загрязнений и остаточных слоев, микрорельефа и т.п.). Спектральный эллипсометр имеет следующие характеристики: спектральный диапазон 250 – 1000 нм, спектральное разрешение 3 нм, размер светового пятна 4х8 мм, время измерения одного спектра 20 с. Программное обеспечение позволяет проводить измерения спектров, моделирование и содержит базу данных по оптическим спектрам различных материалов." 318;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Высокочастотная емкостная плазменная установка;Предназначена для модификации материалов 319;Северо-Кавказский федеральный университет;Рентгенофлуоресценстный спектрометр EX-Calibur с PIN diode детектором;Проведениe эффективного одновременного многоэлементного автоматического спектрального химического анализа. Для автоматического определения концентраций элементов от Na до U в диапазоне от долей ppm до 100%. Конфигурируется под любые задачи (выбор материала анода, фильтров, окошка детектора), продувка либо вакуум. 320;Северо-Кавказский федеральный университет;Спектральный эллипсометрический комплекс «Эллипс-1891»;Установка предназначена для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов (металлов, полупроводников, диэлектриков и др.), в том числе анизотропных и жидких. 321;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Рентгенофлуоресцентный анализатор ARL Optim-X (Thermo Electron Corporation);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгенофлуоресцентного анализа 322;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Анализатор удельной поверхности и пористости TriStar 3020 (Micromeritics Instrument Corporation);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа поверхности 323;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Ртутный порозиметр Auto Pore IV 9500 (Micromeritics Instrument Corporation);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа пористости поверхности 324;Южный федеральный университет;Поромер аналитический КП-133 (Футурум);Предназначен для определения содержания воздуха в бетонной смеси 325;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Рентгенофлуоресцентный спектрометр с полным внешним отражением S2 PICOFOX (Bruker);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгенофлуоресцентной спектрометрии 326;Северо-Кавказский федеральный университет;Установка вакуумного напыления Varicoat 430;Получения тонких пленок термическим методом, методом лазерной абляции совместно с твердотельным импульсным лазером LS-2138. 327;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Автоматический анализатор удельной поверхности и пористости Gemini VII 2390t (Micromeritics);Измерение удельной поверхности пористых материалов и сыпучих сред 328;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Лазерный анализатор размера частиц Nanotrac Ultra 253 (Microtrac);Измерение распределения частиц по размерам 329;Братский государственный университет;Рентгено-флуоресцентный анализатор ХМЕТ-5000 (OXFORD);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгено-флуоресцентного анализа 330;Братский государственный университет;Анализатор жидкости кондуктометрический лабораторный Мультитест КСЛ-101 (СЕМИКО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа жидкостей с использованием кондуктометрических методов 331;Братский государственный университет;Негатоскоп с встроенным денситометром НС 85*400-5003;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской рефлектометрии 332;Иркутский государственный университет;Спектрометр рентгеновский VRA-30 (Carl Zeiss Jena);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской спектрометрии 333;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Анализатор площади поверхности Nova 1000 (Qantachrome);Предназначен для анализа поверхности и пористости поверхности 334;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Оборудование для подготовки и анализа структуры пористых тел в широком диапазоне размера пор Porotech;Предназначено для подготовки и анализа структуры пористых тел в широком диапазоне размера пор 335;Санкт-Петербургский государственный университет;Термопрограммируемый десорбционный спектрометр TDS 40A1 с температурным диапазоном до 1500 градусов;Квадрупольный масс-спектрометр с диапазоном масс 1-300 Дальтон, с разрешением 0.5 а.е.м. на уровне 10% от максимального значения массового пика, с чувствительностью 2*10Е-4 А/Тор. 336;Санкт-Петербургский государственный университет;Фотоэлектронный спектрометр для исследования химического состава наночастиц на поверхности твердого тела;Анализ электронной структуры наносистем 337;Биолого-почвенный институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX-800P (Shimadzu);Расширенное определение общего химического состава почвенно-растительного комплекса и других объектов окружающей среды (диапазон определяемых элементов от Be (пор. № 4) до U (пор. № 92), изучение связи между концентрацией элементов и различными фазами почв (органической, минеральной). 338;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Kratos AXIS Ultra DLD;Исследования химического состава поверхностей твердых тел 339;ФГБУН Ботанический сад-институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Мобильный XRF анализатор Innov-X серии X-5000 Olympus;Прибор Innov-X X-5000 разработан для выполнения элементного анализа широкого ассортимента промышленных и коммерческих материалов, встречающихся в твердом и жидком виде, включая почвы и порошки. Он использует рентгеновскую флуоресценцию (XRF) для неразрушающего анализа и измерения элементов от магния (Mg – атомный номер 12) до плутония (P – атомный номер 94). Анализ может быть выполнен в лаборатории или в полевых условиях. 340;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Установка для ионной полировки для подготовки образцов 1060 SEM Mill (Fischione) 43020706;Обработка поверхности материалов для структурного анализа 341;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Микроденситометр автоматический MDM-6 (Oxford);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 342;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Модернизированный микроинтерферометр измерительный МНП-1;Для измерения высоты рельефа поверхностей высокого класса чистоты с разрешением менее 0.1 нм в диапазоне от 0 до 50 мкм. 343;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng);Нанесение тонких металлических и диэлектрических пленок на различные подложки 344;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;Масс-спектрометр квадрупольный с газовым хроматографом Shimadzu;Масс-спектрометрия летучих органических соединений 345;ФГБУН Томский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Портативный настольный рентгеновский прибор РИКОР;Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 346;Липецкий государственный технический университет;Вакуумный универсальный пост ВУП-5М;Подготовка образцов для исследования тонкой структуры 347;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Сканирующей ОЖЕ-спектрометр сверхвысокого разрешения JAMP-9500 F (JEOL);Обеспечивает получение информации о химсоставе образцов из малого информационного объёма, что определяет их высокие показатели по пространственному разрешению. 348;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Быстродействующий анализатор удельной поверхности и размеров пор NOVA 1000e, основывающийся на измерениях сорбции газов (BET-метод) (Quantachrome);Автоматический анализатор удельной поверхности и размера пор NOVA разработан для определения пористости и удельной площади поверхности различных веществ. 349;Мичуринский государственный аграрный университет;Кондуктометр Анион-7120;для измерения удельной электропроводности и передачи результатов измерений 350;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Импрегнатор вакуумный со встроенным вакуумным эжектором Cito Vac (Struers);для запресовки порошков, пористых и трещиноватых образцов,с целью заполнения всех полостей и связывания материала образца, а так же д/приклеивания тонких срезов на предметные основания 351;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Лабораторная установка для измерения удельной поверхности и размера пор Nova 1200 (Quantachrome);Измерение удельной поверхности и размера пор 352;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Профилометр Alpha-Step D120 (KLA-Tencor);Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 353;ФГБУН Институт химии растворов им. Г.А. Крестова Российской академии наук;Автоматический анализатор удельной поверхности и размера пор Nova 1200e (Quantachrome);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 354;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Профилограф-профилометр MarSurfPS1 (Mahr);Измерение параметров шероховатости 355;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Рентгеновский дифрактометр EMPYREAN (PANALYTICAL);Предназначен для решения широкого спектра задач рентгеновской дифрактометрии в области научных исследований и аналитического контроля в промышленности. 356;Кемеровский технологический институт пищевой промышленности;Вакуумный универсальный пост ВУП-5М;Приборы для обработки поверхности материалов 357;ФГБУН Физико-технический институт имени А.Ф. Иоффе Российской академии наук;Универсальный вторично-ионный микроанализатор Ion Microanalyzer IMS-7F в расширенной комплектации с комплектом дополнительного специального научного и инженерного оборудования обеспечивающего его работоспособность и с комплектом ЗиП (Cameca);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 358;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Системы электро-лучевого напыления тонких пленок PVD 250 (Kurt J. Lesker Company);Напыление тонких пленок металлов в условиях высокого вакуума. Установки обладают широкими возможностями для получения покрытий из большинства применяемых в технологии микроэлектроники металлов (Ni, Ti, Al, Pt, Pd, V, Ta, Ge, Au, Cr, Cu) методами термического вакуумного, магнетронного и электронно-лучевого испарения. 359;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Установка для термического вакуумного напыления РVD-75 (Kurt J. Lesker Company);Напыление тонких пленок металлов в условиях высокого вакуума. Установки обладают широкими возможностями для получения покрытий из большинства применяемых в технологии микроэлектроники металлов (Ni, Ti, Al, Pt, Pd, V, Ta, Ge, Au, Cr, Cu) методами термического вакуумного, магнетронного и электронно-лучевого испарения. 360;Воронежский государственный технический университет;Измерительно-калибровочная система Alpha?Step D?200 (KLA-Tencor);Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 361;Московский государственный агроинженерный университет имени В.П. Горячкина;Профилометр модели 130 модель 301;Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 362;Научно-исследовательский институт медицинской генетики СО РАМН;Тандемный масс-спектрометр Agilent 6410 (Agilent Technologies);Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности 363;Оренбургский государственный медицинский университет;Кондуктометр PWT Hanna Instruments;для измерения удельной электропроводности и передачи результатов измерений 364;Московский государственный индустриальный университет;Установка для определения размера пор и распределении их по размерам;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 365;Московский государственный индустриальный университет;Прибор для измерения удельной поверхности методом низко-температурной адсорбции азота ASAP 2020 (Micromeritics);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 366;Московский государственный индустриальный университет;Установка для экспресс контроля водопоглощения ЭКВ-1У;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 367;Московский государственный индустриальный университет;Установка для определения открытой пористости, водопоглощения, кажущейся плотности;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 368;Московский государственный индустриальный университет;Прибор для определения удельной поверхности порошков ASAP 2020 (Micromeritics);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 369;Московский государственный индустриальный университет;Ионный имплантер Собственное производство;Приборы для обработки поверхности материалов 370;Московский государственный индустриальный университет;Прибор контроля шероховатости HOMMEL TESTER T8000-RC120-400 (TESA);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 371;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Установка ионной имплантации с системой RBS анализа K2MV (НVЕЕ);Приборы для обработки поверхности материалов 372;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Профилограф-нанопрофилометр Профи-130;Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 373;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Сканирующий нанотвердомер СуперНаноСкан (тм);Предназначен для исследования свойств поверхности и измерения твердости и упругих модулей сверхтвердых материалов и тонких пленок на базе сканирующего нанотвердомера.Прибор обеспечивает измерения твердости и модуля упругости методом склерометрии, построение изображений рельефа поверхности образца путём построчного сканирования поверхности острым алмазным наконечником (индентором). Исследование свойств поверхности и измерение твердости и упругих модулей сверхтвердых материалов и тонких пленок. 374;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S (Shimadzu);Предназначен для исследования и анализа структуры и состава поверхности 375;Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы;Комплекс измерения шероховатости на основе интерференции микроскопии TALYSURF CCI 6000 (Taylor);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 376;Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы;Комплекс измерения плоскостности поверхности на основе оптического интерферометра ФИЗО Прецизионный лазерный интерферометр Физо;Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий 377;Южный федеральный университет;Профилограф аккустический Доплеровский Workhorse Sentinel WHS 600 кГЦ (RDI);"Применяется для анализа тонкой структуры течений. Частота: 614,4 кГц; минимальный размер ячейки:10; максимальная глубина:70м; максимальное количество ячеек:128; разрешение:0,1 см/с; точность измерения скорости:0,3%" 378;Дагестанский научный центр РАН;Комплекс для измерения текстурных характеристик дисперсных и пористых материалов. Сорби-MS;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 379;Дагестанский научный центр РАН;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 380;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Анализатор удельной поверхности SI Kr MP3 (QUADRASORB);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 381;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7500;Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности 382;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Спектрометр с полным внешним отражением TXRF S2 PICOFOX (Брукер);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 383;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеноспектральный электронно - зондовый микроанализатор JXA8200 (JEOL);"Стереомикроскоп с 7? увеличением: рабочее состояние – 113 мм; кратность увеличения –15,0 ? 100,0?; диаметр поля – 17,3 мм ? 2,6 мм; освещение 150 Вт источник холодного света сволоконно-оптическим кольцом света; опции видео – ?” CCD PAL камера и 17” монитор.Методы. Ручная зондовая станция для измерения пластин до 150 мм (6 дюймов).Область применения. Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов." 384;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Установка ТермоСорб TPD 400;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 385;Северо-Кавказский горно-металлургический институт (государственный технологический университет);Микроинтерферометр МИИ-4М;Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий 386;Северо-Кавказский горно-металлургический институт (государственный технологический университет);Прибор для измерения удельной поверхности и пористости SORBI;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 387;ФГБУН Институт геологии и геохимии им. академика А.Н. Заварицкого Уральского отделения Российской академии наук;Микроанализатор электронно-зондовый Cameca SX100 с пятью волновыми спектрометрами и энергодисперсионным спектрометром Bruker XFlash 6;Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ геологических образцов 388;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Прибор для определения паропроницаемости UTX-3100;Определение паропроницаемости материалов 389;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Установка исследования механических свойств поверхности на наноуровне (Установка Nanotest 600);Определение упругих характеристик и твердости твердых материалов методом наномеханических измерений, прчности на разрыв пленочных покрытий, однородности пленочных покрытий 390;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Установка для исследования поверхности твердых тел SIENTA R3000 ARPES (OMICRON);Исследования химического состава поверхностей твердых тел 391;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Cпектрометр MicrOTOF Q II (Bruker);Определение точных молекулярных масс и структуры органических и неорганических соединений 392;ФГБУН Тихоокеанский институт биоорганической химии им. Г.Б. Елякова Дальневосточного отделения Российской академии наук;Квадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр, соединенный с жидкостным хроматографом Q-TOF Agilent 6510;Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности 393;ФГБУН Тихоокеанский институт биоорганической химии им. Г.Б. Елякова Дальневосточного отделения Российской академии наук;Тандемный гибридный масс-спектрометр высокого разрешения с несколькими видами ионизации AMD 604S (AMDIntectra);Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности 394;ФГБУН Кемеровский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Сорбтометр Сорби-М (Meta);Позволяет производить измерение удельной поверхности дисперсионных и пористых материалов по методу БЭТ. В качестве газа адсорбанта используется азот или аргон, в качестве газа носителя –гелий. Измерение происходит в автоматическом режиме. 395;ФГБУН Кемеровский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Система для анализа площади поверхности и пористости Micromeritics ASAP 2020;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 396;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Рентгеновский микроанализатор SUPERPROB-733 (JEOL) 10007655;Проведение химического состава поверхности металлов и оксидов 397;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Портативный рентгенофлуоресцентный анализатор S1 Turbo (Bruker) 43016575;Проведение химического анализа сплавов 398;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Спектрофотометр X-Rite (X-Rite) 00010825;Проведение химического анализа 399;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;3D профилометр-конфоканальный микроскоп Pku Neox (SENSOFAR-TECH) 43018852;Проведение анализа коррорзионных поражений 400;ФГБУН Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Фотоэлектронный спектрометр UNI-SPECS;Предназначен для исследования химического состава поверхностных слоев твердого тела (несколько нанометров, до 100 нм при послойном анализе) 401;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Спектральный эллипсометрический комплекс «ЭЛЛИПС-1891 САГ»;SE 800 - новейший UV-VIS спектроскопический эллипсометр специально разработан для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм.). 402;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Измерительный прибор для контроля шероховатости и волнистости поверхности HOMMEL-ETAMIC W55-R20-300;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 403;Владимирский государственный университет;Установка вакуумная для нанесения нанокомпозитных покрытий UniCoaT 600SL;Приборы для обработки поверхности материалов 404;Владимирский государственный университет;Установка вакуумная для нанесения припоя на теплоотвод THEBION EB4P3KWTH2-Ion (Torr);Приборы для обработки поверхности материалов 405;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Зондовая установка для тестирования микросистем в составе пластин UF200A (TOKYO);"Стереомикроскоп с 7? увеличением: рабочее состояние – 113 мм; кратность увеличения –15,0 ? 100,0?; диаметр поля – 17,3 мм ? 2,6 мм; освещение 150 Вт источник холодного света сволоконно-оптическим кольцом света; опции видео – ?” CCD PAL камера и 17” монитор.Методы. Ручная зондовая станция для измерения пластин до 150 мм (6 дюймов).Область применения. Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов." 406;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Зондовая установка для анализа пластин и подложек до 150 мм PM5 Probe System (Cascade);"Стереомикроскоп с 7? увеличением: рабочее состояние – 113 мм; кратность увеличения –15,0 ? 100,0?; диаметр поля – 17,3 мм ? 2,6 мм; освещение 150 Вт источник холодного света сволоконно-оптическим кольцом света; опции видео – ?” CCD PAL камера и 17” монитор.Методы. Ручная зондовая станция для измерения пластин до 150 мм (6 дюймов).Область применения. Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов." 407;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Технологический комплекс напыления тонких пленок металлов SEGI-RFA3-4TR;Приборы для обработки поверхности материалов 408;ФГБУН Объединенный институт высоких температур Российской академии наук;Лазерный интерферометр VISAR;Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий 409;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Система анализа текстуры поверхности ASIQ (LOT-Oriel);Предназначен для измерения толщины тонких и толстых пленок, а также для измерения шероховатости пленок и подложек 410;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Установка исследования механических свойств материалов на наноуровне «NANOTEST 600» (Micro);Оборудование для исследования рельефа поверхности и покрытий 411;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Комплекс исследования структуры поверхности Nanopics 2100 (KLA-Tencor);Предназначен для измерения толщины тонких и толстых пленок, а также для измерения шероховатости пленок и подложек 412;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Автоматизированный интерферометр белого света «WLI-DMR Институт Фраунгофера;Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий 413;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Анализатор удельной поверхности и объема пор ASAP-2020MP (Micromeritics);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 414;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Система боксов трехперчаточных с вакуумной камерой для нанесения тонких пленок Unilab (MBraun);Приборы для обработки поверхности материалов 415;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Анализатор БЭТ Autosorb-1-С (Quantachrome);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 416;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Анализатор текстуры с тензодатчиком и программным обеспечением в комплекте (Taxt);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 417;Московский государственный университет леса;Q-pod контроллер датчика толщины/скорости напыления 782-QPJD-G1 (INFICON);Приборы для обработки поверхности материалов 418;Московский государственный университет леса;Профилометр 170662;Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков 419;Московский государственный университет леса;Фронтальный однокристальный датчик скорости напыления SL-A0-E48 (Inficon);Приборы для обработки поверхности материалов 420;ФГБУН Институт машиноведения Уральского отделения Российской академии наук;Многофункциональный комплекс для наноиспытаний Hysitron TriboIndenter TI 900 (Hysitron);Оборудование для исследования рельефа поверхности и покрытий 421;ФГБУН Институт машиноведения Уральского отделения Российской академии наук;Оптический профилометр Wyko NT 1100 (Veeco);Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков 422;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Времяпролетный масс-спектрометр TOF SIMS 5-100P в комплекте (IОNTOF);Предназначен для экспериментов на вторично-ионных масс-спектрометрах в процессе анализа поверхности материала 423;Дальневосточный геологический институт ДВО РАН;Электронно-зондовый микроанализатор JXA 8100 (Jeol Superprobe) с системой INCA Energy 350 (Oxford Instruments) для рентгеновского энерго-дисперсионного микроанализа;Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ с чувствительностью 0,01 % и определяемыми элементами от B до U 424;ФГБУН Институт металлургии Уральского отделения Российской академии наук;Анализатор частиц по размерам и форме Camsizer XT (Retsch);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 425;ФГБУН Институт металлургии Уральского отделения Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский с высоко- и низкотемпературными камерами и системой п/к оптики XRD 7000 (Shimadzu);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 426;ФГБУН Институт металлургии Уральского отделения Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский базовый с подвижной системой излучатель-детектор XRD 7000 (Shimadzu);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 427;ФГБУН Институт металлургии Уральского отделения Российской академии наук;Дифактометр рентгеновский XRD 7000 (Shimadzu);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 428;ФГБУН Уфимский научный центр Российской академии наук;Масс-спектрометр отрицательных ионов МИ-1201 (Selmi);Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности 429;ФГБУН Институт теоретической и экспериментальной биофизики Российской академии наук;Спектрополяриметр Jasco 815 (Shimadzu);Предназначен для измерения кругового дихроизма в УФ -видимом диапазоне. Имеется возможность варьировать режимы измерения. 430;ФГБУН Российский научный центр радиологии и хирургических технологий Министерства здравоохранения Российской Федерации;ДЕЛЬТА Премиум / Трубка 4Вт Rh, анализатор элементарного состава, детектор увеличенной площади, с комплектом стандартных принаддлежностей и ПО ДЕЛЬТА Премиум;Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах. 431;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Установка вакуумного напыления и травления с контролем толщины слоя AUTO 500 (BOC);Приборы для обработки поверхности материалов 432;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция Метрология и EXAFS-спектроскопия в мягком рентгеновском диапазоне;Исследования химического состава поверхностей твердых тел 433;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция EXAFS-спектроскопия;Исследования химического состава поверхностей твердых тел 434;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция Прецизионная дифрактометрия и аномальное рассеяние;Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 435;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция LIGA-технология и рентгеновская литография;Приборы для обработки поверхности материалов 436;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Профилометр SURTRONIC 25 (Taylor);Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков 437;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Дифрактометр рентгеновский Empyrean (PANanylitical);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 438;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Спектрометр фотоэлектронный K-ALPH (Thermo);Исследования химического состава поверхностей твердых тел 439;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Контурограф MarSurfXC 20;Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 440;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Интерферометр ПИУ-2, Т-2;Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий 441;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Поромер эталонный автоматизированный 3.1 (Porotech);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 442;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Профилометр-контурограф;Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков 443;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Лазерная интерферометрическая измерительная система XL-80 (Renishawplc);Предназначена для исследования рельефа поверхности и покрытий 444;ФГБУН Институт лазерной физики Сибирского отделения Российской академии наук;Анализатор для контроля дисперсных и концентрационных характеристик наноматериалов;Оборудование для спектрального и прецизионного анализа свойств наноматериалов прочие 445;ФГБУ Научно-производственный комплекс Технологический центр МИЭТ;Анализатор микросистем MSA-500 (Polyteс);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 446;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Рентгеноэлектронный спектрометр SPECS;Предназначен для изучения электронной структуры, межатомной химической связи и химического строения в сверхтонких поверхностных слоях вещества методом РФЭС. 447;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Оже - электронный спектрометр JAMP-10s (Jeol);Исследование химического состава сверхтонких поверхностных слоев, растровая электронная микроскопия поверхности. 448;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Электронный спектрометр ЭС-2401 (ЭЗАН);Исследования химического состава поверхностей твердых тел. Объекты исследования: металлы, сплавы, полупроводники, диэлектрики, порошковые материалы, тонкие пленки и мультислои. 449;Московский государственный университет печати им. Ивана Федорова;Установка для обработки поверхности гибких полимерных материалов коронным разрядом КР-2;Приборы для обработки поверхности материалов 450;Московский государственный университет печати им. Ивана Федорова;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS - 9200 (JEOL);Исследования химического состава поверхностей твердых тел 451;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Автоматизированный интерференционный микропрофилометр АИМ (ВНИИОФИ);Измерение микрорельефа поверхности отражающих объектов, толщины тонких пленок, параметров шероховатости. Применяется в материаловедении, микроэлектронике. 452;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30 (ФГУП ВНИИОФИ);Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков 453;ФГУП Государственный научно-исследовательский институт генетики и селекции промышленных микроорганизмов;Спектроденситометр Scanner 3 (CAMAG);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 454;ФГАНУ «Центральный научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт робототехники и технической кибернетики»;Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ.450.501-М;Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 455;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Оптический интерференционный профилометр New View 6200 (Zyga);Изучение и анализ структуры поверхности материалов 456;Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М.Бербекова;Рентгенофлюоресцентный элементный анализатор СПЕКТРОСКАН-МАКС-GV;Предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры. Спектрометр может применяться в различных отраслях науки и техники для анализа элементного состава вещества. 457;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Аналитико-технологический модуль вторично-ионной масс-спектроскопии и наноэлектронной имплантации SIMS01;Исследование элементного состава поверхности и слоев, ионный литограф 458;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Профилометр Alpha-Step D200 (KLA-Tencor);Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 459;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Измеритель краевого угла смачивания CAM 101 (RSV);Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие 460;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Энергодисперсионная приставка Inca Energy 350 (Oxford);"Стереомикроскоп с 7? увеличением: рабочее состояние – 113 мм; кратность увеличения –15,0 ? 100,0?; диаметр поля – 17,3 мм ? 2,6 мм; освещение 150 Вт источник холодного света сволоконно-оптическим кольцом света; опции видео – ?” CCD PAL камера и 17” монитор.Методы. Ручная зондовая станция для измерения пластин до 150 мм (6 дюймов).Область применения. Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов." 461;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Оже электронный спектрометр PHI 660 (PerkinElmer);Анализатор типа «цилиндрическое зеркало» (АЦЗ) со встроенной электронной пушкой модель 25-120A 462;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Вторично-ионный масс-спектрометр ионный зонд IMS - 4f (Cameca);Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности 463;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Профилограф-профилометр Perthometer M1 (Mahr);Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков 464;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Установка для измерения удельной поверхности СОРБТОМЕТР-М;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 465;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Времяпролетный вторично-ионный масс-спектрометр TRIFT NanoTof (PHI);Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности 466;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Рентгеновский аппарат EPESCO;Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах. 467;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Модернизированный рентгеновский микроанализатор Camebax micro + INCA Energy 350 (CAMECAOxford);Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах. 468;ФГБУН Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича Сибирского отделения Российской академии наук;Установка искрового плазменного спекания Labox 1575 (SINTER);Приборы для обработки поверхности материалов 469;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Анализатор удельной поверхности и пористости ASAP 2020MP (Micromeritics);Определение удельной поверхности и пористости материалов 470;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Анализатор удельной площади поверхности и пористости Gemini2390t;Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 471;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Система формирования планарных структур PixDro LP50 (HQ Pixdro b.v.);Система формирования планарных микро и наноструктур (в т.ч. мембранных) методом микропечати. Позволять работать с любыми подложками размером до 210х300 мм, толщиной до 25 мм и весом до 1 кг. 472;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e;Предназначен для исследования и анализа пористости и величины поверхности 473;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Микроанализатор поверхности Autosorb 1-C/TCD/MS (Quantachrome);Предназначен для исследования и анализа пористости и величины поверхности 474;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Квадрупольный масс-спектрометр NETZSCH 403C Aeolos;Прибор предназначен для анализа газовой фазы, имеет капиллярную систему ввода. Диапазон измеряемых масс от 1 до 300 а.е.м. Температура нагрева адаптера, капилляра и впускной системы квадрупольного масс-спектрометра 300°C. 475;ФГБУН Институт геологии и минералогии им. В.С. Соболева Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеноспектральный микроанализатор JXA-8100 (JEOL);Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах. 476;ФГБУН Научный центр Российской академии наук в Черноголовке;Электронный спектрометр для химического анализа PHOIBOS 150 MCD (Specs);Исследования химического состава поверхностей твердых тел 477;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000s (Shimadzu);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 478;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Дифрактометр рентгеновский GBC (EMMA);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 479;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Кондуктометр Cond 3310 Set с датчиком TetraCon LR 325-01;для измерения удельной электропроводности и передачи результатов измерений 480;ФГБУН Институт биохимии и физиологии растений и микроорганизмов Российской академии наук;Напылительная установка JFC-1100 (JEOL);Приборы для обработки поверхности материалов 481;ФГБУН Институт биохимии и физиологии растений и микроорганизмов Российской академии наук;Вакуумный пост JEE-4X (JEOL);Приборы для обработки поверхности материалов 482;ФГБУН Институт биохимии и физиологии растений и микроорганизмов Российской академии наук;Вакуумный пост ВУП-4;Предназначен для обработки поверхности материалов 483;Воронежский государственный университет;Оже электронный спектрометр DESA-100 (Staib);Для научных целей 484;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Профилометр модель 130;Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 485;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Профилометр Surflest SJ-210;Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 486;ФГБУН Институт механики Уральского отделения Российской академии наук;Прибор контроля шероховатости поверхности Perthometr 2M (Mahr);Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков 487;ФГБУН Институт механики Уральского отделения Российской академии наук;Комплексная система измерений и исследований в наномасштабе Nanotest 600 (LOT-Oriel);Оборудование для исследования рельефа поверхности и покрытий 488;ФГБУН Институт механики Уральского отделения Российской академии наук;Бесконтактный трехмерный оптический профилометр NewView 6300 (Zygo);Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков 489;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Многоцелевой имплантер ионов кислорода и водорода;Предназначен для обеспечения базовых операций полупроводниковых технологий и радиационного материаловедения: технологии кремний-на-изоляторе, исследования воздействия интенсивных ионных пучков на металлические мишени–приемники пучков в источниках нейтронов и гамма-квантов для медицины, систем безопасности и для термоядерного материаловедения. Экспериментальный имплантер позволяет проводить эксперименты с пучком ионов энергией до 150 кэВ и током на мишени до 2 мА. 490;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Интерферометр Intellium Z100 (ESDI);Метрологическое оборудование. Интерферометр Физо для измерения плоских и сферических поверхностей. 491;ФГБУН Институт высокотемпературной электрохимии Уральского отделения Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр Microvision 2 (MKS Instruments);Позволяет проводить газовый анализ и регистрировать масс-спектры в режиме реального времени. Vision 2000-P состоит из системы дифференциальной откачки вакуумной камеры с масс-спектрометром MicroVision Plus. 492;ФГБУН Институт высокотемпературной электрохимии Уральского отделения Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр с ионизацией электронным ударом MSD 5975 Agilent;Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности 493;ФГБУН Институт высокотемпературной электрохимии Уральского отделения Российской академии наук;Прибор для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов Сорби N 4.1 (Meta);Предназначен для измерения удельной поверхности методами БЭТ и STSA и определения общего объема пор для дисперсных и пористых материалов путем сравнения объемов газа-адсорбата, сорбируемого исследуемым образцом, и стандартным образцом материала с известной удельной поверхностью. Градуировка прибора производится по государственным стандартным образцам удельной поверхности. 494;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Аппарат для напыления на биологические образцы EM SCD 500 (Leica);Приборы для обработки поверхности материалов 495;ФГБУН Институт Физико-Технических Проблем Севера Сибирского отделения Российской академии наук;Профилометр Surfest SJ 201 (Miyutoyo);Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 496;Южный федеральный университет;Микроинтерферометр МИИ-4М ФОМ-2-16х;Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий 497;Южный федеральный университет;Измерительный комплекс на базе двухлучевого интерферометра и анализатора сигналов TF Double Beam Laser Interferometer (Aixacct);Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий 498;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Электронный спектрометр для химического анализа ESCALAB MK II (Thermo Scientific);Предварительно настроенная и откалиброванная спектрометрическая система для контроля качества лабораторных и полевых измерений характеристик светодиодов и других излучателей 499;ФГБУН Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук;Лабораторная установка для азотирования сталей и сплавов в плазме;Приборы для обработки поверхности материалов 500;ФГБУН Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук;Анализатор удельной поверхности TriStar 3000 (Micromeritics);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 501;ФГБУН Институт минералогии Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр Shimadzu 6000;Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 502;Кубанский государственный университет;Анализатор серии СОРБТОМЕТР-М (Катакон);Предназначен для исследования и анализа пористости и величины поверхности 503;Кубанский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр с расширенной опцией XRD-7000 (Shimadzu);Предназначен для проведение фазового и структурного анализа, прецизионное определение параметров решётки, определение остаточного аустенита, расчёт степени кристалличности, определение размеров кристаллитов, анализ напряжений, анализ текстур, анализ напряжений, тонких плёнок, волокон, измерения микрообразцов с использованием цифровой камеры, текстурного анализа с построением полюсных фигур 504;Кубанский государственный университет;Комплекс тройной квадрупольный хроматографический-спектрометрический на базе TSQ Quantum Access MAX и TSQ Quantum XLS (Thermo);Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности 505;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Рентгеновский микроанализатор состава Камебакс-Микробим (Cameca);Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах. 506;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Фотоэлектронный и Оже-спектрометр Эсхалаб МК-II;Для научных целей 507;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Установка искрового плазменного спекания DR.SINTER Lab Model SPS-511S;Приборы для обработки поверхности материалов 508;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos);Исследования химического состава поверхностей твердых тел 509;ОАО Технопарк Слава;Спектральный эллипсометр Эльф;SE 800 - новейший UV-VIS спектроскопический эллипсометр специально разработан для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм.). 510;Научно-исследовательский институт общей патологии и патофизиологии РАМН;Времяпролетный масс-спектрометр Waters Xevo G2 QTof MS System с системой Acquity UPLC (Waters);Предназначен для TOF SIMS анализа состава и структуры вещества 511;Московский государственный университет тонких химических технологий им. М.В. Ломоносова;Рентгеновский дифрактометр XRD 6000 (Shimadsu);Предназначен для исследования поликристаллических образцов. Радиус гониометра – 185 мм, минимальный шаг по углу – 0.002 град. (2q), 0.001 град.(q), воспроизводимость по углу – не более ±0.001 град (2q). Детектор пропорциональный сцинцилятор NaI. 512;Саратовский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского;Видеоденситометр Сорбфил;Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 513;Северо-Кавказский федеральный университет;Вакуумный пост Varicoat 430;Приборы для обработки поверхности материалов 514;Северо-Кавказский федеральный университет;Рентгеновский комплекс РИКОР;Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 515;Северо-Кавказский федеральный университет;Вакуумный пост ВУП-5М;Приборы для обработки поверхности материалов 516;Северо-Кавказский федеральный университет;Эллипсометр ЛЭФ-3М-1;SE 800 - новейший UV-VIS спектроскопический эллипсометр специально разработан для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм.). 517;Северо-Кавказский федеральный университет;Научно-исследовательская лаборатория ESCALAB 5 (Thermo);Для научных целей 518;ФГБУН Лимнологический институт Сибирского отделения Российской академии наук;Квадрупольный масс-спектрометр Agilent 7500ce;Современные квадрупольные масс-спектрометры способны анализировать (в некоторых случаях - напрямую) высокосолевые образцы (морская вода, сточные воды), органические вещества (растворители, нефть и т.п.), клинические образцы (кровь, плазма, моча и т.п.) и образцы с неизвестной матрицей с высокой надежностью и точностью. 519;ФГБУН Научно-исследовательский институт физико-химической медицины Федерального медико-биологического агентства;Microflex LT MALDI-TOF масс-спектрометр (Bruker);Настольный масс-спектрометр для определения масс биомолекул. 96 луночный формат мишени, источник ионов microSCOUT™ с системой импульсной экстракции, азотный лазер repetition rate 20 Hz, Digitizer 2 GHz, точность измерения 0.1 – 1 Да 520;Московский государственный университет пищевых производств;Сканирующая зондовая нанолаборатория СЗНЛ NTegra;Исследование рельефа поверх-ности образца, определение раз-меров частиц в диапазоне 1-100 нм 521;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Анализатор удельной площади поверхности и пористости методом физической сорбции газов TriStar 3020 (Micromeritics);Анализатор удельной площади поверхности и пористости методом физической сорбции газов 522;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Полуавтоматический двухдисковый шлифовально полировальный станок Metaserv (BUEHLER);Подготовка образцов к исследованию 523;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Рентгенофазовый дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu);Рентгенофазовый анализ. Определение фазового состава неорганических соединений 524;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Универсальный программно-управляемый комплекс д/метрол. поверхностей;Для обеспечения работы профилометра модели 130 525;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Профилометр модели 130 модель 301;Измерение шероховатости по ГОСТУ 25142-82 526;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Зондовый датчик для нанотвердомера;Исследование свойств поверхности монокристаллов и керамик 527;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Рентгеновский спектрометр СПАРК-1;Предназначен для исследований с применением рентгеновской спектроскопии 528;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Флуоресцентный рентгеновский спектрометр VRA-2 (Carl Zeiss);Предназначен для флюоресцентного рентгеновского анализа лабораторного материала 529;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Профилограф-профилометр М252;Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 530;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Анализатор поверхности Flow Sorb 2300 (Micromeritics);Предназначен для исследования поверхности образцов 531;Тамбовский государственный технический университет;Лабораторный исследовательский реактор для изучения процессов роста углеродных наноматериалов.;Предназначены для изучения влияния технологических режи-мов на процессы получения и параметры углеродных нанотрубок и других наноматериалов. 532;Тамбовский государственный технический университет;Микроинтерферометр МИИ-4М;"Предназначен для измерения ше-роховатости поверхностей, в ча-стности гальванических покры-тий. Диапазон измерения параметров шероховатости Rmax и Rz и тол-щины пленок – 0,1-0,8 мкм; уве-личение при визуальном наблю-дении, крат – 500; Линейное поле зрения в пространстве предмета – 0,3 мм." 533;Тамбовский государственный технический университет;Анализатор удельной поверхности Сорбтометр-М;"Предназначен для измерения удельной поверхности твердых веществ. Диапазон измерения удельной по-верхности: 0.1 - 3000 м2/г ; по-грешность измерений: 6% во всем диапазоне; Полная автоматизация циклов адсорбция-десорбция; ав-томатическая калибровка; станция подготовки образцов к измерению" 534;Пензенский государственный университет;Установка вакуумного напыления Sunicoat-1000;"Технические характеристики: Обработка до 24 подложек размером 48х60мм за один рабочий цикл; Напыление плёнок 3 магнетронами 4 тигля с заслонками объёмом 10 см3 для термовакуумного испарения Возможность поворота подложек. Скорость вращения подложкодержателя до 10 об/мин Подогрев подложек до 250 oC Скорость напыление: до 2000A/мин (Cu, 1,5кВт); Однородность толщины напылённых плёнок: < ±5%(при толщине покрытия 200нм); 4 линии подачи газа для Ar, O2, N2 (рабочий), N2 (продувка); Регулирование расхода газа: <±1 Вакуум 5х10-7 Торр Занимаемая площадь, мм: 2500(Ш)х4000(Г)х1900(В)" 535;Пензенский государственный университет;Микроскоп для исследования поверхности оптическими методами РВ-21;Увеличение от 50 до 1000 Диапазон перемещения предметного столика, мм: в продольном направлении от 0 до 70 в поперечном направлении от 100 до 150 Цена деления шкал, мм: предметного столика 1 нониуса механизма 0.10 микрометрической фокусировки 0.002 Максимальная нагрузка, кг 1 Габаритные размеры, мм 370х290Х280 536;Пензенский государственный университет;Микроскоп для исследования поверхности оптическими методами ЛВ-31;Габариты микроскопа, мм 510 х 370 х 470 Масса, кг 25 Увеличение при визуальном наблюдении от 50 до 1500 Увеличение при наблюдении на демонстрационном экране от 50 до 1000 Увеличение при фотографировании от 25 до 500 Размер демонстрационного экрана, см 9 х 12 Увеличение объективов 5, 10, 20, 50 и 100 Увеличение окуляров 10 и 15 Максимальная нагрузка на предметный столик, кг 3,0 537;Пензенский государственный университет;Установка вакуумного термического испарения для нанесения тонких плёнок УВН-71П3;Технологии напыления и серийного производства пленочных элементов и схем/ Установка УВН-71П-3 позволяет изготавливать тонкие пленки в высоком вакууме методом резистивного испарения материала 538;Пензенский государственный университет;Интерферометр МИИ-4;Предел измерения шероховатости Rz 0,1 мкм Увеличение при визуальном наблюдении 530 При фотографировании 260 Длина волны 538 нм (зеленый) 585 нм (желтый) 539;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Порозиметр в комплекте с устройством для сбора ртути Micromeritics AutoPore IV и Micromeritics Mercury Quik Vac;"Предназначен для определения порового объема катализаторов и наноструктурированных мембран. Низкое давление: Диапазон: 0 - 50 psia (345 МПа) Диаметр пор: 360 - 3.6 мкм Высокое давление: Диапазон: 0 - 33000 psia (228 МПа или 2280 бар) Диаметр пор: 6 - 0.005 мкм Точность датчика: ± 0.1% полной шкалы Пенетрометры Объем интрузии: 0,38; 1,1; 1,7; 3,1 или 3.9 см3. Точность интрузии: ± 1% полной шкалы объема интрузии Размер образца: максимальный размер - цилиндр 2.5 см в диаметре и 2.5 см длиной Режимы генерации давления Уравновешивание по времени: от 0 до 10,000 сек Уравновешивание по скорости: от 0 до 1000.000 мклитр/г за сек Сканирование: непрерывная генерация давления" 540;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Анализатор газов атмоферного давления QMS-200;"Предназначен для анализа газов высокого давления, обеспечивает анализ состава газовых смесей методом квадрупольной масс-спектрометрии, содержащих компоненты с массой до 200 а.е.м. Определение веществ с молекулярной массой до 200 а.е.м. с разрешающей способностью 0.5 а.е.м., 10% по высоте пика; Предел детектирования <1 ppm; Длительность одного измерения до 0.5 сек." 541;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Прибор для изучения физической адсорбции Gemini VII 2390 Series Surface Area Analyzers;Предназначен для определения адсорционной способностии поверхностей по Ленгмюру, общего объема пор и проведения микропористого анализа по т-методу. Измеряемая площадь поверхности Удельная от 0.01 м2/г Общая от 0.1 м2 Измеряемый объем пор 4х10-6 см3/г и выше Измерение давления Диапазон 0-950 мм рт.ст Минимальное разрешимое относительное давление (P/Pо) 10-4 Разрешение давления <0,1 мм рт.ст. Точность и линейность лучше ±0.5% полной шкалы 542;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Прибор для изучения хемосорбции AutoChem 2950 HP;Предназначен для исследования характеристик катализаторов, таких как определение активной поверхностии, энергия активации. Диапазон рабочих давлений установки от 0,01 МПа до 7 МПа. Диапазон рабочих температур от -100 до 1100 оС ASTM D 5483, ASTM E 1782, ASTM E 1858, ASTM D 6186, ASTM E 2009 543;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Интерферометр белого света (интерференционный микроскоп) ZYGO NewView 5000;Прибор позволяет получать трехмерные изображения рельефа поверхности образца с разрешением по верти-кали до 0.1 нм. Латеральное разрешение зависит от использующегося сменного объектива и достигает 0.45 мкм (объектив x100). Имеются объективы x1, x10, x20 и x100. Благодаря наличию автоматизированного трех-координатного столика и возможности программной «сшивки» изображений, получаемых в одиночном сканировании, имеется возможность исследовать площадки размерами в десятки см2. 544;ФГБУН Институт биохимии и физиологии микроорганизмов им. Г.К.Скрябина Российской академии наук;Денситометр Сорбфил-М;Измерение оптической плотности рентгенограмм 545;ФГБУ Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова;Двухмодовый рефлектометр на поляризованных нейтронах РПН-2М (Канал 13);Исследования процессов зер-кального отражения и незеркаль-ного рассеяния поляризованных нейтронов на магнитных много-слойных структурах. Диапазон по переданному им-пульсу во время-пролётном ре-жиме 0.045-1.37 нм-1, в режиме с постоянной длиной волны 0.061-1.1 нм Относительная спектральная ши-рина пика двойного зеркального монохроматора на длине волны 0.137 нм - ??/? = 0.05 Поляризация в пике - 0.976 546;ФГБУ Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова;Рефлектометр на поляризованных нейтронах с вертикальной плоскостью отражения (Канал 12);Исследования показателя пре-ломления материалов до глубины ~1000 с целью определения структурного профиля, а также магнитных свойств около по-верхности и профиля намагни-ченности. Монохроматор: механический (??/? = 0,10), кристаллический (пирографит, фторфлогопит) Анализатор 35 суперзеркал (вее-ром). Длина волны ? > 0,55 нм-1 Плоскость рассеяния - верти-кальная Наклон пучка -1.5° ? 1.5° Расстояние Образец-Детектор 2,5 м Вектор рассеяния q < 10-3 нм-1 Разрешение по переданному им-пульсу 5•10-6 нм-1 Разрешение по углам 10?? Диапазон измеряемых масштабов 1 ? 150 нм Детектор: 1D (20 счетчиков СНМ-50) 2D (190 мм ? 190 мм) 547;ОАО НПО Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения;Установка вакуумно-дугового нанесения защитных покрытий УРМ3.273.079;Нанесение защитных покрытий на материалы 548;ОАО НПО Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения;Установка вакуумно-дугового нанесения защитных покрытий УРМ3.273.070;Нанесение защитных покрытий на материалы 549;ОАО НПО Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения;Вакуумная камера И7.03.00.000 И7.03.00. 000;Проведение исследований жаропрочных покрытий 550;ОАО НПО Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения;Ферритометр «FERITOSCOPE» MP30E-S (Fisher);Определение содержания ферритной фазы 551;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Оже-спектрометр PHI 700;"Является новейшей, высокоэффективной системой предназначенной для анализа и предоставления информации об элементном составе поверхности образца, субмикронных элементах, тонких пленках и интерфейсах. Электронная оптика прибора на полевой эмиссии обладает пространственным разрешением менее 8 нм, что позволяет в короткие сроки получать изображения высокого разрешения субмикронных элементов во вторичных электронах и выбрать область анализа. Оже-спектрометр способен определить любые элементы в приповерхностных слоях образца, кроме H и He. Наличие ионной пушки дает возможность предварительной очистки образцов, исследования непроводящих поверхностей и профилирования по глубине. PHI 700 позволяет проводить элементный анализ сложных образцов, таких, как: • полупроводниковые устройства: поверхностные дефекты или частицы, загрязнения, тонкие пленки и анализ отказов; • металлы: покрытия, композиты, анализ границ зерен (включая разлом в вакууме), коррозия и другие дефекты." 552;Дальневосточный федеральный университет;Система измерения адсорбции газов ASAP 2020 (Micrometrics);Прецизионный многофункциональный анализатор удельной поверхности, объема пор и распределения их по размерам. Сорбционные характеристики определяются физической сорбции газов и хемосорбции, а также методом статической вольюмометрии. Снабжен автоматической системой дегазации с масляным насосом. Имеет один порт анализа и два порта дегазации, что позволяет проводить полностью автоматизированную дегазацию двух образцов с точно контролируемым режимом. 553;Красноярский государственный медицинский университет имени профессора В.Ф.Войно-Ясенецкого;Тройной квадрупольный масс-спектрометр с ионной ловушкой QTRAP 5500;Качественное измерение молярной массы веществ 554;Южный федеральный университет;Вакуумная камера VC103;Вакуумная камера предназначена для получения безмасляного вакуума в установке импульсного лазерного напыления 555;Южный федеральный университет;Рентгенфлуоресцентный спектрометр на основе полного внешнего отражения РФС ПВО – 001;Предназначен для определения концентраций химических элементов в диапазоне от натрия до урана в сухих остатках растворов, твёрдых телах и поверхностях 556;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA (Thermo Electron Corporation);Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности 557;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Анализатор удельной поверхности TriStar 3020 (Micromeritics);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 558;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Ртутный порозиметр AutoPore IV 9500 (Micromeritics);Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности 559;Оренбургский государственный университет;Высоковакуумная установка микроскопического in-situ контроля процессов магнетронного плазменного распыления проводящих нанослоев с субатомарным разрешением;Используется для создания проводящих нанослоевслоев, необходимых при подготовке неэлектропроводных образцов для туннельной и электронной микроскопии. Отличается тем, что характеристики пленки контролируются в процессе напыления внутри вакуумной камеры 560;Оренбургский государственный университет;Вакуумный универсальный пост ВУП-4;Напыление покрытий на образцы 561;ФГБУН Объединенный институт высоких температур Российской академии наук;Фемтосекундный интерферометр с цифровой регистрацией;Предназначен для измерительных методик 562;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Анализатор текстурных характеристик материалов СОРБТОМЕТР-МКНГУ101.00.00.00;Метод БЕТ (определение удельной поверхности, диаметра и объема пор) 563;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Электронно-зондовый микроанализатор РЭМА-102-02 (Сумы);РЭМ, микроанализ 564;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Роботизированный комплекс высокоскоростного газопламенного и плазменного напыления GLC - P - 1000;Плазменное и высокоскоростное газопламенное напыление наноструктурных покрытий 565;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Масс-спектрометр времяпролетный вторично-ионный TOF.SIMS.5 (ION-TOF);Исследования элементного и молекулярного состава поверхности, слоистых структур и межфазных границ, профилей легирования, получениетрехмерных картин распределения элементов 566;Институт медико-биологических проблем РАН;газоанализатор/масс-спектрометр AMIS-2000 (Innovision);качественное определение широкого спектра химических соединений в выдыхаемом воздухе 567;Московский государственный технический университет радиотехники электроники и автоматики;Технологический комплекс «Вакуумное напыление»;Приборы для обработки поверхности материалов 568;Южный федеральный университет;Установка вакуумного напыления УВН-2М;Напыление контактной металлизации 569;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Установка исследования текстуры поверхности New View 6300 (Zygo);дефектоскопия 570;ФГБУН Институт нефтехимии и катализа Российской академии наук;Полифункциональный дихрометр СКД 2МУФ;Регистрация спектров кругового дихроизма 220-750 нм, ±2нм 571;ФГБУН Якутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Микроанализатор Camebax-micro (Cameca);Рентгеноспектральный микроанализ 572;ФГБУН Институт горного дела Дальневосточного отделения Российской академии наук;Портативный рентгенофлуоресцентный спектрометр Mobilab Х – 50 (Innov-Systems);Определение элементного состава минерального сырья. 573;Научно-исследовательский институт клинической и экспериментальной ревматологии РАМН;Денситометр ультразвуковой UBIS-3000 (DMS);Измерение прочности костной ткани (пяточная кость) 574;Научно-исследовательский институт клинической и экспериментальной ревматологии РАМН;Денситометр костный рентгеновский DPX-Pro;Измерение минеральной плотности костной ткани 575;Ульяновская государственная сельскохозяйственная академия имени П. А. Столыпина;Профилометр модель 130;измер. шерохов. поверхности 576;Московский государственный университет природообустройства;Кондуктометр HI8734N (Hanna);Лабораторное измерение электропроводности почвенной пасты 577;ФГБУН Всероссийский научно-исследовательский технологический институт ремонта и эксплуатации машинно-тракторного парка;Анализатор удельной поверхности AUTOSORB-1 (Quantachrome);Определение удельной поверхности и распределения пор 578;ФГБУН Институт проблем экологии и эволюции им. А.Н. Северцова Российской академии наук;Элементный анализатор Flash EFCt;Приставка к изотопному масс-спектрометру 579;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Установка ионно-плазменного напыления УИПН;Синтез тонкопленочных слоев, в том числе и наноструктурированных материалов, в частности, с помощью применения методики поочередного соосаждения нанослоев различных материалов при различных параметрах синтеза 580;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Оже-электронный микроанализатор Jamp-9500F (Jeol);Исследование внутренней структуры наноструктурированных материалов и многослойных покрытий 581;Ивановский государственный химико-технологический университет;Масс-спектрометр QMS 403 C Aёolos (Netzsch);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области квадрупольной масс-спектрометрии 582;Самарский государственный технический университет;Поромер Autosorb 1 (Quantochrome);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа поверхности 583;Самарский государственный технический университет;Масс-спектрометр высокого разрешения 6230 TOF LC/MS с жидкостным хроматографом, снабженный источниками ионизации ESI и прямого анализа в реальном времени DART (Agilent);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области время-пролетной масс-спектрометрии 584;Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова;Кондуктометр, солемер, термометр COM 100 (HM Digital);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области кондуктометрического анализа 585;Дальневосточный федеральный университет;Эллипсометр Sentec-500 (SENTECH Instruments GmbH);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектральной эллипсометрии 586;Дальневосточный федеральный университет;Высоковакуумная двухкамерная система Omicron MXPS XP (NanoTechnology GmbH);Предназначена для исследования химических соединений и поверхности комплексом методов электронной спектроскопии 587;Северо-Кавказский федеральный университет;Спектрометрический эллипсометр SE 800 Sentech Instruments GmbH;SE 800 - новейший UV-VIS спектроскопический эллипсометр специально разработан для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм.). 588;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;ИК-спектральный эллипсометр IR-VASE (J.A. Woollam Inc);Предназначен для определения толщин слоев, определения для каждого слоя зависимости коэффициентов преломления и затухания от длины волны света, а также вычисления некоторых специфических параметров, например, ширину запрещенной зоны для полупроводников и химический состав вещества 589;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Оже-электронный спектрометр Specs;Сверхвысоковакуумный аналитический прибор Оже-электронной спектроcкопии (англ. Auger electron spectroscopy) предназначен для элементного (кроме He и H) анализа поверхности образцов диаметром до 20 мм в условиях сверхвысокого вакуума (до 10-8 Па). 590;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Установка вакуумного напыления Auto 500 (BOC Edwards);Предназначена для нанесения тонких пленок металлов, полупроводников и диэлектриков методами электронно-лучевого испарения и магнетронного распыления 591;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Спектрометр рентгенофлуоресцентный Nanohunter на полном внутреннем отражении (Rigaku Corp.);Исследования в области материаловедения, микроэлектроники, контроль состава продуктов, судебная экспертиза 592;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Многофункциональная система AixACCT TF Analyzer 2000;Предназначена для измерения и анализа свойств сегнето, пиро, диэлектриков 593;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Хромато-масс-спектрометр гибридный квадрупольный Xevo QTof UPLC (Waters Corp);Предназначен для решения широкого круга задач в области биологических исследований (метаболомика, протеомика, экология), органической химии, фармацевтики 594;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Определитель поровых характеристик ASAP-2020;"Автоматизированная система для анализа площади поверхности и исследования пористой структуры материалов с применением методов физической сорбции. Полный анализ микро- и мезопор, их распределения по размерам и определение площади поверхности. Основные технические характеристики: Мезо- (50-500 нм) и микропоры (0,5-50 нм). Масса образца для анализа: непористый - 1,0 г; мезопористый - 0,5 г; микропористый - 0,05 г. Диапазон измерений удельной адсорбции (сорбционной емкости) 20–5500 см3/г. Пределы допускаемой относительной погрешности измерений удельной адсорбции (сорбционной емкости) ±2,0 %. Объем измерительной ампулы 10 см3. Диапазон задаваемых температур пробоподготовки (дегазации) 30–450?С. Диапазон температур выполнения измерений 77 K (–196?С) – 1100?С. Диапазон задаваемых давлений 1,33?10–3–133,3?103 кПа (10–5–1000 мм. рт. ст.)" 595;Рязанский государственный радиотехнический университет;Масс-спектрометр MX-7304 (НИТИ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области время-пролетной масс-спектрометрии 596;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр Rigaku Supermini;Компактный волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр с производительной рентгеновской трубкой мощностью 200 Вт позволяет заметно сократить продолжительность измерений и повысить чувствительность. Возможность анализа образцов руд, агломератов и горных пород. Возможность контроля содержания токсичных веществ в соответствии с требованиями Евросоюза (директивы WEEE/RoHS/ELV). Анализ следовых микропримесей тяжелых элементов. Supermini оснащен тем же программным обеспечением для обработки данных, что используется в спектрометрах серии ZSX Primus с рентгеновской трубкой 4 кВт. Данное программное обеспечение зарекомендовало себя как легкое в использовании и обладающее расширенными возможностями. Качественный анализ проб неизвестного состава может быть выполнен с помощью программы EZ Scan. Программа полуколичественного анализа SQX позволяет получать полуколичественные значения концентраций элементов без использования стандартов . Определение концентраций проводится с помощью обработки интенсивностей линий наблюдаемых в спектре качественного анализа методом фундаментальных параметров и метода теоретической поправки на перекрывание линий. Для улучшения результатов анализа методом фундаментальных параметров может использоваться библиотека соответствия стандартов. В программном обеспечении заложены различные возможности для калибровки: с использованием стандартов, методом фундаментальных параметров, введением поправок на влияние матрицы. Основные технические характеристики: Рентгеновский генератор Макс. 50 кВ 4 мА Рентгеновская трубка Pd анод, 200 Вт, воздушное охлаждение Держатель кристаллов Три позиции для кристаллов: один кристалл для тяжелых элементов, два для легких элементов Кристаллы-анализаторы LiF (200) (Ti-U) и PET (Al-Ti) Детекторы легкие элементы: F-PC(газопроточный пропорциональный), тяжелые элементы: SC(cцинциляц.) Фильтры на первичном пучке Zr-фильтр (анализ Cd) и Al-фильтр (анализ следов К). Автоматическая замена. Держатель проб 12 позиционная турель для образцов Размер пробы диаметр не менее 30 мм. макс. размеры: диаметр 44 мм, высота 33 мм. Вращение пробы 30 об./мин. Атмосфера в камере спектрометра вакуум, вакуум/гелий Вакуумный насос роторный насос Программное обеспечение качественный и количественный анализ (метод фундаментальных параметров), SQX 597;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD-7000;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии 598;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Ртутный порозиметр Quantachrome Poremaster 33;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа пористости и шероховатости поверхности 599;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;БЭТ-анализатор со станцией подготовки проб МЕТА СОРБИ–М;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа пористости и шероховатости поверхности 600;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Оптическая установка комплексного изучения свойств тонких пленок «Эллипсометр М2000DI» (LOT-Oriel Gruppe);Предназначена для изучения свойств тонких пленок 601;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Анализатор площади поверхности и размеров пор Autosorb iQ-C (Quantachrome);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа поверхности и размеров пор 602;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Оптический профилометр Wyko NT 9080 (Bruker AXS);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области исследования шероховатости поверхности 603;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Спектральный эллипсометр AutoSe System (HORIBA Jobin Ivon);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектральной эллипсометрии 604;Владимирский государственный университет;Анализатор химического состава металлов и сплавов Х-Мет 3000ТХ (OXFORD);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа химического состава металлов и сплавов 605;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Профилометр Hommel-Etamic T1000 wave;"Прибор предназначен для определения шероховатости поверхности, как на плоских, так и на волнистых образцах в соответствии с DIN, ISO, ГОСТ и т.д. Основные технические характеристики: Дисплей Подсвеченный графический дисплей, 240 x 160 точек Питание Ni-металлгидридный аккумулятор Сетевой блок питания 24В/2,5A; автоматическое переключение 90-240В Емкость аккумулятора Около 1000 измерений Рабочая температура 0-50°C, макс. 85% относит. влажн. Интерфейсы V24/RS232 и IRDA (инфракрасный) Память для хранения данных 200 профилей / 999 измерений Программы измерения 5 программ измерения Габариты Ш x Г x В [мм] 253 x 193 x 80 Вес [г] 1600 Способ измерения опорный щуп Общее отклонение lt. DIN 4772 Класс 1 Диапазоны измерения /разрешение ± 80 ?м / 0,01 ?м Регулировка прибора Автоматическая или ручная Фильтр DIN EN ISO 11562, часть 1 (50% Гаусс) DIN EN ISO 13565-1 Гауссов фильтр (M1) цифровой фильтр [мм] ? 0,025 / 0,08 / 0,8 / 2,8 / 8 Двойной гауссов (M2) параметр Rk Длина трассирования Lt [мм] DIN EN ISO 4288 / DIN EN ISO 12085 (MOTIF) 0,48 / 1,5 / 4,8 / 15 / макс. 16 Длина оценки ln DIN EN ISO 4287 0,4 / 1,25 / 4,0 / 12,5 Отдельных отрезков lr,lw, lp по DIN EN ISO 4287 1 - 5 - по выбору Скорость щупа [мм/с] 0,15 / 0,5 / 1,0 Отсечка шага ? [мм] 0,08 / 0,25 / 0,8 / 2,5 / 8,0 Полосовой фильтр Lc/Ls DIN EN ISO 3274 100 / 300 Параметры шероховатости DIN EN ISO 4287 Ra, Rz (Rz4, Rz3, Rz2, Rz1), Rmax, Rt, Rq, RPc, RSm, Rmr©, Rp, Rpm, R3z, Rz-ISO Основные параметры шероховатости DIN EN ISO 13565 Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2 MOTIF-параметры DIN EN ISO 12085 R, Rx, AR, P ?c (CR, CL, CF) Параметры шероховатости JIS - B 0601 Rz-JIS, Rmax-JIS Статистика 999 измерений, диапазон, Xпопереч, Max., Min., стандартное отклонение Система единиц ?м / ?дюйм (переключается) Применяемый щуп опорный Длина трассирования [мм] 16 Вес [г] 250 Орган управления Встроенная кнопка Start Контактный щуп T1E Диапазон измерения [?м] 80" 606;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Элементный анализатор EA3028 (Evrovector);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеноспектрального анализа 607;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Рентгеноэлектронный спектрометр SM 4201TERLAB;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеноэлектронной спектрометрии 608;Московский государственный горный университет;Вакуумный импрегнатор CitoVac (Struers);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области вакуумного напыления 609;Тверской государственный технический университет;Рентген-фотоэлектронный спектрофотометр ЭС 2403М-Т;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгено-фотоэлектронной спектрофотометрии 610;Тверской государственный технический университет;Рентгенофлуоресцентный анализатор Спектроскан-Макс-G (Спектрон);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгенофлуоресцентного анализа 611;Тверской государственный технический университет;Анализатор поверхности SA-3100 (Beckman Coulter);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа пористости поверхности 612;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Рентгеновский дифрактометр AXS D8 Discover (Bruker Corporation);Анализ рентгенодифракционными методами 613;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System (Bede Scientific Instruments);"Предназначен для исследования гетероэпитаксиальных структур. Рентгеновская дифракция в низком разрешении (количественный и качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок). Проведение качественного фазового анализа; Оценка структурного совершенства кристаллов; Анализ текстуры; Исследование тонкопленочных (в том числе многослойных) структур; Исследование квантово-размерных структур разной размерности (квантовые ямы, квантовые нити, квантовые точки); Определение структурных параметров наночастиц в тонких слоях; Изучение микродефектов и радиационных повреждений в монрокристаллах; Определение шероховатости поверхности и межслойных границ в гетероструктурах; Контроль качества обработки поверхности; Исследование поведения точечных дефектов в сильно неравновесных полупроводниковых системах (ионно-легированные кристаллы, облученные нейтронами объемные кристаллы)." 614;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Электронный оже-спектрометр PHI-680 (Physical Electronics);Исследование элементного состава твердофазных материалов методом электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) основано на анализе энергетического распределения Оже-электронов, эмитированных с поверхности вещества в вакууме при его возбуждении электронным пучком. 615;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI-1500 (Physical Electronics);Спектроскопические исследования поверхности твердых тел 616;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Установка изучения структуры поверхности Alpha-Step 200 (профилометр) Tencor;Предназначен для измерения толщины тонких и толстых пленок, а также для измерения шероховатости пленок и подложек 617;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Спектрометр сканирующий фотоэлектронный PHI VersaProbe II 5000 (Physical Electronics);Исследования химического состава поверхностей твердых тел 618;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Оже-микроанализатор JAMP-9500F (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оже-электронной спектрометрии 619;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Автоматический анализатор удельной поверхности и размера пор NOVA 2200E;Предназначен для определения поровой структуры материалов методом адсорбционной порометрии 620;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Автоматизированный эталонный поромер Porotech 3.1;Неразрушающий анализ пористости твердых и сыпучих материалов 621;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Комплекс оборудования для исследования супрамолекулярных систем (электрокинетический анализатор Anton Paar SurPass с вспомогательным оборудованием);Определение электрокинетического потенциала поверхности минеральных фаз 622;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 S (Shimadzu);Предназначен для анализа структуры веществ 623;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;Спектральный эллипсометр Микроскан;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектральной эллипсометрии 624;Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова;Анализатор импульсной хемосорбции ТПД/ТПО/ТПВ и удельной площади поверхности ChemiSorb 2750 (Micromeritics);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа поверхности и пористости 625;Южный федеральный университет;Спектрометр рентгеновского поглощения Rigaku R-XAS Looper;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской спектрометрии 626;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Оже-электронный спектрометр PHI-660 (Perkin-Elmer);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оже-электронной спектрометрии 627;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Времяпролетный масс-спектрометр IONTOF SIMS5 (GmbH);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области времяпролетной масс-спектрометрии 628;Московский государственный индустриальный университет;Рентгенофлуоресцентный микроанализатор Фокус М2/ ИРО;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновского анализа 629;Северо-Кавказский федеральный университет;Масс-спектрометрическая установка на вторичных ионах с времяпролетным масс-спектром;Исследование элементного состава материалов методом вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС). Быстрое получение исследуемого спектра масс в TOF-SIMS режиме. Возможность работы как с положительно заряженными вторичными ионами, так и с отрицательно-заряженными (positive and negative SIMS). Возможность распыления образца (очистки) в режиме постоянного ионного пучка. Максимальное разрешение по массе (М/?М) ~ 2000 (FWHM) (Цезиевая пушка). Точность по массе /- 0,005 amu. Исследование элементного состава материала. 630;Северо-Кавказский федеральный университет;Спектроскопический эллипсометр SE 800 Sentech Instruments GmbH;Научно-исследовательский прибор предназначен для измерения толщин и свойств тонких пленок методами эллипсометрии с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур. Спектральный диапазон: UV/VIS: 280…850 (190 - 2500 или 3500) нм. Размер образца: 6”, опция: 8” Подложка образца: Прозрачная / непрозрачная Ручной гониометр: Регулировка угла от 40-90є, шаг 5є, воспроизводимость 0,01є Исследования с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур. 631;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Толщиномер ультразвуковой А 1208 (АКС);Предназначен для измерения толщины изделий из металла, пластика, стенок труб, а так же изделий с высоким затуханием ультразвука 632;Воронежский государственный технический университет;Спектрометр универсальный рентгеновский СУР-01 (Реном);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской спектрометрии 633;Южный федеральный университет;Спектрометр рентгено-флюоресцентный СПЕКТРОСКАН МАКС-G;Предназначен для общенаучных исследований в области рентгеновской спектроскопии 634;Южный федеральный университет;Спектрометр рентгеновский кристаллдифракционный СПЕКТРОСКАН МАКС-GV;Предназначен для проведения общенаучных исследований в области дифракционной спектроскопии 635;Южный федеральный университет;Оборудование для подготовки проб к анализу на ренгенофлуорисцентных спектрометрах;Предназначено для подготовки проб к анализу на спектрометрах ренгенофлуорисцентных 636;Российский университет дружбы народов;Квадрупольный масс-спектрометр micrOTOF-Q II (Bruker Corporation);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области квадрупольной масс-спектроскопии 637;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Спектроскопический эллипсометр PHE-102 (Angstrom Advanced Inc.);Мощный и универсальный эллипсометр для проведения исследований широкого круга материалов: диэлектрики, полимеры, полупроводники, металлы, многослойные структуры. Позволяет работать в широком диапазоне длин волн (250 - 1100 нм) с высоким спектральным разрешением. 638;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Спектроскопический эллипсометр SE 850 (SENTCH);Мощный и универсальный эллипсометр для проведения исследований широкого круга материалов: диэлектрики, полимеры, полупроводники, металлы, многослойные структуры. Он позволяет работать в широком диапазоне длин волн (250 - 1700 нм) с высоким спектральным разрешением. 639;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Комбинированный тандемный квадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр QqTOF (Sciex Applied Biosystems);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области квадрупольной масс-спектрометрии твердого тела 640;Южный федеральный университет;Лазерный анализатор дисперстности почв и грунтов Анализетте 22 модель Nano Tec;Предназначен для анализа дисперстности почв и грунтов методом лазерного сканирования 641;Сибирский государственный технологический университет;Денситометр ДенСкан для ТСХ;Анализ образцов методом тонкослойной хроматографии 642;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Микроанализатор спектров (опытный образец лазерной установки);Лазерный элементный спектральный микроанализ органических и неорганических материалов 643;Поволжский государственный технологический университет;Комплекс аппаратуры для автоматического анализа удельной поверхности и размера пор;Предназначен для автоматического анализа удельной поверхности и размера пор исследуемого объекта 644;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Времяпролётный масс-спектрометр Triple TOF 5600 (ABSciex);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области времяпролетной масс-спектрометрии 645;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Оже-микрозонд PHI-670xi (Physical Electronics);Анализэлементного состава поверхности и получение профиля распределения элементов по глубине 646;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Времяпролетный вторично-ионный масс-спектрометр TOFSIMS-5-100 (IonTOF);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области ионной масс-спектроскопии 647;Алтайский государственный университет;Спектрофотометр рентгенфлуоресцентный Х-Арс М с функцией сканирования;Предназначен для экспресс-анализа химического состава различных объектов (позволяет проводить быстрый качественный и количественный анализ образцов на содержание элементов). 648;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Электронный оже-спектрометр PHI-680 (Physical Electronics);Предназначен для исследования элементного состава твердофазных материалов методом электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) основано на анализе энергетического распределения Оже-электронов, эмитированных с поверхности вещества в вакууме при его возбуждении электронным пучком. 649;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Установка магнетронного напыления Sunpla 40TM;Предназначена для напыления металлических, диэлектрических и полупроводниковых материалов как простых веществ, так и сложных соединений. Установка позволяет напылять электрооптические, многослойные градиентные покрытия с заданными толщинами каждого слоя. Шлюзовая камера оснащена системой очистки и загрузочной кассетой с держателем на три образца диаметром 4. Камера снабжена ионной пушкой для очистки подложки, предусмотрена подача высокочастотного потенциала на подложку. 650;Южный федеральный университет;Спектрометр лазерного импульсного фотолиза модель LP920KS;Предназначен для общенаучных экспериментов в области лазерной спектрометрии 651;Южный федеральный университет;Спектрометр электронного парамагнитного резонанса EMXplus;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектрометрии электронного парамагнитного резонанса 652;Южный федеральный университет;Система Renishaw in Via Reflex Spektrometer для Раман спектрального анализа с возбуждением в видимой области спектра;Предназначена для общенаучных экспериментов в области спектрального анализа с возбуждением в видимой области спектра 653;Тверской государственный университет;Интерферометр высокого разрешения сканирующий в белом свете NanoMap 1000WLI (электронно-оптический комплекс для анализа морфологии кристаллов);Интерферометр высокого разрешения сканирующий в белом свете, использующийся для бесконтактной профилометрии. 654;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker);Предназначен для прецизионного исследования материалов микро- и наноэлектроники. Позволяет проводить рентгенодифракционные исследования материалов, в том числе методами дифрактометрии высокого и низкого разрешения, построения карт обратного пространства, рефлектометрии, дифрактометрии высокого разрешения под скользящими углами, и исследования текстуры и напряжений в автоматическом режиме 655;Челябинский государственный университет;Энергодисперсионный спектрометр ARL QUANT X (Thermo Fisher Scientific);Элементный анализ неорганических веществ 656;ООО ГЕО-НДТ;Профилометр Surftest SJ-210 Mitutoyo;"Состоит из двух блоков: блока индикации и блока измерения (drive unit). Блок измерения может быть установлен непосредственно в блок индикации или соединяться с ним кабелем длиной 1 м, что позволяет контролировать шероховатость поверхности в труднодоступных местах, таких как внутренняя поверхность трубы; а также устанавливать профилометр непосредственно на деталь при изготовлении. Простой в использовании, легко устанавливается, позиционируется на контролируемой детали. По статистическим данным проводившейся поверки приборов, погрешность не превышала 5%." 657;ООО ГЕО-НДТ;Профилемер ELCOMETER 224;Сочетает в себе новейшие технологии измерения профиля поверхности и удобную систему управления 658;Санкт-Петербургский государственный университет;Автоматизированный эталонный порометр Porotech 3.1;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области порометрии 659;Санкт-Петербургский государственный университет;Комплекс для анализа удельной поверхности и размеров пор Quadrasorb SI (Quantachrome Instruments);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов по анализу удельной поверхности и размеров пор 660;Уфимский государственный авиационный технический университет;Рентгенофлуоресцентный анализатор БРА-18;Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах. 661;Юго-Западный государственный университет;Система напыления тонких токопроводящих покрытий JFC 1600;Предназначена для напыления тонких токопроводящих покрытий 662;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Масс-спектрометр Microflex LT/SH (Bruker);Для определения масс биомолекул. Идентификация микроорганизмов. 663;Ставропольский государственный аграрный университет;Кондуктометр MettlerS30;для измерения удельной электропроводности и передачи результатов измерений 664;ООО «Термо Техно»;Спектрометр последовательного рентгенофлюоресцентного анализа ARL PERFORM’X;"Предназначен для решения аналитических задач в различных производственных отраслях, таких как: Металлургия; Нефтедобыча; Полимеры; Цемент и огнеупорные материалы; Стекло; Горнодобывающая промышленность и т.д." 665;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Модуль электронно-ионной спектроскопии на базе платформы НаноФаб 25 (НТ-МДТ);Предназначен для проведения комплексного анализа поверхностных слоев твердого тела. В аналитическом модуле могут исследоваться образцы с размерами до 10?10?8 мм в условиях сверхвысокого вакуума (2?10-8Па). 666;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Электрохимический профилометр Серия CV92 (ртутный зонд);Профилирование с помощью метода ртутного зонда является уникальным способом измерения электрических характеристик материалов и изделий в ходе производства полупроводниковых устройств. Метод основан на анализе зависимости емкости МДП-структур от напряжения на затворе и является незаменимым в случае, когда нежелательным является нанесение металлизации на поверхность для проведения электрических измерений и позволяет значительно экономить время при изготовлении. 667;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Профилометр стилусный Alpha-Step D-500;Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей. 668;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Спектральный эллипсометр с визуализацией Accurion Nanofilm;Предназначен для решения многочисленных задач метрологии тонких пленок и покрытий, таких как: измерение толщин однослойных и многослойных ультратонких пленок и монослоев, индекса преломления с точностью до третьего знака после запятой, коэффициента затухания, отражения, пропускания, измерения шероховатости и картирования поверхности и др. Также метод дает возможность исследования физико-химических процессов, протекающих на поверхности твердого тела: современная техника эллипсометрии позволяет измерять толщину адсорбционных покрытий с точностью до 0,02 долей монослоя. 669;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Компактный спектрометр Scienta R3000;Предназначен для быстрых измерений фотоэлектронной спектроскопии. Новый дизайн линзы с высокой пропускной способностью и детектор, охватывающий интервал по энергии сразу в 12% от энергии пропускания, позволяют проводить чрезвычайно быстрые измерения со скоростью, сравнимой со скоростями для спектрометров Scienta большего диаметра. Различные модификации Scienta R3000 позволяют использовать спектрометр для широкого круга задач - от электронной спектроскопии для химического анализа до ARPES измерений и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в режимах высокого давления. 670;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Стилусный профилометр KLA-Tencor P-7;"Предназначен для: Измерение толщины и шероховатости тонких пленкок и покрытий; Исследование структуры пластичных материалов (возможно за счет приложения переменного усилия к стилусу, использования емкостного датчика положения, а так же сменных стилусов); Измерение глубины травления; Вычисление более чем 40 различных параметров поверхности, в том числе шероховатость, плоскопараллельность, макрорельеф с помощью программного обеспечения для анализа пиков; Расчет параметров топологии поверхности по данным измерений и преобразование результата в 3D модель. В качестве опции предлагается офлайн анализ данных, позволяющий производить анализ без влияния на производительность; Измерение напряжений в тонких пленках (позволяет оптимизировать процессы для предотвращения появления трещин или нарушений адгезии); Выявление дефектов поверхности. Продвинутые характеристики системы выявления дефектов позволяют добавлять модели дефектов, созданные пользователем. Даже самые маленькие дефекты в случае их обнаружения могут быть перемещены в центр сканируемой области, оптимизируя тем самым процесс обследования и анализа дефектов." 671;ООО ИМС Индастриз;Эталонная поверочная установка на базе мерника и объемного счетчика расхода нефтепродуктов;Эталонные поверочные установки на базе мерника и объемного счетчика (ЭПУ) предназначены для первичной и периодических поверок трубопоршневых поверочных установок (ТПУ) с пропускной способностью от 100 до 4000 м3/ч. Эталонные поверочные установки (ЭПУ) определяют объем калиброванного участка и применяются для поверки и калибровки трубопоршневых поверочных установок (ТПУ). Принцип действия Эталонной поверочной установки на базе мерника и объемного счетчика основан на том, что счетчик работает в качестве компаратора, с помощью которого объем мерника первого разряда передается поверяемой ТПУ. 672;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian);Предназначен для определения органических и неорганических веществ в твердых, жидких и газообразных образцах по их спектрам флуоресценции, фосфоресценции, хеми- и био -люминесценции 673;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Установка для вакуумного напыления Scancoat Six (BOC Edwards);Предназначена для нанесения покрытий магнетронным методом на холодную подложку с регулировкой ее потенциала, ионное травление, термическое напыление 674;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Вакуумная напылительная установка SPI (SPI Supplies);Предназначенf для проведения общенаучных экспериментов 675;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Механический профилометр Dektak 150 (Veeco Instruments Inc);Контактный метод измерения профиля поверхности твердых тел, в том числе толщины тонких пленок, с нанометрическим разрешением 676;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Оптический профилометр Wyko NT 1100 (Veeco Instruments Inc);Бесконтактный метод быстрого получения трехмерного изображения рельефа поверхности 677;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Анализатор размеров частиц лазерный дифракционный SALD 7101 (Shimadzu);Измерение гранулометрического состава порошков в суспензии 678;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Анализатор дисперсии наночастиц 90BI-Zeta Plus (Brookhaven Instruments Corporation);Измерение в жидкой среде электрических характеристик и распределения по размерам нано- и субмикронных частиц 679;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Анализатор дисперсий частиц Zetasizer Nano (Malvern Instruments Ltd);Измерение размеров, дзета-потенциала и молекулярной массы нано- и субмикронных частиц и молекул в коллоидных растворах 680;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Анализатор удельной поверхности и пористости адсорбционный TriStar 3000 (Micromeritics Instrument Corporation);Определение изотермы сорбции/десорбции и расчет параметров пористой структуры 681;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Прибор для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов Sorbi N.4.1 (МЕТА);Измерение параметров поверхности пористых материалов методом низкотемпературной адсорбции газа 682;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Газовый хроматограф / Хромато-масс-спектрометр GC/MS 600 D (Perkin Elmer);Проведение анализов смесей газов и летучих жидкостей методами газовой хроматографии и масс-спектрометрии 683;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра STA 409 Luxx/QMS 403 C (Netzsch);Качественный и количественный анализ газообразных продуктов разложения неорганических веществ 684;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Анализатор ртути PA-915;Является частью аналитического ртутного комплекса, обладающего уникальной возможностью выполнять быстрые селективные измерения концентрации ртути в атмосферном воздухе, газовых потоках, жидких и твердых пробах. Оригинальная оптико-электронная схема анализатора обеспечивает ультранизкий предел обнаружения ртути в режиме прямых измерений (без предварительного концентрирования), высокую селективность анализа и широкий динамический диапазон измерений. Ртутный аналитический комплекс позволяет решать любые задачи, связанные с определением ртути в природных средах и с контролем технологических процессов. 685;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Трехмерный бесконтактный профилометр (Micro Measure 3D Station);Микроскопия, свойства поверхности. Зона сканирования, мм X=100, Y=100, Z=50 Минимальный размер шага (X и Y), мкм 0,1 Диапазон измеряемых глубин по оси Z, мкм (0,001-300) 686;ЗАО Научное оборудование;Модульный спектрометр Ocean Optics Jaz-ULM-200;Предварительно настроенная и откалиброванная спектрометрическая система для контроля качества лабораторных и полевых измерений характеристик светодиодов и других излучателей 687;ООО Научно-производственная фирма ЛИТЕХ;Масс-спектрометр LaserToF LT2 Plus (время-пролетный);Функция сравнительного анализа спектров позволяет как идентифицировать отличия между спектрами близкородственных микроорганизмов, так и улавливать изменения спектральных профилей, обусловленные изменениями условий культивирования, что необходимо, в частности, при изучении чувствительности патогенных микроорганизмов к антибиотикам. Масс-спектрометры LaserToF LT2 Plus представляют собой автоматизированные многоцелевые измерительные системы, состоящие из ионного источника, вакуумной камеры, анализатора масс и персонального компьютера. 688;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Зондовая станция EP6 (Cascade Microtech);Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов. 689;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Зондовая станция PM8 (Cascade Microtech);Предназначена для точного аналитического контроля на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм, в частности, для испытания готовых компонентов, анализа неисправностей, высокочастотных (ВЧ) испытаний в диапазоне до 220 Ггц, испытаний оптоэлектронных и микроэлектромеханических схем. 690;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Высокоскоростной анализатор площади поверхности и размеров пор Nova 1200e (Quantachrome Instruments);Низкотемпературная адсорбция паров некорродирующих газов на поверхности исследуемого образца. Область применения: Характеризация образцов по удельной площади поверхности, удельному объему пор, распределению пор по размерам. 691;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Прибор синхронного термического анализа STA 409 CD с квадрупольным масс-спектрометром QMS 403C (NETZSCH-Geratebau GmbH);Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК), дифференциальный термический анализ (ДТА), измерение изменения массы и анализ выделяющихся газов (квадрупольный масс-спектрометр).Область применения: Синхронный анализ сплавов и керамических материалов ядернойэнергетики и других отраслей промышленности. 692;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Квадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр QStar Elite AB Sciex (Applied Biosystems);Метод тандемной масс-спектрометрии может быть использован для самых разнообразных приложений – от структурного анализа небольших молекул до качественного и количественного анализа протеинов и пептидов. Область приложений включает криминалистику, фармацевтику, биотехнологии, здравоохранение, экологический мониторинг, безопасность и другие направления. Применение в одном приборе двух масс-анализаторов и расположенной между ними ячейки столкновений позволяет проводить фрагментацию и последующий масс спектрометрический анализ предварительно отобранных родительских ионов пробы, тем самым существенно повышая достоверность определения структуры молекул пробы. Возможность применения различных источников ионов позволяет использовать прибор для анализа как жидких, так и газовых смесей. Потоки элюента от 2 nL/мин до 1-2 мл/мин (в зависимости от источника ионов) позволяют совмещать прибор с различными системами для разделения сложных смесей - от электрофореза и нано Высокоэффективной жидкостной хроматографии (ВЭЖХ) до высокоскоростной ВЭЖХ. 693;Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского;Установка время-разрешенной фото-фононной спектроскопии;Предназначена для изучения время-разрешенной интегральной фононной флуоресценции при облучении исследуемых образцов импульсами лазера на красителях. 694;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Ионно-лучевые установки ИЛУ-3, ИЛУ-200;Оборудование предназначено для модификации приповерхностных свойств твердых тел и тонких пленок – для легирования полупроводников, ионно-лучевого синтеза захороненных сплошных слоев и наноструктур, инженерии дефектов, а также формирования приборных слоев и структур микро-, нано- и оптоэлектроники 695;ООО Нанокор;ИК-спектральный эллипсометр IR-VASE;Предназначен для спектрального анализа 696;Ухтинский государственный технический университет;Автоматизированный прибор для измерения пористости и проницаемости «ПИК-ПП»;"Автоматический пермеаметр-порозиметр разработан для экспресс-определения пористости и проницаемости в барических условиях с давлением обжима до 68 МПа. Прибор использует метод падения давления для определения проницаемости с поправкой Клинкенберга, фактора проскальзывания (slip factor) и инерционных коэффициентов потока.Внесен в Государственный реестр средств измерений за № 53157-13 (Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 04 апреля 2013г. №343), о чем выдано Свидетельство RU.C.31.005.A № 50340Особенности. Компактный прибор с интегрированным определением пористости и проницаемости; простая и быстрая замена образцов; высокая точность измерений.Измеряемые параметры. Проницаемость (с поправкой Клинкенберга). проницаемость при остаточной воде; эквивалентная проницаемость по воздуху на заданном среднем давлении; поправка Клинкенберга (slip factor);инерционные коэффициенты (? и ?); пористость и поровый объем." 697;Курский государственный университет;Система напыления проводящих покрытий с функцией травления и кварцевым контроллером SPI 12157EQ-AX;"- нанесение проводящих металлических и углеродных покрытий толщиной до 10 нм; - ионное травление поверхности образцов." 698;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Спектрофлюориметр Флюорат-02-ПАНОРАМА с приставкой КРИО-1;Предназначен для измерения массовой концентрации неорганических и органических примесей в воде, а также в воздухе, почве, технических метериалах после переведения примесей в раствор 699;ОАО Летно-исследовательский институт имени М.М. Громова;Сканирующая цифровая аэрокамера АФА6У92 Explore 300HDV;основное (Испытание авиационной техники) 700;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Порометр POROLUX;научно-исследовательское/технологическое (контрольный прибор) 701;ФГУП Центральный аэрогидродинамический институт им. Н.Е. Жуковского;Осушитель адсорбционный горячей генерации СОМНЕАТ 90000 S;Предназначен для осушения больших площадей в помещении 702;ФГУП Государственный научно-исследовательский институт органической химии и технологии;Масс-селективный детектор (аналитический комплекс);лабораторное оборудование (научные исследования и разработки) 703;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Кулонометрический титратор в комплекте;научно-исследовательское/лабораторное (Определение воды по Фишеру) 704;ФГУП «Крыловский государственный научный центр»;Координатно-измерительная аппаратура в комплекте со сканирующей системой;вспомог. (контроль точности изготовления моделей гребных винтов) 705;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений;Детектор LaBr3(Ce)38X38 мм, ФЭУ с делителем напряжения, программным обеспечением Genie 2000;Лабораторное (спектрометрия излучения) 706;ФГУП «Крыловский государственный научный центр»;Адсорбиционная азотная установка Провита-N500;Лабораторное (Получение азота из воздуха) 707;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Спектрофлюориметр Флюорат-Панорама;Предназначен для проведения спектрофлюориметрических исследований 708;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Спектрофлюориметр Cary Eclipse (Varian);Предназначен для исследования спектральных составляющих веществ 709;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Анализатор Флюорат-02-3М (в комплекте);Фильтровый флуориметр для рутинных измерений объектов с предварительно установленными спектральными характеристиками фотолюминесценции. Предназначен для измерения массовой концентрации неорганических и органических примесей в воде, а также воздухе, почве, технических материалах, пищевых продуктах после переведения примесей в раствор. 710;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Спектральный эллипсометр VUV-VASE (Woollam);Измерения оптических и световых свойств 711;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Технологический комплекс напыления тонких пленок металлов;Напыление тонких пленок металлов 712;Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова;Система автоматического определения воды - титратор V30;Определение содержания воды 713;Саратовский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского;Система напыления и дугового плазменного осаждения С-400-2С;Для проведения исследований на кафедре микро- и наноэлектроники 714;Российский государственный технологический университет им. К.Э. Циолковского;Рабочий модуль установки магнетронного напыления с замкнутым полем с монтажом и наладкой;Нанесение покрытий с заданными свойствами 715;Российский государственный технологический университет им. К.Э. Циолковского;Оптический профилометр KLAТеnсогMicroXAM- 100 с предметным столом с сервоприводом;Предназначен для контроля шероховатости и качества поверхности 716;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Рентгено-флюоресцентный спектрометр Quan-X;Предназначен для проведения спектрометрических исследований 717;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Рентгеновский Si-PIN-детектор AMPTEK с процессором спектрометрических импульсов;Предназначен для рентгеновских исследований 718;Поволжский государственный технологический университет;Профилометр Mitutoyo Surftest SJ-210;Прибор для измерения шероховатости поверхностей 719;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Рентгено-флуоресцентный спектрометр сканирующего типа (последовательный) XRF-1800 (Shimadzu);Предназначен для исследования оптического пропускания и поглощения прозрачных образцов в ИК, ВИД и УФ диапазонах 720;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Электрохимический прибор Autolab AUT302N;Для измерения площади поверхности образцов 721;Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского;Лазерный эллипсометрический комплекс ЛЭК-9105;"Проведение прецизионных измерений толщины однослойных и многослойных тонкопленочных структур, исследование спектральных оптических постоянных (показателя преломления и коэффициента поглощения), структурных свойств материалов (пористость; наличие, концентрация и распределение примесей в пленке)." 722;Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского;Иономер «И-160МИ»;Прямое и косвенное потенциометрическое измерение активности ионов водорода (pH), активности и концентрации других одновалентных и двухвалентных анионов и катионов (pX), окислительно-восстановительных потенциалов (Eh) и температуры в водных растворах с представлением результатов в цифровой форме и в виде аналогового сигнала напряжения постоянного тока. 723;Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского;Автотитратор АТП-02;Проведение титрования с использованием общего метода потенциометрического титрования, кислотно-основного титрования, титрования по методу осаждения и др. 724;Уральский государственный лесотехнический университет;Кондуктометр/концентратомер АНИОН 4120;удельная электрическая проводимость (мСм/см), общая минерализация в пересчете на NaCl и другие электролиты (г/л), температуры водных сред (°C) 725;Уральский государственный лесотехнический университет;Кондуктометр МАРК--603/1;для измерения удельной электрической проводимости 726;Кубанский государственный технологический университет;Иономер И-160;Предназначен для определения в водных растворах активности ионов водорода (рН), окислительно-восстановительного потенциала (Eh), активности и концентрации ионов 727;Кубанский государственный технологический университет;Кондуктометр «АГАТ-2»;Предназначен для измерения удельной электрической проводимости или условной концентрации растворимых веществ в пересчете на NaCl воды и водных растворов, автоматического приведения результатов измерения к температуре 25 ?С, их цифровой индикации и преобразования результатов измерения в стандартные выходные цифровые интерфейсные данные 728;Тюменский государственный университет;Иономер Анион 7010;Для измерения показателя рН в различных растворах, в окружающей среде, сырье, пищевой продукции и так далее. 729;Кубанский государственный технологический университет;Автоматический титратор с комплектом для титрования по Карлу Фишеру TitroLine alpha plus TL 20;Предназначен для измерение содержания воды 730;Московский государственный машиностроительный университет;ФЛЮОРАТ-02-2М;Экспресс-анализ воды 731;Тюменский государственный университет;Спектрофлюориметр исследовательского класса Shimadzu RF-5301 PC;Получение и регистрация спектров люминесценции и спектров возбуждения в образцах. 732;Вологодский государственный университет;Кондуктометр Hanna HI8733;Портативный универсальный кондуктометр для измерения удельной электропроводимости. Удельная электропроводность мкСм/см 0,0..1999. 733;Ульяновский государственный технический университет;Профилометр Сейтроник ПШ8-1 С.С.;Измерение шероховатости 734;Сибирский федеральный университет;Рентгеновский волновой флуоресцентный спектрометр XRF-1800 (Shimadzu);Предназначен для анализа состава и структуры веществ и материалов 735;Сибирский федеральный университет;Рентгенофлуорисцентный спектрометр Quant`X (Thermo)Quant`X;спектрометрия 736;Сибирский федеральный университет;Рентгенофлуорисцентный спектрометр Advant`X (Thermo)Advant`X;спектрометрия 737;Костромской государственный университет им. Н.А. Некрасова;Иономер И-160;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 738;Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ) им. В.И. Ульянова (Ленина);Анализатор Флюорат-02-АБЛФ-Т;Учебный процесс, НИР. Анализатор проводит спектральный флуориметрический количественный анализ органических веществ. Предназначен для выполнения измерений объектов, для которых предварительно установлены спектральные характеристики фотолюминесценции. Применяется для экспресс-анализ воды водоемов и водотоков на содержание загрязнителей, скринингового обследования акваторий, имеющих риск загрязнения нефтепродуктами, мониторинговых исследований содержания поллютантов в водоемах, контроля загрязненности почв и грунтов нефтепродуктами и тяжелыми металлами. 739;Чеченский государственный университет;Прибор универсальный ультразвуковой сканирующий Карис плюс;ультразвуковое сканирование в медицине 740;Тихоокеанский государственный университет;Профилограф-215;прибор для измерения неровностей поверхности и представления результатов в виде кривой 741;Московский государственный университет тонких химических технологий им. М.В. Ломоносова;Сканирующий спектрофлюориметр;Спектрофлуориметр широкого профиля для проведения исследовательских работ и рутинных измерений в фармацевтических, биохимических и биофизических лабораториях, лабораториях молекулярной биологии, обладающий максимальной чувствительностью, скоростью и мощным пакетом программного обеспечения 742;Брянская государственная инженерно-технологическая академия;Кондуктометр эксперт-002-2-6н;Определение удельной электропроводности 743;Юго-Западный государственный университет;рН-метр/ионометр/титратор МУЛЬТИТЕСТ ИПЛ-111-1 (16726,50));Предназначен для измерения рН и концентрации ионов 744;Юго-Западный государственный университет;Кондуктометр/солемер КСЛ-101;Предназначен для измерения концентрации солей 745;Псковский государственный университет;Кондуктометр FE-30/F63;Для научных и образовательных целей 746;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Кулонометрический титратор C20D;аналитически-испытательное оборудование 747;Воронежский государственный университет;СЗМ FemtoScan;Исследование морфологии поверхности, анализ размера зерен, определение шероховатости поверхности, распределение высот 748;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Рентгено-флуоресцентный спектрометр;аналитически-испытательное оборудование 749;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Титратор автоматический 870 KFTitrinoplus;аналитически-испытательное оборудование 750;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Спектрофлюориметр сканирующий в комплекте Carry Eclipse R3896;Исследование спектров 751;Ухтинский государственный технический университет;Спектрометр рентгеновский;Определение содержания любых химических элементов в диапазоне от натрия до урана в материалах,находящихся в твердом, жидком или порошкообразном состоянии 752;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Титратор DL 15;аналитически-испытательное оборудование 753;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Спектрофлюориметр RF-5301 (Shimadzu);Является прибором высокого класса. Наличие дополнительного приспособления - автоматическая блокировка возбуждения флуоресценции после проведенных измерений, позволяет предотвратить разложение флуоресцирующего образца. Источник излучения - ксеноновая лампа 150 Вт с деозонатором. Спектральный диапазон: 220-750 нм 754;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Оборудование для подготовки и анализа структуры пористых тел в широком диапазоне размера пор Porotech;Исследование пористости и распределения пор по радиусам компонентов электрохимических устройств методом контактно-эталонной попрометрии 755;Сибирский государственный технологический университет;Спектрофлюориметр Флюорат-02;спектрофлюорометрические измерения 756;Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет);Профилометр модели 130;Измерение параметров профиля и параметров шероховатости поверхности по системе средней линии. 757;Ульяновский государственный технический университет;Профилометр Сейтроник ПШ8-1 С.С.;Измерение шероховатости 758;Московский государственный индустриальный университет;Микрофокусный рентгеновский флуоресцентный спектрометр;Определение элементного состава 759;Юго-Западный государственный университет;ПрофилометрАбрис ПМ7;Предназначен для измерения неровностей поверхности 760;Московский государственный индустриальный университет;Ионный имплантер;Данная установка предназначена для модификации свойств поверхности различных деталей с целью улучшения их характеристик (например, увеличения износостойкости, усталостной прочности, увеличения сопротивления коррозии и т.д.) путём микролегирования поверхностных слоёв методом ионной имплантации. 761;Пермский государственный национальный исследовательский университет;Комплекс бесконтактного исследования структуры поверхности NEWVIEW 7300;Позволяет получить графические изображения и проводить числовой анализ высокого разрешения с целью высокоточного описания структуры поверхности исследуемого образца. NewView основан на принципе сканирующей интерферометрии белого света, позволяющей получать изображения и измерять микроструктуру и топографию поверхностей в трех измерениях. Может быть измерен широкий спектр различных поверхностей. 762;Липецкий государственный технический университет;Спекторфлюориметр Флюорат-02-1 Панорама, 101040001411;определение низких концентраций неорганических и органических веществ 763;Тихоокеанский государственный университет;Аналитич комплекс СПЕКТРОСКАН МАКСМ-GV;предназначен для определения содержаний элементов в диапазоне от Na до U в веществах, находящихся в твердом, порошкообразном, растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности или осажденных на фильтры. 764;Пермский государственный национальный исследовательский университет;Титратор автоматический Titration Excellence T70 Terminal с автоматическим податчиком образцов Rondo 20;Предназначен для автоматизации титрований, связанных с дозированием нескольких титрантов и вспомогательных реагентов. Рекомендуется для постановки нескольких методик на одном приборе благодаря полнофункциональным дополнительным приводам. 765;Тихоокеанский государственный университет;Профилограф-253;Измерение микрорельефа поверхности 766;Пермский государственный национальный исследовательский университет;Термометрический титратор;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 767;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Кондуктометр лабораторный цифровой YSI 3200 (10225050/201212/0011011/47,США);"Для измерения удельной электропроводности и температуры водных растворов. Диапазоны измерения УЭП от 0 до 499,9 мкСм/см; от 0 до 4999 мкСм/ см; от 0 до 49,99 мСм/см; от 0 до 200,0 мСм/см; температуры от 0 до 95 °С. Погрешности 2%; 0,5 °С." 768;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Кондуктометр лабораторный с управлением touch control;Измерение электропроводимости растворов 769;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Титратор автоматический 907 Titrando Metrohm;Автоматическое титрование растворов веществ 770;Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна;Диффенциальный сканирующий калориметр Setaram LabSys Evo;Термический анализ образцов различной природы 771;Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна;УФ-спектрометр СФ-56 (ЛОМО);УФ-спектроскопия растворов, изучение кинетики, качественный и количественный анализ 772;Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна;УФ-спектрометр Shimadzu UV-1800;УФ-спектроскопия растворов, изучение кинетики, качественный и количественный анализ 773;Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова;иономер И-120;Предназначен для определения в водных растворах активности ионов водорода (рН), окислительно-восстановительного потенциала (Еh), концентрации (активности) ионов. 774;Уральский государственный экономический университет;РН-метр/иономер АНИОН-4110;Для измерения рН растворов 775;Воронежский государственный университет;Спектрофлуориметр RF-1501;Флуоресцентные спектрофотометры высокого класса для научных исследований и рутинных анализов.беспечивают регистрацию спектров возбуждения и испускания, автоматический поиск спектральных максимумов, выбор уровня усиления сигнала, автоматические измерения (в том числе кинетические) с усреднением данных, операции со спектрами (арифметические, сглаживание, дифференцирование, логарифмирование и др.), калибровки, количественные измерения, сохранение, распечатку и воспроизведение методик и результатов анализа. 776;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;Спектральный быстродействующий эллипсометрический комплекс Эллипс-СБ;Прецизионные измерения толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов 777;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Сканирующий спектрометр UV-2600 Shimadzu;Измерение спектров поглощения и пропускания водных и неводных растворов и суспензий неорганических и органических веществ в видимом и ультрафиолетовом диапазонах. Исследование динамики изменения спектров поглощения во времени. 778;Дагестанский государственный технический университет;Лабораторный 5-ти канальный иономер-кондуктометр-термометр АНИОН-4155;Измерение общей минерализации в пересчете на NaCl и других электролитов, окислительно-восстановительного потенциала Eh, удельной электрической проводимости, температуры воды, ЭДС электродных систем, активности ионов водорода, молярной концентрации ионов и массовой концентрации ионов 779;Пензенский государственный технологический университет;Иономер микропроцессорный И-500(базовый);Учебная и научная деятельность 780;Пензенский государственный технологический университет;Профилограф-253;Учебная и научная деятельность 781;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Установка плазменного напыления УПН-28;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 782;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Спектрофлуориметр с расширенным спектральным диапазоном 210-840 нм;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 783;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Спектрофлуориметр Флюорат-02-Панорама;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 784;Костромской государственный университет им. Н.А. Некрасова;Кондуктометр АШОН-7020;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 785;Пермский государственный национальный исследовательский университет;Спектрофлуориметр RF-5310PC, Shimadzu;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 786;Южный федеральный университет;Сканирующий спектрофлуориметр Элюмин-2М;Предназначен для регистрации низкотемпературных спектров люминесценции и возбуждения люминесценции в области 250 – 900 нм. 787;Южный федеральный университет;Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian);Сканирующий спектрофотометр Varian “Cary Eclipse” предназначен для исследования люминесценции и позволяет регистрировать спектры флуоресценции и фосфоресценции, а также возбуждения флуоресценции и фосфоресценции. 788;Костромской государственный университет им. Н.А. Некрасова;Кондуктометр Анион-7020;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 789;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Титратор G20 автоматический в комплекте;Опредение концентраций веществ 790;Московский педагогический государственный университет;Ультрафиолетовый диодноматричный детектор с проточной кюветой;анализ сложных смесей жидких проб труднолетучих и нелетучих высокомолекулярных соединений (в т.ч. биомолекул) с предварительным разделением на жидкостном хроматографе, анализ индивидуальных чистых высокомолекулярных соединений. 791;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Спектрометр ОЖЕ;Измерение ОЖЕ спектров 792;Пензенский государственный технологический университет;Прибор спектрального анализа Эллипсоид;Учебная и научная деятельность 793;Югорский государственный университет;Кондуктометр SG7;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 794;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Спектрофлуориметр RF-5301 Shimadzu;Исследование состава и свойств веществ 795;Забайкальский государственный университет;Универсальный иономер ЭВ-74;Настольный многопредельный прибор 796;Уральский государственный экономический университет;РН-метр/иономер АНИОН-4110;Для измерения рН растворов 797;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Рентгенофлуорецентный энергодисперсионный спектрометр EDX 3600;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 798;Югорский государственный университет;Комплект оборудования для определения массовой доли хлористых солей в нефти прямым потенциометрическим титрованием по ГОСТ 21534 метод В (титратор) DL50 Graphix (метод Б);Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 799;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Портативный иономер/ кислородомер/БПК- тестер Анион-7050;Предназначен для проведения многокомпонентного анализа проб методом потенциометрии (одновременно от 3 до 5 электродных систем), кондуктометрии и амперометрии, позволяет производить измерения с наибольшей производительностью. 800;Пермский государственный национальный исследовательский университет;Вакуумная магнетронная напылительная система VSM-100;Вакуумная магнетронная напылительная установка VSM-100 использует плазменный разряд постоянного тока для магнетронного напыления тонких плёнок металлов (в частности: Ti, Cr, Au, Mo). В процессе напыления в системе работает один магнетрон или два магнетрона, возможно переключение магнетронов в процессе напыления с целью последовательного напыления 3-х металлов. 801;Тюменский государственный университет;Спектрофлуориметр RF 5301 PC;Анализ флуоресцирующих соединений 802;Южный федеральный университет;Рентгенфлуоресцентный спектрометр на основе ПВО РФС-001;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 803;Уральский государственный экономический университет;РН-метр/иономер АНИОН-7010;Для измерения,содержания ионов в растворе 804;Южный федеральный университет;Спектрометр рентгеновского поглощения Rigaku R-XAS;Для измерения спектров рентгеновского поглощения вещества. 805;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Титратор Фишера «Эксперт-007»;Прибор предназначен для определения концентрации воды в неводных жидкостях 806;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Микропроцессорный рН-метр-иономер И-500;определение рН среды 807;Вологодский государственный педагогический университет;Кондуктометр МУЛЬТИТЕСТ КСЛ-101;Измерение удельной электрической проводимости (УЭП) жидкостей с возможностью ее пересчета в солесодержании по NaCI 808;Вологодский государственный педагогический университет;Иономер лабораторный И-160М;Потенциометрическое измерение (прямое и косвенное) активности ионов водорода (pH), активности и концентрации других одновалентных и двухвалентных анионов и катионов (рХ), измерение окислительно-восстановительных потенциалов (Еh) и температуры в водных растворах 809;Вологодский государственный педагогический университет;Иономер И-160а 1.35.10.0050;Потенциометрическое измерение (прямое и косвенное) активности ионов водорода (pH), активности и концентрации других одновалентных и двухвалентных анионов и катионов (рХ), измерение окислительно-восстановительных потенциалов (Еh) и температуры в водных растворах 810;Воронежский государственный университет;Компактный рентгеновский дифрактометр-спектрометр Радиан ДР-02;"Исследование микро- и наноструктур и контроль над их получением. Анализ новых веществ; Исследование различных твердых материалов, веществ и изделий, имеющих кристаллическую структуру с целью определения их параметров; Изучения профиля дифракционных пиков; Измерение остаточных напряжений в материале; Исследование тонких пленок; Кристаллографические исследования." 811;Мордовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.П. Огарёва;Комплект дополнительного оборудования для проведения исследований на рентгено-флуоресцентном спектрометре;Для проведения исследований на рентгено-флуоресцентном спектрометре 812;Кубанский государственный университет;Анализатор жидкости (спектрофлуориметр) ФЛЮОРАТ-02-ПАНОРАМА (Люмэкс);"Предназначен для широкого круга научных и методических исследований спектрально-временных характеристик люминесценции самых разнообразных объектов: растворы; твёрдые образцы, в том числе замороженные до температуры жидкого азота; оптические стёкла; порошки" 813;Южный федеральный университет;Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ;Позволяет проводить измерения в оптическом диапазоне от ближнего ИК вплоть до вакуумного ультрафиолета. Основная область применения - научные исследования: измерение спектров оптических постоянных и спектральных характеристик различных материалов, анализ слоистых структур, характеризация сверхчистой поверхности. Измерение толщин пленок. 814;Мордовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.П. Огарёва;Измерительная система Form Talysurf I120;Для измерения текстуры поверхности, отклонений от формы дуги окружности, прямолинейности и радиуса дуги, средней линии по методу наименьших квадратов 815;Югорский государственный университет;Доплееровский измеритель для вертикального профиля до 25 м.;Оборудование для исследования вертикального прфиля 816;Липецкий государственный технический университет;Сканирующий приемник - Winradio WR-G31DC EXCALIBUR, 101042000265;Проведение исследований случайных процессов случайных процессов электромагнитной природы. 817;Пермский государственный национальный исследовательский университет;Сканирующая камера системы PIV;Исследование свойств потоков жидкости с помощью визуализации 818;Южный федеральный университет;Установка магнетронного напыления ВМ2000М;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 819;Южный федеральный университет;Система гидрологического зонда профилографа SBE 19 Plus;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 820;Южный федеральный университет;Спектрофлуориметр Сary Eclipse;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 821;Мордовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.П. Огарёва;Установка нестационарной спектроскопии глубоких уровней DLS-83D;Для контроля параметров полупроводниковых структур (параметров глубоких уровней) в процессе их изготовления 822;Югорский государственный университет;Автоматический титратор DL50 G;научное оборудование 823;Пензенский государственный университет архитектуры и строительства;Кондуктометр Эксперт 002-2-6Н;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 824;Пензенский государственный университет архитектуры и строительства;Кондуктометр Эксперт 002;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 825;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Спектрофлуориметр, Fluorolog 3 с конфокальным микроскопом;Исследование люминесценции в диапазоне 200-800 нм 826;Югорский государственный университет;Иономер МА 235;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 827;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Лаборатория сканирующая зондовая Nanoeducator с нанокомплексом;Сканирование нано-объектов 828;Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М.Бербекова;Профилометр модели 130;Профилометр модели 130 предназначен для измерений параметров профиля и параметров шероховатости поверхности по системе средней линии (ГОСТ 25142-82), с разделением «волнистости» и «шероховатости» по ГОСТ 2789-73. Прибор внесен в Государственный реестр средств измерения, регистрационный № 33319-06. Область применения — метрологические центры, лаборатории научно-исследовательских и учебных институтов, лаборатории и центры экспертизы и контроля, предприятия машиностроительной, автомобильной, подшипниковой и других отраслей промышленности. 829;Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ) им. В.И. Ульянова (Ленина);Установка электронно-лучевого напыления QPREP 500E (Mantis Deposition);Напыление тонких пленок различных металлов (хром, никель, вольфрам, золото) в сверхвысоком вакууме на подложку диаметром до 150 мм или нескольких подложек диаметром 100 мм с использованием шлюзового устройства 830;Пензенский государственный университет архитектуры и строительства;Кондуктометр Эксперт 002-2-6;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 831;Пензенский государственный университет архитектуры и строительства;Иономер лабораторный И-160М;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 832;Пензенский государственный университет архитектуры и строительства;Иономер И-500;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 833;Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ) им. В.И. Ульянова (Ленина);Установка магнетронного распыления QPREP 500M (Mantis Deposition);Напыление тонких пленок различных металлов и их нитридов (алюминий, титан, нитрид титана, нитрид алюминия) в аргоне и его смеси с азотом на подложку диаметром до 150 мм 834;Омский государственный педагогический университет;Датчик кондуктометрический;Для определения удельной электрической проводимости растворов 835;Дальневосточный федеральный университет;Система измерения адсорбции газов ASAP 2020 (Micrometrics);Система измерения адсорбции газов 836;Омский государственный педагогический университет;Иономер, рН метр, титратор;Цифровой анализатор жидкости 837;Омский государственный педагогический университет;Иономер, рH-метр ИПЛ-301;Определение молярной и массовой концентрации ионов 838;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Комплект вакуумного спектрометра McPhersonModel 248/310G для исследования экстремального вакуумного ультрафиолета и мягкого рентгена;Исследования в радиационной физике 839;Омский государственный педагогический университет;Иономер, рH-метр ИПЛ-201;Определение молярной и массовой концентрации ионов 840;Уфимский государственный авиационный технический университет;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9010MX (Jeol);Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Jeol JPS 9010 (Япония) позволяет проводить анализ элементного (химического) состава поверхности и по глубине поверхностного слоя материалов деталей на различных этапах (технологиях) их изготовления, а также после длительной эксплуатации (воздействия температуры, окислительной среды, нагрузки). Данный спектрометр эффективно используется для контроля технологических параметров и режимов нанесения наноструктурных покрытий на поверхность деталей, а также для оценки их эксплуатационных характеристик. 841;Омский государственный педагогический университет;Иономер, рH-метр ИПЛ-101;Определение молярной и массовой концентрации ионов 842;Братский государственный университет;Профилометр ТR-200;Измерение шераховатости поверхности изделий. 843;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Анализатор площади поверхности и пористости Ristar 3020;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 844;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Гелиевый полуавтоматический порозиметр PHI-220;Определение открытой пористости и плотности зерен на цилиндрических образцах керна диаметром 30мм 845;Тульский государственный университет;Иономер И-160 М;Определение активности ионов водорода среды 846;Пензенский государственный университет архитектуры и строительства;Анализатор Флюорат-02-2М;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 847;Нижегородский государственный архитектурно-строительный университет;Иономер лабораторный И-160;Предназначен для измерения активности одновалентных и двухвалентных катионов и анионов, окислительно-восстановительных потенциалов и температуры в водных растворах. 848;Воронежский государственный университет;Спектрометр универсальный рентгеновский СУР «Реном»-01;Проведение исследований фазового состава 849;Воронежский государственный университет;Система микроанализа Quantax;Элементный анализ материала 850;Воронежский государственный университет;Система микроанализа INCA Energy 250 (Oxford Instruments);Элементный анализ материала 851;Новосибирский государственный технический университет;Установка плазменного напыления УПУ-8М;Нанесение покрытий с различными свойствами. 852;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Автоматический анализатор поверхности и пористости в комплекте;Осуществляет быстрый высокоточный анализ площади поверхности образца, объема пор , а также распределения пор по размерам 853;Ярославский государственный технический университет;Установка Сорптаматик;Измерение удельной поверхности вещества. 854;Московский государственный университет приборостроения и информатики;АПК на базе профилометра НОММеL TESTER T500;Проведение лабораторных работ по: 4137, 4126,4101, 4110 и НИР 855;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Установка электронно-лучевого напыления ВАТТ — 300ЭЛ/СВ;Установка предназначена для получения методом электронно-лучевого испарения высокочистых тонких пленок висмута на различных подложках в сверхвысоком вакууме. Точность задания толщины пленок 1 нм. Глубина вакуума от 10-5 до 10-9 мм. рт. ст. Температура подложки в процессе напыления от 293 до 573 К. 856;Братский государственный университет;Профилограф-профилометр АБРИС-ПМ7;Измерение шероховатости и записи профиля поверхностей изделий. 857;Братский государственный университет;Титратор автоматический кулонометрический влаги по Карлу Фишеру серии МКС модели МКС-520;Определение содержания влаги в нефтепродуктах. 858;Самарский государственный университет;Спектрофлуориметр;Измерение спектров люминесценции 859;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Лазерная сканирующая система RIEGL VZ-400 в комплекте с цифровой камерой Nikon D700;Геодезические изыскания и топографияИзыскания As-Built, контроль соблюдения проектовГражданское строительствоАрхитектурные и фасадные измеренияСъемка археологических объектов и объектов культурного наследия 860;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Автоматическая напылительная установка JEOL JFC-1600;предназначена для напыления тонкого слоя металла на непроводящий образец и служит устройством пробаподготовки для растровой электронной микроскопии. 861;Пермский государственный национальный исследовательский университет;Спектрофлуориметр RF-5310PC, Shimadzu;"1. Возможность регистрации спектров возбуждения и испускания с последующей обработкой спектров (определение положения максимумов и минимумов, определение измеряемой величины в выбранных точках, расчет площади, вычитание спектров, производные 1-4 порядка, сглаживание, арифметические операции и логарифмирование). Вывод на экран до 10 спектров одновременно; 2. Построение градуировочной кривой и расчет уравнения 1-3 порядка, усреднение измерений, определение концентраций неизвестных образцов, использование от 1 до 20 стандартов; 3. Регистрация изменения сигнала во времени." 862;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Спектрофлюориметр сканирующий;предназначены для измерения спектров разнообразных соединений 863;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Спектрофлуориметр RF-5301 PC (Shimadzu);Предназначен для количественного химического анализа органических и неорганических веществ. Область применения: в фармацевтической и пищевой промышленности, при экологическом мониторинге, научно-исследовательские исследования химические, биохимические и биологические лаборатории. 864;Северо-Осетинский государственный университет им. Коста Левановича Хетагурова;Кондуктометр Эксперт-002-6Н;Оперативное измерение электропроводности, эквивалентного солесодержания и температуры воды и водных растворов 865;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Установка ионно-плазменного напыления в комплекте;Синтез тонкопленочных слоев, в том числе и наноструктурированных материалов, в частности, с помощью применения методики поочередного соосаждения нанослоев различных материалов при различных параметрах синтеза 866;Северо-Осетинский государственный университет им. Коста Левановича Хетагурова;Анализатор Флюорат-02-2М;Предназначен для измерения массовой концентрации неорганических и органических примесей в воде, а также воздухе, почве, технических материалах, пищевых продуктах. 867;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Спектральный Эллипсометр HORIBA Jobin Ivon Auto Se System;Авто SE является новым тонким инструментом измерения пленок, который проводит полностью автоматический анализ тонких образцов пленок с простым управлением. Анализ пробы занимает всего несколько секунд и предоставляет полный отчет, который полностью описывает тонких пленок - в том числе толщина пленки, оптические константы, шероховатость поверхности, и неоднородностей пленки 868;Псковский государственный университет;Спектральный эллипсометрический комплекс «Эллипс-1891»;оптические измерения 869;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Напылительная установка Q 150T ES;Напыление образцов токопроводящими элементами. Применяется как устройство пробоподготовки для электронной микроскопии. 870;Оренбургский государственный университет;Установка типа Булат ННБ-6.6-И1;для напыления ионно-плазменных покрытий 871;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Рентгенофлоуресцентный спектрометр серии AKR 9900 WorkStation с встроенной системой дифракции;Исследование рентгено-фазового и химического состава образцов материалов. 872;Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники;Установка электронно-лучевого напыления: Orion-B;"Вакуумная камера со смотровым окном; без масляная система откачки (без масляный спиральный насос со скоростью откачки не менее 30 м 3/час и криогенный насос со скоростью откачки по азоту не менее 2500 л/с); расположенный по центру камеры электронный луч TFI TELEMARK; съемный вращающийся нагреватель на 6 тиглей." 873;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Спектрометр рентгеновский кристалл-дифракционный Спектроскан Макс GV;Данный рентгеновский спектрометр предназначен для определения содержаний элементов в диапазоне от Na до U в веществах, находящихся в твердом, порошкообразном, растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности или осажденных на фильтры. 874;Кубанский государственный университет;Энергодисперсионный флуоресцентный рентгеновский спектрометр серии Rayny EDX– 800HS;"Назначение: 1. Элементный анализ твердых, порошковых и жидких проб различных материалов в диапазоне элементов от углерода (С) до урана (U) в динамическом диапазоне измерений от (10 –2 до 100) %. 2. Количественный анализ тонких плёнок. 3. Количественное определение всех элементов от F до U в твёрдых и жидких пробах с использованием метода фундаментальных параметров без использования стандартных образцов. 4. Анализ образцов неизвестного состава, нестандартного размера и формы диаметром до 300 мм и высотой до 150 мм. Области применения: Металлургия, геология, нефтедобыча, цементная промышленность, огнеупоры, стекло, горнодобывающая промышленность, криминалистика, объекты окружающей среды Технические характеристики: 1. Рентгеновская трубка с Rh-анодом, напряжение на трубке 5-50 киловольт, ток 1 – 1000 мкА, охлаждение воздушное. 2. Детектор – полупроводниковый Si (Li), охлаждение жидким азотом только на время измерений. 3. Встроенная цифровая видеокамера, позволяющая в комплекте с коллиматорами автоматически выбирать и наблюдать за облучаемым участком образца диаметром от 1 до 10 мм для анализа неоднородных образцов без их предварительной гомогенизации с получением информации о распределении элементов по образцу. 4. Автосамплер на 16 образцов. 5. Вакуумная система для определения лёгких элементов. 6. Автоматическая смена 4 коллиматоров диаметром 1, 3, 5 и 10 мм. 7. Автоматический выбор 4-х первичных фильтров. Программное обеспечение позволяет управлять прибором и обрабатывать информацию в автоматическом режиме; создавать и настраивать программы измерений; осуществлять количественный анализ методами фундаментальных параметров и калибровочных кривых; матричную коррекцию (не менее 4 типов), учёт неопределяемых элементов методом фоновых фундаментальных параметров; определять толщины и состав тонких плёнок и покрытий неорганической и органической природы." 875;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Эллипсометр HORIBA Jobin Yvon UVISEL 2;Измерение оптических свойств образцов. 876;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Спектрофлуориметр СМ 2203;Прибор для проведения качественного и количественного анализа в ультрафиолетовой и видимой области спектра 877;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Конструктор оптико-механический Edmund Optics;оптические методы регистрации нелинейных процессов в химических системах 878;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Профилограф - профилометр АБРИС - ПМ7;Предназначен для измерений в лабораторных и цеховых условиях машиностроительных, приборостроительных и других предприятий, а также в полевых условиях, шероховатости поверхностей изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию. 879;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Двухколоночный адсорбционный аппарат Seta 14060-0;Определение фракционного состава нефтепродуктов. 880;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian);Проведение абсорбционно-люминесцентных измерений, включая спектры возбуждения люминесценции в спектр. диапазоне 200-900 нм 881;Оренбургский государственный университет;Установка газодинамического напыления ДИМЕТ-403 (ОЦПН);Предназначена для напыления покрытий на детали и другие технологические поверхности 882;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Анализатор Флюорат - 02 - Панорама в комплекте;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 883;Оренбургский государственный университет;Спектрофлуориметр СМ 2003;Предназначен для анализа ультрафиолетовой и видимой области спектра, профессиональный стационнарный спектрофлуориметр СМ 2203 обеспечивает высокочувствительные и стабильные измерения. 884;Костромской государственный технологический университет;Профилограф-профилометр 201;определение шероховатости и волнистости поверхности изделий из металлических и неметаллических материалов, а также всевозможных покрытий без повреждения их поверхности. 885;Сибирский государственный аэрокосмический университет им. академика М.Ф. Решетнева;Широкополосный сканирующий приемник Icom IC-R9500;Оборудование предназначено для приема и обработки информации 886;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Автоматизированный эталонный порометр Porotech 3.1;Исследование методом эталонной порометрии поровой структуры различных материалов, включая мягкие, хрупкие, а также материалы, склонные к образованию амальгам и порошки. 887;Башкирский государственный университет;Анализатор спектра для наблюдения и измерения относительного распределения энергии;Анализатор в биологии — то же, что сенсорная система.Анализатор спектра — прибор для наблюдения и измерения относительного распределения энергии электрических (электромагнитных) колебаний в полосе частот.Анализатор трафика — в компьютерных сетях.Лазерный анализатор — лабораторный лазерный анализатор размеров частиц.Логический анализатор — устройство, предназначенное для записи и анализа цифровых последовательностей. 888;Оренбургский государственный университет;Установка рентгено-спектральная СРМ-20;Предназначен для автоматического проведения экспрессного многокомпонентного анализа различных материалов рентгеноспектральным методом в диапазоне от фтора до урана 889;Омский государственный технический университет;Автоматический потенциометрический титратор АТП-02;Предназначен для измерения концентрации ионов и веществ в растворах в автоматическом режиме различными методами объёмного титрования. Позволяет измерять активность ионов водорода и др.ионов, ЭДС электродных систем и др.источников постоянного тока, температуру растворов, а также может быть использован в качестве дозаторов высокой точности 890;Костромской государственный технологический университет;рН-метр/иономер ЭКСПЕРТ-001-3(0.1) в комплекте с блоком сопряжения, 1-07;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 891;Костромской государственный технологический университет;Профилометр 201, 1-86;Прибор, предназначенный для измерения неровностей поверхности. 892;Костромской государственный технологический университет;Профилограф, 1-87;Предназначены для исследования слоистой структуры дна, поиска объектов в толще осадков за счет получения сонограммы. 893;Костромской государственный технологический университет;Спектроскоп OPL R;Оптический прибор, используемый в спектроскопических исследованиях. 894;Волгоградский государственный социально-педагогический университет;Установка для изучения тонкой структуры спектральной линии ртути и спектра паров натрия;Установка для изучения тонкой структуры спектральной линии ртути и спектра паров натрия позволяет демонстрировать расщепление желтых дуплетов спектров ртути и натрия с помощью высокоразрешающих отражающих дифракционных решеток. 895;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Анализатор площади поверхности и пористости TriStar 3020 (полный комплект);Анализатор площади поверхности (одно- и многоточечный анализ по БЭТ и Лэнгмюру), анализ объема и площади поверхности микропор методом t-plot, изотермы адсорбции и десорбции, распределение мезопор по размерам методом BJH (от 2 до 400 нм в диаметре). Возможность анализа до 3 образцов одновременно. Рабочие газы: азот, гелий. 896;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Вакуумная установка ALD VIGA 2B для плавки и распыления порошков;Производит сверхчистую плавку и распыление жаропрочных и цветных сплавов, сталей различного состава для производства высококачественных металлических порошков 897;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Профилометр оптический WYKO NT 1100 (Veeco Instruments Inc);Оптический профилометр позволяет визуализировать поверхность, восстанавливать трехмерный рельеф поверхности, проводить измерение толщины покрытий, шероховатости поверхности. 898;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Комплекс аналитический GCMS-QP2010 Ultra;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 899;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Спектрофлуориметр Fluoromax 4;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 900;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Энергодисперсионный рентгенофлюоресцентный спектрометр;Рентгенофлуоресцентный анализ состава и дефектов тонких плёнок, полупроводников, магнито-оптических дисков, жидких кристаллов. Определение токсичных металлов 901;Сибирская государственная автомобильно-дорожная академия;Легкий набивной зонд;Лабораторные испытания грунтов 902;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Сканирующая зондовая лаборатория NTEGRA Therma (НТ-МДТ);Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 903;Омский государственный технический университет;Установка магнетронного напыления с системой напуска газа и измерителем толщины покрытия VSM – 200;Вакуумная камера из нержавеющей электрополированной стали, камера без водяного охлаждения. Камера имеет D-форму (в поперечном сечении), плоскую дверь с вакуумным окном 100 мм и заслонкой окна, большое количество фланцев стандарта CF2.75” для подсоединения приборов. Внутренний размер вакуумной камеры - 40х60 см. Расположение магнетронов в данной системе – внизу, напыление идёт на расположенную наверху подложку. 904;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Профилограф-профилометр Mahr Perthometer S2;Профилограф-профилометр предназначен для измерения различных параметров шероховатости 905;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Автоматизированный прибор для измерения пористости и проницаемости Contest AP-608 (CORRETEST SYSTEMS);Предназначен для изучения свойств горных пород. 906;Волгоградский государственный социально-педагогический университет;PH-метр-иономер ИПЛ-111;PH-метр-иономер ИПЛ-111 предназначен для измерения активности ионов водорода (pH), активности и концентрации ионов любой валентности, а также окислительно-восстановительного потенциала (Eh) методом прямой потенциометрии, для определения концентрации различных компонентов методами титрования до заданной точки с потенциометрическим определением конечной точки титрования, для измерения температуры. 907;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Спектрометр рентгеновский кристалл дифракционный «СПЕКТРОСКАН МАКС-G»;Спектрометр предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры. Спектрометр может применяться в различных отраслях науки техники для анализа элементного состава вещества, а также для экологического контроля окружающей среды. 908;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Установка плазменно-дугового напыления;Установка предназначена для нанесения износостойких, жаростойких и коррозионностойких покрытий на детали разной конфигурации и размеров. 909;Чеченский государственный университет;Лабораторный иономер И-160МИ;Иономер лабораторный И-160МИ предназначен для измерения показателя активности ионов водорода (pH) и других одновалентных и двухвалентных анионов и катионов (pX), а так же массовой, молярной концентрации и массовой доли ионов (cX) (далее - концентрация), окислительно-восстановительного потенциала (Eh), электродвижущей силы (ЭДС) электрохимических датчиков и температуры водных рас-творов. Прибор осуществляет индикацию результатов измерения на цифровом показы-вающем устройстве, а также преобразовывает измеренные величины в пропорцио-нальные аналоговые и цифровые выходные сигналы. Прибор может быть использован в лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских учреждений и других областях хозяйственной деятельности 910;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Спектрометр рентгеновский ARL OPTI X (Thermo Electron Corporation);Предназначен для рентгеновской спектрометрии 911;Оренбургский государственный университет;спектрофлюориметр флюорат-02 ПАНОРАМА;применяется для аналитического контроля объектов окружающей среды, санитарного контроля и контроля технологических процессов. 912;Амурский государственный университет;Профилометр;Предназначен для измерения неровностей поверхности 913;Оренбургский государственный университет;Спектрофлюориметр СМ 2203;используется для получения спектров поглощения, люминесценции и пр. в видимой и ультрафиолетовой области спектра 914;Башкирский государственный университет;Установка для отработки технологи напыления пленочных элементов УВН-2Ц;Установка УВН-2Ц предназначена для отработки технологи напыления пленочных элементов и схем на ситалловых и поликоровых подложках и серийного производства микросхем. 915;Ухтинский государственный технический университет;Иономер/кондуктомер Анион 4154-55;Предназначен для измерения: активности ионов (рХ), ЭДС электродных систем, окислительно-восстановительного потенциала (Eh), молярной и массовой концентрации ионов, удельной электрической проводимости (УЭП), солесодержания в пересчете на СNaCl, концентрации растворенного кислорода, температуры водных растворов 916;Волгоградский государственный технический университет;Комплекс БУФО;Повышение качества поверхности металлических изделий и поверхностное упрочнение 917;Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова;Измерительная станция для анализа микронеровностей поверхности;Информационно - телекоммуникационные системы 918;Тульский государственный университет;Лазерный 2D-профилометр;Предназначен для контроля профиля объектов бесконтактным способом и передачи размерных координат профиля в управляющий компьютер. 919;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Специализированная установка для плазменного напыления;Плазменное напыление углеродных пленок (биосовместимых и сверхпрочных) 920;Кемеровский технологический институт пищевой промышленности;Титратор АТП-02 потенциометрический;Прибор позволяют проводить титрование, определять кислотные и щелочные числа, содержание S, Cl, Pb и других веществ в нефтепродуктах, минеральных и пищевых маслах и других продуктах по ГОСТ. 921;Дальневосточный федеральный университет;Высоковакуумный фотоэлекторнный спектрометр ESCAprobe для исследований химических соединений в газовой фазе методами рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС, УФЭС);•Изучение электронных и колебательных уровней энергии молекул.•Изучение потенциалов ионизации (как вертикальные, так и адиабатические). •Изучение характера молекулярных орбиталей.•Установление закономерности электронного строения молекул в изоэлектронных, изовалентных и т. п. рядах. •Выявление влияние заместителей.•Установление донорно-акцепторных свойств заместителей.•определение структуры внутренних и валентных электронных уровней поверхности вещества и свободным молекул, элементный анализ, •количественный анализ, •исследование изменения концентрации веществ по глубине в приповерхностном слое. 922;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Прибор для определения пористости и шероховатости по методу Бендтсена;Прибор предназначен для определения шероховатости и пористости бумаги, картона и подобных материалов 923;Дальневосточный федеральный университет;Спектрофлуориметр RF 5301 Shimadzu;Определение активности этоксирезоруфин-O-диэтилазы в эмбрионах морского ежа как специфического молекулярного биомаркера действия нефтяных углеводородов, а также низкомолекулярных антиоксидантов (токоферол) 924;Дальневосточный федеральный университет;Поляризационный спектрофлуориметр ISS PC-1;для измерения анизотропии, спектров поляризации и синхронной люминесценции при кинетических исследованиях с миллисекундным разрешением 925;Башкирский государственный университет;Милливольтметр -иономер И-160;Предназначен для определения в водных растворах активности ионов водорода (рН), окислительно-восстановительного потенциала (Eh), активности и концентрации ионов: H , Li , Na , K , NH4 , Ag , X , NO3-, ClO4-, F-, Cl-, Br-, I-, CN-, SCN-, Ca , Ba , Mg , (Ca Mg) , Pb , Cd , Cu , Hg , X , CO3--, S-- и др. Иономер И-160МП применяется в аналитическом контроле различных объектов (воды, пищевых продуктов, сырья, фарм- и ветпрепаратов, объектов окружающей среды и т. д.), а также в производственных системах непрерывного контроля технологических процессов. 926;Российский университет дружбы народов;Универсальный лабораторный титратор Mettler Toledo «DL 22»;Предназначен для определения содержания хлоридов в продуктах, для определения pH фруктовых соков, вина, молока, сыра, для определения концентрации кислот в водных растворах. Используется для анализа воды: для определения общей жесткости воды, ее щелочности, величины рН, содержания в воде хлоридов, перекисного числа. Прибор позволяет определять содержание свободных жирных кислот в неводных растворах (маслах, жирах), определять концентрацию SO2 в вине, содержание витамина С во фруктовых соках, кашах и других продуктах. 927;Российский университет дружбы народов;Лабораторный титратор METROHM «870 KF TITRINO plus»;Прибор предназначен для волюметрического определения воды по методу Карла Фишера. 928;Российский университет дружбы народов;Универсальный лабораторный титратор METROHM «848 TITRINO plus»;"Проведение кислотно-основного титрования, нитритометрии, неводного титрования. Динамическое титрование с адаптацией приращений объемов к наклону кривой титрования. Монотонное титрование с выбираемыми фиксированными приращениями объема. Титрование до заданной конечной точки (потенциометрически или поляризованными электродами); могут быть установлены две конечные точки. Измерение величины рН, напряжения и температуры." 929;Башкирский государственный университет;Рентгено-флуоресцентный спектрометр в комплекте с оборудованием подготовки проб;Предназначен для качественного и количественного анализа. 930;Брянский государственный университет им. академика И.Г. Петровского;Флюорат-02-Панорама/анализатор;Установка для исследования спектров флюоресценции в зависимости от длинны волны возбуждающего излучения. Определение концентрации флюоресуирующих веществ. 931;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Сканирующая зондовая лаборатория NTEGRA Aura (НТ-МДТ);Сканирующий Зондовый Микроскоп для работы в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума. Специализация – измерение слабых сил (электрических, магнитных, адгезионных и т.п.). 932;Кубанский государственный университет;pH- метр-иономер-БПК-термооксиметр Эксперт-001 с термодатчиком;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 933;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр JEOL JED-2300/JED-2300F/JED-2300T;Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр является приставкой к просвечивающему электронному микроскопу JEM-2100 и предназначен для анализа пробы наблюдаемого в микроскоп вещества. 934;Воронежский государственный технический университет;Профилограф-профилометр Сейтроник ПШ8-3;Проведение исследований и лабораторных работ 935;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Прибор для изучения физической адсорбции Gemini VII 2390 Surface Area Analyzer;Прибор предназначен для определения адсорбционных свойств поверхностей по Ленгмюру, общего объема пор, а также для проведения микропористого анализа по t-методу. Позволяет производить анализ материалов с малой удельной поверхностью без использования редкого и дорого газа криптона. Анализ удельной поверхности и размера пор является основополагающим при оценке свойств материалов, в особенности для определения влияния на них тонкодисперсных включений. 936;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Порозиметр Micromeritics AutoPore IV в комплекте с устройством для сбора ртути Micromeritics Mercury Quik Vaс;Прибор предназначен для определения порового объема катализаторов и образцов породы. Позволяет быстро и точно определять распределение пор по размерам в широком диапазоне, общий объем пор, общую площадь поверхности пор, средний диаметр пор, насыпную и истинную плотность. Может быть использован при изучении горных пород и руд, пигментов, углеродов и графитов, катализаторов и минералов, стекла, пленки, адсорбентов, удобрений, каменного угля, фильтров, наполнителей, тканей и волокна, композитных материалов и др. 937;Сибирская государственная автомобильно-дорожная академия;Компьютерный многофункционнальный прибор ПСХ-12;Определение удельной поверхности материалов 938;Ивановский государственный университет;Спектрометр портативный аналитический рентгеновский коротковолновый СПАРК-1-2М;Предназначен для проведения рентгеноскопического анализа химических элементов в твердых и порошкообразных пробах в диапазоне от Sc21 до U92 (металлургия, машиностроение, с/х, геология, экология, химия) 939;Башкирский государственный университет;Блок литографического напыления TG2U;Нанесение покрытий методом напыления 940;Курганский Государственный Университет;Профилограф – профилометр MarSurf PS1;Измерение шероховатости поверхностей. Основные характеристики: мобильность, диапазон измерения - 350 /90 мкм, радиус щупового наконечника - 2 мкм, измерительное усилие - 0,7 мН, фильтры в соответствии с ISO/JISпараметры измерений: Ra, Rq, Rz, Ry (JIS), Rz (JIS), Rmax, Rp, Rp (ASME), Rpm (ASME), Rpk, Rk, Rsk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (JIS, ASME), RSm, R, Ar, Rx, память: max.15 профилей, max. 20000 результатов, адаптирован к ПЭВМ, формирование и печать протоколов измерений. 941;Башкирский государственный университет;Сканирующая зондовая нанолаборатория INTEGRA;Комплексные исследования различных объектов с высоким пространственным разрешением. 942;Дальневосточный федеральный университет;Сверхвысоковакуумная напылительная системас магнетронными источниками;получение многокомпонентных наноструктур из проводящих и непро- водящих материалов методом магнетронного осаждения 943;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Имплантер экспериментальный;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 944;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Титратор для кулонометрического определения воды по Фишеру Schott TitroLine KF trace;Предназначен для кулонометрического титрования влаги по методу К. Фишера. 945;Тульский государственный университет;Портативный кондуктометр «Hanna» HI 8733 (с поверкой);Позволяет производить измерения проводимости, а также некоторых других параметров. 946;Российский государственный геологоразведочный университет им. Серго Орджоникидзе;Анализатор плотности и пористости АПП 1;Определение значений плотности и пористости горных пород в лабораторных уловиях. 947;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Установка ионно-плазменного напыления (нанесения упрочненного покрытия);Система ионно-плазменного напыления, обеспечивающая формирование различных пленочных систем в наноразмерном диапазоне. 948;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Рентгеноэлектронный спектрометр SM 4201TERLAB;Предназначен для селективной по глубине диагностики фазового состава и физико-химического состояния поверхности и объема твердых тел в кристаллическом и аморфном состоянии, многослойных синтетических структур, наноструктур и наномагнетиков. 949;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Профилометр Si-301;Применяется для измерения шероховатости поверхности 950;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Комплекс для плазменного напыления;Применяется для нанесения плазменных покрытий. 951;Тульский государственный университет;Анализатор Флюорат-02-3М (с поверкой);Определение загрязняющих веществ в воздухе, воде, измерение массовой концентрации органических и неорганических веществ в области спектра – 250-900 нм. 952;Дагестанский государственный университет;Рентген-флуоресцентный спектрометр EDX-800 HS (Shimadzu);Проведение проведение качественного и количественного экспресс-анализа химических элементов в диапазоне от 6С до 92U для различных проб и веществ, находящихся в твердой и жидкой фазе. 953;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Спектрофлуориметр c системой анализа времени жизни флуоресценции TCSPC;Спектрофлуориметр c системой анализа времени жизни флуоресценции TCSPC. Используется для получения спектров люминесценции твердых и жидких образцов, измерения времени жизни флуоресценции, определения квантовых выходов люминесценции. Предназначен для проведения исследований в области физики (изучение квантовых точек), химии (изучение межмолекулярных взаимодействий в растворах, молекулярной динамики в конденсированных средах), химической технологии (определение флуоресцирующих примесей в сырье и материалах). 954;Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна;Флюорит 92009;для организации и проведения учебного процесса 955;Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна;Оборудование для определения неровности волокна KEISOKKI LASERSPORT LSR3;Для организации и проведения учебного процесса (оборудования для определения ворсистости нитей) 956;Брянский государственный университет им. академика И.Г. Петровского;Спектрометр универсальный рентгеновский Сур 01-Реном;Комплекс позволяет производить неразрушающий локальный анализ элементного и фазового состава вещества в твердых, порошкообразных, жидких, осажденных на пленках или фильтрах, пробах. 957;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Профилометр;Для измерения параметров шероховатости в лабораторных и цеховых условиях 958;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Лазерный сканирующий виброметр PSV-400-3D (Polytec);Предназначен для бесконтактного измерения вибрации и ее анализа и совместимости для работы с входящими в комплект поставки программным обеспечением. 959;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Профилограф-профилометр БВ-7669;Измерение параметров шероховатости 960;Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М.Бербекова;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр, система K-Alpha;Определение элементного состава, химических состояний и распределений компонентов на поверхности материалов (электропроводящих и не электропроводящих). 961;Иркутский государственный университет;Спектрометр рентгеновский VRA 30;Определение содержания любых химических элементов в диапазоне от натрия до урана в материалах,находящихся в твердом, жидком или порошкообразном состоянии 962;Северо-Осетинский государственный университет им. Коста Левановича Хетагурова;Эллипсометр ЛЭФ-3М-1;Исследования поверхностей и границ раздела различных сред (твердых, жидких, газообразных), основанные на изучении изменения состояния поляризации света после взаимодействия его с поверхностью границ раздела этих сред. 963;Санкт-Петербургский государственный университет сервиса и экономики;Трёхфункциональный зонд с телескопической рукояткой 0635 1535;Обогреваемый зонд скорости воздуха со встроенным сенсором температуры и влажности 964;Московский государственный университет печати им. Ивана Федорова;Дифракционный сканирующий калориметр DSC 204 F1 Phoenix;Определение величин, характеризующих свойства вещества и материалов (плавление-кристаллизация, фазовые переходы в жидких кристаллах и т.д.) 965;Московский государственный университет печати им. Ивана Федорова;Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200;Исследование структуры и химического состава поверхностных слоев 966;Костромской государственный технологический университет;Профилограф-профилометр 201, 1-66;Предназначен для измерение микронеровностей основано на интерференции света, для получения которой необходимо наличие двух когерентных пучков лучей, имеющих волны одной частоты. Измерения микронеровностей поверхности возможны в пределах 5 - 14-го классов шероховатости, проверяемый максимальный шаг неровностей 3 5 мм., Измерения микронеровностей поверхности возможно в пределах 5 - 14-го классов чистоты, проверяемый максимальный шаг неровностей 3 5 мм. 967;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Класс мультимикроскопов и профилометров СМ-2000,130;Получение изображений в контактном, полуконтактном и бесконтактном режимах атомно-силовой микроскопией. Получение изображений в режиме фазового контраста. Получение изображений в режиме туннельного микроскопа 968;Воронежский государственный технический университет;Измерительно-калибровочная система для установки напыления металлов ВАК 501 «Evatec», RLA-Tencor Alpha-Step 200;Позволяет производить калибровку кварцевой измерительной колонны установки ВАК 501 и обеспечивает проведение операций напыления всех установленных материалов 969;Брянский государственный технический университет;USB ПРОФИЛОГРАФ-ПРОФИЛОМЕТР БВ-7669М;Предназначен для регистрации,анализа профиля и измерения параметров шероховатости наружных и внутренних поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию 970;Алтайский государственный университет;Спектрометр рентгено-флуоресцентный « Альфа-2000»;Предназначен для качественного неразрушающего анализа соединения химических элементов методом рентгенофлюоресцентной спектрометрии в образцах металлов, стали, сплавов. Контроль химического состава руд, почв, др. жидких и порошковых проб. 971;Воронежский государственный технический университет;Титратор Фишера «Эксперт-007М»;Кулонометрический титратор с бипотенциометрической индикацией конечной точки титрования 972;Воронежский государственный технический университет;Наносклерометрический модуль для СЗМ комплекса Интегра Прима «ЗАО НТМДТ»;Позволяет изучать топографию поверхности образцов различных твердых материалов 973;Брянский государственный технический университет;Установка плазменного напыления (наплавки) КПНФ-1;Упрочнение и восстановление рабочих поверхностей деталей машин 974;Воронежский государственный технический университет;Спектрометр универсальный рентгеновский СУР-01 «Реном»;Для проведения анализа концентраций примесных элементов, рентгеноструктурного и фазового анализа частиц катализатора и нанопорошков нитевидных нанокристаллов кремния, необходимого для получения нанокристаллов с заданными свойствами 975;Воронежский государственный технический университет;Универсальный СЗМ комплекс Интегра Прима «ЗАО НТМДТ»;Для исследование атомно-молекулярной структуры поверхностей, качества и толщины наносимых функциональных слоев 976;Хакасский государственный университет им. Н.Ф. Катанова;рН-метр/иономер/титратор «Мультитест ИПЛ-101»;Измерение активности и концентраций ионов в водных растворах, измерение потенциалов 977;Хакасский государственный университет им. Н.Ф. Катанова;рН-метр/иономер/титратор «Мультитест ИПЛ- 211», зав.№:155, 156, 157, 164;Измерение активности и концентраций ионов в водных растворах, измерение потенциалов 978;Забайкальский государственный университет;Сканирующий диагностический набор;для научных исследований 979;Забайкальский государственный университет;Спектрометр портативный аналитический рентгеновский коротковолновый СПАРК-1-2М;Предназначен для определения содержания химических элементов в диапазоне от скандия до урана в порошковых, монолитных пробах. Область применения Металлургия, машиностроение.Геология и горнодобывающая промышленность 980;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Установка напыления проводящих слоев на непроводящие образцы Spi-module control;Для точного дозирования и рубки стекловолокна и подачи его в факел напыляемой смолы 981;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;Кондуктометр Анион 7020;Предназначен для измерения удельной электрической проводимости и температуры растворов. Обеспечивает запись результатов измерений в электронный блокнот. 982;Северо-Кавказский федеральный университет;Спектроскопический эллипсометр SE800;Разработан для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур 983;Северо-Кавказский федеральный университет;Спектральный эллипсометр Эллипс-1891;Спектральный эллипсометр предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов 984;Северо-Осетинский государственный университет им. Коста Левановича Хетагурова;Спектрометр рентгеновский многофункциональный K-ALPHA;Анализ поверхности твердых тел. Широко используется для исследования наноматериалов. 985;Оренбургский государственный университет;Спектрофлуориметр СМ 2203;Регистрация электронных спектров поглощения, люминесценции, возбуждения и смещенной люминесценции в диапазоне 220 - 750 нм 986;Оренбургский государственный университет;Установка стационарной и динамической спектрофлуориметрии;"Регистрация спектров поглощения, люминесценции, возбуждения при стационарном (ламповом) возбуждении; регистрация спектров наведенного поглощения, кривых затухания люминесценции при импульсном лазерном (в том числе ступенчатом) возбуждении. Спектральный диапазон 220 – 1500 нм, временное разрешение – 50 нс." 987;Вологодский государственный университет;Профилометр TR-200 с программным обеспечением;Портативный измеритель шероховатости поверхности. Пределы измерения: Ra,Rq: 0.01 – 40 mm, Rz,Ry,Rp,Rt,R3z: 0,02 – 160 mm, Sm,S: – 2 – 4000 mm, tp: 1 – 100% (%Ry). 988;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;УФ-спектрометр Lambda 35;Регистрация спектров в УФ и видимой области 190-1100нм. Может быть использован для качественного и количественного анализа, идентификации, изучения строения органических и неорганических соединений в растворах. Применяется для изучения кинетики химических и фотохимических реакций, исследования люминесценции. 989;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;УФ-спектрометр Lambda 45;Регистрация спектров в УФ и видимой области 190-1100нм. Может быть использован для качественного и количественного анализа, идентификации, изучения строения органических и неорганических соединений в растворах. Применяется для изучения кинетики химических и фотохимических реакций, исследования люминесценции. 990;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;Титратор амперометрический «Эксперт-001»А»;Для амперометрического определения металлов 991;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;анализатор Флюорат-02-Панорама(исслед-кий спектрофлуориметрический комплекс);исследование флюорисценции, количественный и качественный анализ 992;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Волнодисперсионный рентгеновский спектрометр;Представляет собой прибор, позволяющий проводить полный элементный анализ, использующий для подсчёта и анализа рентгенофлуоресценцию какой-либо конкретной длины волны, дифрагированной на кристалле 993;Северо-Кавказский горно-металлургический институт (государственный технологический университет);Рентгено-флуорисцентный спектрометр MAKC-GV;предназначен для определения содержания химических элементов в различных веще-ствах, находящихся в твердом, порошкообразном или раство-ренном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры 994;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Кюветный флуориметр;Моментальное сканирование спектров веществ 995;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Спектрофлуориметр;Прибор позволяет измерять спектральные характеристики в течение нескольких секунд 996;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Титратор Titroline KF автоматический волюметрический по методу Фишера;Предназначен для автоматического или полуавтоматического выполнения титриметрического анализа 997;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Спектрометр энергодисперсионный рентгенофлуорисцентный Х-Calibur SDD;Исследование химического состава веществ 998;Санкт-Петербургский государственный архитектурно-строительный университет;Автоматизированный измеритель пористости Porosimeter 3.2;исследование пористости материалов 999;Иркутский национальный исследовательский технический университет;рН-метр-иономер Эксперт-001;Измерение активности, молярной и массовой концентрации ионов, окислительно-восстановительного потенциала, температуры 1000;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Кондуктометр Эксперт-002;Применяют для определения концентрации растворов солей, кислот, оснований, контроля состава некоторых промышленных растворов 1001;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Метр-иономер;Предназначен для проведения экспериментов в области ионной метрологии 1002;Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова;Энерго-дисперсионный рентгено-флуоресцентный спектрометр;Рентгено-флуоресцентный анализ оброазцов диаметром до 300 мм и высотой до 150 мм 1003;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Профилометр 130 Протон-НИЭТ;Профилометр измеряет 28 параметров шероховатости и 4 параметра волнистости наружных и внутренних (пазы, отверстия) поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляет как прямую, так и изогнутую по радиусу линию (шарики, валы и т.д.), с измерением этого радиуса 1004;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Профилометр Surflest SJ-210;Мобильный измерительный прибор для быстрого измерения шероховатости в процессе производства 1005;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Установка для тестирования поверхностей металлических деталей (динамический наноидентомтер) ДНТ-20/200;Предназначен для количественных измерений приповерхностных механических характеристик различных объектов с нанометровым разрешением и может быть использован в различных областях науки и техники 1006;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Профилометр 170 G22;Измерение шероховатости по параметрам Ra, Rz, Rmax, Sm, Tp в цеховых, полевых и лабораторных условиях 1007;Дагестанский государственный университет;Рамановский спектрометр DXR Smart Raman Research (ThermoFisher Scientific Inc.).;Исследование молекулярных спектров различных органических и неорганических проб и веществ, находящихся в различном фазово-агрегатном состоянии при помощи спектроскопии комбинационного рассеяния. 1008;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Система автоматического определения содержания воды - титратор V30;Определение содержания воды 1009;Мордовский государственный педагогический институт им. М.Е. Евсеева;Спектрофлуориметр СМ 2023;Применяется в научно-исследовательской деятельности при проведении исследований биохимического состава на клеточном и тканевом уровне, а также изучении особенностей строения и функционирования клеток и тканей. 1010;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Рентгено-флуоресцентный энергодисперсионный спектрометр с полным внешним отражением TXRF S2 PICOFOX c High Efficiency Module (Bruker);Криминалистика, научные исследования, контроль продуктов питания, анализ масел, смазок, металлургических шлаков и руд, цемента, полупроводников и магнитных носителей 1011;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Лазерно-искровой экспресс-анализатор состава ЛИЭС-2;Оперативное определение и исследование качественного и количественного элементного состава твердых и жидких образцов и проб с высокой чувствительностью