№ п/п;Организация;Наименование оборудования;Назначение 1;ООО Институт Гипроникель;Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge Instruments) с системой рентгеноспектрального микроанализа LINK ISIS-200;"Предназначен для исследования топографии и фазового состава поверхности объекта с разрешением до 10 нм. Широкий диапазон ускоряющих напряжений (от 0.5 до 40 кэв.). Рентгеноспектральный микроанализ: особенности строения и вещественного состава любых твердых материалов; определение качественного и количественного химического состава объектов с размерами от 0,2-4 мкм" 2;ООО Институт Гипроникель;Сканирующий электронный микроскоп VEGA 5130MM (Тescan) с системой микроанализа INCA Energy 200;Позволяет проводить рентгеноспектральный анализ химических элементов, начиная с бора (B), а количественный анализ, начиная с кислорода (O) и кончая ураном (U), с пределами обнаружения менее 0.1 массовых %. 3;ООО Институт Гипроникель;Растровый электронный микроскоп TS 5130MM (Tescan) с системой рентгеноспектрального микроанализа Spirit;"Применяется для электронной микроскопии (SEM), микроскопии высокого разрешения, исследования особенностей строения твердых материалов в диапазоне увеличений 50-150000; рентгеноспектральный микроанализ (EPMA)" 4;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Инвертированный микроскоп Axio Observer.A1m (Carl Zeiss);Предназначен для исследований крупных деталей в металлографии. Оптика сверхвысокого разрешения, контраста и цветовой коррекции (IC2S-оптика), скорректированная на бесконечность. Виброустойчивый штатив пирамидального типа с низким центром тяжести, идеально подходит для высочайшей точности исследований. 5;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Поляризационный микроскоп Axio Lab.A1 (Carl Zeiss);Предназначен для учебного процесса, для контроля качества и медико-биологических работ. В микроскопе реализованы такие методы контрастирования, как светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризация. 6;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Зондовый учебный микроанализатор Наноэдьюкатор 2 (НТ-МДТ);Предназначен для проектной и исследовательской деятельности школьников старших классов, кадетов и учебной деятельности студентов и курсантов в ВУЗах по дисциплинам естественно-научного блока знаний. 7;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Сканирующий атомно-силовой микроскоп FemtoScan Онлайн (НПП ЦПТ);Позволяет проводить измерения на воздухе и в жидких средах. Предназначен для проведения фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для организации экспериментального дистанционного образования студентов в области практической нанотехнологии. 8;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Микроскоп поляризационный Axio Observer.Z1m (Carl Zeiss);Исследование материалов и деталей, контроль этапов обработки, определение поверхностных свойств деталей, глубин микро-неровностей, толщины слоев, определение типов структур, исследование зон-термического влияния сварных соединений, проверка глубины закалки. Основные режимы работы: Отраженный свет: светлое поле, темное поле, С-DIC, поляризация. 9;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Микроскоп поляризационный Axio Imager.Z2m (Carl Zeiss);"Основные режимы работы: Отраженный свет: светлое поле, темное поле, С-DIC,поляризация; Проходящий свет: светлое поле, темное поле, С-DIC, поляризация; Объективы: 5х, 10х, 20х, 40х, 50х, 100х;" 10;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Сканирующий атомно-силовой микроскоп Innova (Bruker);"Предназначен для реализации следующих режимов работы на воздухе и в жидкости: контактный режим; режим латеральных сил;полуконтактный режим (tapping mode); режим регистрации фазы; двух-проходный режимы: магнитно-силовая микроскопия; электросиловая микроскопия;Кельвин-микроскопия (потенциал поверхности);силовая спектроскопия (в т.ч. силовое картирование); туннельная микроскопия" 11;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Установка регистрации изображений DITABIS micron (Digital Biomedical);Предназначена для регистрации изображений на специальные IP пластины в просвечивающем электронном микроскопе. Благодаря IP пластинам, в просвечивающем микроскопе возможно получение сверх разрешения. DITABIS micron за счет линейного отклика с 20 битным каналом оцифровки дает возможность регистрации изображений с динамическим диапазоном порядка 106 за одно считывание. ОборудованиеDITABIS имеет широкий спектр применения в естественных науках: медицины, биологии, протоно-графии и многих других. 12;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Просвечивающий электронный микроскоп Libra 120 (Carl Zeiss);Предназначен для исследования микроструктуры вещества. Освещение по Кёлеру, встроенный ОМЕГА фильтр. 13;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Электронный сканирующий микроскоп Work Station AURIGA CrossBeam (Carl Zeiss), Inca X-Max 80мм2;Предназначен для исследования морфологии, химических и структурных свойств материалов с нанометровым пространственным разрешением. 14;ООО Системы для микроскопии и анализа;Просвечивающий электронный микроскоп Morgagni 268 D (FEI);Предназначен для использования большим количеством операторов, которые работают в области клеточной биологии и изучают различные биологические процессы или испытывают новые фармацевтические препараты. ПЭМ Morgagni является экономичным и обеспечивает простоту работы и великолепное качество изображения. 15;ООО Системы для микроскопии и анализа;Электронный сканирующий микроскоп Tecnai G2 30 (FEI);Обеспечивает высокую производительность и универсальность, а также простоту использования в индивидуальной рабочей среде. Оборудование, которое может быть дополнительно установлено, например, СПЭМ, CDD камеры, детекторы для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронами (EELS) и энергетические фильтры, встроены в пользовательский интерфейс, что позволяет операторам с разным опытом работы в полной мере использовать все функциональные возможности системы через один понятный интерфейс. Электронный пучок 300 кВ в данном микроскопе обеспечивает высокое разрешение для данной геометрии объектива, а также более высокий ток пучка и проникновение в образец по сравнению с ПЭМ, использующим 200 кВ. 16;ООО Системы для микроскопии и анализа;Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп TITAN3 G2 60-300 TEM (FEI);Позволяет проводить исследования в режиме СПЭМ с фокусировкой на зонде и ПЭМ-режиме с параллельным пучком и разрешением 70 пм на той же площади образца в том же микроскопе. Таким образом, преимущества обоих методов визуализации может быть объединены в платформе (С)ПЭМ с двойной коррекцией. С акустической и тепловой изоляцией корпуса система может передавать информацию до 70 пм и использует сверхвысокое разрешение, которое достигается без особых трудностей и выбирается при установке. Высокоскоростная цифровая камера и инновационный дружественный интерфейс позволяют сделать работу не просто легко, но и улучшить управление всеми приложениями. Микроскоп охватывает полный динамический диапазон интенсивности от наблюдений биологических образцов с помощью интенсивного фокусированного пучка до применения пучков низких доз и дифракции. 17;ООО Системы для микроскопии и анализа;Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп TITAN G2 80-200 S/TEM (FEI);Позволяет за несколько минут получать распределение элементов с атомным разрешением. Система для анализа ChemiSTEM состоит из пушки с полевой эмиссией Шоттки X-FEG высокой яркости, запатентованной системы Super-X 4-SDD, безоконного детектора EDX и быстродействующей электроники для визуализации, которая способна обрабатывать 100000 спектров / сек. Кроме получения распределения элементов на атомном уровне, Titan G2 80-200 с системой для анализа ChemiSTEM cпособен в 50-100 раз увеличить скорость и чувствительность EDX картирования по сравнению с обычной аналитической системой FEG. Такое повышение производительности позволяет быстро проводить картирование больших площадей и количественно определять элементы со спектрометром с дисперсией по энергии с концентрацией ниже 0,01 массовых долей в %. Кроме того, эту систему можно использовать для EDX томографии, что делается впервые в мировой практике. 18;ООО Системы для микроскопии и анализа;Ионный сканирующий микроскоп HELIOS NANOLAB 400S (FEI);"Обеспечивает превосходное качество съемки с новейшей электронной колонной, в которой помимо полного набора детекторов предусмотрен новый способ визуализации, с которым достигается превосходный контраст и разрешение, а сфокусированный пучок ионов (ФИП) обеспечивает высоко эффективную и быструю пробоподготовку и травление. Идеально подходит для обеспечения высокой пропускной способности, высокого разрешения при подготовке (С)ПЭМ проб, обработки изображений и анализа. Разрешение в режиме электронного пучка - до 0.8 нм; Максимальный диаметр образца - 100 мм." 19;ООО Системы для микроскопии и анализа;Система трехмерной рентгеновской микроскопии UltraXRM-S (SYNCHROTRONS);Предназначена для трехмерной рентгеновской микроскопии ультравысокого разрешения. Использует в качестве сканирующего рентгеновского микрозонда высоко когерентное рентгеновское излучение, полученное из рабочего пучка синхротрона при помощи ондуляторов и фирменной оптики. Обеспечивает перемещение пучка излучения и образца с точностью до 5 нм и высокой долговременной стабильностью для проведения картирования образца с ультравысоким разрешением. Дополнительные возможности детектирования, например, детектирование прошедших фотонов для визуализации фазового контраста или детектирование дифракции для отображения кристаллографических фаз могут быть легко добавлены в систему для получения дополнительной структурной информации. 20;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп Solver HV (НТ-МДТ);Предназначен для АСМ, МСМ, ЭСМ и т. д. измерения поверхности образцов. В условиях высокого вакуума существенно повышается чувствительность колебательных методик зондовой микроскопии, что повышает точность измерений слабых сил. Это особенно важно при высокочувствительных магнитных измерениях (МСМ), при использовании метода зонда Кельвина и сканирующей емкостной микроскопии и т. д. 21;АО Найтек Инструментс;Сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM™ 1000 (AIST-NT);"Полностью автоматическая настройка прибора – менее 5 минут от включения до сканирования; уникальный быстрый сканер с превосходными метрологическими характеристиками; ИК лазер с длиной волны 1300 нм для измерения фоточувствительных образцов и упрощения интеграции прибора со спектральными методами измерений." 22;ФГБУН Уфимский институт биологии Российской академии наук;Микроскоп тринокулярный Leica DM 1000 (Leica Microsystems);Предназначен для использования в клинических лабораториях – оснащен удобным столиком с прочным керамическим покрытием и регулируемыми по высоте ручками двухступенчатой фокусировки. Рукоятка управления препарато-водителем может быть быстро установлена как с левой, так и с правой стороны штатива. Микроскоп оснащается встроенным галогенным источником света мощностью 30 Вт, c быстрой и лёгкой заменой вышедшей из строя лампы. 23;ФГБУН Уфимский институт биологии Российской академии наук;Микроскоп биологический Axio Imager A1 (Carl Zeiss);"Наблюдение и изучение микроскопических биологических объектов, цитологические гистологические исследования в проходящем свете, в том числе, в различном волновом диапазоне. Система освещения проходящего света: галогеновая лампа (12 В, 100 Вт), блок питания внешний (M1 и Z1) и внутренний (A1 и D1); принцип Келера, светодиод LED; менеджер света. Модуль для флуоресцентного анализа: ртутная лампа с саморегулировкой HBO103 (100 Вт), 6-или 10- позиционное револьверное устройство смены светоделителей." 24;Тюменский индустриальный университет;Микроскоп металлографический МЕТАМ ЛВ-41 (ЛОМО);Предназначен для исследования и фотографирования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле а также по методу дифференциально-интерференционного контраста. 25;ФГБУН Институт механики сплошных сред Уральского отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп Dimension Icon (Veeco);Исследование поверхности материалов на микро- и наноуровне. Область сканирования: до 100х100 мкм. Макс. разрешение в плоскости xy: ~1…10 нм (зависит от используемых зондов). Макс. разрешение по оси z: < 0.1 нм. Проведение измерений в воздушной/жидкой среде. Термо-контроллер (проведение исследований при температурах от -30 до 150°C). Картирование электропроводности. Торсионный анализ (отклик материала при вдавливании зонда с подкручиванием). Наноиндентация твердых материалов (используется специальный зонд). Наномеханическое картирование. 26;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Растровый электронный микроскоп Quanta 200 3D (FEI Company);Предназначен для измерения линейных размеров нанообъектов, элементного состава поверхности и спектров катодолюминесценции. Возможность измерения в высоком (10-5 Торр) и низком (до 1 Торр, для измерения диэлектрических образцов) вакууме. Регистрация истинно-вторичных и упруго-отраженных электронов.Диапазон ускоряющих напряжений 100 В – 30 кВ. Эффективный диаметр электронного зонда, согласно ГОСТ Р 8.636-2007: 30 нм. Приставка для изучения катодолюминесценции (Gatan) в диапазоне длин волн от 300 нм до 1000 нм при температуре образца от 80 К. Приставка для рентгеновского микроанализа (EDAX): энергодисперсионный и волновой спектрометры. Приставка для исследования дифракции обратно-рассеянных электронов. 27;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Сверхвысоковакуумный нанотехнический СЗМ-комплекс Nanofab-100 (НТ-МДТ);Предназначен для исследования геометрических параметров и физико-химических свойств микро и нанообъектов на поверхности различных образцов (включая полупроводниковые пластины диаметром до 100 мм) методами сканирующей зондовой микроскопии в условиях сверхвысокого вакуума. Определяющая область применения - микро- и наноэлектроника (в том числе и в производственных условиях). Давление остаточной атмосферы в СЗМ камере- 5*10-8 Па, объем СЗМ-камеры -21 л,- возможность работы в АСМ и СТМ режимах, замена иглы сканирования без напуска атмосферы,- автоматическое позиционирование образцов в диапазоне 100*100 мм:- размер образцов – не более 100*15 мм,- диапазоны сканирования иглы – 3*3*2.6 мкм и 80*80*10 мкм,- разрешение в плоскости ХУ –не более 0,15 нм, в плоскости Z -0,1 нм,- возможность отжига образцов в вакууме. 28;ФГБУН Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700 (Shimadzu);"Предназначен для получения трехмерного изображения рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз. Позволяет измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра: механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность); электрических (потенциал, проводимость); магнитных (распределение намагниченности). Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях." 29;Ивановский государственный химико-технологический университет;Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 SBH (Tescan) c приставкой для элементного анализа и распылительной установкой для нанесения углеродного покрытия;Предназначен для изучения микроструктуры поверхности и локального элементного анализа твердых объектов. Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп с классическим вольфрамовым термокатодом и предметной камерой SB (максимальная высота образца 36 мм), предназначенный как для исследований в высоком вакууме, так и для низковакуумных операций (комплектация UniVac). Отличительными особенностями данного микроскопа являются: прекрасные оптические свойства, возможность захвата изображения и вывод немерцающего цифрового изображения высокого разрешения, современный дружественный интерфейс программного обеспечения для управления микроскопом, работающего в среде WindowsTM, а также большой выбор форматов для сохранения изображений, система архивирования данных, обработки и удобного просмотра изображений, проведение геометрических измерений на полученной картинке, автоматическая система настройки параметров микроскопа и множество других автоматизированных процедур. 30;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Металлографический микроскоп Neophot 32 (Carl Zeiss);Предназначается для металлографической и рудной микроскопии и создания фотоснимков. Наблюдение может производиться методом светлого и темного поля, в поляризованном свете, с изменением кратностей увеличения. Для установки микроскопа требуется виброустойчивое помещение, свободное от пыли и химических паров. Увеличение микроскопа, крат: от 10 до 2000. 31;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Универсальный инвертированный микроскоп Axiovert 200 М (Carl Zeiss);Предназначен для работы с клеточными культурами и тканями как в обычном проходящем свете, так и с флуоресценцией. Система фазового контраста и DIC позволяет визуализировать неокрашенные объекты. Приставка Apo Tom дает возможность работать с несколькими флуоресцентными метками одновременно, а также создавать 3D реконструкцию светящихся объектов. Микроскоп оснащен системой DIC, фазового контраста, флуоресценции. Галогеновым осветителем 100 Вт, двумя флуоресцентными осветителями с ксеноновой и ртутной лампами (HBO и XBO). Универсальными объективами Plan-Neoflutar. Двумя высокочувствительными цифровыми камерами Ax io Cam MRT и Ax io Cam HRC. Приставкой ApoTom для работы с флуоресцентно-мечеными объектами. 32;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп SEM LEO-420 (Carl Zeiss);Предназначен для исследования микроструктуры веществ и материалов методом дифракции обратно-рассеянных электронов и ЭДС-микроанализа. 33;ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий зондовый мультимикроскоп СММ-2000 (Протон) с атомно-силовым столиком;Позволяет проводить анализ шероховатости и других характеристик поверхности, определять высоту и форму находящихся на ней нанообъектов. Эта информация необходима для проводимых в лаборатории исследований по типоморфизму и типохимизму минеральных поверхностей, диагностике, морфологии и свойствам нано-размерных частиц в экспериментальных и природных системах. ;;;Технические характеристики: реализует режимы туннельной микроскопии и атомно-силовой микроскопии в контактной моде. Увеличение от 2000 до 1000 000 раз. Размер образца 20?20?6 мм. В режиме сканирующей туннельной микроскопии прибор обеспечивает на электропроводящих образцах разрешение до 0.3 нм. В атомно-силовом режиме максимальная контролируемая разрешающая способность по XY – 2.5 нм, по Z – 1.13 нм. 34;ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова Сибирского отделения Российской академии наук;Металлографический инвертированный микроскоп МЕТ 1Д (Альтами);"Обеспечивает следующие методы исследований: отраженный свет светлое и темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК); оптическая система скорректированная на бесконечность (ICCOS); 5-ти позиционное револьверное устройство; два независимых цифровых фотопорта, позволяющих одновременно подключить цифровой фотоаппарат и камеру." 35;ФГБУН Институт геологии Карельского научного центра Российской академии наук;Лазерный сканирующий микроскоп VK-9710 (Keyence);"Позволяет измерять высоту, ширину, поперечное сечение, угол или радиус любого выбранного профиля в разрезе; выполнять бесконтактное измерение в XYZ координатах, измерения в 3D, профилометрия, неровности любой линии, а также шероховатости с большой точностью на выбранном участке объекта; измерить объем, площадь поверхности и отношение участка к площади поверхности объектов; проводить автоматические измерения высоты и ширины структур; сравнивать наложением изображения с измерением различий объектов" 36;ФГБУН Институт геологии Карельского научного центра Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп VEGA II XMU (Oxford Instruments);Предназначен для определения концентрационного элементного профиля металлических материалов (кроме H и He), а также для исследования химического состава поверхности образца при помощи электронно-лучевых методов. Оснащен системой ионного травления образца, позволяющей проводить поверхностную очистку, а также глубинное профилирование элементного состава образца. 37;ФГБУН Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000Т (Протон);Обеспечивает работу в двух режимах: сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и атомно-силовой микроскопии (АСМ). СТМ – режим, позволяющий работать с электропроводными по поверхности образцами с латеральным разрешением до 3 Ангстрем и вертикальным разрешением до 1 Ангстрема. АСМ - режим, с лазерным датчиком прогиба АСМ – зонда (кантилевера), позволяющий работать с неэлектропроводными жёстко закреплёнными на непористой поверхности объектами в мягкой контактной моде с латеральным разрешением до 30 Ангстрем и вертикальным разрешением до 1 Ангстрема. (ЛФП). 38;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Прямой материаловедческий микроскоп Axio Imager.A2m (Carl Zeiss);Предназначен для различных исследовательских целей с использованием методов исследования в проходящем и отраженном свете: светлое поле, темное поле, поляризация, люминесценция, дифференциально-интерференционный контраст. Адаптирован для работы в отраженном свете, все линзы – с антибликовым безрефлексным покрытием. Увеличение – 100х, апертура 0.80, рабочее расстояние 0,85 мм, возможность освещения объекта полым конусом 39;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Микроскоп биологический МИКМЕД-1 (ЛОМО);Предназначен для микроскопических исследований биологического материала. Для изучения объектов в темном поле применяется конденсор темного поля ОИ-13, для наблюдения неокрашенных препаратов—фазово-контрастное устройство КФ-4, работающее совместно с осветителем ОИ-35. Для наблюдения непрозрачных объектов в отраженном свете используется осветитель ОИ-21. 40;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Микроскоп стереоскопический МБС-10 (ЛЗОС);Предназначен для перспективных микроскопических исследований любых видов материалов. Широко применяется в криминалистических, пищевых лабораториях, в ювелирном производстве. 41;Дальневосточный федеральный университет;Система пробоподготовки нанообъектов 16 bit Vector Scan NanoPattering Engine Pro (Carl Zeiss);Позволяет производить резку нанообъектов в целях пробоподготовки материала для микроскопии посредством микроскопа Zeiss Cross Beam 42;Дальневосточный федеральный университет;Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения LIBRA® 200MC (Carl Zeiss);Объединяет в себе встроенный в колонну энергетический ОМЕГА-фильтр, высокоэффективный автоэмиссионный эмиттер и систему освещения образца по Кёлеру. Использование ОМЕГА-фильтра позволяет проводить спектральный анализ для определения химического состава вещества при исследованиях полупроводников, материаловедческом анализе и исследованиях в других областях, а также обеспечивает интегральную фильтрацию изображения. 43;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Микроскоп металлографический МЕТАМ ЛВ-32 (ЛОМО);Предназначен для исследования и фотографирования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и по методу дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). Микроскоп обеспечивает возможность вывода изображения объекта на телеэкран. Область применения микроскопа - металлографические лаборатории научно-исследовательских институтов и предприятий металлургии и машиностроения. 44;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2000 EX (Jeol);Позволяет получить наибольшее разрешение из всех доступных методов исследования биологических объектов, таких как клетки, клеточные органеллы, бактерии, вирусы, биогенные макромолекулы. Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 обладает высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 200 кВ. Применяется в исследованиях биологических образцов 45;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Атомно-силовой микроскоп ИНТЕГРА Спектра (НТ МДТ) с рамановским спектрометром;Обеспечивает получение расширенной информации о физических свойствах образца с нанометровым разрешением: локальнай жесткости, проводимости, емкости, намагниченности, поверхностном потенциале и работе выхода, коэффициенте трения, пьезоотклике и пр. Одновременно с АСМ конфокальная флуоресценция и рамановские измерения дают информацию о химическом составе, кристаллической структуре и ее ориентации, наличия примесей и дефектов, макромолекулярной конформации и т.д. 46;Рязанский государственный радиотехнический университет;Сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализатором JSM 6610 LA (Jeol);Предназначен для высокоэффективных исследований микроструктуры вещества. Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным. 47;Рязанский государственный радиотехнический университет;Растровый электронный микроскоп JSM-50A SEM (Jeol);"Предназначен для исследования микроструктуры различных материалов неорганического происхождения;топографический и качественный фазовый анализ поверхности; возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм)." 48;ФГБУН Институт электрофизики и электроэнергетики РАН;Растровый электронный микроскоп JSM 50A (Jeol);"Предназначен для исследования топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция). Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)" 49;ФГБУН Институт электрофизики и электроэнергетики РАН;Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100-F (Jeol), оснащенный электронной пушкой с полевой эмиссией;Предназначен для решения практически любых задач. Электронная пушка на основе термополевого катода Шоттки создает намного более яркий и стабильный пучок, нежели обычный термоэмиссионыый источник на основе катода из вольфрама или гексаборида лантана. Это очень важно для исследований методами растровой просвечивающей электронной микроскопии ультравысокого разрешения, работы со спектрометром характеристических потерь энергии электронов, а также элементного анализа наносистем. Очень яркий электронный пучок диаметром менее нанометра позволяет проводить анализ образцов с субнанометровым разрешением и высокой чувствительностью. 50;ФГБУН Институт электрофизики и электроэнергетики РАН;Просвечивающий электронный микроскоп EM420 (Philips);Предназначен для восстановления трехмерного атомного строения вещества (в том числе в наноплёнках и нанокластерах). Осуществляется регистрация вторичной электронной эмиссии. 51;Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ) им. В.И. Ульянова (Ленина);Ионный сканирующий микроскоп Strata FIB 205 (FEI);Предназначен для получения изображения во вторичных ионах и электронах в диапазоне увеличений х 250-350000. Возможность готовить ультратонкие пробы (толщиной до 50 нм) для просвечивающего электронного микроскопа на локальных участках образца. Гарантированный минимальный размер канавки травления 100нм, минимально достигаемый – 10 нм2. 52;Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ) им. В.И. Ульянова (Ленина);Микроскоп поляризационный агрегатный ПОЛАМ Р-312 (ЛОМО);Предназначен для исследования непрозрачных и прозрачных объектов в отраженном и проходящем свете соответственно. Обеспечивает вывод информации на электронные носители и непосредственную компьютерную обработку изображения и результатов анализа. Области применения: минералогия, углепетрография, металлография, химия, криминалистика, другие области науки и техники. 53;ООО Научно-исследовательский центр ТК ОМЗ-Ижора;Микроскоп металлографический инвертированный Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss);Предназначен для наблюдения, фотографирования и контроля микроструктуры (неметаллических включений, величины зерна, микроструктуры). 54;Южный научный центр Российской академии наук;Цветной 3D лазерный сканирующий микроскоп VK-9700 Generation II (KEYENCE);Позволяет получать цветные изображения, соперничающие по четкости с монохромными изображениями, получаемыми с помощью растрового электронного микроскопа, а так же проводить бесконтактные измерения высокой четкости в 3D. С помощью микроскопа VK-9700 можно получать изображения с высоким разрешением с увеличением вплоть до х18000 с одинаково большой глубиной резкости для всего поля зрения. Для освещения используются одновременно коротковолновый лазер и источник белого света, что позволяет добиваться высокого разрешения и передачи истинного цвета изображения образца. Бесконтактные измерения осуществляются путём получения трехмерных координат точек рельефа поверхности образца лазерным сканированием, что существенно расширяет диапазон исследуемых объектов и видов измерений. Основные возможности: Исследование профиля поверхности: измерение высоты, ширины, угла наклона характерных особенностей рельефа поверхности. Измерение шероховатости: бесконтактное измерение шероховатости поверхности образца как по линии, так и по выбранному участку. 3D-измерения: измерение объёма и площади криволинейной поверхности любого характера на выбранном участке исследуемого образца. 55;ЗАО Научный центр неврологии;Стереомикроскоп DMW-143-N2GG (Motic);Имеет объектив с функцией увеличения, создающий высокое оптическое качество при наблюдении с 10-кратным увеличением, затем можно плавно увеличить изображение до 40Х. Со встроенной камерой, имеющей многофункциональный выход, возможности микроскопа огромны. Вы можете подключить микроскоп непосредственно к ПК с помощью кабеля USB 2.0 и анализировать изображения с использованием программы Motic Images Plus 2.0 software. Также можно подключить стереоскопический микроскоп непосредственно к ТВ монитору через кабель S-Video и к проектору с помощью кабеля RCA. 56;Владивостокский государственный университет экономики и сервиса;Бинокулярный биологический микроскоп МИКРОМЕД 1 вар. 2 LED (Микромед);Предназначен для наблюдения и морфологических исследований препаратов в проходящем свете по методу светлого поля, а также по методу темного поля с конденсором. Микроскоп может быть использован в различных областях медицины, в биологии, ботанике, химии и других областях науки. Используется при диагностических исследованиях в клиниках и больницах, а также для учебных целей в высших и средних учебных заведениях. На микроскопе можно изучать окрашенные и неокрашенные биологические объекты в виде мазков и срезов. Микроскоп обеспечивает возможность вывода изображения в режиме реального времени на экран ПК с помощью видеоокуляра (в комплект не входит). Видеоокуляр устанавливается в один из тубусов микроскопа вместо окуляра. 57;ФГБУН Институт аналитического приборостроения Российской академии наук;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп TCS SL (Leica Microsystems);Предназначен для реализации неразрушающих методов контроля и измерений микрообъектов. Получение изображений с тонких слоев исследуемого объекта, объемная реконструкция полученных изображений. Проведение спектральных измерений микро-участков поверхности образца с высоким пространственным разрешением. 58;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Система гиперспектрального формирования изображения HSi-300 (Gooch&Housego);Предназначена для анализа и обработки массивов данных в задачах гиперспектральной обработки изображений. Содержит модуль формирования изображения с акусто-оптически настраиваемым фильтром. Данная технология отличается своей исключительной спектральной гибкостью и скоростью переключений. Система HSi-300 сейчас доступна в комплекте с плагинами µ-Manager, платформой прикладного ПО с открытым исходным кодом формирования изображений и управления автоматическими микроскопами на различных операционных системах (Windows, Mac и Linux). 59;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Инвертированный микроскоп Eclipse Ti-E (Nikon);Предназначен для построения на его основе акустооптической системы гиперспектральной лазерной флуоресцентной диагностики онкологических заболеваний. Обладает повышенной скоростью работы, большей гибкостью и разнообразными высокоэффективными режимами микроскопии, что образует полностью интегрированную систему, идеально приспособленную для самых передовых исследований и получения изображений живых клеток. Моторизованный, базовый осветитель 100 Вт/30Вт, четыре порта, моторизованный фокус с разрешением 0,05 мкм, идеально подходит для 3D микроскопии, в том числе для конфокальной микроскопии 60;ФГБУН «Институт эволюционной физиологии и биохимии им. И.М. Сеченова» РАН;Просвечивающий электронный микроскоп LEO-910 (Carl Zeiss);Предназначен для микроскопического исследования биологических объектов с использованием общепринятых методик фиксации и заливки. Увеличение - 50х-500000х. 61;ФГБУН «Институт эволюционной физиологии и биохимии им. И.М. Сеченова» РАН;Конфокальный микроскоп TCS SP5 MP (Leica Microsystems);Позволяет визуализировать пространственную структуру живого и фиксированного материала на глубину до 200 мкм. Для глубины более 80-100 мкм рекомендуется использовать реализованный на этом приборе метод двухфотонной микроскопии. Отличительной особенностью конфокальной микроскопии является возможность делать оптические срезы с высоким пространственным разрешением не только в плоскости, но и по глубине препарата. Полученные таким образом серии изображений могут быть использованы для трехмерной визуализации и реконструкции исследуемых объектов. 62;ФГБУН «Институт эволюционной физиологии и биохимии им. И.М. Сеченова» РАН;Конфокальный микроскоп TCS SP2 (Leica Microsystems);Измерение распределения интенсивности флуоресценции в фокальной плоскости и по объему исследуемых образцов при разных длинах волн в диапазоне длин волн возбуждения флуоресценции 450 – 663 нм (до семи независимых каналов регистрации одновременно). Получение трехмерных изображений флуоресцентно меченных препаратов с измерением геометрических параметров. Математическая обработка изображений (фильтрация, деконволюция/конволюция, контрастирование и т.п.). Анализ процессов методами FRET (флуоресцентного резонансного переноса энергии) и FRAP (восстановление флуоресценции после фотоотбеливания). Определение колокализации флуорофоров в образце. 63;ФГБУН «Институт эволюционной физиологии и биохимии им. И.М. Сеченова» РАН;Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 Spirit BioTWIN (FEI);Предназначен для проведения исследований в области клеточной и структурной биологии, бионанотехнологии, медицины и, в частности, предназначен для 2D и 3D визуализации клеток, клеточных органелл и более мелких структур. Укомплектован томографическим модулем (гониометром), позволяющим в процессе работы наклонять образец относительно горизонтальной оси и получать серии снимков с их последующей автоматической сборкой и реконструкцией 3D-моделей сложных биологических структур. Микроскоп может автоматически настраивать состояние электронной пушки и корректировать фокус и астигматизм. При этом сохраняется возможность контроля всех функций микроскопа опытными пользователями в ручном режиме, который реализуется на основе концепции Tecnai, предусматривающей цифровое управление всеми системами микроскопа. 64;ООО Совтест АТЕ;Цифровой микроскоп ShuttlePix P-400Rv (Nikon);Предназначен для захвата изображения больших и тяжёлых образцов. Автомобильная, аэрокосмическая, металлургическая, судостроительная промышленность и т.д. Подходит для тестирования, анализа и исследования электронных компонентов и электронных устройств собранных их них . Имеет широкий спектр применения. Заводы и ремонт оборудования, музеи, судебно-медицинская экспертиза, промышленно производство и т.д. Увеличение от 20х до 400х крат реализуется без сложной замены оптических линз. 65;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Атомно-силовой сканирующий микроскоп СММ-200 (Протон-МИЭТ);Предназначен для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного. Можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. Ввиду способности не только сканировать, но и манипулировать атомами, назван силовым. 66;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Инвертированный универсальный металлографический микроскоп Axiovert 200 MAT/M (Carl Zeiss);Предназначен для исследования материалов в отраженном свете. Позволяет проводить анализ крупногабаритных образцов. Может использоваться в составе универсального анализатора изображений. 67;ФГУП ВО Внештехника;Микроскоп проходящего и падающего света ECLIPSE LV100ND (Nikon);Предназначен для работы при эпископическом /диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения. 68;ФГУП ВО Внештехника;Инспекционный микроскоп ECLIPSE L300N (Nikon);Предназначен для изучения и контроля качества интегральных схем. Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении 69;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (Протон-МИЭТ);Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0,1нм до 30мкм). Микроскоп СММ-2000 применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля. Микроскоп СММ-2000 - мультирежимный, он имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия). Разрешение микроскопа: 0,1 А в режиме STM, до 0,1-20 А в AFM и доп. режимах (зависит от типа зонда). Поле кадров: 15x15x2,5мкм и 2,5x2,5x0,5мкм. Предел допускаемой погрешности измерений линейных размеров по осям X,Y и Z составляет 10нм ±10% измеряемого размера. 70;ОАО РНИИ Электронстандарт;Растровый электронный микроскоп JSM-35-CF (Jeol) с рентгеноспектральным микроанализатором Link System S-860-II;Покрывает диапазон увеличения от х10 до х60000. Опционально предусмотрено использование микроскопа с приставкой для микроанализа и приводом для наклона и вращения образца. Микроскоп оснащен детекторами вторичных и отраженных электронов и способен работать в режимах как высокого так и низкого вакуума. 71;ЗАО Научный центр неврологии;Микроскоп светлого поля Jenaval (Carl Zeiss);Позволяет производить наблюдение препаратов в проходящем свете, по методу фазового контраста, темного поля, поляризации , в приборе реализована встроенная система визуализации. 72;ЗАО Научный центр неврологии;Фазово-интерференционный микроскоп Peraval Interphako (Carl Ziess);Предназначен для измерений методом интерферометрии и работы методом фазового и фазово-интерференционного контраста. 73;ЗАО Научный центр неврологии;Флуоресцентный микроскоп Axio Lab.A1 FL-LED (Carl Zeiss);"Предназначен для рутинных микроскопических исследований. Оснащен: бинокулярная насадка с углом наклона 30 градусов; бинокулярная насадка с углом наклона 20 градусов; эргономичная бинокулярная насадка с изменяемым углом наклона 8-33 градуса; бинокулярная насадка с изменяемым углом наклона 8-33 градуса с регулировкой высоты наблюдения на 50мм; тринокулярная насадка с делением светового потока 50/50; тринокулярная насадка с делением светового потока 100:0/0:100; эргономичная тринокулярная насадка с изменяемым углом наклона 5-30 градусов с делением светового потока 100:0/0:100" 74;ЗАО Научный центр неврологии;Стереомикроскоп SMZ-168 BL (Motic);Предназначен для работы в области биологии и материаловедения, оснащен качественными и универсальными аксессуарами для проведения исследований и стандартных измерений. Оптическая система Greenough (Грену) обеспечивает парфокальность во всем диапазоне увеличения и имеет показатель масштабирования 6,7:1. Пятипозиционный механизм фиксации для плавного увеличения обеспечивает точное воспроизведение фрагментов изображения и упрощает процесс измерения. Трехмерное вертикальное изображение в сочетании с самым лучшим в индустрии показателем рабочего расстояния 113 мм предлагается в стандартной конфигурации и облегчает манипуляции с образцом. SMZ168 можно легко превратить в рабочую станцию для документирования путем совместного использования микроскопа с камерой серии Moticam. 75;ЗАО Научный центр неврологии;Интерференционный микроскоп Биолам Р-11 (ЛОМО);Предназначен для исследований неокрашенных препаратов методом интерференционного контраста и количественных измерений сухой массы клеток. Оснащен монохромной видео камерой для регистрации интерференционной картины. 76;ООО «ТБС»;Конфокальный микроскоп в реальном времени Axiotron 2 (HSEB);Предназначен для работы в чистых комнатах с пластинами размера до 300 мм. Возможность долгой работы без усталости оператора благодаря эргономичной конструкции. Прочный корпус из металла без использования пластика. Светлое поле (VIS, NIR, 365 нм, 248 нм). Темное поле. Дифференциально интерференционный контраст. Конфокальная микроскопия в реальном времени (CSM). Узкополосная конфокальная микроскопия на i-линии (365 нм). Флуоресцентная микроскопия. Поляризационная микроскопия. 77;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Сканирующий туннельный микроскоп LT UHV SPM - Multiprobe S/XA (Omicron Nanotechnolgy);Позволяет изучать пространственное распределение электронных свойств поверхности проводящих образцов в нормальном и сверхпроводящем состоянии при температурах от комнатной до температуры жидкого гелия с атомарным разрешением в диапазоне смещений ±10V, с максимальным током 3.3А (333A), получать спектры туннельного тока (локальная ВАХ) и, в режиме QPlus AFM, измерять профиль поверхности непроводящих образцов с атомарным разрешением на поверхности кристалла NaCl(100). Базовый уровень вакуума 10-10 mBar. Диапазон грубого позиционирования (XYZ) 5x5x10mm. Диапазон сканирования (XYZ): 10x10x1.5mkm (RT), 4x4x0.4mkm (<78K), 1.8х1.8х0.2mkm (<5K). Возможны измерения в магнитном поле до 1500Гс. 78;ФГБУН Институт проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук;Оптический микроскоп Axio Vert 100А (Carl Zeiss);Предназначен для 2D-исследования микроструктуры металлов и сплавов с применением оптической микроскопии, анализ локальной микротвердости поликристаллических структур и тонких покрытий методом Виккерса 79;ФГБУН Институт проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LSM-5-Pascal-Exciter (Carl Zeiss);Предназначен для исследования объектов в видимой области спектра. Прибор позволяет регистрировать и анализировать трехмерную структуру поверхности, а также проводить измерение шероховатости. 80;Новосибирский государственный технический университет;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47H (НТ-МДТ);Предназначен для исследования физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм. 81;ФГБУН Институт проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук;Микроскоп электронный сканирующий MIRA 3LMH (TESCAN) с системой анализа дифракции обратно-отраженных электронов (EBSD) HKL Channel 5 EBSD (Oxford Instruments);Предназначен для изучения структуры и кристаллографических параметров поликристаллических материалов 82;ФГБУН Институт проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2000EX (JEOL);Предназначен для исследования структуры металлов и сплавов, биологических объектов, исследования межфазных и межзеренных границ 83;ФГБУН Институт проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук;Электронный сканирующий микроскоп VEGA 3SBH (TESCAN) с ЭДС AZtec Energy X-act, Oxford Instruments;Предназначен для изучения микроструктуры поверхности и локального элементного анализа металлов, керамики, неорганических порошков, волокон и др. 84;ФГБУН Институт теоретической и экспериментальной биофизики Российской академии наук;Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп TCS SPE (Leica Microsystems);Исследование внутренней микроструктуры клеток, причем не только фиксированных, но и живых, идентифицирование микроорганизмов, структур клетки и отдельных молекул, наблюдение динамических процессов в клетках. 85;ФГБНУ Всероссийский научно-исследовательский институт мясного скотоводства РАСХН;Люминесцентный микроскоп Микромед 3 ЛЮМ (МедКомплекс);Предназначен для наблюдения изображения объектов в свете видимой люминесценции, а также в проходящем свете в светлом поле. Помимо возможности исследований объектов в проходящем свете (классическое освещение по Келлеру), с помощью флуоресцентных методик на микроскопе МИКРОМЕД 3 ЛЮМ проводятся следующие виды исследований: иммунохимические, иммунологические, иммуноморфологические, иммуногенетические. Получение гистологических препаратов. 86;ЗАО Научный центр неврологии;Биологический флюоресцентный микроскоп Eclipse 50i (Nikon);Предназначен для исследований в светлом поле и флюоресценции. Микроскоп оснащен светофильтрами для работы с флуорохромами DAPI, FITC, Cy3 и Texas Red. Источник света - ртутная лампа типа HBO. Изображение захватывается высокочувствительной монохромной камерой Nikon DS-Qi. Микроскоп оснащен системой анализа изображений Nikon NIS Elements Basic Research. 87;ЗАО Научный центр неврологии;Флуоресцентный микроскоп DMLB 2 (Leica microsystems);Исследования в области цитологии, гематологии в режимах просвечивающего освещения, фазового и дифференциально-интерференционного контраста, темного поля, флуоресценции. 88;Уральский государственный экономический университет;Металлографический инвертированный микроскоп МИМ-7 (ЛОМО);Предназначен для наблюдения и фотографирования микроструктуры металлов в обыкновенном свете в светлом и темном поле и в поляризованном свете в светлом поле. Обеспечивает увеличение от 60 до 1440 при визуальном наблюдении и от 70 до 1350 при фотографировании. В качестве источника света использована кинопроекционная лампа К-30 17 в, 170 вт. 89;Уральский государственный экономический университет;Микроскоп поляризационно-интерференционный в проходящем свете Peraval Interphako (Carl Zeiss);Предназначен для измерений методом интерферометрии и работы методом фазового и фазово-интерференционного контраста. 90;Уральский государственный экономический университет;Микроскоп металлографический упрощенный ММУ-3 (ЛОМО);Предназначается для визуального наблюдения непрозрачных объектов в отраженном свете при работе в светлом и темном поле и в поляризованном свете. Микроскоп применяется в заводских лабораториях и непосредственно в цехах. На металлографическом микроскопе можно фотографировать изображение объектов с помощью микрофотонасадок типа МФН (насадки в комплект микроскопа не входят). Металлографический микроскоп изготавливается в исполнении У категории 4.2, т. е. для работы в макроклиматических районах с умеренным климатом в лабораторных помещениях при температуре воздуха от 10 до 35° С, и в исполнении Т категории 4.2, т. е. для работы в макроклиматических районах как с сухим, так и с влажным тропическим климатом в лабораторных помещениях при температуре воздуха от 10 до 45° С. 91;Уральский государственный экономический университет;Поляризационно-интерференционный микроскоп BIOLAR (PZO);Предназначен для наблюдения микрообъектов, как фазовых (прозрачных), так и амплитудных (поглощающих свет), а также для измерения разности оптического пути (фазового сдвига), градиента разности оптического пути толщины, коэффициента преломления, двойного лучепреломления, угла касания, вида микроповерхности, концентрации веществ, содержания сухих веществ в клетках, светопропускаемости, а также и других физических величин.Микроскоп позволяет производить качественные и количественные исследования с применением следующих интерференционных методов: метода полос, метода дифференциального и однородного поля с большим раздвоением изображения. 92;Уральский государственный экономический университет;Растровый электронный микроскоп BS 300 (Tesla);Предназначен для исследования характера разрушения покрытий на образцах малоуглеродистой стали, поверхностно упрочненных методом диффузионного борирования 93;Уральский государственный экономический университет;Просвечивающий электронный микроскоп BS 540 (Tesla);Предназначен для исследования и разработка новых материалов для быстрорастущего рынка энергонезависимой памяти (DVD- CD-RW, flash), основанных на переходах стекло - кристалл. Исследования методами оптической, электронной и атомно-силовой микроскопии образования, дефектности и превращений в тонких плёнках неорганических веществ теоретические и экспериментальные исследования дифракции электронов от упруго искажённых кристаллов и разориентированных микроструктур. Электронно-микроскопические исследования дефектности и превращений в тонких плёнках, слоях и покрытиях для микро- и оптоэлектроники, нанотехнологий 94;ООО «Актив-нано»;Сканирующий ионный гелиевый микроскоп ORION Plus (Carl Zeiss);Обеспечивает большую глубину резкости, что, в сочетании с высоким разрешением, позволяет получить высокое качество изображения. Большая масса ионов по сравнению с электронами существенно уменьшает влияние дифракции и увеличивает сечение рассеяния на атомах исследуемого материала, благодаря чему увеличивается контраст по атомному номеру, как в режиме регистрации вторичных электронов, так и при регистрации обратно-рассеянных ионов. Другой особенностью ионного сканирующего микроскопа является малый ток пучка, на три порядка меньший, чем типичный ток пучка электронного микроскопа. Это позволяет избежать негативных последствий, связанных с изменениями, происходящими в образце под действием пучка и уменьшить влияние зарядки поверхности не проводящих образцов. Кроме того, предусмотрена система компенсации заряда поверхности электронным пучком, которая позволяет работать с диэлектриками, практически без потери качества изображения. 95;ООО «Актив-нано»;Сканирующий электронный микроскоп Supra 40VP (Carl Zeiss);Универсальный лабораторный автоэмиссионный растровый микроскоп, использующий электронно-оптическую колонну GEMINI 3-го поколения. Высококачественные изображения, с потрясающими глубиной и контрастом, в комбинации с широкими аналитическими возможностями делают эти микроскопы настоящими «рабочими лошадками» многих лабораторий мира, специализирующихся в различных областях исследований — изучение и разработка новых материалов, анализ отказов, контроль производства, крио-приложения, нанотехнологии, прикладные аналитические исследования и др. 96;ООО «Актив-нано»;Просвечивающий электронный микроскоп Tesla BS 613C;Изучение механизмов образования и роста (в том числе с непосредственным наблюдением процессов in situ в электронном микроскопе и видео записью процессов), а так же факторов, определяющих характеристики объектов с сильным искривлением кристаллической решетки - трансротационных кристаллов 97;ООО Системы для микроскопии и анализа;Просвечивающий электронный микроскоп Philips CM30;"Структурные исследования с пространственным разрешением 0,23 нм; кристаллографический/фазовый микро-/нано-анализ методами электронной дифракции." 98;ООО Системы для микроскопии и анализа;Микроскоп с приставкой ионного пучка V600CE FOCUSED ION BEAMS (FEI);Предназначен для полупроводниковых лабораторий, применяющиеся для внесения изменений в микросхемы. Он многофункционален и позволяет быстро проводить анализ и модифицировать схемы с использованием только одной колонны - сфокусированного пучка ионов (ФИП), который эффективно обеспечивает высокую пропускную способность при модификациях схем, приготовлении поперечных срезов и анализе неисправностей. 99;ООО Системы для микроскопии и анализа;Рентгеновский сканирующий микроскоп Verios™ XHR SEM 460L (FEI);Мощный двухпучковый сканирующий микроскоп. Применяется в научных исследованиях или промышленном контроле. 100;Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого;Комплексная научная установка Нанофаб-25 (НТ-МДТ);Предназначена для вакуумного плазмохимического модифицирования поверхности и анализа поверхности методами электронной спектроскопии. Отличительной чертой комплексной установки является возможность модифицирования и анализа поверхностных слоев в условиях сверхвысокого вакуума. Образец перемещается между частями установки без выноса на атмосферу, что позволяет исследовать электронную структуру, химические связи в сверх тонких слоях образцов без внесения загрязнений и изменения химического состояния поверхности. Возможности части плазмохимической модификации и осаждения: Использование источника удаленной плазмы мощностью 1 кВт. Контролируемое создание смеси газов для плазменного источника из 3х газов. Дополнительная подача газовой смеси (до 3-х газов) в область выхода плазмы. Контроль газовых потоков с точностью до десятых долей см3/мин. Контролируемый прогрев поверхности образцов до 600 оС Возможность ввода лазерного излучения в вакуумную камеру (энергии квантов ~6 эВ) Возможность подачи высокого напряжения на образец. 101;Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого;Растровый электронный микроскоп Supra 40 VP (Carl Zeiss);Микроскоп снабжен системой компьютерного контроля сканирования электронным пучком и цифровой регистрацией сигналов и изображения, рентгеноспектральный микроанализатор INCA WAVE и INCA X-MAX. Получение изображения поверхности в режиме растровой электронной микроскопии (во вторичных и обратноотраженных электронах). 102;Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого;Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп Solver P47-Pro (НТ-МДТ);"Предназначен для исследований свойств поверхности с высоким разрешением на воздухе. Конструкция прибора позволяет реализовывать различные методики сканирующей туннельной микроскопии; контактной атомно-силовой микроскопии (метод постоянной силы, метод латеральных сил, метод постоянной высоты и др.); резонансной атомно-силовой микроскопии (полуконтактная и бесконтактная); АСМ спектроскопии (силовая, токовая, апертурная, фазовая и др.); а также магнито-силовой микроскопии. Кроме того, прибор оснащен собственной системой виброизоляции для получение сверх-высокого разрешения без дополнительной виброзащиты (вплоть до атомарного)." 103;ФГБУН Физико-технологический институт Российской академии наук;Микроскоп электронный сканирующий LEO 430 SEM (Carl Zeiss);Предназначен для электронной микроскопии веществ и материалов с высоким разрешением до 1 нм. 104;ФГБУН Физико-технологический институт Российской академии наук;Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с комплексом диагностики наноструктур Supra 40 (Carl Zeiss);Микроскоп снабжен системой компьютерного контроля сканирования электронным пучком и цифровой регистрацией сигналов и изображения, рентгеноспектральный микроанализатор INCA WAVE и INCA X-MAX. Получение изображения поверхности в режиме растровой электронной микроскопии (во вторичных и обратноотраженных электронах). 105;ФГБУН Физико-технологический институт Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 F20 U-TWIN (FEI);Предназначен для исследований в области электронной микроскопии. Ускоряющее напряжение до 200кВ, катод с полевой эмиссией. Микроскоп оснащен устройством STEM. Разрешение по точкам 0,19 нм, информационный предел <0,12 нм, разрешение в режиме STEM - 0,14нм. Поворот образца на /-24°. 106;ФГУП Всероссийский нефтяной научно-исследовательский геологоразведочный институт;Спин каппа-мост с термоприставкой KLY-3S/CS-3 (AGICO);Предназначен для лабораторных измерений магнитной восприимчивости горных пород (и др. материалов) ее анизотропии и зависимости от температуры в ходе нагрева и охлаждения 107;Сыктывкарский государственный университет имени Питирима Сорокина;Микроскоп тринокулярный Микромед-5;Для обучения, контроля и хобби поверхностей при производстве. Может использоваться при проведении мелких и тонких ремонтных работ (пайки, нарезании дорожек на печатных платах, для обнаружения дефектов). С помощью программного обеспечения можно делать фото изучаемых объектов, снимать видео и производить высокоточные измерения углов, радиусов и линейных размеров (с точностью до 0,01 мм). 108;Рязанский государственный агротехнологический университет им. П.А.Костычева;Биологический микроскоп проходящего света MT6000 (Meiji Techno);Предназначен для использования в биологии, научных исследованиях и для применения в лаборатории. Эргономичное расположение рукояток управления исключает усталость пользователя, повышает эффективность и производительность работы. 109;Сибирский государственный медицинский университет;Микроскоп люминесцентный Axiostar plus (Carl Zeiss);Предназначены для работы и исследований культур клеток и тканей в отраженном и проходящем свете. Доступны все современные методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), поляризация, круг. 110;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Атомно-силовой микроскоп Смена-B (НТ-МДТ);Исследование морфологии поверхности твердого тела и анализ физических характеристик поверхности с разрешением по XY - 2 нм и разрешением по Z - 0,01 нм. Исследование структуры поверхности и анализ элементного состава образцов с разрешением порядка 111;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Микроскоп оптический РМЕ-3 (Olympus);Обработка микроизображений в материаловедении: обработка, классификация и анализ изображений, определение размеров зерен и других структурных элементов, в том числе включений и фаз, средней площади и линейного размера элементов структуры 112;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп BS 300 (TESLA);Предназначен для исследования микроструктуры на поверхности материалов. Ускоряющее напряжение: 100кВ, разрешающая способность: 1 нм. 113;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп СММ-2000 ТА (КПД);Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0,1нм до 30мкм). Микроскоп применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля. Микроскоп мультирежимный, имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия). Разрешение микроскопа: 0,1 А в режиме STM, до 0,1-20 А в AFM и доп. режимах (зависит от типа зонда). Поле кадров: 15x15x2,5 мкм и 2,5x2,5x0,5 мкм. Предел допускаемой погрешности измерений линейных размеров по осям X,Y и Z составляет 10нм ±10% измеряемого размера. 114;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Просвечивающий электронный микроскоп СМ 30 (Philips);"Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения (TWIN-объективная линза, разрешающая способность до 0,24 нм); дифракционный анализ, наклон образца до ±60°; сканирующая электронная микроскопия (светлое и темное поле); качественный и полуколичественный рентгеноспектральный анализ; пространственное распределение химических элементов." 115;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Лазерный микродиссектор Palm Micro Beam (Carl Zeiss);Прибор для лазерной микродиссекции обеспечивает бесконтактное и свободное от контаминаций выделение фрагментов клеток, отдельных клеток, групп клеток из срезов биологических тканей для последующего молекулярного анализа используемого в геномных и протеомных исследованиях, делая ваши результаты высоко точными и вопроизводимыми. Сфокусированный лазерный луч длительностью всего в 1 наносекунду не только вырезает нужный микрообъект, не повреждая его, но и катапультирует в улавливающий микроконтейнер, отделяя таким образом от остального материала. Мощность лазерного пучка и фокусировка автоматически регулируются с большой точностью. Этим же лазерным лучом можно предварительно разрушить в исследуемом образце те элементы, которые могут мешать выделению (иссечению и катапультированию) нужного объекта. 116;Иркутский институт химии им. А.Е. Фаворского СО РАН;Сканирующий настольный электронный микроскоп TM3000 (Hitachi);Электронная сканирующая микроскопия различных биологических объектов с увеличением до 40 000 Х. 117;Новосибирский государственный технический университет;Растровый электронный микроскоп EVO 50 XVP (Carl Zeiss);Структурные исследования поверхности материалов. Низковакуумный режим (XVP) позволяет исследовать не проводящие образцы, а также биологические объекты. Элементный анализ (с возможностью совместного детектирования). 118;Новосибирский государственный технический университет;Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai 20 G2 TWIN (FEI);Структурные исследования внутреннего строения материалов. Управляется операционной системой Windows NT, обеспечивает высокую производительность и универсальностью, высокую продуктивность с легкостью использования и безопасностью. 119;Самарский государственный технический университет;Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator II (НТ-МДТ);Обеспечивает высокое пространственное разрешение при исследовании рельефа объектов и определении их физико-химических свойств. Это сочетание позволяет использовать Наноэдюкатор как в образовательных целях, так и в рутинных научных исследованиях. 120;Кубанский государственный университет;Сканирующий туннельный микроскоп Умка-02-U (ИНМФК);Предназначен для исследования неразрушающим методом свойств материалов и топографии поверхностей на атомарно-молекулярном уровне. При помощи СТМ Умка-02-U можно проводить исследования в воздушной атмосфере, как проводящих, так и , что отличает его от предшествующих моделей, слабопроводящих материалов (в т.ч. биологических объектов и их фрагментов размером не более 5-6 мкм), а также полупроводников. 121;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Сканирующий сверхвысоко-вакуумный зондовый микроскоп Multiprobe P (Omicron NanoTechnology);Предназначен для регистрации фононных спектров молекул, микроскоп с эмиссией баллистических электронов, силовой микроскоп с инверсной фотоэмиссией, акустический микроскоп ближнего поля. 122;Алтайский государственный университет;Стереомикроскоп Stemi 305 (Carl Zeiss);Предназначен для решения задач по наблюдению и документированию объектов при небольшом увеличении. 123;ООО Центр трансфера технологий;Универсальный промышленный микроскоп Eclipse LV100DA-U (Nikon);Предназначен для наблюдений по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации, ДИК, эпифлуоресценции и двухлучевой интерферометрии. Кроме того, возможно выполнять наблюдения по методу фазового контраста и ДИК при диаскопическом освещении. Подходит для различных передовых задач исследования, анализа и контроля. 124;Санкт-Петербургский государственный университет;Микроскоп поляризационный ПОЛАМ P-312 (ЛОМО);Предназначен для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете(обыкновенном и поляризованном), а также прозрачных объектов в проходящем свете при небольших увеличениях.В комплект прибора входит широкий набор принадлежностей. Микроскоп поляризационный имеет в своем составе тринокулярную насадку, штатив, круглый вращающийся предметный стол, комплект окуляров и объективов, осветитель проходящего света и опак-иллюминатор(осветитель отраженного света). Прибор не имеет револьверного устройства для объективов. Объектив закрепляется на штативе при помощи щипцеобразного устройства. 125;ООО Химико-аналитический центр Плазма;Исследовательский прямой биологический микроскоп BX51 (Olympus);Предназначен для исследования различными методами контрастирования, возможность установки большого количества объективов и дополнительных компонентов, моторизация 126;ООО Химико-аналитический центр Плазма;Стереомикроскоп SZX10 (Olympus);Универсальный стереомикроскоп исследовательской серии с модульной структурой. Благодаря новой оптике UIS2 обладает прекрасной цветопередачей, высокой четкостью изображений и высокой разрешающей способностью. 127;ФГБУН Институт физико-химических и биологических проблем почвоведения Российской академии наук;Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп TCS SP5 (Leica);Исследование морфологии и функционального состояния клеток и тканей животных и растений. Измерения распределения интенсивности флуоресценции в фокальной плоскости и по объему исследуемых образцов при разных длинах волн. Получения трехмерных изображений флуоресцентно меченых препаратов. Математической обработки изображений (фильтрация, деконволюция/конволюция, контрастирование и т.п.). 128;ФГБУН Институт физико-химических и биологических проблем почвоведения Российской академии наук;Конфокальный микроскоп TCS SPE (Leica);Микроскопические исследования флуоресцентно меченных и автофлуоресцентных растительных и животных клеток и тканей. Возможно использование микроскопа в качестве светлопольного или эпифлуоресцентного микроскопа с регистрацией изображений с помощью цветной цифровой камеры. Имеется возможность наблюдения образцов в поляризованном свете. Программное обеспечение позволяет производить 3D реконструкцию фиксированных образцов, а также исследование динамики изменения флуоресценции во времени. Наблюдение флуоресценции ограничено одновременной регистрацией только одного канала флуоресценции. Из-за ограничений микроскопа невозможно проведение экспериментов с использованием методов FRAP, FLIM, FRET. Нет возможности наблюдения образцов в режиме фазового контраста и DIC. 129;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Микроскоп инструментальный ММИ-2 (Асма-Прибор);Предназначен для линейных и угловых измерений. Позволяет измерять с помощью микрометрических винтовых пар и угломерной головки теневое изображение объекта измерения. С помощью микроскопа деталь проектируется на штриховую сетку лимба угломерной головки и затем измеряется непосредственно микрометрическими винтами и угловой головкой. Инструментальный микроскоп позволяет производить измерения в прямоугольной системе координат на площади 75х25мм и измерение углов от 0 до 360о. 130;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Атомно-силовой туннельный микроскоп Solver P47-PRO (НТ-МДТ);Предназначен для использования в нанотехнологических исследованиях в самых разных научных областях.Этот прибор обеспечивает получение изображений поверхности микро- и нано- объектов с пространственным разрешением вплоть до атомарного.При этом объект может находиться в условиях контролируемой температуры (в диапазоне 20-130°С), влажности (вплоть до полного погружения образца в жидкость) и, если это необходимо, в атмосфере газов заданного состава. Предварительно «нацелиться» на объект можно с помощью встроенной системы оптического видеонаблюдения.Интуитивно понятный и удобный интерфейс позволяет, кроме всего прочего, вносить направленные изменения в структуру поверхности образца с нанометровым пространственным разрешением, осуществляя нанолитографию и проводя прецизионные манипуляции с нано-объектами.Многоуровневая система пассивной виброзащиты и экранирование от акустических и электрических помех обеспечивают стабильную воспроизводимость и достоверность получаемых результатов.Исключительно простой и надежный в работе прибор, Solver P47-PRO прекрасно подходит для работ в области полупроводниковых материалов, для исследования тонких пленок, а также для получения изображений биологических и медицинских объектов. 131;Ростовский государственный университет путей сообщения;Инвертированный металлографический универсальный микроскоп с частичной моторизацией Axio Observer D1m (Carl Zeiss);Предназначен для изучения крупных и тяжелых деталей в металлографии. В соответствии с поставленными задачами, выбирайте из трех вариантов штативов Axio Observer (от ручного до полностью моторизованного), проводите ваши исследования легко переключаясь между всеми современными методами контрастирования: от светлого поля до метода ДИК и флуоресценции. Моторизованный штатив Axio Observer автоматически фокусируется и воспроизводит необходимые настройки микроскопа, настраивая освещение при смене объектива, что увеличивает производительность и исключает возможность ошибки, а TFT-дисплей позволяет удобно задавать и отслеживать необходимые параметры и управлять прибором. Axio Observer – это исследовательская платформа для автоматического сканирования и анализа, позволяющая решать самые сложные задачи, такие как анализ неметаллических включений в стали. 132;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Исследовательский инвертированный микроскоп Eclipse MA200 (Nikon) с программой анализа изображений Thixomet;Инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования. В модели МА200 используется интегрированная система искусственного интеллекта для автоматического комбинирования полученных изображений с данными о настройках наблюдения, что обеспечивает еще более всестороннее документирование. Кроме того, новый кубический дизайн штатива обеспечивает легкий доступ к образцу на столике и револьверу объективов, а также благодаря этому дизайну микроскоп теперь занимает в 3 раза меньше места чем традиционные модели. 133;Воронежский государственный университет;Биологический микроскоп Eclipse Ni-E/Ni-U (Nikon);Предназначен для получения многофотонных изображений (Ni-E) и изображений с фотоактивацией. Обеспечивает получение высококонтрастных флуоресцентных изображений с большими значениями Сигнал/Шум благодаря устранению рассеянного света светофильтров 134;ФГБУН Объединенный институт высоких температур Российской академии наук;Микроскоп тринокулярный флуоресцентный MC-3-TFS (Micros);"Предназначен для микроскопии биологических объектов. Оснащен тринокулярной оптической насадкой с широкопольными окулярами. Поставляется с четырьмя план полу-апохроматическими объективами 4х, 10х, S40х, S100х (масляная иммерсия), скорректированными на бесконечность; имеет двухступенчатую фокусировку рукоятками грубой и тонкой настройки. Эпи-флуоресцентный осветитель – ртутная лампа с модулем на 4 блока флуоресцентных фильтров. Конденсор микроскопа имеет слот для установки слайдеров темного поля и фазового контраста (приобретаются отдельно). Предусмотрена также возможность установки поляризатора и анализатора. Методы работы: флуоресценция, опционально – светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризация" 135;ФГБУН Объединенный институт высоких температур Российской академии наук;Стробируемая 4-х ступенчатая цифровая камера Наногейт-24/2 (Наноскан);Принцип работы электронно-оптического модуля в режиме однокадровой съемки быстропротекающего процесса основан на импульсном управлении (стробировании) электронно-оптического преобразователя ЭОП, синхронном считывании полученного импульсного изображения с его экрана ПЗС камерой и записи оцифрованного кадра в память компьютера в формате *tiff. Временные и энергетические параметры ЭОК устанавливаются дистанционно с компьютера. Всем процессом установки параметров ЭОК, процесса записи, и ввода данных об изображении в память компьютера осуществляется с помощью программного обеспечения НАНОГЕЙТ. 136;Нижегородский государственный педагогический университет им. Козьмы Минина;Микроскоп светодиодный люминесцентный БиоТех-330-Led2-Tr (BioTech);Предназначен для наблюдения объектов в свете люминесценции при освещении от монохроматического светодиода , а также в проходящем свете. 137;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Зондовая нанолаборатория Ntegra Prima (НТ-МДТ);Предназначена для решения наиболее типовых задач в области сканирующей зондовой микроскопии. Наноиндентация и измерения с помощью наносклерометрического модуля. 138;ООО Центр трансфера технологий;Бинокулярный стереомикроскоп Eclipse LV100POL (Nikon);Предназначен для проведения исследований в поляризованном свете. Микроскоп предназначен для исследовательских работ во многих областях, таких как: кристаллография, медицина, петрография, криминалистика, биология, химия и минералогия. 139;ЗАО ОКБ СПЕКТР;Металлографический инвертированный микроскоп МЕТАМ ЛВ (ЛОМО);Микроскоп применяется в металлографических лабораториях, научно-исследовательских институтах и предприятиях металлургической, микроэлектронной и машиностроительной про-мышленности. Микроскопы позволяют рассматривать изображение объекта на демонстрационном экране и производить его фотографирование. Особенностью микроскопа МЕТАМ ЛВ является применение новых безрефлексных план-апохроматических объективов сверхширокого поля без хроматической окраски по контуру и широкоугольных окуляров, что позволяет добиться высокой контрастности изображений исследуемых объектов. Микроскопы МЕТАМ ЛВ являются новым поколением инвертированных металлографических микроскопов, предназначенных для исследования и фотографирования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при косом и прямом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и по методу дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). 140;ЗАО ОКБ СПЕКТР;Металлографический инвертированный микроскоп МЕТАМ РВ (ЛОМО);Предназначен для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле, а также для исследования объектов в поляризованном свете и методом дифференциально-интерфереционного контраста (ДИК). 141;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Металлографический микроскоп ММР-3 (Биомед);Предназначен для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом поле, а также для исследования объектов в поляризованном свете. Обеспечивает исключительно яркое, четкое изображение с глубоким фокусом, отличной цветопередачей, и плоским полем зрения. 142;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 (НТ-МДТ);Исследование топографии, морфологии поверхности на атомарном уровне и объектов наноразмерного масштаба, применение для исследований и анализа на атомарном уровне комплексов адатомов, молекул, группировок атомов. Исследование физических, физико-химических свойств и химического состава локальных областей и объектов наномасштаба с использованием методов селективного взаимодействия зонда с поверхностью и методов селективных химических реакций. 143;Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет Российской академии наук;Комплекс сканирующей ближнепольной оптической спектроскопии Ntegra Spectra (НТ-МДТ);Комплекс обеспечивает интеграцию методов атомно-силовой и оптической, в т.ч. конфокальной, микроскопии/спектроскопии и обеспечивает проведение исследований, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на распределение его механических, электрических, магнитных и других свойств. Благодаря зондово-усиленному КР (TERS) позволяет проводить спектроскопию / микроскопию с разрешением до 10 нм. 144;Институт биоорганической химии им. акад. М.М. Шемякина и Ю.А. Овчинникова Российской академии наук;Микроскоп биологический для лабораторных исследований SteREO Discovery.V12;Наблюдение и изучение живых клеток, гистологических препаратов, жидких и полужидких сред 145;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Растровый электронный микроскоп JSM-6490 LV (Jeol);"Предназначен для исследования микроструктуры различных материалов неорганического происхождения; топографический и качественный фазовый анализ поверхности; возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм)." 146;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Уникальный сверхвысоковакуумный комплекс Multiprobe S (Omicron Nanotechnology);Предназначен для исследования морфологии, атомной структуры и химического состава поверхности твердых тел и контроля процесса роста эпитаксиальных слоев в технологической камере комплекса 147;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Сканирующий зондовый микроскоп НАНОЭДЮКАТОР II (НТ-МДТ);Атомный силовой микроскоп (АСМ), который сочетает в себе простоту, низкую стоимость эксплуатации и высокое пространственное разрешение при исследовании рельефа объектов и определении их физико-химических свойств. Это сочетание позволяет использовать Наноэдюкатор как в образовательных целях, так и в рутинных научных исследованиях. 148;ООО Совтест АТЕ;Микроскоп для промышленных измерений и анализа изображений MM400/800 (Nikon);Предназначен для промышленных измерений и анализа изображений. Они интегрируют важнейшие функции и дают полный цифровой контроль за максимальной точностью измерений для самых сложных промышленных задач. 149;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Просвечивающий электронный микроскоп BS-500 (Tesla);Предназначен для исследования ультраструктуры биологических объектов, а также кристаллографического анализа макромолекул. 150;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Атомно-силовой микроскоп (зондовая нанолаборатория) INTEGRA-AURA (НТ-МДТ);Предназначен для осуществления с помощью методов высокоточных АСМ, ЭСМ и МСМ измерений, а также измерений адгезионных сил в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума. Вакуум, обеспечивающий десятикратное увеличение добротности колебаний кантилевера, достигается уже через 1 минуту после начала работы. 151;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Микроскоп исследовательский DM IRM (Leica);Предназначен для измерения расстояний, размеров гранул и других деталей структуры, наблюдаемых на изображении при анализе микроструктуры металлов и других материалов. 152;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Therma (НТ-МДТ);Предназначен для получения изображения поверхности и ее локальных характеристик. Возможность нагревания образца до 150 oС, 200 oС или 300 oС (в зависимости от конфигурации) позволяет исследовать, например, такие структурные изменения на поверхности образца как кристаллизацию, плавление, процессы роста. 153;ООО Научно-промышленная компания ЛУЧ;Установка магнитопорошковая стационарная МДС-09 (НПК ЛУЧ);Предназначена для контроля деталей и изделий из ферромагнитных сплавов магнитопорошковым методом по ГОСТ 21105-87. 154;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Сканирующий электронный микроскоп EVO-MA-10 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения фундаментальных и рутинных исследований в области общего материаловедения, оптических материалов, полупроводниковых исследований, исследований непроводящих и/или слабо проводящих образцов (керамики, полимеры, покрытия, искусственные материалы и метаматериалы) с пространственным разрешением в нанодиапазоне и с возможностью модификации поверхности образцов, покрытых электронно-чувствительными материалами с помощью электронного пучка. 155;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Исследовательский оптический микроскоп для металлографии и материаловедения Axio Imager Z2m (Carl Zeiss);Моторизованная версия с усовершенствованным Z-приводом, которая подразумевает автоматическое управление координатным столиком, приводом автофокусировки, револьверными головками для установки объективов и рефлекторов, управление проходящим и отраженным светом и затворами. Через бинокулярные фото-тубусы при использовании соответствующих адаптеров можно подключать камеру для микроскопа: зеркальную фотокамеру или цифровую видеокамеру 156;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Сканирующий атомно-силовой микроскоп Solver P47 PRO (НТ-МДТ);Предназначен для исследований поверхностей голограммных (ГОЭ), дифракционных элементов (ДОЭ) и киноформных оптических элементов (КОЭ). Разрешение - 5 нм. Атомно-силовой микроскоп представляет собой систему образец игла. На малых расстояниях между двумя атомами, один на подложке, другой на острие, при расстоянии около одного ангстрема действуют силы отталкивания, а на больших - силы притяжения. Величина этого усилия экспоненциально зависит от расстояния образец-игла. Отклонения зонда при действии близко расположенных атомов регистрируются при помощи измерителя наноперемещений, в частности, используют оптические, ёмкостные или туннельные сенсоры. Добавив к этой системе устройство развёртки по осям X и Y, получают сканирующий АСМ. 157;Дальневосточный федеральный университет;Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп с системой электронной литографии Supra 50VP (Carl Zeiss);"Позволяет выполнять многоплановые исследования по созданию и диагностике наноструктур с применением методов сканирующей электронной микроскопии и электронной литографии. Микроскоп оснащен комплектом аналитических модулей (детекторов и программное обеспечение), с помощью которых можно получать разнообразную качественную и количественную информацию об исследуемых объектах: получение изображений объектов без предварительной подготовки (в том числе и непроводящих - возможность использования режимов низкого вакуума (VP) и их комбинаций с работой на низких ускоряющих) во вторичных и отраженных электронах с пространственным разрешением до 1,5 нм; морфометрический анализ субмикронных и нанометровых неоднородностей и частиц; микроанализ элементного состава объектов, включая измерение толщины и состава тонких пленок, с использованием энергодисперсионного рентгеновского спектрометра; сверхстабильный ток пучка — 0,2% в час / до 20 нА, обеспечивает высочайшее качество результатов рентгеновского и дифракционного анализов;анализ спиновой поляризации вторичных электронов и получение изображений поверхности материалов с магнитным контрастом; диагностика полупроводниковых структур с применением методов катодолюминесцентных измерений и т. п." 158;Дальневосточный федеральный университет;Атомно-силовой микроскоп SOLVER-PRO (НТ-МДТ);Предназначен для измерения сверхбольших образцов (до 100 мм). Может использоваться для модифицирования поверхностей, манипуляции частицами до 50 нм в диаметре и литографии высокого разрешения (10 нм). 159;Владимирский государственный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Аура (НТ-МДТ);Предназначен для работы в условиях контролируемойатмосферы, низкого вакуума, внешних магнитных полей 160;ООО Системы для микроскопии и анализа;Микроскоп неразрушающей микротомографии VersaXRM-500 Xradia (ZEISS);Предназначена для 3D рентгеновской микроскопии, оптимизированных для проведения неразрушающей микротомографии. 161;ООО Системы для микроскопии и анализа;Система компьютерной томографии сверхвысокого разрешения UltraXRM-L200 Xradia (ZEISS);Предназначена для компьютерной томографии сверхвысокого разрешения, используемой в лабораторных условиях для получения трехмерных изображений образцов микроскопических размеров. Рентгеновская фокусирующая оптика с большой точностью дает разрешение около 50 нм, легко расширяя возможности рентгеновской томографии за пределы возможностей обычных сканеров. Метод фазового контраста Цернике позволяет улучшить изображение, получаемое от края образца или границы раздела поверхностей с маленьким контрастом поглощающей способности. 162;ООО Системы для микроскопии и анализа;Ионный просвечивающий микроскоп V400ACE (FEI);Предназначен для обеспечения быстрого, эффективного, экономичного редактирования передовых интегральных схем. Редактирование схем позволяет производителям продуктов развести проводящие цепи и протестировать измененные схемы в течение считанных часов, а не недель или месяцев, которые потребуются для создания новых масок и обработки новых пластин. 163;ООО Системы для микроскопии и анализа;Электронный просвечивающий микроскоп VION PLASMA FOCUSED ION BEAM (FEI);Является инструментом, способным проводить очень точную резку и травление с высокой скоростью. Он обладает возможностью избирательно травить нужные области образца. Кроме того, микроскоп может выборочно наносить структуры проводников и изоляторов. Совместно используя высокоскоростное травление и точный контроль, система может использоваться для изготовления интегральных схем в различных областях, например, для анализа повреждений при столкновениях, разрывах проводов связи, для анализа дефектов в плотноупакованных структурах MEMS-устройств. 164;ООО Системы для микроскопии и анализа;Система для автоматизированного высокоскоростного минералогического анализа MLA 650 (FEI);Предназначена для автоматизированного высокоскоростного минералогического анализа. С технологической точки зрения MLA представляет собой растровый электронный микроскоп с несколькими (от 2 до 4) высокоскоростными энергодисперсионными детекторами (EDS). 165;Научно-исследовательский институт Строительных материалов и технологий;Растровый электронный микроскоп Quanta 200 (FEI);Предназначен для проведения исследований в любых областях материаловедения, в области нано- и биотехнологий. Позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат, с большим числом элементов разложения (пикселей). Прибор предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. Микроскоп оснащен рентгеновским спектрометром для проведения элементного микроанализа (EDAX). 166;ООО Совтест АТЕ;Инвертированный металлографический микроскоп Eclipse MA200 (Nikon);Предназначен для автоматического комбинирования полученных изображений с данными о настройках наблюдения, что обеспечивает еще более всестороннее документирование. Кроме того, новый кубический дизайн штатива обеспечивает легкий доступ к образцу на столике и револьверу объективов, а также благодаря этому дизайну инвертированный металлографический микроскоп теперь занимает в 3 раза меньше места чем традиционные модели. 167;ООО Совтест АТЕ;Микроскоп для контроля качества пластин L300 (Nikon);Предназначен для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов. Обеспечивает высокое разрешение, контраст и коэффициент пропускания. Яркость изображений была значительно улучшена по сравнению с традиционными микроскопами, благодаря чему данная серия подходит для различных задач контроля качества. 168;Научно-исследовательский институт Строительных материалов и технологий;Оптический микроскоп BX51M (Olympus);Микроскопия в темном и светлом поле. Коноскопическая и ортоскопическая проекция. Изучение микроструктуры объектов. Светофильтры для коррекции гаммы и яркости, монохроматизации, независимые поляризаторы. Микроскоп оснащен камерой, позволяющей получать высококачественные микроснимки исследуемых объектов. 169;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп SU8220 (Hitachi);Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне. Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии. 170;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Металлографический микроскоп MeF3 (Reichert-Jung Optische Werke);Предназначен для проведения металлографических исследований поверхности образцов, определение наличия фаз, размеров объектов наблюдения. Технические данные: источник излучения ртутная лампа HBO200w/4, увеличение от 20х до 2500х, подвижный столик, микрометрическая линейка, наблюдение в отраженном светлом и поляризованном поле. Принцип метода исследования, на котором основана работа оборудования. Визуальное наблюдение и при подключении видеокамеры цифровая обработка фотографий с помощью компьютера. 171;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Микроскоп поляризационный ПОЛАМ Л-213 (ЛОМО);Используется для исследований прозрачных объектов в проходящем свете – обыкновенном и поляризованном. Является лабораторным микроскопом для наблюдения, фотографирования и видеопроекции объектов в поляризованном свете, а также исследований по методам “фокального экранирования” и фазового контраста. 172;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп DIGITAL ECLIPSE C1 plus (Nikon);Сверхкомпактный и легкий модульный конфокальный микроскоп, с возможностью получения высококачественных цифровых изображений. Усовершенствованная оптика сканирующей головки C1 Plus, расширяет возможности микроскопии до 400 нм, а двухосевой сканер обеспечивает более быструю обработку изображений. Система включает в себя также устройство вращения по осям сканирования Х и Y и новые лазерные модули, обеспечивающие улучшенную регулировку интенсивности лазерного излучения. 173;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Измерительный микроскоп MF-1710 (Mitutoyo);Предназначен для рутинных микроскопических исследований биологического материала в лабораторных условиях 174;Мурманский государственный технический университет;Люминесцентный микроскоп МИКМЕД-2 (ЛОМО);Предназначен для исследований препаратов в проходящем свете в светлом поле, а в дополнительной комплектации по методу фазового контраста, косого освещения и темного поля. Используется в биохимических, паталогоанатомических, цитологических, гематологических, урологических, дерматологических, биологических и общеклинических лабораториях любого медицинского учреждения. 175;Всероссийский научно-исследовательский институт животноводства имени академика Л.К. Эрнста;Микроскоп с флюоресцентным модулем Eclipse 50i (Nikon);Анализ гистологических препаратов. Обеспечивает не только оптимальное функционирование оптических узлов микроскопа, но и дает пользователю большую свободу при выборе дополнительных аксессуаров для решения широкого круга исследовательских задач. Сочетает в себе конструкторские и эргономические решения, позволяющие практически полностью исключить усталость лаборанта даже при длительной работе. 176;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Установка для осаждения нанокристаллов и нанотрубок EasyTube™ 2000 System (First Nano);Предназначена для осаждения из газовой фазы нитевидных нанокристаллов и нанотрубок. Сконструирована в соответствии с современными жесткими стандартами по безопасности. Некоторые стандартные средства безопасности включают уменьшенные количества выбросов отработанных газов, уменьшенное потребление охлаждающей воды, обнаружение утечек пожароопасных газов, очистку линии выброса газов и другие. Средства предупреждения отображаются на мониторе с звуковым сигналом, Данные по сигналам предупреждения сохраняются и могут быть считаны дистанционно. 177;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Растровый электронный микроскоп VEGA II (TESCAN) с системой микроанализа INCA Energy 350;Предназначен для анализа химического состава и концентрации химических элементов в твердых веществах, сыпучих материалах, порошках, жидкостях, образцах, осажденных на пленках и фильтровальной бумаге. Существует возможность получения карт диффузии. 178;Мурманский государственный технический университет;Микроскоп бинокулярный Биомед 4;Предназначен для исследования окрашенных и неокрашенных объектов в стандартных лабораториях, СЭС, в экологии, ветеринарии и биологии. Биомед 4 работает в светлом поле, темном поле* и по методу фазового контраста*. Осветительная система по Келлеру. Может комплектоваться светодиодным или галогенным осветителем, автономным источником питания. Прежде чем купить микроскоп, ознакомьтесь с вариантами комплектации модели оптического микроскопа. 179;Дальневосточный федеральный университет;Моторизированный микроскоп Axio Imager.Z2 с флуоресценцией (Carl Zeiss);"Универсальный исследовательский микроскоп для проведения научно-исследовательских работ в лабораториях различной направленности: генетика и цитогенетика (кариотипирование, FISH, MFISH); экспериментальная биология; патология и анатомия (окрашенные срезы, люминесценция); клеточная биология; нейробиология." 180;Дальневосточный федеральный университет;Автоматизированная аналитическая система для характеризации частиц (форма и размер) G3 S E- ID (Morphologi);Высокочувствительная система анализа размера и формы частиц через обработку микроскопических изображений Morphologi G3 обеспечивает получение высококачественной и статистически значимой информации о размере и форме частиц. 181;Удмуртский государственный университет;Просвечивающий электронный микроскоп ЭМ-125 К;Исследование микроструктуры и фазового состава, наблюдение и фотографирование изображений в диапазоне 100 – 800000 крат 182;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Аналитический просвечивающий электронный микроскоп Libra 200MC (Carl Zeiss) с комплектом оборудования для пробоподготовки;Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения объединяет в себе встроенный в колонну энергетический ОМЕГА-фильтр, высокоэффективный автоэмиссионный эмиттер и систему освещения образца по Кёлеру. Использование ОМЕГА-фильтра позволяет проводить спектральный анализ для определения химического состава вещества при исследованиях полупроводников, материаловедческом анализе и исследованиях в других областях, а также обеспечивает интегральную фильтрацию изображения. 183;Удмуртский государственный университет;Сканирующий электронный микроскоп S50 EDAX PRIME EDS (FEI INSPECT) с термоэмиссионным источником электронов и системой элементного анализа;"Исследование структуры поверхности любых твердотельных объектов: металлы, неметаллы, биообъекты и др.; поэлементный химический анализ от Be до U, распределение по поверхности образца. Получение изображения поверхности исследуемого материала с разрешением до 3 нм." 184;Рязанский государственный радиотехнический университет;Энергодисперсионная приставка-микроанализатор INCA X-MAX (Oxford Instruments);Позволяет проводить микроанализ, строить профили состава и карты распределения элементов. Качественный и количественный анализ (с точностью до 0.1 %) в точке, вдоль линии, картирование (от B до U). 185;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Сверхвысоковакуумный аналитико-технологический комплекс на базе платформы НАНОФАБ 100 (НТ-МДТ);Спектр возможностей НАНОФАБ 100 простирается от проведения фундаментальных исследований до отработки отдельных технологических приемов и моделирования наноэлектронных устройств. Применяемые компоновочные схемы, система управления и развитая транспортная система НТК НАНОФАБ 100 позволяют применять их также и для мелкосерийного производства наноструктур и наноустройств. 186;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;ИК-Фурье-микроскоп HYPERION 1000 (Bruker);Позволяет просто и эффективно провести высококачественный микроанализ с помощью множества самых современных устройств, специальных объективов и средств изображения химического состава. Модульная конструкция дает возможность адаптировать HYPERION к требованиям поставленной задачи. Область таких задач самая широкая: материаловедение, исследование полимеров, общая химия, криминалистика, исследование произведений искусства, биология и минералогия. 187;Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ) им. В.И. Ульянова (Ленина);Малогабаритный растровый электронный микроскоп Phenom (FEI);Позволяет получать изображение в оптическом режиме (увеличение 20х) и электронно-оптическом режиме (увеличение 250-20000х). Разрешение микроскопа составляет 20 нм. Исследуемые образцы не должна превышать 25 мм в диаметре и 30 мм по высоте. Время загрузки образца для выхода в электронно-оптический режим составляет 30 секунд. В микроскопе используется источник электронов на кристалле CeB6 с ускоряющим напряжением 5 кВ. Полученные изображения могут быть сохранены в форматах JPEG, TIFF и BMP, разрешение изображения: 456?, 684?, 1024?, 2048? пиксел. 188;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Электронный сканирующий микроскоп JCM-5700 (Jeol) с энергодисперсионной приставкой;Предназначен для визуализации микро- и нано-рельефа поверхности образца с увеличениями в диапазоне от x8 до x300000 крат, так и в части проведения элементного анализа с помощью без азотного рентгеновского энергодисперсионного спектрометра (диапазон анализируемых элементов от Be до U). 189;ООО СОЛ инструментс РУС;Сканирующий 3D лазерный Рамановский микроскоп Confotec™ MR350 (SOL);Предназначен для проведения микроспектральных измерений с возможностями на уровне систем high-end класса. Спектральные измерения обеспечиваются высокоэффективным автоматизированным Imaging монохроматором-спектрографом с фокусным расстоянием 350, 520 или 750 мм. 190;ООО СОЛ инструментс РУС;Сканирующий 3D лазерный Рамановский микроскоп Confotec™ NR500 (SOL);Обеспечивает многофункциональный анализ: Рамановские измерения, люминесцентные измерения, измерения лазерного отражения и пропускания, трехмерные (3D) высококонтрастные изображения в отраженном свете, трехмерные (3D) Рамановские конфокальные измерения, информация о спектральных и поляризационных свойствах исследуемых образцов 191;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Сканирующий ионный микроскоп Strata FIB 205 System (FEI);Предназначен для получения изображения во вторичных ионах и электронах в диапазоне увеличений Х 250-350000. Возможность готовить ультратонкие пробы (толщиной до 50 нм) для просвечивающего электронного микроскопа на локальных участках образца. Гарантированный минимальный размер канавки травления 100нм, минимально достигаемый – 10 нм2. 192;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D Stand Аlone (Asylum Research);"Позволяет решать задачи в области физики, химии, материаловедения, исследования полимеров, нанолитографии, биологии и количественного анализа поверхности на наномасштабе. Область сканирования: 90 мкм (в режиме замкнутой обратной связи);Размер образцов: до 8,6х3,8 см, что позволяет использовать стандартные предметные и покровные стекла; Уровень шума: не более 0,5 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 кГц)" 193;ФГБУН Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук;Настольный сканирующий микроскоп TM-3000 (Hitachi);Предназначен для исследования практически любых образцов без предварительной пробоподготовки. Удобный графический пользовательский интерфейс и невероятная простота в обслуживании действительно делают этот прибор надежным помощником в обучении и в решении аналитических задач в лабораторных и полевых условиях. Микроскоп может оснащаться приставкой рентгеновского микроанализа, позволяющей получать информацию о химическом составе исследуемого объекта. 194;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Микроскоп лабораторный стереоскопический Axio Lab A1 (Carl Zeiss);Предназначен для исследования диатомовых водорослей, бентосных животных в научных и учебных целях 195;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Автоэмиссионный растровый микроскоп Ultra-55 (Carl Zeiss);Исследование морфологии и размеров частиц, микроскопия поверхностей изломов, исследование структуры, оценка величин структурных параметров металлических и керамических образцов. 196;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Сканирующий зондовый микроскоп Нано-Скан (ТИСНУМ);Сканирование поверхности металлических образцов с помощью сканирующей зондовой и туннельной микроскопии 197;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom (FEI);Комплекс для изучения поверхности и химического состава веществ при разрешающей способности не хуже 20 нм 198;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Нанотехнологический микроскоп УМКА-02(Наноиндустрия);Исследование поверхности материалов в контактном динамическом режиме с возможностями идентировния/склерометрии, измерения модуля Юнга 199;ООО Совтест АТЕ;Прямой промышленный микроскоп LV150 (Nikon);Обеспечивает превосходную производительность при контроле качества полупроводников, плоских панелей, корпусов электронных/оптических устройств, электронных подложек, материалов, медицинских приборов и множества других образцов. 200;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Микроскоп металлографический МЕТАМ ЛВ-31 (ЛОМО);Предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, а также по методу дифференциально-интерференционного контраста. Комплект оптики микроскопа обеспечивает получение стандартных увеличение при визуальном наблюдении и фотографировании объекта на листовую и рулонную фотопленку. 201;ООО Совтест АТЕ;Микроскоп для контроля качества пластин L200 (Nikon);Обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения. Обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек. 202;ООО Совтест АТЕ;Стереомикроскоп SMZ1270i (Nikon);Обеспечивает возможность получать очень четкие и яркие изображения с пониженными хроматическими аберрациями во всем диапазоне увеличений. В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и интеллектуальным держателем объективов P-RN2 получение изображений с стереомикроскопа SMZ1270i стало еще более эффективным - информация об увеличении объектива и о диапазоне трансфокации теперь отображается прямо на мониторе. 203;ООО Совтест АТЕ;Настольный растровый электронный микроскоп JCM-6000 NeoScope (Nikon);Предназначен для выполнения элементного анализа. В стандартной комплектации микроскоп оснащен детекторами вторичных и отраженных электронов и способен работать в режимах высокого и низкого вакуума. 204;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Сканирующий фотоседиментограф СФ-2 (Промснабкомплект);Предназначен для гранулометрического анализа порошков в диапазоне крупности частиц от 2 до 100 мкм. Фотоседиментационный анализ гранулометрического состава порошков основан на фотометрическом определении степени рассеяния света, при пропускании его через суспензию. Сканирование кюветы с суспензией происходит восемью датчиками, расположенными на различной высоте, что позволяет повысить точность измерения и сократить время анализа. В качестве излучателя используется светодиод, работающий в инфракрасном диапазоне длин волн. Это обеспечивает помехоустойчивость в видимом спектре и высокую точность измерения. Техническая характеристика Диапазон измерений (мкм) от 2 до 100 Среднее время анализа (мин) 3-20 Воспроизводимость анализа не хуже (%) 2 Число датчиков (шт) 8 Напряжение питания прибора (В) 220 10% Время прогрева прибора (мин) 10 Габариты (мм) 400x150x500 Вес (кг) 10 Подключение прибора к компьютеру осуществляется через последовательный интерфейс RS-232C. 205;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Инвертированный металлографический микроскоп Axio Observer A1m (Carl Zeiss);Позволяет проводить исследования в отраженном свете по методам светлого поля, темного поля и поляризации. Ахроматическая безрефлексная оптика в сочетании с большим полем зрения (23 мм) дает возможность получение четкого изображение наблюдаемого объекта при увеличениях от 50 до 1000x.Прибор укомплектован программой для автоматического анализа изображений материалов Структура 5.0, позволяющей определять размеры, форму, положения зерен, пор, включений, фаз и т.п., а также решать ряд других задач, представляющих интерес для современного материаловедения. 206;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Сканирующий зондовый микроскоп с конфокальной микроскопией Интегра Спектра (НТ-МДТ);Уникальная интеграция Сканирующего Зондового Микроскопа с конфокальной микроскопией/спектроскопией люминесценции и комбинационного рассеяния (КР). Благодаря эффекту гигантского усиления КР позволяет проводить КР спектроскопию и получать изображения с разрешением в плоскости до 50 нм. Одновременно с оптическим наблюдением, Интегра Спектра позволяет исследовать объект с помощью арсенала методов сканирующей зондовой микроскопии - АСМ, МСМ, СТМ, сканирующей ближнепольной микроскопии, силовой спектроскопии. 207;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Терма (НТ-МДТ);Позволяет на сверхмалых полях (<100нм) проводить прецизионные манипуляции и осуществлять долговременные измерения единичных нанообъектов. Обеспечивает уникально высокую стабильность при измерениях в условиях меняющейся температуры.Наличие Макроязыка Nova PowerScript для автоматизированного управления комплексом позволяет проводить уникальные эксперименты. 208;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Система контроля качества фотолитографии BX-51 (Olympus);Предназначена для оптической микроскопии объектов, критичных к загрязнениям в условиях чистого производственного помещения 209;Рязанский государственный радиотехнический университет;Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100-F (JEOL);Предназначен для получения изображения исследуемого объекта используется отдельный дифрагированный или прошедший пучок, и контраст изображения обусловлен изменениями интенсивности пучка вследствие локальных искажений кристаллической решетки (деформационных полей), разориентации отдельных блоков, различия в элементном составе. Пространственное разрешение в дифракционном режиме ограничено размером апертуры, отсекающей неиспользуемые пучки, и составляет 0.3 : 0.5 нм. Посредством перемещения плоскости регистрации в фокальную плоскость объективной линзы в дополнение к изображению исследуемого объекта регистрируется картина электронной дифракции с заданного участка. 210;Рязанский государственный радиотехнический университет;Растровый электронный аналитический микроскоп JSM 7001F (JEOL);Предназначен для работы с наноразмерными структурами и необходимостью элементного анализа малых областей образца. Самая маленькая апертура дает ток зонда, достаточный для ЭДС анализа и получения картин дифракции отраженных электронов, также и при работе на высоких увеличениях. 211;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Атомно-силовой микроскоп Solver NexT (НТ-МДТ);Позволяет исследовать топографию поверхности различных образцов с высоким разрешением менее 1 нм. Оснащен приставкой для наноиндентирования, позволяющей исследовать локальные механические, прочностные свойства образцов в различных точках с различными динамическими нагрузками, локально измерять твердость и модуль упругости, а так же, получать карты распределения модуля упругости и вязкости. 212;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Лазерный фазовый интерференционный микроскоп МИМ-2.1 (Амфора);Представляет собой лазерный фазовый интерференционный микроскоп дальнего поля с различными режимами модуляции для комплексного изучения микрообъектов. Он предназначен для измерения трехмерного микрорельефа поверхности с субмикронным разрешением и определения оптической плотности прозрачных микроструктур.Принцип действия прибора основан на интерферометрии с использованием поляризационного анализа. Для визуализации объектов используется специальная обработка интерферограмм, получаемых в результате освещения объекта лазерным светом. 213;ФГБУН Физико-технический институт имени А.Ф. Иоффе Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп JSM-7001F (JEOL);Предназначен для растровой электронной микроскопии высокого разрешения. Микроструктурный анализ: текстурный анализ, построение карт ориентировки кристаллитов, дискриминация фаз и построение карт распределения кристаллических фаз, определение размера и формы зерен, определение типа границ, построение полюсных фигур. 214;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт черной металлургии им. И.П. Бардина;Растровый электронный микроскоп JSM T-300 (Jeol) с приставкой для качественного микроанализа LINK-SISTEM-760;Предназначен для проведения металловедческих и прямых фрактографических исследований с поверхности излома, качественного микроанализа включений и распределения элементов по полю 215;ФГБУН Институт биохимии и физиологии растений и микроорганизмов Российской академии наук;Флуоресцентный микроскоп DMLB (Leica Mirosystems);Исследования в области цитологии, гематологии в режимах просвечивающего освещения, фазового и дифференциально-интерференционного контраста, темного поля, флуоресценции. 216;ФГБУН Институт химии твердого тела и механохимии Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп сканирующий электронный ТМ1000 (Hitachi);Предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твёрдых образцов. Микроскоп укомплектован детектором TM1000 EDS, предназначенным для определения химического состава образца. Химический состав определяется путем измерения энергии рентгеновского излучения, возникающего при взаимодействии электронного пучка с поверхностью образца. Программное обеспечение спектрометра позволяет идентифицировать пики и предоставить качественную информацию о составе образца, а учет процессов поглощения дает возможность получения количественной информации 217;АНО Институт медико-биологических исследований и технологий;Микроскоп металлографический МЕТАМ ЛВ-31 (ЛОМО);Предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, а также по методу дифференциально-интерференционного контраста. Комплект оптики микроскопа обеспечивает получение стандартных увеличение при визуальном наблюдении и фотографировании объекта на листовую и рулонную фотопленку. Шкалы и сетки, входящие в комплект микроскопа, обеспечивают возможность количественной оценки микроструктуры объекта по балльным шкалам. Микроскоп обеспечивает возможность вывода изображения объекта на телеэкран. 218;АНО Институт медико-биологических исследований и технологий;Нанолаборатория ИНТЕГРА Прима (НТ-МДТ);Предназначена для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических и химических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования. 219;ОАО РНИИ Электронстандарт;Растровый электронный микроскоп Tescan VEGA II LMU (Oxford Instruments Analytical);Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп с классическим вольфрамовым термокатодом и предметной камерой LM (максимальная высота образца 81 мм), предназначенный как для исследований в высоком вакууме, так и для низковакуумных операций (комплектация UniVac). Отличительными особенностями данного микроскопа являются: прекрасные оптические свойства, возможность захвата изображения и вывод немерцающего цифрового изображения высокого разрешения, современный дружественный интерфейс программного обеспечения для управления микроскопом, работающего в среде WindowsTM, а также большой выбор форматов для сохранения изображений, система архивирования данных, обработки и удобного просмотра изображений, проведение геометрических измерений на полученной картинке, автоматическая система настройки параметров микроскопа и множество других автоматизированных процедур. 220;ОАО Саранский приборостроительный завод;Металлографический микроскоп Axio Scope.A1MAT (Carl Zeiss);"Позволяет решать следующие задачи: проводить контроль микроструктуры после термообработки трубок-заготовок, заготовок мембран, сильфонов, деталей приборов и узлов; проводить входной контроль металлов, сварных швов, дефектов деталей и инструмента; программное обеспечение позволяет проводить расчет показателей, есть возможность вывода результатов измерений на печать с фотографией микроструктуры." 221;ФГУП НИИ НПО ЛУЧ;Оптический металлографический микроскоп GX-71 (Olympus);"Предназначен для получения в отражённом свете: светлопольных и темнопольных изображений; изображений дифференциального интерференционного контраста (DIC); изображений в поляризованном свете." 222;ФГУП НИИ НПО ЛУЧ;Электронный сканирующий микроскоп JSM-6460 (Jeol);Позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т.д. Каждый из приборов серии может оснащаться различными аналитическими приставками для определения химического состава (спектрометры с энергетической и волновой дисперсией), катодолюминесценции, кристаллической структуры и др. 223;ФГБУН Институт органической химии имени Н. Д. Зелинского РАН;Микроскоп электронный сканирующий SU-8000 (Hitachi);Сканирующая (растровая) электронная микроскопия с холодным катодом в режиме полевой эмиссии FE-SEM и разрешением 1 нм 224;ФГБУН Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур Российской академии наук;Зондовая установка PM-5 с оптическим микроскопом Mitutoyo (SUSS MicroTec);Исследование электро- оптических характеристик чипов светодиодов, ближнее поле электролюминисценции 225;ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова Сибирского отделения Российской академии наук;Универсальный поляризационный микроскоп BX51 (Olympus);Предназначен для изучения свойства включений размером от 3-5 мкм в диапазоне температур до 1500°С 226;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Лазерный комплекс Multi Mode 8 (Bruker) для компарирования размеров в микрометровом и нанометровом диапазонах;Лазерный комплекс предназначен для исследования и детального анализа структурно-морфологических свойств поверхности твердых тел различными зондовыми сканирующими методами в микро- и наномасштабе. 227;Ботанический институт им. В.Л. Комарова Российской академии наук;Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM 780 (Carl Zeiss);"Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп последнего поколения LSM 780 (Carl Zeiss, Германия) базируется на прямом исследовательском микроскопе Axio Imager Z2. Лазерный блок с мощной системой активного охлаждения включает: диодный лазер 405 нм (30 мВ); аргоновый мультилинейный (458 нм, 488 нм и 514 нм) лазер (25 мВ); DPSS твердотельный лазер 561 нМ с диодной накачкой (20 мВ); He-Ne лазер 594 нМ; He-Ne лазер 633 нМ (5 мВ). В системе детекции LSM 780 отраженный сигнал в фиолетовой части спектра анализируется стандартными фотоумножителями, в зеленой – GaAsP детекторами, и в красной – охлаждаемыми фотоумножителями. 32 канальные детекторы GaAsP с высочайшей чувствительностью к фотонам. Таким образом, реализуется сбор сигнала с максимальной чувствительностью и практически без потерь. Сканирующий блок имеет возможность одновременного сканирования на 34 спектральных каналах, что позволяет получать больше информации при меньшем фото-облучении объекта. Спектральное разрешение сканирования – 3 нм. Сканирование объектов (xyz?) с последующей реконструкцией трехмерных изображений; прижизненные исследования живых объектов в режиме реального времени (xyzt) с последующей реконструкцией трех- и четырехмерных изображений; компьютерные методы деконволюции, обработка и анализ конфокальных изображений со статистической оценкой результатов 3-D анализа; современные методы фотоманипуляции, FRET, FRAP, подсчет фотонов и др." 228;Омский государственный технический университет;Растровый электронный микроскоп JCM-5700 (JEOL);Предназначен для исследований с применением растровой микроскопии, рентгенодисперсионного анализа 229;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Микроскоп сканирующий электронный ТМ1000 (Hitachi);Предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твёрдых образцов. Компактный, настольный микроскоп, чрезвычайно простой в эксплуатации, не требующий трудоемкой подготовки образца и сложной настройки условий наблюдения. Микроскоп укомплектован детектором TM1000 EDS, предназначенным для определения химического состава образца. 230;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Микроскоп инфракрасный широкодиапазонный МИКРАН-2 (Люмекс);Предназначен для регистрации спектров образцов с размерами от 20 микрон, в том числе, неоднородных по составу. Измерительный комплекс, состоящий из фурье-спектрометра с ИК микроскопом, позволяет проводить высокоточные спектральные исследования полимерных частиц и волокон, имеющих неоднородную структуру, фрагментов многослойных лакокрасочных покрытий, порошкообразных смесей, фрагментов надписей на бумаге, других микрообъектов сложного состава. 231;ФГБУН Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук;Зондовый микроскоп Multiprobe LT UHV STM (Omicron);В состав установки входят АСМ и СТМ, обеспечивающие атомарное пространственное разрешение. Установка оснащена камерой предварительной подготовки и напыления образцов, ионной пушкой, гелиевой продувкой и нагревателями для поддержания температуры образца в интервале 30-1000К. 232;ФГБУН Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук;Система управления Elphy Plus (Raith) к электронному микроскопу Zeiss 1540 Elphy Pl;Электронно-литографическая приставка высокого класса для растрового электронно-лучевого микроскопа, оборудованного термоавтоэмиссионным катодом, либо для ионно-лучевого микроскопа, или рабочей станции FIB-SEM. 233;Казанский государственный медицинский университет;Микроскоп медицинский прямой флуоресцентный BX63F (Olympus);"Методы исследования: светлое поле, фазовый контраст, темное поле, дифференциально-интерференционный контраст (DIC), простая поляризация, флуоресценцияРабочие параметры: UIS2 оптика на бесконечность; Фокусировка: моторизованный фокус управляется с помощью уникальной сенсорной панели. Полный ход фокусировки 20 мм, разрешение 0,01 мкм, максимальная скорость 5 мм/с; Предметный столик моторизованный (XY) для BX63. Диапазон перемещения 76 мм х 52 мм, разрешение 0,2 мкм, воспроизводимость 0,5 мкм, максимальная скорость 30 мм/с. В комплекте с держателем для двух препаратов, блоком управления и XY контроллером; Широкопольные окуляры 10х/22 мм, 10х/26 мм; Револьвер объективов: 7-позиционный моторизованный револьвер объективов с портом для анализатора или ДИК слайдера; Большое разнообразие конденсоров для различных методов контарстирования, в том числе моторизованный универсальный конденсор для 5 больших и трех малых оптических элементов, моторизованный рычаг для верхней линзы, моторизованная апертурная диафрагма; Освещение: система освещения по Келеру для проходящего света, источник света: галогеновая лампа мощностью 12 В 100 Вт, встроенная система фильтров или светодиодный источник света с естественным спектром (интенсивность соответствует 30 Вт галогеновой лампе, время жизни 20 000 ч) и регулируемой интенсивностью." 234;Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления;Растровый электронный микроскоп JSM-6510LV (JEOL) с системой микроанализа INCA Energy 350;"Предназначен для проведения исследований поверхности различных материалов с высоким разрешением в двух режимах (HV, LV); исследование изломов и повреждений поверхности с целью выявления особенностей поверхности разрушения; определение качественного и количественного состава образцов в диапазоне элементов от B до U." 235;Московский государственный технический университет радиотехники электроники и автоматики;Система оптической микроскопии ближнего поля Alpha 300s (WITec);Исследование свойств материалов методом сканирующейоптической микроскопии 236;ФГБУН Институт проблем комплексного освоения недр Российской академии наук;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп VK 9700 (Keyence);Предназначен для анализа состава и микроструктуры геоматериалов, морфология минералов и их агрегатов, , изучение наноразмерных частиц, профилометрия, 3D изображения 237;ФГБУН Институт проблем комплексного освоения недр Российской академии наук;Микроскоп прямой промышленный ВХ 51 (Olympus Corporation);Предназначен для оптической микроскопии рудного сырья и продуктов обогащения 238;ФГБУН Институт проблем комплексного освоения недр Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп JSM-6610LV (JEOL);Предназначен для исследования минерального сырья методом растровой электронной микроскопии 239;Бурятский государственный университет;Микроскоп электронный сканирующий NEOSCOPE II JCM-6000 (JEOL);Предназначен для исследования поверхности и элементного состава образцов, увеличение 10-60000 крат 240;ФГБУН Физико-технический институт имени А.Ф. Иоффе Российской академии наук;Микроскоп стереоскопический с системой цифровой регистрации SMZ 745T (Nikon);Оптическая микроскопия с цифровой регистрацией 241;Бурятский государственный университет;Микроскоп сканирующий зондовый SOLVER Next (НТ-МДТ);Исследование топографии поверхности образцов, измерение адгезионных свойств поверхности, измерение электрического потенциала частиц и поверхностей 242;Научно-исследовательский институт медицинской генетики СО РАМН;Инвертированный микроскоп Axio Observer (Carl Zeiss);Предназначен для микроскопического или культурального исследования ткани 243;Дальневосточный федеральный университет;Микроскоп для лабораторных исследований Axio Observer со штативом Z1 (Carl Zeiss);Предназначен для повседневной и исследовательской работы в лабораториях при исследовании клеточных культур в чашках Петри, микротитрационных планшетах или флаконах. Микроскоп может эффективно применяться в лабораториях ЭКО для операций ИКСИ, ИМСИ с использованием микроманипуляторов и лазера. 244;ФГБУН Институт физиологически активных веществ Российской академии наук;Микроскоп биологический LSM 880 (Carl Zeiss) с модулем Airyscan;Предназначен для микроскопического исследования биологического лабораторного материала 245;Институт биохимии и генетики Уфимского научного центра Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro-M (НТ-МДТ);Предназначен для анализа поверхностей и биологических объектов на наноуровне 246;Институт биохимии и генетики Уфимского научного центра Российской академии наук;Конфокальный микроскоп LSM5 Exiter (Carl Zeiss);Исследование биологических структур клетки с высоким разрешением 247;Институт биохимии и генетики Уфимского научного центра Российской академии наук;Флуоресцентный микроскоп Axio Imager.M1 (Carl Zeiss);Предназначен для исследования флуоресценции нативных и окрашенных биологических объектов 248;Институт биохимии и генетики Уфимского научного центра Российской академии наук;Флуоресцентный микроскоп Biozero BZ-8100 (Keyence);Изучение флуоресцирующих биологических препаратов 249;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Цифровая камера высокого разрешения Videoscan-285 на базе электронно-зондового микроанализатора MS-46 (Cameca);Прибор предназначен для получения высококачественных цветных изображений минералов в катодных лучах. Метод является локальным. 250;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Комплекс лазерной сканирующей микроскопии LSM 780 (Carl Zeiss);Сканирующая микроскопия наноматериалов и покрытий 251;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Микроскоп инвертированный CKX41 (Olympus Corporation);Предназначен для микроскопии биологических объектов 252;Северо-Кавказский федеральный университет;Лабораторный бинокулярный микроскоп Axio Imager.A2 (Carl Zeiss);Предназначен для микроскопии биологического материала 253;Чеченский государственный университет;Микроскоп биологический Axio Imager Z2 (Carl Zeiss) в комплекте с цифровой камерой AxioCam MRc 5;Наблюдение и изучение микроскопических биологических объектов, цитологические гистологические исследования в проходящем свете, в том числе, в различном волновом диапазоне 254;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Оптический микроскоп VHX-2000 (Keyence);Обладая высочайшей глубиной резкости и разрешением, VHX-2000 не имеет себе равных среди обычных оптических микроскопов. С помощью цифрового микроскопа пользователи могут получать изображения совершенно нового уровня. Программное обеспечение, объективы и компоненты, спроектированные KEYENCE позволяют серии VHX достигать самого высокого уровня качества исследований. 255;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Растровый электронный микроскоп EVO MA10 (Carl Zeiss) 43020820;Предназначен для исследования микроструктуры образцов 256;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Микроскоп электронный сканирующий (растровый) Nvision 40 (Carl Zeiss);Предназначен для микроскопии высокого разрешения 257;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Сканирующий электронный микроскоп JSM-7600F (Jeol);Предназначен для исследования микроструктуры материалов 258;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Микроскоп поляризационный BX51 P (Olympus Corporation);Выполняется петрографическое описание горных пород в специальных препаратах (шлифах с покровным стеклом и прозрачно-полированных) с использованием поляризационного микроскопа в проходящем и отраженном свете. Позволяет установить фазовый и минералогический состав породы (диагностика породообразующих, второстепенных и акцессорных минералов), определить морфологию и размеры слагающих породу фаз и их агрегатов, описать структуру и текстуру породы, оценить количественно-минералогический состав породы. 259;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Микроскоп стереоскопический SZ51 (Olympus Corporation);Предназначен для проведения минералогических исследований 260;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Микроскоп стереоскопический SZ61 (Olympus Corporation);Минералогическое изучение и микрофотосъемка минералов 261;Тверской государственный университет;Сканирующий ИК-микроскоп Hyperion 1000 (Bruker);Получение ИК спектра с возможностью визуализации образца 262;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Микроскоп биологический Axio Imager A2 (Carl Zeiss);Предназначен для структурного анализа биологических образцов 263;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Микроскоп биологический Axio Observer (Carl Zeiss) со штативом Z1;Предназначен для проведения биологических исследований 264;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Микроскоп оптический VHX-1000 (Keyence);Тонкое исследование свойств материалов в проходящем и отраженном свете при больших увеличениях 265;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Микроскоп оптический Axiolab.M1 (Carl Zeiss);Предназначен для исследования оптических свойств материалов в проходящем и отраженном свете 266;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1 (ВНИИОФИ);Предназначен для исследований методом интерференционной микроскопии 267;Научный центр клинической и экспериментальной медицины СО РАМН;Микроскоп биологический инвертированный KOZO KXD 100 PH (NANJING);Изучение биокультур непосредственно в стеклянных емкостях с питательной средой 268;Ставропольский государственный аграрный университет;Микроскоп металлографический Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss);Предназначен для исследования микроструктуры металлов 269;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Микроскоп сканирующий интерференционный белого света Zygo NewView 6200 (Zygo Corporation);Предназначен для оптических измерений и исследований 270;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (ВНИИОФИ);Предназначен для исследования поверхности материала методом интерференционной микроскопии 271;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-Д (ВНИИОФИ);Предназначен для исследования поверхности материала методом интерференционной микроскопии 272;Воронежский государственный университет инженерных технологий;Инвертированный промышленный микроскоп XDS-3MET (Optika Microscopes);Предназначен для проведения исследований методом светлого поля в отраженном свете и в поляризованном свете. Металлографический (металлургический) микроскоп используется для исследования не пропускающих свет поверхностей или препаратов (минералов, керамики, игл, катетеров, микросхем и т.д.) при высоком увеличении. Металлографический микроскоп используется для исследования и контроля качества печатных плат, LCD мониторов, а также структуры металлических изделий. 273;ФГБУН Тюменский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Компактный настольный микроскоп ТМ-3000 (Hitachi);Стереоскопические структурные исследования с большой глубиной резкости 274;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Аналитический сканирующий электронный микроскоп JSM-5610LV (JEOL) оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром INCA 450;Обеспечивает получение изображение во вторичных и в отражённых электронах с увеличениями 50х–40 000х. Аналитический блок представляет собой энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) и способен обнаруживать элементы, начиная с бериллия. Количественный анализ осуществляется для всех элементов, начиная с Na. 275;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Аналитический высокоразрешающий просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL) оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром IETEM INCA-250;Позволяет получить разрешение по точкам в 0.194 нм и картины микродифракции электронов, оборудован гониометром, который даёт возможность вращать изучаемый кристалл вокруг вертикальной оси на ±30.Возможен количественный анализ тонких частиц в условиях нормировки суммы к 100 % с локальностью до 3 нм. 276;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Оптическая система плавной смены увеличений для визуализации и анализа трехмерных изображений с последующей фиксацией и документированием;Позволяет комплексно исследовать трехмерные объекты микроэлектроники 277;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Микроскоп сканирующий прямого типа и плоского поля с набором комплектующих;Исследования слабопоглощающих объектов в видимой области спектра с высоким пространственным разрешением 278;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Лабораторный стереоскопический микроскоп AZ100 (Nikon);Обеспечивает увеличение 10х. AZ-W10X (поле зрения 22мм) 279;Уфимский государственный авиационный технический университет;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEM-2100);Аналитический электронный микроскоп для исследования тонкой структуры проб материалов 280;Ставропольский государственный аграрный университет;Микроскоп стереоскопический SZX-10 (Olympus);Предназначен для проведения биологических исследований 281;Научный центр клинической и экспериментальной медицины СО РАМН;Мультифотонный лазерный микроскоп (блок нелинейной оптики для лазерного сканирующего микроскопа LSM 710) LSM710/NLO Chameleon Vision II (Coherent);Флуоресцентная прижизненная визуализация клеток и тканей в высоком разрешении. Области применения: патофизиологические исследования, нейробиология, эмбриология, тканевая инженерия. 282;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Ближнепольный микроскоп Alpha 300 (WITec);Предназначен для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении. 283;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200А (Veeco Instruments);Предназначен для исследований методом конфокальной сканирующей микроскопии 284;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Микроскоп сканирующий конфокальный интерферометрический DCM 3D (Leica Microsystems);Предназначение: быстрая дистанционная оценка микро- и нано- структур технических поверхностей в нескольких конфигурациях. Объединяет конфокальную и интерферометрическую технологии для увеличения скорости измерений и получения высокого разрешения изображений до 0.1 нм. 285;Уфимский государственный авиационный технический университет;Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL);Исследование поверхностей образцов и изделий под большим увеличением с целью определения дефектов и структурных элементов 286;Уфимский государственный авиационный технический университет;Микроскоп металлографический GX-51 (Olympus Corporation);Предназначен для исследования и фотосъемки проб металлов в отраженном свете 287;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Микроскоп атомно-силовой Innova (Veeco Instruments);Предназначен для проведения исследований методом атомно-силовой микроскопии 288;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120 (Carl Zeiss);Предназначен для электронной микроскопии сверхвысокого разрешения 289;Тюменский государственный университет;Микроскоп металлографический цифровой Альтами МЕТ 3Т;Предназначен для исследования микроструктуры металлов и сплавов в отраженном свете в светлом и темном поле при прямом освещении, а также по методу поляризации, что определяет сферу его использования - это металлографические лаборатории научно-исследовательских институтов и предприятий металлургической, машиностроительной промышленности, а также учебные заведения. Благодаря наличию удобного предметного столика большого размера Альтами МЕТ 3Т является инспекцонным микроскопом, что позволяет применять его, например, в области микроэлектроники для наблюдения массивных продолговатых объектов.Наличие цифровой камеры дает возможность получать цифровые снимки высокого качества, выводить их на экран компьютера или телевизора, обрабатывать и оценивать с помощью программ для анализа изображений 290;Уфимский государственный авиационный технический университет;Микроскоп инвертированный металлографический Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss);Предназначен для исследования и фотосъемки проб металлов в отраженном свете 291;Санкт-Петербургский государственный университет;Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп TCS SP5 (Leica Mirosystems);Предназначен для исследований методом лазерной сканирующей микроскопии 292;Южный федеральный университет;Микроскоп инвертированный Axio vert A1 (Carl Zeiss);Инвертированный микроскоп отраженного света для повседневной работы с образцами непрозрачных, отражающих свет материалов 293;Южный федеральный университет;Микроскоп биологический Axio Imager A2 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения научно-исследовательских работ в лабораториях различной направленности: генетика и цитогенетика. 294;Южный федеральный университет;Система лабораторная Cyto vision (West Medica) для автоматизированного многокомпонентного микроскопического анализа препаратов клеток и тканей;Автоматизированный многокомпонентный микроскопический анализ препаратов клеток и тканей 295;Грозненский государственный нефтяной технический университет им. академика М.Д. Миллионщикова;Аппаратно-программный комплекс для трехмерной реконструкции объектов FEI Company;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии высокого разрешения 296;Уфимский государственный авиационный технический университет;Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Prima (НТ-МДТ);Нанолаборатория Интегра Прима предназначена для широкого круга исследований в области нанотехнологий, многофункциональный прибор для решения наиболее типовых задач в области сканирующей зондовой микроскопии. В возможности прибора входит более 40 измерительных методик, что позволяет изучать физические и химические свойства поверхности образца с уникально высокой точностью и разрешением. Возможно проведение измерений в различных средах - на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости. Управляющая электроника позволяет работать в высокочастотных режимах (до 5 мГц). Эта возможность оказывается принципиальной при работе с высокочастотными модами атомно-силовой микроскопии или при использовании высокочастотных кантилеверов. 297;Уфимский государственный авиационный технический университет;Инвертированный металлографический микроскоп Axio Observer Alm (Carl Zeiss);Предназначен для металлографических исследований (ГОСТ 3443, ГОСТ 8233, ГОСТ 1778, ГОСТ 1778, ГОСТ 5640, ГОСТ 5639 и др.) 298;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Микроскоп ИК ?MAX;Предназначен для получения ИК-спектра микрообразцов в режимах пропускания, отражения или НПВО 299;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Металлографический микроскоп МЕТ 5С (Альтами);Предназначен для работы в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля, по методу поляризации, а также для исследований прозрачных и полупрозрачных объектов в проходящем свете светлом поле 300;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Платформа учебно-аналитическая для исследования качества, состава и электрофизических свойств графена и его производных;"Сочетание оптических и АСМ методов в одном приборе обеспечивает проведение комплексных экспериментов, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на его топографию, распределение электрических, магнитных и других свойств.Измерительный модуль оборудован микроманипуляторами и предназначен для проведения электрофизических измерений нанострукутур, полупроводниковых устройств и других материалов, и обеспечивает широкий спектр манипуляций с микрообъектами (перемещение и модификация).Система ASEC-03 предназначена для исследования электрических и фотоэлектрических свойств и определения электрофизических параметров полупроводниковых и диэлектрических материалов, а также гомо и гетероструктур на их основе.В состав модуля входят 3 микроскопа: - исследовательский промышленного назначения; - металлографический микроскоп; - поляризационный микроскоп." 301;Рязанский государственный радиотехнический университет;Оптический металлографический микроскоп MET 5 (Альтами);Металлографический микроскоп с классическим расположением объекта исследований и объективов. Позволяет исследовать плоские объекты, порошки, печатные платы и электронные компоненты, а также любые другие непрозрачные объекты. 302;Южный федеральный университет;Комплекс автоматизированного измерительного оборудования для анализа различных клеток на основе информационных технологий ImageXpress Micro XLS (Molecular Devices);Автоматическая съемка фиксированных или живых клеток, используя методы флуоресцентного, светлопольного и фазово-контрастного анализа. 303;Волгоградский государственный технический университет;Сканирующий электронный микроскоп Versa 3D DualBeam (FEI);"Качественный и количественный микрорентгеноспектральный анализ (EDS) в точке, распределение элементов по линии и на площади.Двулучевая система c интегрированными электронным и ионным пучками (FIB/SEM) позволяет:-получать высококачественные изображения по композиционному и топографическому контрасту;-изготавливать поперечные сечения для исследования подповерхностных слоев;-травить и напылять по шаблону;" 304;Рязанский государственный радиотехнический университет;Универсальный автоматизированный спектрометрический комплекс Интегра СПЕКТРА (НТ-МДТ);Предназначен для исследования оптических и электрофизических характеристик наноматериалов и наноструктур 305;Кубанский государственный технологический университет;Эмиссионный спектрометр Искролайн 100 (Промэлектроника);Позволяет решать большинство аналитических задач: анализ чугунов, низко и среднелегированных сталей (включая такие элементы, как углерод, сера и фосфор), сплавов на основе алюминия, свинцовых сплавов, бронз, латуней, и других цветных металлов. 306;Дальневосточный геологический институт ДВО РАН;Атомно-силовой микроскоп Dimension ICON (Bruker Corporation);Атомно-силовая микроскопия с низкой скоростью теплового дрейфа 200 пм/мин, с разрешением от 2 нм и возможностью измерения как проводящих, так и непроводящих образцов для получения изображения трехмерного рельефа поверхности (наноструктура), неоднородности материала по составу (фазовый контраст) и картины силовых взаимодействий 307;ФГБУН Институт Физико-Технических Проблем Севера Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп электронный сканирующий TM 330 (Hitachi);Предназначен для изучения поверхности материалов 308;ФГБУН Всероссийский научно-исследовательский технологический институт ремонта и эксплуатации машинно-тракторного парка;Лабораторный нанотехнологический комплекс УМКА (Наноиндустрия);Предназначен для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Кроме того, перспективным направлением является внедрение предлагаемого НТК Умка в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий, организаций, связанных с проверкой качества продукции и состояния экологии. 309;Южный федеральный университет;Микроскоп оптический МБС-10;Предназначен для наблюдения объемных предметов, для ювелирных, радиотехнических и других работ, требующих наблюдения миниатюрных деталей с комфортом для наблюдателя на протяжении длительного времени. 310;Южный федеральный университет;Микроскоп Бриннеля отсчетный МПБ-2;Предназначен для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля. 311;Московский физико-технический институт;Двухлучевой растровый электронный микроскоп Quanta 200 3D (FEI);Предназначен для создания микросечений, позволяющая изучить подповерхностную структуру образца непосредственно на месте, в камере микроскопа. Также обладает возможностью проводить электронную литографию. 312;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Сканирующий электронный микроскоп JSM 7100 F (Jeol);Сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки. Этот микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами (разрешение 1,2 нм). Совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА). Оснащен приставками элементного анализа с энерго- и волнодисперсионными детекторами, дифракции обратно рассеянных электронов. 313;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Малогабаритный сканирующий электронный микроскоп SU1510 (Hitachi);Позволяет определять размеры структурных элементов в проводящих и непроводящих образцах различной природы, для проведения исследований микро- и нано-структуры поверхности различных образцов. Позволяет изучать морфологию поверхности образца, проводить измерения размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нано-объектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до 10 нанометров. 314;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Микроанализатор электронно-зондовый JXA-8200 (JEOL);Предназначен для проведения локального качественного и количественного анализа состава материалов для элементов от F до U с пределами обнаружения 0,01 масс.% 315;Дагестанский государственный университет;3D-сканирующий лазерный конфокальный микроскоп NTEGRA Spectra Raman (НТ-МДТ);Предназначен для физических и физико-химических методов разделения 316;ФГБУН Всероссийский научно-исследовательский технологический институт ремонта и эксплуатации машинно-тракторного парка;Инвертированный металлографический микроскоп GX51 (Olympus);Предназначен для проведения металлографических наблюдений и исследований образцов в отраженном свете, в том числе при контроле качества. Имеет фото/видео выход, что позволяет проводить оцифровку и анализ изображений. 317;ФГБУН Горный институт Уральского отделения Российской академии наук;Поляризационный микроскоп проходящего и отраженного света Axioskop 40 Pol (Carl Zeiss);Исследование плоскополированных шлифов, аншлифов и микрофотосъемка 318;ФГБУН Горный институт Уральского отделения Российской академии наук;Стереомикроскоп Leica MZ16;Исследование и микрофотосъемка объектов размером 10-0,1 мм 319;ФГБУН Горный институт Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 LMH с системой рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Oxford Instruments INCA Energy 250/X-max 20;Изучение морфологии минеральных зерен и определение химического состава 320;ФГБУН Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп Muiti View 2000 (Nanonics Imaging);Сканирующая микроскопия поверхности твердых образцов с нанометровым разрешением с помощью атомно-силовых и ближнепольных датчиков. 321;Южный федеральный университет;Микроскоп стереоскопический BMG-160 (Carl Zeiss);Предназначен для изменения линейных размеров элементов и визуального контроля микроэлектронных структур 322;ФГБУН Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп HT7700 (Hitachi);"Получение изображения ультратонкого (тоньше 100 нм) образца в широком диапазоне увеличений;структурные и морфологические исследования образцов; исследование элементного состава образцов, построение карт распределения" 323;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Установка автоматического контроля топологии на фотошаблонах ЭМ-6329 (КБТЭМ-ОМО);Предназначена для выполнения автоматического контроля топологии на фотошаблонах 324;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Установка автоматического контроля топологии на фотошаблонах ЭМ-6029 (КБТЭМ-ОМО);Предназначена для выполнения автоматического контроля топологии на фотошаблонах 325;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Двулучевая система высокого разрешения Quanta 3D FEG (FEI);Исследование поверхности твердых тел с высоким разрешением и большой глубиной фокуса 326;ФГБУН Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп биологический лазерный сканирующий LSM 700;Исследование биологических образцов в режиме флуоресценции с линиями возбуждения 488 нм, 555 нм, 639 нм с возможностью одновременной работы двух регистрирующих каналов, исследование материаловедческих образцов в режиме отражения на длине волны 405 нм, исследование образцов на отражение на длинах волн 488, 555, 639 нм при перестройке прибора ( замена основного бимсплиттера). Послойное сканирование образцов с последующей 3D реконструкцией изображения. Построение временных последовательностей изображений при фотоотбеливании флуорофора (FRET). 327;ФГБУН Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп LEICA DM IRB (Leica Mirosystems);Исследование материаловедческих образцов в режиме проходящего света и отраженного света ( отдельные осветительные каналы для проходящего и отраженного света). Возможность подключения фотокамеры для регистрации. 328;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSem 450;Предназначен для получения как сверхвысокого разрешения, так высокой чувствительности EDS анализа. Электронная пушка – полевая эмиссия с холодным катодом, ускоряющее напряжение – 5-30 кВ. Микроскоп оборудован EDS спектрометром, позволяет проводить рентгено- флуоресцентный анализ и картирование образца. Разрешение во вторичных электронах: 329;ФГБУН Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;Настольный сканирующий микроскоп ТМ-3000 (Hitachi) с системой микроанализа Quantax70;"Позволяет исследовать непроводящие, жирные и гидратированные объекты без специальной подготовки. Два уровня ускоряющего напряжения для изучения композитных поверхностей и топографии; режим стока заряда за счет ионизации остаточного газа; максимальное разрешение ~30 нм.Позволяет детектировать химические элементы и их распределение на поверхности обазца, обнаруживает легкие элементы вплоть до бора, не требует жидкого азота.Для формирования образцов, в комплекте есть оборудование для нанесения углеродного покрытия, тонких слоев металла." 330;ГНЦ Научно-исследовательский институт атомных реакторов;Оптический микроскоп AXIOSCOP A1 (Carl Zeiss);Оптическая микроскопия металлов и вплавов 331;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Атомно-силовой микроскоп MFP-3D CLASSIC (Oxford Instruments);Исследование морфологии поверхности 332;ФГБУН Институт горного дела Дальневосточного отделения Российской академии наук;Поляризационный микроскоп отраженного света Axio Scope A1 (Carl Zeiss);Микроскопические исследования структуры минеральных объектов 333;ФГБУН Институт горного дела Дальневосточного отделения Российской академии наук;Световой стереомикроскоп падающего света Stereo Discovery V8 (Carl Zeiss);Микроскопические исследования структуры минерального сырья 334;ФГБУН Институт горного дела Дальневосточного отделения Российской академии наук;Стереокопический микроскоп Stemi 2000 (Carl Zeiss) c камерой Canon 1000 D;Микроскопические исследования структуры минеральных объектов 335;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Микроскоп биологический для лабораторных исследований Axio Observer.Z1 (Carl Zeiss);Лазерная бесконтактная система микродиссекции, катапультирования и манипуляции 336;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Сканирующий электронный микроскоп JEOL 6000;Предназначен для микроскопии поверхности 337;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Микроскоп поляризационный Leica DM2500P (Leica Mirosystems GmbH);Предназначен для микроскопических исследований горных пород 338;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Стереомикроскоп Leica EZ4 (Leica Mirosystems GmbH);Предназначен для микроскопического анализа лабораторного матриала 339;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Спектроскоп KL14/1504 (Kruss RUBIN);Предназначен для исследования состава, строения веществ и материалов 340;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Микроскоп оптический инвертированный GX-71F (Olympus);Предназначен для рутинных микроскопических исследований 341;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Микроскоп оптический ближнепольный BX-51M DIC (Olympus);Предназначен для рутинных микроскопических исследований 342;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Система Renishaw inVia Basis (Carl Zeiss) для рамановского спектральногоанализа с длинами волн возбуждения 785, 532 и 405мм;Предназначена для исследования и анализа методом оптической спектроскопии 343;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Микроскоп биологический лазерный сканирующий для лабораторных исследований LSM 780 NLO (Carl Zeiss);Предназначен для микроскопии биологического материала 344;Санкт-Петербургский государственный университет;Настольный растровый электронный микроскоп-микроанализатор TM 3000 (Hitachi);Режим низкого вакуума позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления. Удобный графический пользовательский интерфейс и простота в обслуживании позволяют использовать его в образовательном процессе. Прибор оснащен приставкой энергодисперсионного микроанализа OXFORD 345;Санкт-Петербургский государственный университет;Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D (FEI);Получение изображения разнообразных образцов в цифровой форме с увеличением более 100 000 крат.Качественный и количественный анализ состава образцов. Удаление слоя материала образца, обнаружение структуры под поверхностным слоем, создание сечений, получение серии срезов образца с высоким разрешением. 346;Южный федеральный университет;Лабораторный микроскоп МИКМЕД-6 (ЛОМО);Световой просвечиваюший лабораторный микроскоп с цифровой фотокамерой, для изучения биологических образцов. Изучение и цифровая фотосъемка образцов при увеличении х5 х10 х40 х60 крат. 347;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Микроскоп для лабораторных исследований Axio Imager.M2 (Carl Zeiss);Предназначен для лабораторных исследований 348;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Микроскоп для лабораторных исследований Axio Lab. A1 (Carl Zeiss);Предназначен для микроскопических исследований 349;Кемеровский технологический институт пищевой промышленности;Микроскоп инвертированный AxioVert.A1 (Carl Zeiss);Применяется в биотехнологии, генной инженерии, вирусологии, клеточной биологии, нейробиологии. Он эффективен для исследований живых клеточных культур в лабораторной посуде и манипуляций с ними. Программное обеспечение ПК позволяет определить размер частиц, площадь, посчитать число колоний и сделать фотосъемку объекта. 350;Кемеровский технологический институт пищевой промышленности;Микроскоп прямой AxioScope A1 (Carl Zeiss);Прямой микроскоп позволяет исследовать объекты на стандартных предметных стеклах. Программное обеспечение ПК позволяет определить размер частиц, площадь, посчитать число колоний и сделать фотосъемку объекта. 351;Ботанический институт им. В.Л. Комарова Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп Libra 120 plus с системой фильтрации по энергиям электронов (EFTEM) (Carl Zeiss);Микроморфологические исследования в различных областях биологии - цитологии, эмбриологии, ботаники, вирусологии и т.д. Применяется для исследования ультраструктуры, элементного анализа биопрепаратов, а также небиологических объектов, получения трехмерных реконструкций. 352;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Поляризационный микроскоп Eclipse LV100ND (Nikon);Предназначен для микроскопических исследований 353;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Ultra Plus (Carl Zeiss) на базе Ultra 55 с приставкой рентгеновского микроанализа INCA Energy 350 XT (Oxford Instruments);Получение изображений с поверхности, излома или шлифа образца, определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава 354;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Бинокулярный исследовательский микроскоп Биолам-И (ЛОМО);Предназначен для наблюдения и фотографирования объектов в проходящем и отраженном свете для исследования в лабораторных условиях. 355;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Комплекс аппаратный ПЭМ атомарного разрешения для исследования нано-объектов HT7700 (Hitachi);Предназначен для исследования объектов различной природы с атомарным разрешением 356;Биолого-почвенный институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Микроскоп инвертированный Axio Observer (Carl Zeiss);Микроскоп с системой лазерной диссекции. 357;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Микроскоп просвечивающий электронный СМ-12 (Philips);Предназначен для исследований методом электронной сканирующей микроскопии 358;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Система рентгеновского энергодисперсионного и волно-дисперсионного микроанализа Oxford INCA Energy 350 (Oxford Instruments);Предназначена для исследования вещества методом рентгеновского энергодисперсионного и волно-дисперсионного микроанализа 359;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Атомно-силовой микроскоп с вакуумной камерой Solver HV (НТ-МДТ);Предназначен для микроскопических исследований лабораторного материала 360;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Система с электронным и сфокусированными пучками Quanta 200 3D (FEI Company);Предназначен для исследований методом сканирующей электронной микроскопии 361;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Просвечивающий электронный микроскоп СМ-30;Предназначен для исследований методом электронной микроскопии 362;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Сканирующий электронный микроскоп SEM 515 (Philips) в комплекте с системой управления и построения изображения Genesis XM260SEM515;Предназначен для исследований методом сканирующей электронной микроскопии 363;ФГБУН Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий туннельный микроскоп-спектрометр туннельного тока;"Предназначен для исследования электронных свойств поверхностей методом туннельной спектроскопии высокого разрешения. Состоит из следующих блоков: электронный блок управления туннельного микроскопа (ТМ), высоковакуумная криоголовка UnderSEM 377 (разработка МИИЭТ) и блок спектрометра туннельного тока. В этом комплекте прибор может решать следующие задачи: туннельная спектроскопия объектов под иглой ТМ; регистрация неупругой компоненты туннельного тока; измерение работы выхода электрона, а также стандартную для ТМ задачу измерения геометрического рельефа поверхности. Все задачи решаются с атомарным пространственным разрешением, присущем ТМ." 364;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Рентгеновский микроанализатор JCXA-733 Superprobe (JEOL) с приставкой энерго-дисперсионного анализа INCA Energy SEM 300 Microanalysis System;Получение изображений с поверхности, излома или шлифа образца, определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава 365;Санкт-Петербургский государственный университет;Стереомикроскоп SZX16 (Olympus) для металлографических исследований объектов;Предназначен для проведения углубленных исследований. Данный стереомикроскоп обладает максимальной числовой апертурой NA 0.3, обеспечивающей разрешение 900 пар линий на миллиметр, и диапазоном изменения увеличения 16,4:1, что позволяет пользователям получать более подробную информацию об объектах исследования. Широкий выбор парфокальных объективов с большим рабочим расстоянием гарантирует легкую смену между режимами макро- и микро- наблюдений. Получение детального изображения от целого объекта до тонкой микроскопии и индивидуальных структур клеток становится простой задачей, благодаря использованию оптической системы, обеспечивающей естественное изображение без искажений. 366;Санкт-Петербургский государственный университет;Оптический стереомикроскоп Axio Imager Z2 (Carl Zeiss);Предназначен для работы и исследований в отраженном и проходящем свете. Методы исследования в проходящем и отраженном свете: светлое поле, темное поле, поляризация, люминесценция, дифференциально-интерференционный контраст. 367;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Атомно-силовой микроскоп NANOEDUCATOR II (НТ-МДТ);Предназначен для практических занятий по нанотехнологиям. Работает в режиме атомно-силовой микроскопии либо туннельной микроскопии, однако характеристики зонда и сильно упрощенная конструкция сканера могут накладывать определенные ограничения на результат. 368;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Металлографический микроскоп Polivar-Met (Reichert);Исследование микроструктуры шлифов твёрдых веществ в отражённом свете. Увеличение достигается за счет оптических линз с использованием призм. 369;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;3D лазерный сканирующий конфокальный микроскоп Nanofinder-S (СОЛАР ТИИ);Получение двумерных оптических сечений материала. Изучение пространственной (3D) топологии поверхности или внутренней (подповерхностной) структуры полупрозрачных образцов. 370;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Оптический инвертированный микроскоп DM ILM (Leica);Исследование микроструктуры металлов и сплавов в отраженном свете в светлом поле при прямом освещении. 371;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Микроскоп оптический NU-2E (Carl Zeiss);Исследование в отраженном свете (металлографические объекты) и в проходящем свете (биологические объекты). Установлена программа вывода и обработки изображения на экран компьютера. Максимальное увеличение ?1200. 372;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Микроскоп поляризационный Axioskop 40 A Pol (Carl Zeiss);Предназначен для материаловедения, геологических и минералогических лабораторий, обучения и повседневной работы. Используется для исследования керамики, композиционных и строительных материалов. Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, измерение микротвердости, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM. 373;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света AxioVert 40 MAT (Carl Zeiss);Предназначен для исследования и контроля качества материалов. Отличается большой функциональностью и отвечает новейшим требованиям современного уровня материаловедческих исследований. Отличительным качеством инвертированной модели микроскопа является расположение объективов под предметным столиком, что не ограничивает габариты объекта сверху. Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, измерение микротвердости, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM. 374;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Микроскоп сканирующий электронный TM-1000 (Hitachi);Предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твёрдых образцов. Разрешение не менее 50 нм. Максимальный диаметр образца: не менее 50 мм. Максимальная высота образца: 20 мм. Ускоряющее напряжение: 15 кВ. 375;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Микроскоп сканирующий электронный с микроанализатором S800 (Hitachi);"Предназначен для рентгеноспектрального анализа элементов от В до Cf; Предел обнаружения 0,2-0,5 масс. %; Разрешение 20 А; Максимальное увеличение 300 000 раз" 376;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Микроскоп сканирующий электронный с системой микроанализа JSM-7600F (JEOL);Новейшая модель в линейке сканирующих электронных микроскоп JEOL, в которой реализованы все последние достижения в технологии электронной оптики JEOL. Термополевой катод (Шоттки), объективная линза с низкими аберрациями и высокая стабильность обеспечивают высокое разрешение и тонкий зонд даже при высоких токах пучка (свыше 200нА при 15кВ). Это идеальное решение для исследования и анализа наноструктур. 377;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Микроскоп сканирующий ионный Strata 201 SIMSmapIIIxP (FEI);Предназначен для получения изображения во вторичных ионах и электронах в диапазоне увеличений Х 250-350000. Возможность готовить ультратонкие пробы (толщиной до 50 нм) для просвечивающего электронного микроскопа на локальных участках образца. Ионная пушка - галлиевая жидкометаллическая. Изменение размеров ионного пучка в пределах 5-500 нм с автоматической запрограммированной сменой апертур (не менее 10 ступеней). Диапазон изменения тока ионного пучка: 1-10нА, плотность тока до 50А/см2 , нестабильность пучка менее 5%/час. 378;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Оптический микроскоп Axio Imager D1 (Carl Zeiss);В данном варианте оснащения прибора возможны следующие методы микроскопии или контрастирования (режимы получения изображения): светлопольный, диференциальный интерференционный контраст, микроинтерферометрия (полный интерференционный контраст в свете с круговой поляризацией). Все эти режимы в данной конфигурации микроскопа – только в отраженном свете. Установлено 5 объективов, с увеличением от 5 до 100, что обеспечивает увеличение микроскопа от 50 до 1000. 379;Научно-производственная фирма ООО «Мелитэк»;Просвечивающий электронный микроскоп Titan™ Themis (FEI);Позволяет с лёгкостью получить доступ к атомарной информации. Сочетая проверенные компоненты, такие как корректоры сферической аберрации, монохроматорную систему и чувствительную технологию ChemiSTEM™, с новым улучшенным предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом, программным обеспечением FEI Velox™ и 16-мегапиксельной CMOS-камерой FEI Ceta, этот прибор обеспечивает максимально быструю навигацию и моментальное увеличение для получения детальных изображений на уровне от мезоскопических до атомных длин 380;Научно-производственная фирма ООО «Мелитэк»;Ионный микроскоп Vion Plasma FIB (FEI);Обладает возможностью избирательного травления заданных областей образца и химического осаждения материала. Используемый в Vion Plasma FIB источник плазмы обеспечивает 20 – 60 раз более высокие токи пучка, чем традиционные ионные микроскопы с использованием ионов галлия, сохраняя при этом все возможности использования низкого тока пучка. Кроме того, в камере могут быть введены различные газы, оказывающие влияние на взаимодействие пучка с поверхностью образца и вызывающие осаждение материала (изолятора или проводника). 381;Научно-производственная фирма ООО «Мелитэк»;Ионный микроскоп V400ACE FIB (FEI);Объединяет в себе последние разработки в проектировании ионной колонны, подачи газа и точечного позиционирования для обеспечения быстрого, эффективного, экономичного производства интегральных схем. Система позволяет производителям полупроводниковых схем развести проводящие дорожки и протестировать работу измененных схем в течение считанных часов, а не недель или месяцев, которые потребуются для создания новых масок и обработки новых пластин традиционными методами. Ионная колонна Tomahawk обеспечивает непревзойденные возможности при непрерывной работе в диапазоне ускоряющего напряжения от 30 кВ до 0,5 кВ. Высокая плотность тока при травлении при ускоряющем напряжении 30 кВ обеспечивает быстрое удаление материала и увеличение пропускной способности, в то время как работа при низком напряжении используется для селективного травления меди. 382;ФГБУН Ордена Ленина и Ордена Октябрьской Революции Институт геохимии и аналитической химии им. В.И. Вернадского Российской академии наук;Полевой эмиссионный растровый электронный микроскоп JSM-6700F (Jeol);Позволяет проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур благодаря электронной пушке с холодным катодом, сверхвысокому вакууму и усовершенствованным цифровым технологиям. Приставка для энергодисперсионной спектрометрии JED-2300F позволяет осуществлять качественный и количественный анализ состава твердотельных структур с использованием метода энергодисперсионной спектрометрии. 383;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Настольный модуль электронного сканирования Phenom (FEI Company);Позволяет оперативно проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с разрешением до одного нанометра. Phenom™ обеспечивает связующее звено между электронной и световой микроскопией, предлагая лучшее от обеих путем комбинации световой и электронно-оптической технологий в одну интегрированную, легкую в обращении микроскопную систему. 384;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп сканирующий зондовый Solver P7LS (НТ-МДТ);Предназначен для измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред. 385;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп мультимодовый сканирующий зондовый Solver Smena-P47H (НТ-МДТ);Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне. Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии. Cоздание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию. 386;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий туннельный микроскоп СТМ-У1 (Протон-МИЭТ);Имеет атомное разрешение на пиролитическом графите, кварцевое основание с низким тепловым дрейфом и пятиступенчатой виброразвязкой, трипод с полем кадра 1/1/1 мкм и управляющими напряжениями до 700В. 387;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий туннельный микроскоп Нанометр-1 (Протон-МИЭТ);Работает с пластинами диаметром до 100 мм, позиционируя иглу в любую точку пластины и давая кадры с разрешением до 10 A полем до 20/20/2 мкм. Второй по счёту зондовый микроскоп, вошедший в Госреестр измерительных средств России. В 1998 г. адаптирован для любых других образцов размером до 100/100/30 мм, в т.ч. комплектовался разрывной машины для изучения прочности материалов. 388;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий туннельный микроскоп СТМ-НЛ-2.0 (Протон-МИЭТ);Микроскоп имеет режим СТМ с разрешением до 3 A, поле до 6/6/1 мкм и имеет режим СТМ-нанолитографии с амплитудой импульсов до 15 В. 389;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000ТА (Протон-МИЭТ);Режимы СТМ и АСМ, разрешение до 5 A. Поле кадра 6/6/1 или 40/40/2 мкм. Разработка 1995 г., с участием Института аналитического приборостроения РАН. Первый зондовый микроскоп, вошедший в Госреестр измерительных средств России. Прошёл допуск в Оксфорде как учебный прибор, получил признание как наиболее доступный для понимания принципов работы зондовый микроскоп в мире. 390;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Колонна электронного микроскопа SEM-20-50;Предназначена для работы со слабо проводящими и чувствительными к статике образцами при энергии зонда 300-1000 эВ с разрешением до 200A. Подсоединяется к вакуумным установкам до 10-7 Торр, в перспективе до 10-11Торр. При 20 кВ имеет разрешение 100 A и предельное разрешение 50 A на образце «золото на графите». Рабочий отрезок 20…50 мм, совмещается с туннельными микроскопами UnderSEM377 и UHV-LT-STM-5. 391;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Разрывной атомно-силовой микроскоп РАСМ-5;Предназначен для изучения динамики структурных перестроек и дефектов (мезомеханика) in-situ в процессе разрыва материала, для анализа векторов перемещения зёрен и нанозёрен материала при деформации. Имеет встроенную разрывную машину со сверхмалыми вибрациями и усилием до 200 кг. Компьютерная система накапливает «фильм» из сканов полем до 50/50/3 мкм с разрешением до 20 A. Не имеет аналогов в мире. 392;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий зондовый микроскоп АКТИНИД-М;Предназначен для работы с радиоактивными образцами внутри перчаточной камеры, наблюдения структуры, дефектов, динамики радиационного охрупчивания, окисления и т.д. Имеет режимы СТМ и АСМ, разрешение до 5 A, поле кадра 15/15 мкм, встроенную виброподвеску, герморазъём на камере и управление от компьютера. Имеет несколько СТМ и АСМ зондов, внедряемых в камеру по мере необходимости и устанавливаемых вместо отработавших зондов вручную грубыми перчатками. Не имеет аналогов в мире. 393;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий туннельный микроскоп STM-TOKAMAK-2;Подаётся линейным манипулятором в плазму под тень лимитера для наблюдения распыления первой стенки и осаждения из плазмы атомных кластеров и нанопыли. Из-за высокой резонансной частоты 32 кГц и симметрии даёт атомарное разрешение и работает внутри ТОКАМАК несмотря на сильные эл.-маг. поля и градиенты температур 394;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий туннельный микроскоп UHV-LT-STM-5;Имеет надёжное атомарное разрешение на металлах и внедряется в вакуумные установки до 10-11 Торр, в т.ч. в азотные и гелиевые вакуумные криостаты. Держит прогрев до 150 ? С. Резонансная частота 8 кГц. Поле 4.8/4.8/0.6 мкм при 20С и 0.8/0.8/0.1 мкм при 5 К. Образец горизонтален и открыт для любых других методик, туннельная игла ходит по образцу в поле 4/4 мм. Игла и образец меняются вакуумными манипуляторами. 395;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий туннельный микроскоп UnderSEM-377;Устанавливается внутрь электронных микроскопов (SEM) с открывающейся камерой и вакуумом до 10-7 Торр на место держателя образца вместе с образцом. Образец открыт для SEM и его анализаторов. Туннельная игла подводится сбоку и даёт разрешение просматриваемой в SEM точки образца вплоть до атомарного. В SEM наблюдается процесс сканирования туннельной иглой. Не требует виброразвязок из-за высокой резонансной частоты 38 кГц. Поле 2/2/0.6 мкм. Работает режим туннельной спектроскопии. 396;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000;Реализует режимы СТМ (разрешение 3 А) и АСМ (высокоразрешающий мягкий контактный режим, до 0.1 A по вертикали). Кадры до 15/15/2 или 40/40/3 мкм, двигатели для выбора точки сканирования на поле 6/6 мм с просмотром в оптическом микроскопе МБС-10, смена СТМ/АСМ режимов без вынимания образца, встроенная виброподвеска (-60дб), возможности для дополнительных методик, габариты 155/155/105 мм, вес 5 кг. 397;ООО Лаборатории АМФОРА;Промышленный микроскоп МИМ-341 для исследования вейферов;Предназначен для исследования оптических свойств, плоскостности, а также микро и нано рельефа вейферов с рекордно высоким для оптической микроскопии разрешением 0,1 нм по вертикали и 10-100 нм в плоскости объекта. 398;ООО Лаборатории АМФОРА;Лазерный сканирующий микроскоп МИМ-350;Позволяет работать с несколькими источниками излучения, при этом полностью контролировать интенсивность, поляризацию и угол закоса луча лазера в плечах интерферометра. Для расширения диапазона измерения высот рельефа, в МИМ-350 реализована оригинальная система сканирования, которая в отличие от традиционных оптических профилометров позволяет работать с высокоапертурными (Na - 0.95) объективами и ,соответственно, не терять разрешения при исследовании рельефа глубиной 3-5 мкм. 399;ООО Лаборатории АМФОРА;Модуляционный интерференционный микроскоп МИМ-320 (Материаловед);Предназначен для визуализации и исследования геометрического рельефа, поляризационных и физических свойств (анизотропия, показатель преломления, фазовый состав, механическое напряжение) наноматериалов. 400;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Микроскоп металлографический МЕТАМ РВ-21 (ЛОМО);Предназначается для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле. 401;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий туннельный микроскоп СММ-2000Т (ООО КПД);Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0,1 нм до 30мкм). 402;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп BS-301 (Tesla) с энергодисперсионным анализатором NL 2001A;Предназначен для исследования микроструктуры вещества. 403;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Растровый электронный микроскоп-анализатор JSM-35-CF (Jeol);Предназначен для микроскопического анализа методом растровой микроскопии 404;ЗАО Концерн Наноиндустрия;Сканирующий туннельный микроскоп УМКА;Предназначен для проведения атомно-молекулярных исследований поверхности проводящих и слабопроводящих материалов методом туннельной микроскопии в обычной атмосфере. Используется для осуществления демонстрационных, исследовательских и лабораторных работ в области физики, химии, биологии, медицины, генетики, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. 405;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп ФемтоСкан Омега (НПТ ЦПТ);Позволяет осуществлять полномасштабные измерения с любого компьютера, подключенного к локальной сети или сети Интернет, при этом неограниченное количество санкционированных сетевых пользователей могут иметь доступ к данным эксперимента в реальном масштабе времени и осуществлять самостоятельные анализ, обработку и построение трехмерных изображений. Микроскоп позволяет проводить измерения на воздухе и в жидких средах. Он предназначен для проведения фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для организации экспериментального дистанционного образования студентов в области практической нанотехнологии. 406;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения Innova (Bruker);Обеспечивает высочайшее разрешение, большую функциональность, и простоту в использовании. Встроенная цифровая камера высокого разрешения и моторизированное основание для образцов позволяют быстро и просто позиционировать образец в поисках нужных участков. Жесткая конструкция механики головки микроскопа, очень низкий тепловой дрейф и сверхнизкошумящая электроника позволили получать атомарное разрешение на 90-микронном сканере, снабженном системой линеаризации. 407;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Просвечивающий электронный микроскоп LIBRA 120 (Carl Zeiss);Система освещения образца по Кёлеру, в сочетании со встроенным в колонну ОМЕГА-Фильтром, гарантируют пользователям получение великолепных результатов на любых образцах, в том числе на толстых срезах и образцах без фиксации и контрастирования. Технология LIBRA 120 обеспечивает работу микроскопа в любом из применяемых в просвечивающей микроскопии режимах работы. Большой выбор дополнительной оснастки — детекторы, сканирующие приставки, крио- и термодержатели, томографический блок, дополнительные спектрометры, цифровые сканирующие и телевизионные камеры, фотоприставки — все это позволяет пользователям создать собственный уникальный исследовательский прибор на базе LIBRA 120. В вакуумной системе серии LIBRA используется т.н. «вакуумный буфер» — устройство, которое не только оберегает Ваш микроскоп, но и позволяет отключать потенциальные источники вибропомех на время проведения исследований на высоких увеличениях. 408;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Сканирующий электронный микроскоп AURIGA CrossBeam (Carl Zeiss);Обеспечивает изображение с превосходным химическим контрастом. Конструкция GEMINI позволяет производить анализ образцов с разной степенью намагниченности и различной природы. Возможность одновременного отображения композиционного контраста с потрясающим качеством изображения. Для получения лучших результатов, в системе AURIGA используется и новая ионная колонна с революционным пространственным разрешением в 2,5 нм! Уникальные способности новой системы дополняет усовершенствованная технология газовой химии для работы в ионном и электронном пучках, применяемой для травления исследуемых образцов или их иной модификации, например, путем послойного осаждения на поверхность образцов необходимых химических элементов или соединений. 409;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Оптический микроскоп Axio Imager (Carl Zeiss);Анализатор изображения обеспечивает распознавание структур сталей с отчетом о результате количественной оценки, запись последовательности действий для создания собственных методик и реализацию следующих стандартных методик: анализ зерна (ASTM E1382 – 97, ГОСТ 5639-82, ISO 643-2003 (DIN 50601), неметаллических включений (ГОСТ 1778-70 автоматизированный, ASTM Е 1245-03, ASTM Е 45-05, DIN 50602-1985, ISO 4967-1988), количественная оценка структурной полосчатости стали (ASTM E 1268-01, ГОСТ 5640 автоматизированный), количественный анализ структурных и фазовых составляющих, анализ глубины обезуглероженного слоя (ГОСТ 1763-68, ISO 3887-2003, ASTM E1077-01), методы сравнения с эталонами в соответствии с любыми стандартами, включая ГОСТ 8233 и ГОСТ 10230, статистическая обработка выполненных измерений и формирование отчета. Программное обеспечение и алгоритмы обработки изображений аттестованы, как средство измерения, в соответствии с МИ 2174-91 в Комитете РФ по стандартизации, метрологии и сертификации. 410;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения S-3400N;Комплекс для изучения состояния поверхности кристаллических и аморфных веществ. Позволяет исследовать топографию и состав любых твердотельных образцов, в том числе порошкообразных и биологических. 411;ФГБУН Институт Химии Коми научного центра Уральского отделения РАН;Сканирующий электронный микроскоп TESCAN VEGA 3 SBU c рентгеновским энергодисперсионным анализатором AZTECENERGY/X-ACT;Предназначен для изучения микроструктуры поверхности и локального элементного анализа электропроводящих и непроводящих материалов – металлов, керамики, неорганических порошков, волокон и др. Длина (ширина) образца до 120 мм, высота до 36 мм. Ускоряющее напряжение от 0,2 до 30 кВ. 412;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Инвертированный микроскоп Neophot 2 (Carl Zeiss);Предназначен для исследования микроструктуры металлов и сплавов в отраженном свете в светлом и темном полях при прямом освещении. 413;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Сканирующий зондовый микроскоп ИНТЕГРА-ПРИМА (НТ-МДТ);Позволяет решать широкий спектр задач в области атомно-силовой микроскопии, предусматривает возможность изучения физических и химических свойств поверхности образца с высокой точностью и разрешением 414;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Сканирующий зондовый микроскоп MULTIMODE 8 (Veeco Instruments);Реализует весь набор методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), выдавая характеристики поверхности, такие как топография, упругость, трение, адгезия и распределение магнитного и электрического полей. Короткий оптический путь между зондом и образцом обеспечивает высокие скорость сканирования и точность. Электрохимические приставки позволяют работать в режимах электрохимической сканирующей туннельной микроскопии (ЭХСТМ), электрохимической атомно-силовой микроскопии (ЭХАСМ) и микроскопии электрохимического потенциала. Образцы проб – твердые вещества, в том числе порошки V – 1 х 1 х 0,8 см 415;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Растровый электронно-ионный микроскоп Helios Nanolab 600i (FEI);Представляет собой комбинацию фокусированного ионного пучка (ФИП) и сканирующегоэлектронного микроскопа. Предназначен для восстановления 3D-структуры образца посредством послоевого травления образца с помощью ФИП, подготовки образцов для ПЭМ, проведения микроанализа элементов сечения дефекта 416;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Просвечивающий крио- электронный микроскоп Titan Krios 60-300 (FEI) с image- корректором сферических аберраций;Предназначен для криопросвечивающей электронной микроскопии, автоматизированного анализа единичных частиц, 2D электронной кристаллографии и двухосевой томографии. Позволяет получать информацию о биологических клетках вплоть до масштаба отдельных молекулярных комплексов 417;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Просвечивающий электронный микроскоп Titan 80-300 (FEI) с probe- корректором сферических аберраций;Прибор предназначен для изучения внутренней микро- и нано- структуры исследуемых материалов, их локального химического состава, типа и параметров кристаллической решетки. Латеральное разрешение 0.79 Ангстрем. Диапазон энергий электронов 80-300 кВ. Энергетическое разрешение EELS 0.7 эВ, пространственное разрешение 0.1 нм. 418;ФГБУН Геологический институт Кольского научного центра Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп LEO 1450 (Carl Zeiss) с энергодисперсионным спектрометром QUANTAX 200 (Bruker);Комплексная система для дифракции обратно-рассеянных электронов и ЭДС-микроанализа. 419;ФГБУН Геологический институт Кольского научного центра Российской академии наук;Рентгеновский микроанализатор состава Cameca MS-46;Предназначен для микроанализа веществ рентгеновским методом 420;ФГБУН Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра Российской академии наук;Микроскоп стереоскопический Stemi 2000 (Carl Zeiss);Предназначен для микрофотосъемки лабораторных объектов 421;ФГБУН Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра Российской академии наук;Инвертированный поляризационно-оптический микроскоп Axio Observer Z1 (Carl Zeiss);Предназначен для анализа микроструктуры живых тканей, микроорганизмов, шлифов, тонких пленок и слоев, кристаллов, в том числе для получения микрофотографий и их документирования. Находит применение при проведении исследований структуры и свойств полимерных пленок и тонких слоев жидких кристаллов. 422;ФГБУН Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра Российской академии наук;Поляризационно-оптический микроскоп Axio Imager A1 (Carl Zeiss);Предназначен для анализа микроструктуры живых тканей, микроорганизмов, шлифов, тонких пленок и слоев, кристаллов, в том числе для получения микрофотографий и их документирования. Находит применение при проведении исследований структуры и свойств полимерных пленок и тонких слоев жидких кристаллов. 423;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Сканирующий мультимикроскоп СММ-2000 (Протон-МИЭТ);Исследование поверхностей различных материалов в режимах сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии (получение 2D и 3D-изображений в редактируемых палитрах, возможность проведения математической обработки и анализа кадров). 424;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Оптический микроскоп Neophot-32 (Carl Zeiss);предназначается для металлографической и рудной микроскопии и создания фотоснимков. Наблюдение может производиться методом светлого и темного поля, в поляризованном свете, с изменением кратностей увеличения. Для установки микроскопа требуется виброустойчивое помещение, свободное от пыли и химических паров. 425;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Высокоразрешающий сканирующий электронный микроскоп SU 8280 (Hitachi) с приставкой для EDX анализа;Предназначен для анализа морфологических и химических особенностей поверхности твердых материалов 426;ООО «Нанодиагностика»;Инвертированный металлографический микроскоп Axio Observer A1m (Carl Zeiss);Позволяет проводить исследования в отраженном свете по методам светлого поля, темного поля и поляризации. Ахроматическая безрефлексная оптика в сочетании с большим полем зрения (23 мм) дает возможность получения четкого изображение наблюдаемого объекта при увеличениях от 50 до 1000x. Программное обеспечение автоматического анализа изображений материалов позволяет определять размеры, форму, положения зерен, пор, включений, фаз и т.п. 427;ООО «Нанодиагностика»;Сканирующий зондовый микроскоп di Innova SPM (Veeco-Digital Instruments);Мультимодовый зондовый сканирующий микроскоп, объединяющий возможности всех мод атомно-силовой и туннельной микроскопии с разрешением вплоть до атомарного, позволяет проводить измерения характеристик рельефа поверхности проводящих и полупроводниковых структур, а также их электрических, магнитных и других свойств в контролируемых температурных условиях, отличных от комнатных. 428;ООО «Нанодиагностика»;Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Merlin (Carl Zeiss);Предназначен для проведения нанометрических исследований металлов, полупроводников, и диэлектриков. 429;ООО «Нанодиагностика»;Сканирующий электронно-ионный микроскоп Neon 40 (Carl Zeiss);Позволяет осуществлять ионно-лучевые литографические операции, исследовать микрорельеф поверхности твердых тел, проводить количественный и качественный элементный микроанализ их состава, определять фазовый состав приповерхностных слоев, проводить послойный анализ материалов. 430;Магнитогорский государственный технический университет им. Г.И. Носова;Интерференционный микроскоп Contour GT K1 (Bruker);Предназначен для измерения микротопографии поверхности 431;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Универсальный микроскоп Axio Imager A1.m (Carl Zeiss);"Предназначен для проведения научно-исследовательских работ в лабораториях различной направленности: генетика и цитогенетика (кариотипирование, FISH, MFISH); экспериментальная биология; патология и анатомия (окрашенные срезы, люминесценция); клеточная биология; нейробиология." 432;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Атомно-силовой микроскоп Solver PRO-M с измерительным модулем Smena (НТ-МДТ);Предназначен для анализа топологии поверхности исследуемых объектов с нанометровым пространственным разрешением. 433;ФГБОН Бурятский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп Multimode 8 (Bruker);Широкоизвестный своим высоким разрешением, атомно-силовой микроскоп последнего поколения MultiMode® 8 использует эксклюзивную технологию Bruker PeakForce Tapping™, которая выводит его на новый уровень получаемых научных результатов и обеспечивает непревзойденную простоту управления. Эксклюзивный режим ScanAsyst® позволяет формировать изображение легче, быстрее и более стабильно путем прямого контроля силы взаимодействия зонда и образца и автоматической оптимизации параметров формирования изображения. А режим ScanAsyst-HR обеспечивает в 6 раз более быстрое сканирование при еще большей продуктивности. Количественное картирование свойств материала стало возможным благодаря режиму PeakForce QNM®, в который анализируется взаимодействие зонда и образца для выявления наномеханических свойств, таких как модуль Юнга, адгезия, деформация и др. 434;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Универсальный комплекс сканирующей зондовой микроскопии NTEGRA Prima (НТ-МДТ);Прибор используется для получения изображения поверхности образца и его характеристик. Сканирование образцом. Размер образца: диаметр до 40 мм, высота до 15 мм. Вес образца до 100 г. XY диапазон позиционирования 5x5 мм. Разрешение позиционирования 5 мкм. 435;Дальневосточный геологический институт ДВО РАН;Микроскоп сканирующий электронный EVO 50XVP (Carl Zeiss) c системой INCA Energy 350 (Oxford Instruments) для рентгеновского энерго-дисперсионного микроанализа;Конфокальная не лазерная сканирующая микроскопия с программным управлением для решения специальных задач материаловедения с пиксельным разрешением 1280х1024 и латеральным разрешением 320 нм 436;Сыктывкарский государственный университет имени Питирима Сорокина;Профессиональный биологический микроскоп БИОЛАМ Р-11 (ЛОМО);Микроскоп может быть использован в различных областях медицины (гематологии, дерматологии, урологии, пульмонологии и т. д.), при диагностических исследованиях в клиниках и больницах, а также в биологии, зоологии, экологии и др. 437;Сыктывкарский государственный университет имени Питирима Сорокина;Стереомикроскоп LV 1000 High Definition (Leica);Обеспечивает проходящий, падающий и наклонный свет высокого качества и контрастности при любом применении. Интегрированная (High Definition) цифровая камера может быстро передавать изображения на экран компьютера или на HD дисплей, превращая стереомикроскоп в USB микроскоп. Она переда?т цветные изображения с разрешением 3 мегапикселя непосредственно на SD карту, на ОС Windows или на Mac компьютер. Специализированное программное обеспечение для обработки изображений позволяет легко настраивать, захватывать и архивировать изображения. 438;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Сканирующий зондовый микроскоп Nanoeducator (НТ-МДТ);Используется для исследования микро- и наноразмерных структур, которые сложно, либо невозможно исследовать с помощью оптической микроскопии, на поверхности различных материалов с высоким разрешением. 439;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Система сканирующей ближнепольной оптической микроскопии AIST SmartSPM™ (Aist NT);Позволяет проводить СБОМ-измерения посредством волокна или кантилевера в контактном режиме и режиме плоского сканирования (полета над поверхностью) в геометрии на отражение. 440;Сыктывкарский государственный университет имени Питирима Сорокина;Микроскоп лабораторный биологический BX43 (Olympus);Обладает качественной и эффективной оптикой и является идеальной платформой для получения цифровых изображений. Предлагает различные методы контрастирования в сочетании с цветоскорректированной светодиодной подсветкой ,которая обеспечивает превосходную цветопередачу. Эффективность микроскопа подчеркивает его эргономичный дизайн, а простой менеджер света автоматически регулирует освещенность для каждого объектива. Широкий ассортимент аксессуаров позволяет модернизировать микроскоп для поддержки других методов, что делает его адаптации для удовлетворения будущих потребностей. Микроскоп может комплектоваться цветоскорректированным светодиодным или же традиционным галогеновым осветителем. 441;Санкт-Петербургский государственный университет;Микроскоп универсальный исследовательский МБИ-6 (ЛОМО);Визуальное наблюдение и фотографирование в проходящем свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете, с фазовым контрастом, в отраженном свете – в светлом и темном полях. 442;ФГБУН Лимнологический институт Сибирского отделения Российской академии наук;Поляризационно-интерференционный микроскоп BIOLAR (PZO);Предназначен для наблюдения микрообъектов, как фазовых (прозрачных), так и амплитудных (поглощающих свет), а также для измерения разности оптического пути (фазового сдвига), градиента разности оптического пути толщины, коэффициента преломления, двойного лучепреломления, угла касания, вида микроповерхности, концентрации веществ, содержания сухих веществ в клетках, светопропускаемости, а также и других физических величин. Микроскоп позволяет производить качественные и количественные исследования с применением следующих интерференционных методов: метода полос, метода дифференциального и однородного поля с большим раздвоением изображения. 443;Палеонтологический институт им. А.А.Борисяка РАН;Биологический микроскоп Leica MZ16 FA (Leica Mirosystems);Предназначен для микроскопических исследований биологического материала. Оснащен цифровой фотокамерой и выходом на компьютер для съемки объектов в проходящем и отраженном свете с увеличением до 500х. 444;Палеонтологический институт им. А.А.Борисяка РАН;Электронный сканирующий микроскоп TESCAN VEGA-II XMU (Carl Zeiss);Предназначен для исследования структуры и состояния поверхности с высоким разрешением. 445;Научно-исследовательский институт общей патологии и патофизиологии РАМН;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп Eclipse C1 plus (Nikon);Оптимальное решение для медико-биологических задач. Широкий выбор лазерных излучателей Nikon предлагает аргоновые ионные лазеры, гелий-неоновые лазеры, диодные лазеры и твердотельные лазеры с диодной накачкой. 446;ФГБУН Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук;Поляризационный микроскоп Axioskop 40 Pol (Carl Zeiss);Предназначен для микроскопии в проходящем свете – методами светлого поля и поляризационного контраста (коноскопия и ортоскопия), а также в отраженном свете – методами светлого поля, темного поля, поляризационного контраста, дифференциально-интерференционного контраста с круговой поляризацией (C-DIC), интерференционного метода определения высот TIC и эпилюминесценции. 447;ФГБУН Институт гидродинамики им. М.А. Лаврентьева Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп LEO-420 (Carl Zeiss) в комплексе с энергодисперсионным спектрометром INCA Energy;Предназначен для структурных исследований. С помощью LEO-420 были получены важные результаты в различных областях материаловедения, таких как компактирование наноструктурных и внутреннеокисленных порошковых материалов, создание высокопрочных материалов с субмикрокристаллической структурой, разработка композиционных материалов на основе металлических матриц, дискретно-армированных твердыми наночастицами, сварка взрывом. 448;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Инвертированный микроскоп для биологических исследований Axio Observer Z1 (Carl Zeiss);Предназначен для изучения структуры и свойств биологических сред и живых клеток. Методы исследования объектов: в проходящем свете, по методам светлого поля, дифференциально-интерференционного контраста, в проходящем свете, люминесценции в отраженном свете. 449;ФГБУН Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук;Зондовый микроскоп MultiMode NanoScope IIIa SPM System (Veeco);Используя различные измерительные компоненты, система позволяет проводить исследования топографии поверхности, шероховатости, распределения частиц по размерам и высоте и т. д., выполнять измерения магнитных характеристик, например, доменной структуры, а также исследования микроскопии сопротивления растекания. 450;ФГБУН Институт механики сплошных сред Уральского отделения Российской академии наук;Цифровой видеомикроскоп KH-7700 (HIROX);Предназначен для получения оцифрованных изображений объектов и выполнения измерений по трем координатам. Система успешно применяется в электронике, машиностроении, медицине, материаловедении, криминалистике, металлографии, в производстве пластмасс, биологии, реставрации и др задачах 451;ФГБУН Институт механики сплошных сред Уральского отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп Nano-DST (Pacific Nanotechnology);Предназначен для исследования поверхности материалов на микро- и нано- уровне. 452;ФГБУН Институт механики сплошных сред Уральского отделения Российской академии наук;Интерферометрический микроскоп NewView 5000 (Zygo Corporation);Предназначен для получения трехмерного цифрового образа поверхности. 453;Санкт-Петербургский государственный университет;Сканирующий электронный микроскоп EVO 40EP (Carl Zeiss), укомплектованный системой микроанализа Oxford INCA 350;"Получение изображений методом СЭМ проводящих и непроводящих материалов с пространственным разрешением в нанодиапазоне; анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ и других особенностей структуры; количественный и качественный состав анализируемого вещества. Разрешение: вольфрамовый катод - 3,0 нм; гексаборид лантана - 2,0 нм; в режиме сверхнизкого вакуума - 4,5 нм. Ускоряющее напряжение: 0,2530 кВ. Рабочие токи: 0,5 пА - 5 мкА. Аналитическое расстояние может быть установлено пользователем в пределах от 8,5 до 20 мм." 454;ФГБУН Институт биофизики клетки Российской академии наук;Микроскоп биологический Axio Imager Z2 (Carl Zeiss);Предназначен для анализа структуры организмов, тканей и клеток (в том числе живых объектов) в проходящем свете, как окрашенных с применением гистологических красителей, так и неокрашенных. Оснащен системой DIC, флуоресцентным осветителем с HXP лампой, объективами A-Plan, высокочувствительными цифровыми камерами Axio Cam MRM и Axio Cam HRC. Объективы A-Plan: 10x/0.25, 40x/0.65, 100x/1.25 Oil, окуляры E-PL 10x/20. 455;ФГБУН Институт биофизики клетки Российской академии наук;Высокоскоростная флуоресцентная станция AF 6000 (Leica);Предназначена для применения в флуоресцентной микроскопии при анализе изображений, включая эксперименты на живых клетках в реальном времени, мульти позиционирование, Z-наложение и деконволюцию. Универсальные, полностью интегрированные решения обеспечивают гармонию между аппаратным и программным обеспечением, скорость, надежность и возможность планирования эксперимента, анализ и удобство работы. Для особо требовательных приложений AF6000 предлагает высокоскоростной захват изображений, TIRF, Fura2, FRET SE, скрининг, Ca2 , сравнение изображений, внешний пульт запуска. 456;ФГБУН Институт биофизики клетки Российской академии наук;Система флуоресцентного анализа изображения Axiovert 200М Cell Observer (Carl Zeiss);Позволяет применять все доступные методы контрастирования и оснащается на заказ осветителями различного типа и мощности. Наличие фото/видео-выхода обеспечивает возможность документирования изображения с помощью цифровых камер и дальнейшую обработку изображения с помощью программ анализа изображений. 457;ФГБУН Институт биофизики клетки Российской академии наук;Конфокальный сканирующий микроскоп LSM 510 (Carl Zeiss);Многофункциональный лазерный сканирующий микроскоп для исследовательских задач, и работы с живыми биологическими объектами. 458;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп LEO EVO-50 (Carl Zeiss);Предназначен для исследования поверхностей проводящих и непроводящих материалов и их повреждений, локального химического микроанализа материалов. 459;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Оптический поляризационный микроскоп Axio Scope A1 (Carl Zeiss);Предназначен для лабораторных исследований с возможностью визуализации изображений 460;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп LEO 430i (Carl Zeiss);Исследование микроструктуры и состава поверхности твердых тел для решения задач в области металлургии и материаловедения. 461;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп LEO 1420 (Carl Zeiss);Анализ поверхности твердых образцов (и порошков) на микронном и субмикронном уровне. Определение элементного состава образцов (рентгеновский микроанализ). 462;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп CrossBeam 1540EsB (Carl Zeiss);Исследование наноструктур, фазового и химического состава, кристалло-графических характеристик твердых тел. Нанопрепарирование, нанолитография, подготовка сверхтонких срезов для исследований методами ПЭМ. 463;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Магнитно-резонансный анализатор EchoMRI-700 (EchoMRI LLC);Предназначен для экспресс анализа тощей массы тела, жировой ткани, свободной и общей воды организма мышей и крыс массой до 700 гр 464;ООО РадоНика;Растровый электронный микроскоп CX-200 TA (COXEM);Обладает высоким разрешением и удобен в управлении, поэтому на нем без затруднений можно получить изображение высокого увеличения. Операционная наносистема CX-200 обеспечивает управление автоматизированным столиком одним кликом «мыши». Оснащен полностью автоматизированным столиком с пятью осями (X,Y,Z,T,R), что позволяет перемещать образец по желанию оператора. 465;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Растровый электронный микроскоп SEM-515 (Philips);Предназначен для топографического и качественного фазового анализа поверхностей металлических и полупроводниковых материалов 466;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Стереоскопический микроскоп ЛабоСтеми-4 зум Лонгер вариант 2 (Labor-Microscopes);Получение увеличенного трёхмерного изображения объекта (без его специального приготовления) непрозрачного, полупрозрачного или прозрачного, помещённого на предметный столик Диапазон возможных значений полного увеличения: 1.75х – 180х 467;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Комбинированный поляризационно- флуоресцентный микроскоп BX51 (Olympus);Исследование микрообъектов с использованием поляризованного света и флуоресценции Увеличение: до 100 крат Оптическая система: скорректированная на бесконечность Числовая апертура: до 1.4 Шаг точной фокусировки: 1 мкм 468;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Атомно-силовой микроскоп Solver P47-PRO (НТ-МДТ);Предназначен для использования в нанотехнологических исследованиях в самых разных научных областях. Обеспечивает получение изображений поверхности микро- и нано- объектов с пространственным разрешением вплоть до атомарного. 469;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Нанотехнологический комплекс Нанофаб 100 (НТ-МДТ) с модулями молекулярно-лучевой эпитаксии, вакуумного сканирующего зондового микроскопа, электронного микроскопа и фокусированного ионного пучка;Предназначен для формирования нанотехнологических комплексов с кластерной компоновкой. Формируемые на платформе НАНОФАБ 100 нанотехнологические комплексы (НТК) включают технологические модули с возможностями групповых и нанолокальных методов обработки подложек диаметром до 100 мм, а также контрольно-измерительные модули. При формировании НТК группы технологических и контрольно-измерительных модулей объединяются в кластеры, которые связываются в технологические цепочки через модули межоперационной передачи и складирования образцов. 470;ЗАО Концерн Наноиндустрия;Настольный универсальный сканирующий электронный микроскоп Phenom G2 pro (Phenom-World);Наиболее технически оснащенная и совершенная модель в серии микроскопов Phenom. Благодаря улучшенным техническим характеристикам детектора обратно рассеянных электронов, новому источнику электронов CeB6 (гексаборид церия) и новой обзорной цветной камере для навигации, Phenom G2 pro стал самым мощным микроскопом своего класса. Диапазон увеличений микроскопа Phenom G2 pro составляет от 80 до 45,000 крат. Управление посредством сенсорного экрана и мыши обеспечивает удобную, быструю работу и более точную навигацию по исследуемому образцу. Время получения изображение с высоким разрешением всего 30 секунд. Не требует высокой квалификации пользователя. 471;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий туннельный микроскоп УМКА (ИН МФК);Предназначен для наблюдения за поведением отдельных атомов на поверхности и изучения процессов с участием одиночных или небольших групп атомов. Является прекрасным инструментом не только для обучения практическим методам работы с наноразмерными структурами. Он также с успехом используется в университетских и научных лабораториях для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Кроме того, перспективным направлением является внедрение предлагаемого НТК Умка в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий, организаций, связанных с проверкой качества продукции и состояния экологии. 472;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп ЭМВ-100 БР;Позволяет проводить исследования микроструктуры и фазового состава различных объектов на просвет. Разрешающая способность прибора при работе в режиме высокого разрешения составляет ЭМВ-100 БР по точкам-0,5 нм. Диапазон электронно-оптического увеличения в режиме высокого разрешения от 100х до 600000х. 473;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп JSM-840 (JEOL);Компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики.Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям.Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным. 474;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Бинокулярный микроскоп МИКМЕД-6 (ЛОМО);Предназначен для клинической лабораторной диагностики и морфологии при исследованиях объектов в проходящем свете с освещением по методу светлого поля, с дополнительными аксессуарами – по методам фазового контраста и темного поля, в свете люминесценции и в поляризованных лучах.В клинической лабораторной диагностике микроскопы используют при анализе крови и просмотре цитологических препаратов различных биологических материалов: мокроты, мочи, ликвора, костного мозга, отпечатков лимфоузлов, для диагностики венерических заболеваний, туберкулеза, в дерматологии, а также для количественной оценки материала (лейкоцитарная формула, цитограмма, миелограмма, копрологический анализ и др.). На микроскопе можно изучать окрашенные и неокрашенные препараты в виде мазков и гистологических срезов, а также биологические жидкости в камерах типа Горяева. 475;ООО Энергоавангард;Система для производства фотошаблонов JBX-3050MV (JEOL);Предназначена для производства микросхем с высокими степенями интеграции. Обладает высокими однородностью и плотностью пучка (до 40А/см2), возможностью изменять форму пучка, проводить векторное сканирование. Данная система вобрала все лучшие качества предыдущих моделей, включая лидера продаж десятилетия – JBX-3040MV. Она отличается высокой надежностью и производительностью, и, благодаря этому, за столь короткий период прекрасно себя зарекомендовала на ведущих предприятиях мира. 476;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Металлографический инвертированный микроскоп Альтами МЕТ 2 (ООО «Альтами»);Первый металлографический микроскоп инвертированной конструкции Альтами для исследований по методам светлого и темного поля, а также по методу поляризации (поляризатор и анализатор входят в стандартный комплект). 477;ООО Лаборатория микроскопов (проект по разработке и созданию микроскопов и других оптических приборов);Исследовательский стереоскопический микроскоп ЛабоСтеми-4 лонгер вариант 2 (Labor-Microscopes);Предназначен для работы в отражённом свете, если не предусмотрено использование специального столика для объектов с подсветкой снизу, когда возможно получение смешанного освещения. Для обеспечения различных видов освещения в отражённом свете возможно использование кольцевого осветителя прямого света, оптоволоконного осветителя косого света или их сочетание. В этой модели микроскопа сохранены технические характеристики «младшей модели». Оптическая головка позволяет плавно без потери исследуемого объекта из вида изменять масштаб увеличения. Коэффициент трансфокации этого стереоскопического микроскопа составляет 6.4/1, полное увеличение на микроскопе может достигать 180х. Важно, что новый штатив позволяет выдержать эти параметры, обеспечивая стабильность и удобство работы с микроскопом. 478;ООО Лаборатория микроскопов (проект по разработке и созданию микроскопов и других оптических приборов);Исследовательский металлографический микроскоп ЛабоМет-1 вариант 2 (Labor-Microscopes);Применение высокоточного фокусировочного механизма, выполненного коаксиальным, обеспечивающим точность исполнения тонкой микрофокусировки 0.002мм, позволяет, в отличие от младшей модели, использовать в микроскопе ЛабоМет-1 вариант 2 (наряду с другими) - прецизионный безыммерсионный микрообъектив максимального увеличения 100х и добиться общего увеличения на микроскопе до 2000х. Усовершенствованный осветитель отражённого света реализует классическое освещение по Кёлеру, наличие материальных ирисовых апертурной и полевой диафрагм обусловливает возможность оптимизации световых потоков для получения оптимально сбалансированных характеристик по контрасту и равномерности освещения по всему линейному полю. В микроскопе предусмотрено использование цветных фильтров и возможность реализации метода поляризационного контраста, что существенно расширяет возможности прибора для микроанализа, например, шлифов в металлографии, топологических структур в микроэлектронике, других объектов. 479;ООО Лаборатория микроскопов (проект по разработке и созданию микроскопов и других оптических приборов);Цифровой микроскоп ЛабоДиг-1 Лонгер (Labor-Microscopes);Для испытания опытных образцов некоторых из изготовленных объективов с увеличенными свободными расстояниями нами использовалось устройство микропрофилометра, разработанное нами ранее и дополненное штативом с фокусировочным механизмом и волоконно-оптическим осветительным устройством. Несколько неожиданно для нас сформировался оригинальный прибор – цифровой микроскоп, который может быть полезен для научных и практических изысканий наших потребителей. Отличительной особенностью этого микроскопа является возможность замены визуального зрения цифровым приёмником изображения с последующей визуализацией на внешнем мониторе. Микроскоп может оснащаться компьютером и профессиональным программным продуктом, который мы обычно рекомендуем нашим заказчикам. Этот цифровой микроскоп получил своё название ЛабоДиг-1 Лонгер. Ниже представлены его основные технические характеристики. 480;ООО Лаборатория микроскопов (проект по разработке и созданию микроскопов и других оптических приборов);Микроскоп биологический Лабомед -3 Фаворит (Labor-Microscopes);В отличие от подавляющего большинства моделей микроскопов, представленных сегодня на российском рынке, наш прибор имеет очень качественную осветительную систему. С помощью специальных инженерных технологий удалось реализовать классическое освещение по Кёлеру без перенастроек при использовании всего комплекта микрообъективов. То есть, настроив осветительную систему один раз, Вы можете быть уверены в оптимальности и отличном качестве освещения при Ваших исследованиях. Еще одним неоспоримым преимуществом этого микроскопа является техническая возможность реализации увеличенного окулярного линейного поля. В пределе можно использовать даже окуляры с линейным полем 26,5 мм. И это при отличном качестве изображения на микроскопе, которое обеспечивается современными планахроматическими объективами с коррекцией INFINITY. 481;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Люминесцентный микроскоп Eclipse 50i (Nikon) с высокочувствительной камерой DS-Qi1Mc (Nikon);Микроскоп совмещает в себе эргономические решения, которые исключают утомление оператора при продолжительной работе, а система оптики CFI60 обеспечивает наилучшее функционирование оптических узлов микроскопа. 482;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Инвертированный оптический микроскоп Axio Observer A1m/D1m/Z1m (Carl Zeiss), диапазон увеличений 50-1000х;Возможность реализации как микроскопа отражённого, так и проходящего света с соответствующим комплектом конденсоров и объективов проходящего света. Интерес представляет введённый в данную серию комплект осветителей. Наравне с галогенной и ртутной лампами, предлагаются светодиодные осветители для проходящего света, известные своей долговечностью. Адаптер для установки двух осветителей (например, с галогенной и ртутной или ксеноновой лампами одновременно) позволяет проводить исследования различными источниками света без остановки в процессе работы. Два типа моторизованных столов разной точности (а значит и разной стоимости) обеспечивают процесс автоматизированного контроля не только по площади, но и при использовании специального адаптера, автоматизировать также процесс измерения и наблюдения по оси Z. Все инвертированные металлографические микроскопы фирмы Carl Zeiss реализуют такие методы контрастирования и исследования как светлое и тёмное поле, поляризация, люминесценция и дифференциально-интерференционный контраст (DIC, PlasDIC), фазовый /- анализ. Измерения могут быть проведены как с помощью электронного цифрового окулярного микрометра (окуляр 20х), так и с помощью мини-интерферометра TIC. 483;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Сканирующий электронный микроскоп JSM 6490 LV (JEOL), оборудованный системой микроанализа;Полностью автоматизированная система электронной оптики для использования всех возможностей инструмента оператором, даже с минимальным набором знаний. На колонну микроскопа можно одновременно монтировать от одного до трёх дополнительных спектрометров. Энерго-дисперсионный спектрометр (EDS), волновой спектрометр (WDS), детектор картин дифракции отражённых электронов (EBSD). С помощью этих аналитических приставок вы сможете получать информацию не только о морфологии поверхности, но и о составе образца на субмикронном уровне, получать картины распределения элементов по выбранной площади образца, вдоль линии, а также кристаллографическую информацию от микрозёрен. Важно, что спектрометры работают в единой программе. 484;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Комплекс лазерного сканирующего конфокального микроскопа LSM-710 NLO (Carl Zeiss);Система способна решать обширный спектр исследовательских задач, она идеально подходит для высокочувствительных флуоресцентных исследований по глубине живых образцов или организмов. Прецизионные установки фемтосекундного лазера и максимально эффективное детектирование обеспечивают качественное изображение в глубоких слоях ткани. Эксперименты по фотобличингу и фотоманипуляции можно проводить с очень большой точностью благодаря заданной 3D зоне возбуждения. Возможны следующие применения: временные серии изображений, мультифлуоресцентное изображение, изображение и измерение концентраций ионов, количественная колоколизация, микроскопия в проходящем свете, FRET анализ. 485;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Ионный сканирующий микроскоп Strata FIB 205 (FEI);Ионный микроскоп с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 20 кВ, разрешение 7 нм, ток пучка от 1 пА до 20 нА, плотность тока до 100 А/см2. Система оснащена 5-и осевым моторизованным столиком 50х50 мм, газовыми инжекционными системами для напыления проводников и диэлектриков, а также для травления образцов. Прибор идеален для анализа внутреннего строения объектов. В состав прибора включено программное обеспечение для автоматизированной подготовки проб к анализу на ПЭМ. 486;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп Quanta 600 (FEI);"Микроскоп позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим x100,000; с большим числом элементов разложения (пикселов). Он предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости." 487;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Прямой биологический микроскоп Olympus BX41;Предназначен для использования в различных направлениях биомедицинских исследований, так как благодаря модульности конструкции может быть оснащен для решения различных задач. 488;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Электронный сканирующий микроскоп JSM 7700F (JEOL) в комплекте с приставкой для энергодисперсионного анализа JED 2300 и напылительной установкой;Сканирующий электронный микроскоп используется в различных областях, таких как медицинские, биологические , металлов, полупроводников и керамики, его область применения постоянно расширяется. В сочетании с другими устройствами его способности увеличиваются. 489;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп Solier (НТ-МДТ);Представляет собой мощный научно-исследовательский инструмент (3 в 1), который содержит ион-проводящий микроскоп, режим АСМ True Non-ContactTM и инвертированный оптический микроскоп на одной платформе. 490;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Металлографический микроскоп МЕТАМ РВ-21-1 (ЛОМО);Предназначается для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле, а также для исследования объектов в поляризованном свете и методом дифференциально-интерфереционного контраста (ДИК) 491;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Растровый электронный микроскоп JSM-6495 (JEOL);"Предназначен для исследования топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция). Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)" 492;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Оптический материаловедческий микроскоп Axio Imager 1Am (Carl Zeiss);Современный материаловедческий оптический микроскоп. Представляет собой модульную конструкцию, объединяя современные требования к форме, эргономике, функциональности и высокому техническому качеству. Используется для контроля качества и изучения объектов, содержащих физико-химические особенности (структуру, морфологию, текстуру) в масштабе нескольких микрон. 493;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп JSM-6610LV (JEOL) с энергодисперсионным анализатором Inca-350;Исследование морфологии и структуры поверхности твердых веществ и материалов, а также локальный микроанализ. Прибор - многопользовательская система с двумя детекторами. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. 494;ФГБУН Новосибирский институт органической химии им. Н.Н.Ворожцова Сибирского отделения Российской академии наук;Дисперсионный Раман-микроскоп Sеnterra (Bruker);Регистрирует КР-спектры и соотносит спектральную картину с реальным изображением образца. Данный вид анализа бесконтактный и не требует подготовки образца. Химическое изображение поверхности образца регистрируется с высоким пространственным разрешением - менее 1 микрона. Возможность исследовать оптически прозрачные образцы в направлении оси Z позволяет проводить неразрушающий трехмерный анализ таких образцов. Систему можно использовать для широко круга задач: детектирования, установления различий и идентификации органических и неорганических веществ. 495;ФГБУН Институт аналитического приборостроения Российской академии наук;Детектор субпопуляций клеток флуоресцентный ДСКФ-01 (ИАП РАН);Предназначен для автоматизированного анализа иммунокомпетентных клеток, выявление их субпопуляционного состава, исследование ансамблей клеток или других микрообъектов с флуоресцентными метками . Целью анализа является получение статистических распределений клеток по их индивидуальным параметрам одновременно в двух спектральных диапазонах флуоресценции . Результаты анализа на приборе подобны результатам цитометрических измерений, проводимых на проточных цитометрах. 496;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (FEI);Позволяет исследовать морфологию поверхности образца с высоким разрешением (до 1 нм в электронном пучке и до 7 нм в ионном). Прекрасный инструмент для приготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии, резки и напыления материалов с помощью различных шаблонов с высоким разрешением. Обладает несколькими детекторами позволяющими получать прекрасный контраст на Ваших образцах. 497;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT (FEI);Позволяет установить атомную и молекулярную структуру материалов с разрешением до 0,1 нм. 498;Воронежский государственный университет;Сканирующий зондовый микроскоп ФемтоСкан 001;Позволяет осуществлять полномасштабные измерения с любого компьютера, подключенного к локальной сети или сети Интернет, при этом неограниченное количество санкционированных сетевых пользователей могут иметь доступ к данным эксперимента в реальном масштабе времени и осуществлять самостоятельные анализ, обработку и построение трехмерных изображений.Микроскоп позволяет проводить измерения на воздухе и в жидких средах. Он предназначен для проведения фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для организации экспериментального дистанционного образования студентов в области практической нанотехнологии. 499;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris с X-FEG и SupreX детектором;Cовременный просвечивающий электронный микроскоп с электронной пушкой XFEG, имеющий высокое разрешение до 0,12 нм в светлопольном режиме и до 0,18 нм в STEM-режиме, с новейшим сверхбыстрым и эффективным (в режиме реального времени) EDX-анализатором (Super-X SDD), с возможностью построением карт распределения элементов в образце с разрешением менее 1 нм. 500;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100 (JEOL) с энергодисперсионным анализатором Inca-250;Данный электронный микроскоп обладает высоким разрешением - 0.134 нм. Ускоряющее напряжение 200 кВ Электронная пушка из гексаборида лантана обеспечивает стабильный электронный пучок. Имеется НААДФ детектор. JEM-2100 управляется персональным компьютером со специализированным ПО типа GATAN. Имеются приставки ЭДС на базе Inca-350 и сканирующая приставка STEM. 501;ООО Энергоавангард;Просвечивающий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JEOL JEM-ARM200F;Эта модель оснащается штатным встроенным корректором сферических аббераций для ПРЭМ режима. Благодаря корректору удалось значительно повысить разрешение и аналитические возможности этого прибора, открывающие возможности изучения образцов на атомном уровне. Разрешение в растровом просвечивающем режиме составляет (STEM-HAADF) 0,08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов. Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований. 502;ООО Энергоавангард;Термополевой просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-3200FS;Единственный в мире 300 кВ просвечивающий электронный микроскоп, имеющий встроенный в колонну энергетический Омега-фильтр. Благодаря Омега-фильтру этот прибор позволяет не только получать изображения с высоким разрешением, но и становится великолепным аналитическим инструментом, позволяющим делать элементный анализ на атомарном уровне. Новая электронная оптика исключает паразитный поворот изображения, что обеспечивает не только удобство работы в режимах ПЭМ и дифракции, но и в режиме получения энергетических спектров. Помимо Омега-фильтра, прибор имеет ряд других уникальных особенностей, например, это пьезо-гониометр, обеспечивающий перемещения образца с ангстремной точностью. 503;ООО Энергоавангард;Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JCM-6000 Neoscope II;Настольный растровый электронный микроскоп с вольфрамовым источником электронов. Имея стоимость, сопоставимую со стоимостью хороших световых микроскопов, он обладает намного большей глубиной фокуса и несравнимо лучшим разрешением. Как следствие этого, JCM-6000 может работать в диапазоне увеличений от x10 до х60000 крат. Программное обеспечение позволяет проводить высокоточные количественные измерения на изображениях. Небольшие размеры, возможность легкого перемещения на колесиках и необходимость только в одной стандартной электророзетке для подключения, дают возможность использовать JCM-6000 как демонстрационный прибор, либо как перевозимый прибор в составе мобильной лаборатории. Дружественное программное обеспечение, простота управления, невысокая стоимость и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве. 504;ООО Энергоавангард;Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-IT300;Микроскоп оборудован большой камерой образцов, позволяющей исследовать образцы диаметром до 300 мм и высотой 80 мм. Полностью автоматизированный эвцентрический, асинхронный, пяти осевой моторизованный столик может выдерживать вес образца до 2 килограмм включительно, это позволяет исследовать массивные образцы без их предварительного деления. Новая рабочая среда микроскопа удобна и интуитивно понятна. Управление микроскопом может осуществляться с сенсорного экрана, что позволяет легко и быстро выполнять нужные действия. В микроскопе реализована функция съемки образцов в режиме низкого вакуума. Давление в камере образцов может варьироваться в пределах от 10 до 650 Па. Это позволяет проводить исследование непроводящих биологических образцов без предварительной пробоподготовки. 505;ООО Энергоавангард;Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7100F;Микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами, он совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА). Благодаря уникальной конструкции электронно-оптической колонны достигается высокая стабильность пучка во времени, что очень важно при использовании методов энергодисперсионного анализа, волнодисперсионного анализа, дифракции обратно рассеянных электронов, катодолюминисценции. 506;ООО Энергоавангард;Автоэмиссионный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7500F;Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ультравысокого разрешения. Данный прибор уникален тем, что даже при низком ускоряющем напряжении он обеспечивает сверхвысокое разрешение (1,4нм при 1кВ). Это делает JSM-7500F прекрасным инструментом для анализа текстуры наноструктурных объектов, особенно тех, которые чувствительны к воздействию электронных пучков. Низкая чувствительность к вибрациям пола и акустическим шумам существенно снижают требования по подготовке помещения для установки прибора. Полностью обновленный интерфейс позволит даже начинающим операторам автоэмиссионных растровых микроскопов чувствовать себя уверенно рядом с данным прибором и получать хорошие результаты. 507;ООО Энергоавангард;Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7600F;Многозадачный, высокоэффективный СЭМ с низким энергопотреблением (1,2 кВА) снабжен уникальной комбинацией пушки «In-lens» , позволяющей эффективно собирать все электроны и поддерживать высокий ток пучка, подогревного автоэмиссионного катода и линзы с оптимальным углом апертуры для формирования тонкого зонда, даже при высоких токах. Встроенный r-фильтр позволяет смешивать сигналы детекторов вторичных и отраженных электронов, делая анализ изображений еще более эффективным. Маленький размер зонда гарантируется даже при низких ускоряющих напряжениях и высоких токах. На колонну микроскопа могут быть установлены все типы аналитических приставок, например, EDS, WDS, EBSD, CL. Маленький диаметр зонда и оптимальные условия позволяют элементный анализ образцов с размерами анализируемой области в несколько десятков нанометров 508;ООО Энергоавангард;Сканирующий (растровый) электронный микроскоп высокого разрешения JSM-7800F (JEOL);Позволяет исследовать широкий спектр материалов позволяя получать изображения с очень высоким разрешением. Это достигается за счет технических решений примененных при создании микроскопа. В электронно-оптической колонне реализовано технология Shottky In-Lens FEG заключающая в том, что катод находится внутри конденсорной линзы это позволяет более эффективно, по сравнению с обычным размещением катода, собирать эмитируемы с катода электроны и фокусировать их. Супергибридная объективная линза позволяет значительно уменьшить хроматические и сферические аберации, что позволяет существенно улучшить разрешение, особенно при малых ускоряющих напряжениях. Микроскоп оснащен системой Gentle Beam (GB) которая позволяет уменьшать скорость электронов падающего пучка и ускорять испускаемые электроны, что существенно улучшает соотношение сигнал/шум и позволяет значительно улучшить качество изображения при низких ускоряющих напряжениях. 509;ООО Энергоавангард;Рентгено-флуоресцентный анализатор покрытий X-Strata 980 (OXFORD);Предназначен для измерения толщины или/и определения химического состава покрытий и тонких пленок, содержащих элементы от S до U. Мощная рентгеновская трубка, сверхчувствительный точечный детектор позволяют проводить измерения именно в заданных точках объекта контроля. Возможно обнаружить вредные примеси на уровне единиц ppm. Прекрасные результаты при измерении толщины многослойных покрытий. Измерения по 5 слоям (4 слоя покрятия основание). Высокая точность измерения достигается благодаря оптимальному сочетанию эмпирических калибровок и метода фундаментальных параметров при расчете концентраций. Сменные коллиматоры. 510;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ;Исследование нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ 511;АО «Зеленоградский нанотехнологический центр»;Сканирующий зондовый микроскоп Cypher ES (Asylum Research);Позволяет проводить эксперименты в жидкостях, газовой фазе при контролируемых условиях и температуре со следующими уникальными техническими возможностями: • Введение и обмен газов/жидкостей в герметичной ячейке. • Возможность работы с микрокаплей (< 20 мкл). • Интегрированный контроль температуры. • Химическая стабильность ячейки (совместима с органическими растворителями, кислотами, щелочами). 512;ФГБУН Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Настольный сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000 (Hitachi);"Получение изображения в обратно-отражённых электронах от 100х до 30 000х; морфологические исследования микрообразцов; полуколичественный анализ атомного состава" 513;Вятский государственный университет;Лазерный пинцет JPK Nano Tracker (JPK Instruments);Бесконтактное (неразрушающее) трехмерное наблюдение нанообъектов в режиме реального времени 514;Вятский государственный университет;Туннельный, атомно-силовой микроскоп Ntеgra Prima (НТ-МДТ);Поддерживает все основные методики АСМ и СТМ. Может быть сконфигурирована для проведения узкоспециализированных исследований. 515;Вятский государственный университет;Сканирующий электронный микроскоп JSM-6510 LV (JEOL);Компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики. Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям. Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным. 516;ФГБУН Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук;Интерференционный микроскоп ЛЮМАМ И-3 (ЛОМО);Предназначен для оптического контроля качества микрообъектов и пленок 517;Вятский государственный университет;Сканирующий зондовый микроскоп НАНОЭДЮКАТОР II NT MDT (НТ-МДТ);"Поддерживает все базовые методики атомно-силовой микроскопии, поэтому он может быть использован для любых рутинных АСМ измерений и экспериментов в научных исследованиях. Для примера показаны результаты некоторых экспериментов в различных научных приложениях: Исследование полимерных объектов; Исследование биологических объектов; Исследование углеродных наноматериалов." 518;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Установка для электроспиннинга NANON-01A (MECC CO);Предназначена для получения нановолокна в лабораторных условиях с помощью метода электроспиннинга 519;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Электронный сканирующий микроскоп высокого разрешения Merlin (Carl Zeiss) со спектрометрами;Позволяет определять структуру и фазовый состав приповерхностных слоев наноструктурированных материалов, осуществлять их послойный анализ и модификацию, проводить 3D реконструкцию, а также проводить механические испытания в колонне микроскопа при различных температурах. 520;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Объёмный резонатор для МРТ грызунов на ядрах 1Н и 19F (Bruker);Используется для ЯМР томографии катарактальных хрусталиков 521;ФГБУН Институт химической биологии и фундаментальной медицины Сибирского Отделения Российской Академии Наук;Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss);Отличается большой функциональностью и отвечает новейшим требованиям современного уровня материаловедческих исследований. Используется для исследования и контроля качества материалов. Отличительным качеством инвертированной модели микроскопа является расположение объективов под предметным столиком, что не ограничивает габариты объекта сверху. 522;ФГБУН Институт химической биологии и фундаментальной медицины Сибирского Отделения Российской Академии Наук;Микроскоп инвертированный Axio Imager.M1 (Carl Zeiss);Предназначен для любых профессиональных и исследовательских задач. Устойчивая конструкция дизайн-проекта «пирамида». IC2S – оптика сверхвысокого разрешения и контраста. Моторизированные системы, управляемые с ЖК-экрана или монитора компьютера. Устройство ApoTome для повышенного контраста при люминесцентных наблюдениях. Может служить базой для LSM 510 (лазерная сканирующая микроскопия). 523;ФГБУН Институт металлургии Уральского отделения Российской академии наук;Анализатора изображения нового поколения SIAMS Photolab (Olympus Corporation);Предназначен для исследования различных объектов (сталь, чугун, ферросплавы). Обеспечивает точный и воспроизводимый анализ количественных характеристик изучаемых объектов, составление всевозможных картотек и автоматическое создание отчетов. 524;ФГБУН Институт минералогии Уральского отделения Российской академии наук;Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230 Superprobe (JEOL);Предназначен для микроанализа образцов, их структуры и элементного анализа в микрообъеме. Одним из самых распространенных и эффективных методов, лежащим в основе работы современных микроанализаторов, является микрозондовый (микрорентгеноспектральный) анализ. Образец сканируется электронным микрозондом (пучок электронов до 1 мкм). Под действием этого пучка электронов в микрообъеме образца возникает рентгеновское характеристическое излучение, , а его интенсивность зависит от содержания исследуемого элемента в микрообъеме образца. Это излучение фиксируется спектрометрами, а полученная информация обрабатывается и предоставляется в удобном виде. Таким образом можно выполнять качественный и количественный микроанализ содержания элементов в лабораторных образцах. 525;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Электронный микроскоп LYRA3 GMU (Tescan) с FIB;Исследование топографии и структуры поверхности, получение изображения во вторичных и обратно - рассеянных электронах. Рентгеноспектральный микроанализ элементного состава с использованием энергодисперсионного спектрометра (EDS). Послойное удаление материала для проведения анализа дефектов в зависимости от глубины в материале. Модификация поверхности образцов сфокусированным пучком ионов галлия. 526;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Микроскоп оптический бинокулярный CX21 (Olympus);Используется для работ в клинической диагностике (гематология, бактериология, цитология, гистология, урология и др.), для обучения. 527;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Микроскоп оптический тринокулярный BX43 (Olympus);Визуальное наблюдение микроструктуры и поверхности исследуемых материалов. Поддерживает различные методы контраста: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, флуоресценция. 528;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Зондовые микроскопы «Nanoeducator-5» (НТ-МДТ);Сканирующий зондовый микроскоп. Изучение топографических свойств поверхности. 529;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Сканирующий зондовый микроскоп «СОЛВЕР НЕКСТ» (НТ-МДТ);Топография, отображение фазы, атомная энергетика, электроника, исследовательское оборудование. Исследование твердотельных органических и биологических наноструктурированных материалов, объектов и систем. Проведение исследований с помощью наносклерометрического модуля. 530;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 SBH (Tescan);Сканирующая электронная микроскопия 531;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Настольный электронный микроскоп SemTrac mini (Microtrac Inc.);Исследование топографии и структуры поверхности методом РЭМ, получение изображения во вторичных и обратно-рассеянных электронах. Рентгеноспектральный микроанализ элементного состава. 532;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Растровый электронный микроскоп Jeol JSM-6610lv (Jeol);Исследование топографии и структуры поверхности, получение изображения во вторичных электронов. 533;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (Протон-МИЭТ);Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0,1нм до 30мкм). Микроскоп СММ-2000 применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля. Микроскоп СММ-2000 - мультирежимный, он имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия). 534;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Металлографический микроскоп Carl Zeiss Observer D1m;"Области применения: Материаловедческие задачи; Морфологический анализ поверхности; Фрактографические исследования; Характеристика и анализ поверхности широкого спектра материалов; Начальные очаги разрушения металла при коррозии, эрозии, износе и других видах внешнего воздействия; Измерение линейных размеров микрообъектов; Измерение пор и дефектов структуры." 535;Тольяттинский государственный университет;Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000;Метрологическая система бесконтактного определения геометрических параметров, прецизионной топографии поверхности, измерения шероховатости и волнистости поверхности образца основанном на анализе 2D и 3D сканов рельефа поверхности 536;Тольяттинский государственный университет;Сканирующий электронный микроскоп Sigma (Carl Zeiss);Электронный микроскоп Sigma предназначен для исследования морфологии и химического состава материалов природного и искусственного происхождения с высокой разрешающей способностью 537;Тольяттинский государственный университет;Стереоскопический микроскоп Stemi 2000 (Carl Zeiss);Позволяет проводить оценку структуры материалов при научно-исследовательской работе и входном/выходном контроле материалов, а также исследование макрообъектов диаметром от 1 до 118 мм при небольших увлечениях 538;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Микроскоп сканирующий лазерный конфокальный 3D LEXT4000 (Olympus);Проведение микроскопический исследований структурных характеристик объектов 539;ФГБУН Институт молекулярной биологии им. В.А. Энгельгардта Российской академии наук;Инвертированный микроскоп Leica DMI 3000 B;Предназначен для работы в проходящем свете при визуализации живых клеточных культур на мониторе компьютера с возможностью захвата как единичных кадров, так и записи небольших последовательностей (в формате avi) 540;Сыктывкарский государственный университет имени Питирима Сорокина;Стерео микроскоп Leica EZ4 HD;Обеспечивает высокое качество изображения и более 20 лет работы яркой светодиодной подсветки. Предназначен для университетов и курсов в колледжах при изучении таких предметов, как биология, анатомия, химия. 541;Сыктывкарский государственный университет имени Питирима Сорокина;Микроскоп тринокулярный «МИКРОМЕД 2 ВАР. 3.20»;Предназначен для наблюдения и морфологических исследований препаратов в проходящем свете по методу светлого поля, а также по методу темного поля и фазового контраста в комплекте с соответствующими устройствами, поставляемыми по дополнительному заказу.Микроскоп может быть использован в различных областях медицины, в биологии, ботанике, химии и других областях науки. Используется при диагностических исследованиях в клиниках и больницах, а также для учебных целей в высших учебных заведениях.На микроскопе можно изучать окрашенные и неокрашенные объекты в виде мазков и срезов. На микроскопе можно выводить изображение в режиме реального времени на экран ПК с помощью видеоокуляра (в комплект не входит), а так же можно фотографировать изображение объектов с помощью комплекта визуализации на базе ф/к (в комплект не входит). Видеоокуляр (USB - камера) устанавливается в третий вертикальный выход визуальной насадки. 542;Сыктывкарский государственный университет имени Питирима Сорокина;Микроскоп бинокулярный МБС-10;Предназначен для наблюдения объемных предметов, для ювелирных, радиотехнических и других работ, требующих наблюдения миниатюрных деталей с комфортом для наблюдателя на протяжении длительного времени. Изучение объекта в объеме позволяет проводить с ним необходимые манипуляции с помощью специального инструмента. Эта возможность обуславливает широкую Область применения стереомикроскопа: ботаника, биология, медицина, минералогия, археология, ювелирная промышленность, машиностроение, приборостроение, радиотехника и другие области науки и техники. 543;ФГБУН Институт биохимии им. А.Н. Баха Российской академии наук;Микроскоп флуоресцентный МХ-300F c оптикой ICO Infinitive (Microoptix);Предназначен для общенаучных экспериментов в области флуоресцентной микроскопии. Система фильтров в основном блоке: 2 возбуждающих фильтра, дихроичное зеркало, 2 отсекающих фильтра 544;ФГБУН Институт биохимии им. А.Н. Баха Российской академии наук;Микроскоп люминесцентный МИКРОМЕД 3 ЛЮМ LED;"Предназначен для наблюдения изображения объектов в свете видимой люминесценции, а также в проходящем свете в светлом поле. Помимо возможности исследований объектов в проходящем свете (классическое освещение по Келлеру), с помощью флуоресцентных методик на микроскопе МИКРОМЕД 3 ЛЮМ LED проводятся следующие виды исследований: иммунохимические, иммунологические, иммуноморфологические, иммуногенетические. В процессе исследований препаратов - мазков крови, костного мозга, срезов тканей осуществляется выявление скрытых инфекций, таких как хламидиоз, уреаплазмоз, микаплазмоз, герпес и других; а также выявление дифференцировочных антигенов Т и В лимфоцитов, атипичных клеток крови; экспресс диагностика бактериальных, вирусных, протозойных и т.п. инфекций; определение антинуклеарного фактора и т.п; иммунохимическая диагностика лейкозов; хромосомный анализ. Так же микроскоп применятся в ветеринарии, растениеводстве, биотехнологии, фармацевтической промышленности, при экспертизах в сфере криминалистики, санитарно-эпидемиологического надзора, защиты окружающей среды. На микроскопе можно фотографировать изображения объектов с помощью комплекта визуализации на базе ф/к (в комплект не входит) и выводить изображение в режиме реального времени на экран ПК с помощью видеоокуляра (в комплект не входит)." 545;ФГБУН Институт биохимии им. А.Н. Баха Российской академии наук;Инвертированный металлографический микроскоп Axio Observer A1m/D1m/Z1m (Carl Zeiss);Обеспечивает высокое качество светового потока, падающего на поверхность объекта и обеспечивающего точное воспроизведение его в изображении не только за счёт качественной оптики объектива, но и за счёт светового потока, формирующего изображение. 546;ФГБУН Институт биохимии им. А.Н. Баха Российской академии наук;Инвертированный микроскоп Axio Vert A1 (Carl Zeiss);Позволяет применять все доступные методы контрастирования и оснащается на заказ осветителями различного типа и мощности. Наличие фото/видео-выхода обеспечивает возможность документирования изображения с помощью цифровых камер и дальнейшую обработку изображения с помощью программ анализа изображений. 547;ФГБУН Институт биофизики клетки Российской академии наук;Трехмодальная система IN VIVO визуализации TRIUMPH II®;Представляет собой интегрированную, гибкую и дооснащаемую платформу для объединения трех различных методов визуализации: позитронно-эмиссионной томографии (ПЭТ), однофотонной эмиссионной томографии (ОФЭКТ) и компьютерной томографии (микроКТ). Сочетание функциональной (ОФЭКТ и ПЭТ) и анатомической визуализации высокого разрешения (микроКТ) позволяет получать высокоточные трехмерные изображения исследуемых объектов и легко идентифицировать искомые анатомические структуры и биомаркеры, а также типы и динамику их взаимодействий. 548;ФГБУН Институт биофизики клетки Российской академии наук;Настольный сканирующий электронный микроскоп JEOL JCM-6000 NeoScope;Сочетает в себе свойства сканирующего и оптического микроскопа. С его помощью можно получать увеличенное изображение высокого разрешения и четкости. Независимо от того, используется ли микроскоп как исследовательский инструмент или как внеконкурентная альтернатива оптическому микроскопу, NeoScope ускорит проведение биологических и криминалистических исследований, станет незаменимым инструментом в анализе дефектов производственных материалов. NeoScope прост в обращении, снабжен функциями автофокуса, автоконтрастом и автоматическим регулятором яркости. Не требует специальной подготовки образцов, как, например, напыление или высушивание. Микроскоп работает в режимах низкого и высокого вакуума, для разных видов исследований имеет три режима ускоряющего напряжения. 549;ФГБУН Институт биофизики клетки Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом JEOL JSM-7800F PRIME;"Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с супергибридной объективной линзой, в котором реализованы все последние достижения в технологии электронной оптики. Пространственное разрешение - 0,7 нм при 15 кВ; 0,7 нм при 1 кВ; 3нм при 15 кВ, на рабочем отрезке 10 мм и токе зонда 5 нА (режим анализа). Электронная пушка - термополевая, типа Шоттки. Ускоряющее напряжение - от 0,01кВ до 30 кВ. Диапазон токов пучка - до 500 нA. Диапазон увеличений - от х25 до х1000000. Столик образцов - большой, эвцентрического типа, диапазон перемещений: Х: 70мм, Y: 50мм, Z: от 2 до 25 мм. Наклон от -5 до 70 градусов. Вращение 360 градусов." 550;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Система молекулярной визуализации In-Vivo DXS Pro (Bruker);Предназначена для получения рентгеновских изображений мелких животных, насекомых, растений и семян. Основные области ее применения - изучение травм и заболеваний костей, разработка новых препаратов, энтомология, ботаника, сельское хозяйство и др. 551;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Мультифотонный микроскоп A1 MP /A1R MP (Nikon);Предназначен для визуализации объектов и структур, расположенных глубоко в тканях, и работы с живыми объектами. 552;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Биологический исследовательский микроскоп Park NX-Bio (Park Systems );Представляет собой мощный биологический исследовательский инструмент 3-в-1, который уникально объединяет СИПМ и АСМ с инвертированным оптическим микроскопом (ИОМ) на одной платформе. 553;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Атомно-силовой микроскоп Park XE-Bio (Park Systems);Представляет собой мощный научно-исследовательский инструмент (3 в 1), который содержит ион-проводящий микроскоп, режим АСМ True Non-ContactTM и инвертированный оптический микроскоп на одной платформе. 554;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Высокоточный атомно-силовой микроскоп Park NX20 (Park Systems);Высокоточный атомно-силовой микроскоп Park NX20 - идеальный выбор для анализа дефектов. Инженерам-исследователям, требуется получать надежные результаты и данные. Модель ParkNX20 имеет репутацию самого точного АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников. 555;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Просвечивающий электронный микроскоп Titan™ Themis (FEI);Позволяет с лёгкостью получить доступ к атомарной информации. Сочетая проверенные компоненты, такие как корректоры сферической аберрации, монохроматорную систему и чувствительную технологию ChemiSTEM™, с новым улучшенным предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом, программным обеспечением FEI Velox™ и 16-мегапиксельной CMOS-камерой FEI Ceta, этот прибор обеспечивает максимально быструю навигацию и моментальное увеличение для получения детальных изображений на уровне от мезоскопических до атомных длин. 556;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Просвечивающий электронный микроскоп TALOS (FEI);Обеспечивает быстрый и точный количественный анализ материалов в нескольких измерениях. В нем объединены выдающаяся визуализация и высокое разрешение в режиме STEM с лучшим детектированием сигнала EDX, химическим анализом 3-мерных объектов и функцией картирования. 557;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Просвечивающий электронный микроскоп TECNAI (FEI);Предназначен для получения изображения до уникальных, сложных экспериментов, требующих наличия превосходных аналитических возможностей. Tecnai поддерживает широкий диапазон методов, включая режим сканирующей просвечивающей микроскопии, спектроскопический анализ и 3D-томографию. 558;ФГБУН Национальный исследовательский центр Курчатовский институт;Нанотехнологический комплекс НАНОФАБ 100 (НТ-МДТ);Предназначен для проведения фундаментальных исследований до отработки отдельных технологических приемов и моделирования наноэлектронных устройств. Применяемые компоновочные схемы, система управления и развитая транспортная система НТК НАНОФАБ 100 позволяют применять их также и для мелкосерийного производства наноструктур и наноустройств. 559;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Исследовательский стереомикроскоп SZX (Olympus);Предназначен для исследовательских целей в области измерения рельефа микроповерхностей 560;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп LEXT OLS4000 (Olympus);1. Измерения разности высот между двумя произвольными точками на профиле поверхности.2. Измерения объёма (или площади) геометрии выше или ниже уровня, установленного пользователем.3. Измерения расстояния между двумя произвольными точками на поверхности.4. Измерение шероховатости вдоль линии и на плоскости.5. Автоматически разделять частицы с помощью функции разделения.6. Измерять толщину прозрачной плёнки.7. Автоматически определять края объектов на изображении, исключая ошибки оператора. 561;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп измерительный УИМ-23 (ЛОМО);Измерение размеров деталей и объектов на них. Цифровой измеритель. 562;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп измерительный MF-176 (Mitutoyo);Измерение размеров деталей и объектов на них с высокой точностью и большом увеличении 563;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп-рентгеновский микроанализатор LEO 1455VP (Carl Zeiss);Исследование поврехности материалов и деталей при увеличениях до 200000 раз, анализ состава веществ с помощью рентгеноспектрального микроанализа 564;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп металлографический Polyvar 2 (Reichert);Металлографическое исследование структуры металлов и сплавов, увеличение до 1000 раз 565;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп металлографический агрегатный Метам РВ-22 (ЛОМО);Металлографическое исследование структуры металлов и сплавов, увеличение до 1000 раз 566;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп металлографический Axoitech 30 (Carl Zeiss);Металлографическое исследование структуры металлов и сплавов с цифровой фотосъёмкой, увеличение до 1000 раз 567;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп сканирующий STEMI 2000C (Carl Zeiss);Исследование и цифровая съёмка поверхности деталей 568;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп сканирующий Amray-1830I Econ;Исследование поверхности материалов и деталей при увеличениях до 200000 раз, анализ состава веществ с помощью рентгеноспектрального микроанализа 569;ФГБУН Институт физики металлов имени М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп CM-30 SuperTwin (FEI) с системой сканирования и энергодисперсионного спектрометра EDAX;Предназначен для исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры любых объектов (неорганических, органических, металлических, керамических, биологических) с высоким разрешением вплоть до атомного. Оборудован системой сканирования и энергодисперсионным спектрометром «EDAX» для элементного анализа. 570;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Лазерный измеритель наноперемещений (НИЦПВ);Измерение линейных перемещений в реальном масштабе времени, в том числе, калибровка систем сканирования и позиционирования, применяемых в микро- и наноэлектронике, точном машиностроении, микромеханике, робототехнике, растровой электронной и зондовой микроскопии. 571;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Эталонная 3D лазерная интерферометрическая система измерений наноперемещений (НИЦПВ);Эталонная система на основе атомно-силового микроскопа оригинальной конструкции и лазерных интерферометрических измерителей наноперемещений предназначена для измерения нано-рельефа поверхности и линейных перемещений по 3-м координатам в микроэлектронике,нанотехнологии и микромеханике,аттестации мер и стандартных образцов для калибровки растровых электронных и сканирующих зондовых микроскопов. 572;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Микроскоп лабораторный Stemi 2000 (Carl Zeiss);Микроскоп обладает широкими функциональными возможностями от простой рутинной работы до сложных технологических процессов в материаловедении и биотехнологии и медицине. 573;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Исследовательский металлографический микроскоп БИОЛАМ М1 (ЛОМО);Исследовательский микроскоп профессионального класса для исследовании объектов в лабораторных условиях в проходящем свете, отраженном свете при освещении по методам светлого и темного поля, а также в поляризованном свете. 574;Уфимский государственный нефтяной технический университет;Микроскоп металлографический МЕТАМ-РВ 21 (ЛОМО);Предназначается для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле. 575;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп KEYENCE VK-X100/X200 (Keyence);Предназначен для измерения профиля и шероховатости поверхности. Лазерный сканирующий микроскоп (ЛСМ) удобен в эксплуатации, так как у него отсутствует вакуумная система. Для проведения исследований не требуется предварительной подготовки образца. 576;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Сканирующий ближнепольный оптический микроскоп ИНТЕГРА Соларис (НТ-МДТ);Предназначен для исследования оптических свойств за пределом дифракции видимого света (разрешение до 30 нм). В сменное основание системы встроен держатель объектива с 100 мкм Z-сканером, большая механическая жесткость конструкции позволяет использовать иммерсионные высокоапертурные объективы. 577;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Исследовательский сканирующий зондовый микроскоп СОЛВЕР P47-PRO (НТ-МДТ);Предназначен для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150°С. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик. Эта модель может быть успешно использована как в маленьких компаниях и университетских лабораториях, так и в больших исследовательских центрах. 578;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Сканирующий микроскоп SEM 3800B (KYKY Technology Development);Сканирующий электронный микроскоп SEM 3800B снабжен 3 линзами и может приближать до 250,000 X. сканирующий электронный микроскоп с естественной средой, ускоряющее напряжение от 200 В до 30 кВ электронный микроскоп сканирует исследуемый образец электронным лучом. Измеряет интенсивность квантов, испускаемых образцом. 579;ФГБУН Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники Российской академии наук;Инспекционный оптический микроскоп Leica INM100;Предназначен для инспекционной оптической микроскопии (видимый свет и УФ) 580;ФГБУН Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники Российской академии наук;Установка прецизионной контактной фотолитографии SUSS MJB4 IR (i-, g-, h-, line UV и DUV (?=200-250 нм.));Предназначена для прецизионной контактной фотолитографии 581;Южный федеральный университет;Микроскоп МИИ-4;Предназначен для измерения толщины нано-пленок 582;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Анализатор изображения на базе металлографического микроскопа Метам ЛВ-31 М (ЛОМО);Микроскоп оптический металлографический инвертированный с цифровой камерой высокого разрешения. Предназначен для исследования и фотографирования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при косом и прямом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и по методу дифференциально-интерференционного контраста (ДИК) 583;ФГБУН Институт физики металлов имени М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук;Автоматизированный сканирующий зондовый микроскоп Солвер Некст (НТ-МДТ);Предназначен для определения физико-химических свойств объектов с высоким пространственным разрешением (до 0.3 нм по осям X и Y, 0.02-0.03 нм по оси Z) с помощью методик сканирующей атомно-силовой и туннельной микроскопии. Данный прибор используется в проекте для характеризации получаемых и исследуемых наноматериалов и наноструктур (в том числе металлических магнитных пленок, планарных наноструктур и т.д.). 584;Ижевский государственный технический университет им. М.Т. Калашникова;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 PRO (НТ-МДТ);Предназначен для исследования поверхности методом сканирующей зондовой микроскопии 585;Липецкий государственный технический университет;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47-PRO (НТ-МДТ);Предназначен для анализа морфологии поверхности материалов 586;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический инвертированный МИМ-8, модернизированный;Предназначен для фазового и структурного металлографического анализа лабораторного материала 587;Кубанский государственный университет;Растровый электронный микроскоп JSM 7500F (JEOL);Исследование нано- и микроструктуры, элементного состава материалов методами растровой электронной микроскопии. 588;Кубанский государственный университет;Сканирующий зондовый микроскоп JSPM 5400 (JEOL);Исследование структуры поверхности нано материалов методами атомно-силовой (магнитно-силовой, электро-силовая, SKPM, диссипативной силовая, латерально-силовой, фазовой спектроскопии, силовой спектроскопии, наноиндентирования, наноманипулирования, нанолитографии) микроскопии, а также методами туннельной микроскопии. 589;Комсомольский-на-Амуре государственный технический университет;Металлографический микроскоп Микро-2000 с цифровой камерой;Металлографический микроскоп инверсионного типа и цифровой видео-камерой, совмещенный с ЭВМ и оснащенный программой для обработки изображений. Степень увеличения: 50, 100, 200, 400, 1000 крат. Позволяет рассматривать объекты в светлом и темном полях. 590;Казанский государственный архитектурно-строительный университет;Микроскоп оптический поляризационный Axioscop 40 Pol (Carl Zeiss);Количественная поляризация в отраженном и проходящем свете, ортоскопия и коноскопия 591;Государственный университет - учебно-научно-производственный комплекс;Исследовательский микроскоп Axioskop 2 MAT;Проведение исследований следующими методами контрастирования: светлое поле, темное поле, ДИК. 592;Тверской государственный университет;Программно-аппаратный комплекс JEOL JSM-6610LV для микроанализа и морфологического анализа поверхности (растровый электронный микроскоп);Предназначен для микроанализа и морфологического анализа поверхности 593;Тверской государственный университет;Инвертированный микроскоп отраженного света Axiovert 200 MAT (Carl Zeiss) с опцией устройства проходящего света;Проведение исследования в отраженном свете по методам светлого поля, темного поля, фазового контраста, дифференциально- интерференционного контраста (DIC) и при флуоресценции в отраженном свете. 594;Сибирский федеральный университет;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL);"Исследование морфологии неорганических материалов на наноуровне, вплоть до атомного разрешения; исследование фазового состава неорганических материалов; определения элементного и химического состава локальных участков образцов с помощью энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (EELS); пространственное распределение химических элементов (EDS, EELS)." 595;Сибирский федеральный университет;Растровый электронный микроскоп JSM-6490 LV (JEOL);"Предназначен для топографического качественного фазового анализа поверхностей; исследование микроструктуры различных материалов неорганического происхождения; возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм)." 596;Сибирский федеральный университет;Растровый электронный микроскоп JSM-7001F (JEOL);"Морфология поверхности различных материалов неорганического происхождения, получение изображения во вторичных и отраженных электронах; полуколичественный и количественный элементный анализ поверхности (до субмикронного уровня), картирование фаз; микроструктурный анализ: текстурный анализ, построение карт ориентировки кристаллитов, дискриминация фаз и построение карт распределения кристаллических фаз, определение размера и формы зерен, определение типа границ, построение полюсных фигур" 597;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Микроскоп световой фазово-контрастный флуоресцентный Olympus CX-41;Микроскоп оптический для прямого наблюдения микроорганизмов методами фазового контраста, а также с использованием флуоресцентных красителей, увеличение до 1000? 598;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Двухлучевая исследовательская система SEM-FIB JIB-4501 (JEOL);Электронно-ионный микроскоп для изучения образцов нанопорошков и наноструктур 599;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100;JEM-2100 построен на основе легендарного ПЭМ JEM-2010, который долгое время считался стандартом «де факто» в промышленных приложениях электронной микроскопии и демонстрировал наилучшие показатели надежности, качества изображений и аналитических возможностей среди всех 200 кВ электронных микроскопов высокого разрешения. JEM-2100 имеет улучшенную систему управления и более совершенную защиту от вибраций. На прибор можно устанавливать различные приставки: ЭДС и сканирующую приставки, различные детекторы (темного поля, вторичных и обратно-рассеянных электронов, и т.д.), держатели с охлаждением или нагревом, и т.п. Использование в приборе катода из гексаборида лантана (LaB6) существенно снижает стоимость владения данным прибором.Ускоряющее напряжениеот 80кВ до 200 кВ Разрешение по точкам0.19 нм Разрешение по линиям0.14 нм Электронная пушкаLaB6 УвеличениеX50 – x1,500,000 600;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Стереомикроскоп Carl Zeiss SteREO Discovery.V12;"SteREO Discoverу.V12-стереомикроскоп по схеме Аббе, для повседневной работы в исследовательских лабораториях; для проведения исследований в промышленных лабораториях" 601;Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники;Электронный микроскоп Zeiss Supra 55 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области эмиссионной электронной микроскопии 602;Петрозаводский государственный университет;Растровый электронный микроскоп-литограф МС20.2;Предназначен для изучения поверхности вещества, возможность использования электронной литографии 603;Петрозаводский государственный университет;Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000;Предназначен для проведения лабораторных занятий студентами ВУЗ-ов, для выполнения студентами и аспирантами ВУЗ-ов исследовательской части работ при выполнении курсовых и дипломных проектов, а также для применения в ходе выполнения НИР и НИОКР научным и преподавательским составом ВУЗ-ов.«Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000» имеет два режима работы: он работает как сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) и как атомно-силовой микроскоп (АСМ). Оба принципа открыты недавно (Нобелевская премия по физике 1986 года), но уже нашли широчайшее применение во всех отраслях науки и техники и стали фактически стандартным научным и технологическим оборудованием для нанотехнологий.Достоинствами этих типов микроскопов являются возможность работы без вакуума (в отличии от электронных микроскопов), высочайшее разрешение (вплоть до атомарного), надёжность, доступность для понимания, малые габариты и стоимость. 604;Петрозаводский государственный университет;Лаборатория оптической микроскопии в составе трех оптических микроскопов ЛабоМет-2 (Labor-microscopes);Изучение поверхности вещества, получение оптических изображений 605;Комсомольский-на-Амуре государственный технический университет;Растровый электронный микроскоп S3400n (Hitachi);Предназначен для микроструктурных исследований, количественного элементного анализа металлических, керамических, полупроводниковых, полимерных материалов 606;Южный федеральный университет;Универсальный оптический микроскоп Axio Imager.Z1m (Сarl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической конфокальной микроскопии 607;Южный федеральный университет;Цифровой микроскоп EQ-MM500T-USB (MTI);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 608;Поволжский государственный технологический университет;Сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA VITA BASIC (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии 609;Поволжский государственный технологический университет;Учебная нанолаборатория NanoEducator-8 Basic;Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области нанотехнологий с использованием сканирующего микроскопа высокого разрешения 610;Южный федеральный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro-M (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии 611;Южный федеральный университет;Аналитический растровый электронный микроскоп JSM-6390LA (Jeol);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой сканирующей микроскопии высокого разрешения 612;Южный федеральный университет;Электронный просвечивающий микроскоп Tecnai G2 Spirit (FEI) с системой пробоподготовки;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии сверхвысокого разрешения 613;Южный федеральный университет;Растровый электронный микроскоп Tescan VEGA II LMU с микроскоп с системами энергодисперсионного и волнодисперсионного микроанализа INCA;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 614;Московский физико-технический институт;Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JSM-7001F (JEOL);Предназначен для растровой электронной микроскопии 615;Московский физико-технический институт;Растровый электронный микроскоп Qunta 200 (FEI) с системами комбинированного энергодисперсионного и волнового микроанализа, дифракции обратно рассеянных электронов, катодолюминисценции;Растровая электронная микроскопия. Рентгеновский микроанализ. Катодолюминисценция. Анализ картин дифракции обратно-отраженных электронов. Картирование поглощенного тока. 616;Московский физико-технический институт;Сканирующий зондовый микроскоп Ntegra Prima (NT-MDT);Предназначен для общенаучных исследований в области сканирующей зондовой микроскопии 617;Московский физико-технический институт;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL);Предназначен для общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии сверхвысокого разрешения 618;Ульяновский государственный университет;Измерительный модуль биологических исследований SolverP47-ProBio;Предназначен для лаборатории зондовой и электронной микроскопии 619;Ульяновский государственный университет;Стереоскопический микроскоп Leica S6;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области стереоскопической микроскопии 620;Ульяновский государственный университет;Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom proX (FEI);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 621;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Электромеханическая ячейка GPI с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ;Ячейка, разработанная и выпускаемая в РФ, необходима для изготовления вольфрамовых игл (зондов) для сканирующего туннельного микроскопа GPI-300. Особая технология изготовления вольфрамовых игл, специ-ально разработанная для СТМ GPI-300 и реализован-ная в данной ячейке, позво-ляет обеспечить уникальные характеристики используе-мого СТМ [K. N. Eltsov, V. M. Shevlyuga, V. Yu. Yurov, A. V. Kvit, and M. S. Kogan. Sharp tungsten tips prepared for STM study of deep nanostructures in UHV. Phys. Low-Dim. Struct., 9/10:7, 1996]. Установка снабжена электронным блоком управления, что повышает воспроизводимость характеристик при изготовлении игл. 622;ФГБУН Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова Российской академии наук;Нанотехнологическая установка Луч-2;Функционирует в режиме сканирующего туннельного микроскопа и ориентирована на поисковые задачи микроэлектроники. 623;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Автоматизированный микроскоп-интерферометр МИИ-4М-USB (Реверс);Автоматизированный микроскоп-интерферометр «МИИ-4М-USB» предназначен для измерения микрорельефа поверхностных микроструктур (в том числе дифракционных) и тонких пленок. Параметры: линейное поле зрения - не менее 300 мкм, разрешение по глубине в режиме микроинтерферометра -1-5 нм, диапазон измерения - до 4000 нм. 624;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Трансмиссионный электронный микроскоп Libra 120 (Carl Zeiss);Трансмиссионный электронный микроскоп Libra-120 оборудован цифровой камерой захвата изображения, криоприставкой, держателем для томографических исследований с целью создания 3-D изображения ультраструктур, приставкой для проведения элементно-дисперсионного анализа тканевых образцов, Омега-фильтром, позволяющим существенно усиливать контраст и исследовать неконтрастированные образцы. Микроскоп, предназначен для проведения биомедицинских исследований с одновременным проведением локального химического анализа, с регулируемым ускоряющим напряжением до 120 кВ. Позволяет работать с фиксированными биологическими образцами низкого контраста в просвечивающем режиме и в режиме томографии с получением серии снимков образцов с дальнейшей возможностью их автоматической реконструкции в трехмерное изображение с отображением внутренней структуры произвольно выбранных участков. Обладает возможностью наблюдать изображение на флуоресцентном экране и мониторе цифровой системы захвата изображений в широком диапазоне увеличений без изменения фокуса и астигматизма, и возможностью независимого управления яркостью пучка и размером освещаемой площади. В комплектацию к микроскопу входит ультрамикротом UMC-6 (Leica, Германия) с набором алмазных ножей, предназначенный для приготовления ультратонких (50-70 нм) срезов. 625;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп с изменяемой температурой образца STM VT (CEO Omicron NanoTechnology);Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп STM VT OMICRON позволяет в сверхвысоковакуумных условиях (10-11 Торр) получать атомное изображение поверхности металлов и полупроводников, в том числе кремния, посредством регистрации туннельного тока между зондом и близко подведенной к нему исследуемой поверхности. Микроскоп оборудован титановым ионным насосом и турбомолекулярным насосом. В колонне микроскопа заложена возможность прогрева образцов до 1500ОС, что позволяет отжигать и очищать поверхность кремниевых образцов. Дополнительная система позиционирования, позволяет проводить сканирование поверхности непосредственно после эпитаксии или сублимации. Микроскоп оборудован ячейками напуска кислорода и системой эпитаксиального напыления на поверхность кремния или германия. Разрешающая способность микроскопа определяется разрешающей способностью иглы и соответствует размеру отдельного атома в латеральных направлениях и до 0,01 нм в вертикальном направлении. 626;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Электронный просвечивающий микроскоп высокого разрешения JEM-2200FS-CS (JEOL);"Аналитический высокоразрешающий электронный микроскоп просвечивающего типа фирмы Jeol (JEM-2200FS-CS) предназначен для исследования атомной структуры вещества с одновременным проведением локального химического анализа с возможностью визуализации картин распределения химических элементов по площади исследуемых объектов. Данный микроскоп обеспечивает возможность изучения широкого класса материалов, таких как ультрадисперсные и нанофазные объекты химии и катализа; неорганические материалы, включая высокотемпературные сверхпроводники и различные формы углерода (фулерены, бакитрубки, алмазы и алмазоподобные вещества); новые материалы полупроводниковой твердотельной электроники, включая системы пониженной размерности; природные материалы различного генезиса; объекты биологии и биомедицины. Микроскоп обеспечивает работу в режимах высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии (ВРЭМ), сканирующей просвечивающей микроскопии (СПМ), темного и светлого поля, включая HAADF-режим, получение дифракционных картин, включая дифракцию в сходящихся пучках, проведение спектрального анализа и картирования с помощью EDS и EELS. Разрешающая способность: по точкам – 0,19 нм; по решетке – 0,1 нм; в режиме картирования – 0,2 нм; в режиме HAADF – 0,14 нм." 627;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Сканирующий зондовый микроскоп АСМ/СТМ SOLVER NEXT (NT-MDT);Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. Все основные методики атомно-силовой микроскопии, топография, отображение фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и многое другое. Сканирующая туннельная микроскопия. Широкий диапазон контролируемых условий для проведения эксперимента — на воздухе, в жидкости, с нагревом образца. 628;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Отражательный электронный микроскоп Tabletop Microscope TM-1000 (Hitachi);Настольный отражательный электронный микроскоп Tabletop Microscope TM-1000 (Hitachi, Япония) - прекрасная альтернатива оптическому микроскопу, когда требуется более высокое разрешение. Может быть использован для многих приложений, включая изучение биологических объектов, пищевую промышленность, фармацевтическую продукцию, исследование полупроводниковых объектов и др. материалов. 629;Кемеровский государственный университет;Сканирующий зондовый микроскоп ФемтоСкан;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии 630;Кемеровский государственный университет;Микроскоп конфокальный сканирующий Eclipse 80i (Nikon);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области конфокальной сканирующей микроскопии 631;Московский государственный университет дизайна и технологии;Атомно-силовой микроскоп Ntegra Prima (NT-MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 632;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Поляризационный микроскоп Микромед ПОЛАР 2;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области поляризационной микроскопии 633;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Сканирующий зондовый микроскоп СММ-200 (НИЭТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой сканирующей микроскопии 634;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Электронный микроскоп ЭМ-100 (КПД);Предназначен для изучения структуры кристаллических материалов 635;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Металлографический микроскоп Метам ЛВ-41 (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 636;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Микроскоп электронный BC-500 (Tesla-Brno);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 637;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Система микроанализа EVEX Sirius SD 10133 LE (Carl Zeiss);Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 638;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Электронный растровый микроскоп EVO LS 10 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 639;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Сканирующий зондовый микроскоп Multimode III (исследовательский) с электрохимической приставкой (Veeco);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии 640;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Микроскоп электронный сканирующий с элементным анализом EVEX Mini SEM SX-3000 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 641;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения TESCAN MIRA 3 LMU;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 642;Воронежский государственный университет;Сканирующий электронный микроскоп JSM-6380LV (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 643;Воронежский государственный университет;Растровый электронный микроскоп JSM-6510LV (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой сканирующей микроскопии высокого разрешения 644;Воронежский государственный университет;Атомно силовой микроскоп SOLVER P47 (NT-MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии 645;Воронежский государственный университет;Просвечивающий электронный микроскоп Libra 120 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии сверхвысокого разрешения 646;Брянский государственный университет им. академика И.Г. Петровского;Зондовый микроскоп ФемтоСкан;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 647;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Комплексная система SkyScan 1173 Bruker (рентгеновский микротомограф);Визуализация и обработка изображений, вычисление и трехмерное восстановление пространственной структуры объектов 648;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 200 3D (FEI);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 649;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии сверхвысокого разрешения 650;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Зондовая нанолаборатория NTegra Aura (НТ-МДТ);Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 651;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Оптический микроскоп Olympus GX51;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области конфокальной оптической микроскопии 652;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 600 FEG (FEI);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 653;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Сканирующий зондовый микроскоп и нано-твердометр Нано Скан 3D (ТИСНУМ);Оборудование предназначено для проведения исследований на субмикронном уровне механических свойств, модуля упругости и структуры многофазных материалов сверхтвердых материалов. Обеспечивает контактный динамический режим сканирования с применением пьезорезонансного зонда с высокой изгибной жесткостью консоли, получение изображения профиля поверхности и карты модуля упругости с использованием датчиков обратной связи. Максимальный размер области сканирования 100х100х10 мкм, разрешение при сканировании 0,15 нм (ось Z) и 1,5 нм (по осям X и Y). Измеряет модуль упругости в диапазоне значений 1 – 1000 ГПА, рабочая частота 10 кГц, размер области упругого контакта зонда ~ 100 нм, разрешение по значению привнесенной контактной жесткости – 0,1 Н/м. Измеряет твердость методом склерометрии в диапазоне значений от 0,5 до 80 ГПа, минимальный размер царапины по глубине/ширине 1 нм/30 нм. Режим работы пошаговый и микропозиционирования. 654;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode8 (Bruker);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии 655;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Электронный микроскоп SigmaVP (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 656;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Микроскоп корреляционный Imager Axio (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области конфокальной сканирующей микроскопии 657;Северо-Кавказский федеральный университет;Универсальный вакуумный СЗМ комплекс INTEGRA аура (НТ-МДТ);Изучения морфологии поверхностей методом зондовой микроскопии в вакуумной среде. 658;Северо-Кавказский федеральный университет;Сканирующая зондовая нанолаборатория NTEGRA;Изучения морфологии поверхностей методом зондовой микроскопии. 659;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Люминесцентный микроскоп СХ 31 (Olympus);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области люминисцентной микроскопии 660;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JSM 6510 LV SSD X-MAX в комплекте с приставкой зондового микроанализа и напылительной установкой (JEOL);Исследование морфологии поверхности, определение размеров фрагментов изображений и частиц, элементный анализ поверхности 661;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;ЯМР-спектрометр Bruker CХP 200;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области ЯМР-спектрометрии 662;Елецкий государственный университет им. И.А. Бунина;Оптическая система BAM 300 Brewster Angle Microscope (KSV Instruments);Предназначена для наблюдения поверхности под брюстеровским углом 663;Южный федеральный университет;Сканирующий туннельный микроскоп;Сканирующий туннельный микроскоп, работающий в режимах атомно-силовой микроскопии с возможностями формирования наноструктур. сканер X,Y, Z 10мкм x 10мкм x 2мкм ( /-10%) с моторизованным подводом,STM головка с предусилителем (30pA-50nA).Предназначен для проведения научных исследований в широком диапазоне научных областей. 664;Южный федеральный университет;Комплекс туннельных микроскопов;Предназначен для проведения научных исследований в широком диапазоне научных областей и для получения базовых знаний и навыков работы в области наноэлектроники.Позволяет организовать эксплуатацию в режиме коллективного использования специалистами различных отраслей при решении важнейших научно-технических проблем в различных областях науки и техники: в микро- и нанотехнологии, наноэлектронике, материалов и компонентов твердотельной электроники, физики твердого тела, физико-химических методов исследования процессов и материалов, электронного машиностроения, металлургии, котлостроении, авиационной промышленности. 665;Южный федеральный университет;Электронный микроскоп с системой электронной литографии Nova NanoLab 600;"Предназначен для исследования внутреннего строения объектов на микро- и наноуровнях, создания трехмерных изображений образцов. Совместное использование фокусированных электронного и ионного пучков позволяет совмещать операции модификации подложек с выполнением анализа и контроля параметров технологического процесса. В состав Nova 600 входят: электроннолучевая колонна, оснащенная катодом с полевой эмиссией, ускоряющее напряжение от 200В до 30кВ, разрешение 1,1 нм при 15 кВ; ионная колонна Magnum с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 30 кВ, разрешение 7 нм; 4-х канальная газовая инжекционная система; система энергодисперсного рентгеновского микроанализа EDAX GENESIS 6000i; система электронно-лучевой литографии Raith DELPHY 6 MHZ. Система оснащена 5-ти осевым программно-управляемым моторизованным предметным столиком (150х150х10 мм), позиционирующим образец с высокой точностью" 666;Южный федеральный университет;Специализированный исследовательский комплекс Phenom на базе сканирующего электронного микроскопа с расширенными функциональными возможностями;Электронный микроскоп с комбинацией световой и электронно-оптической технологий и системой пробоподготовки образцов.Разрешение - 30 нм Идентификация морфологии частиц малых размеров: бактерии, клетки, пыльца растений, металлы, объекты судебной медицины и др.Интерактивная система, мгновенная загрузка образцов с габаритными размерами до 25 мм в диаметре и до 35 мм в толщину. 667;Северо-Кавказский федеральный университет;Цифровой микроскоп Keyence VHX-2000;Получение и обработка изображений поверхности объекта в отраженном свете и ДИК с увеличением от 100 до1000 раз под различными углами. Получение трехмерного рельефа поверхности. 668;Санкт-Петербургский государственный университет;Настольный растровый электронный микроскоп Evex mini-SEM;исследование структур и материалов методами РЭМ и рентгеновского микроанализа. 669;Санкт-Петербургский государственный университет;Двухлучевая система с интегрированным сканирующим лазером - Электронный микроскоп Zeiss Auriga;"исследование структур и материалов с нанометровым разрешением методами РЭМ; наномодификация структур и материалов методами ФИП, в том числе пробоподготовка для ПЭМ; микромодификация структур и материалов лазерным лучом." 670;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi);Предназначен для структурных исследований вещества с применением настольного электронного сканирующего микроскопа 671;Северо-Кавказский федеральный университет;Нано-Лаборатория для биологических и медицинских исследований ЛАЙФ NtegraLife;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 672;Ростовский государственный медицинский университет;Микроскоп Axioplan-2-mot (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 673;Санкт-Петербургский государственный университет;Просвечивающий электронный микроскоп Jeol JEM-2100HC;"Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 обладает высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 200 кВ. Применяется в исследованиях биологических образцов для:- Электронно-микроскопической томографии;- Криоэлектронной микроскопии (Cryo-TEM); - Изучения структуры крупных белков, белковых комплексов (Single particle analysis);- Изучения тонкой структуры биологических объектов" 674;ФГБУН Институт биологии внутренних вод им. И.Д. Папанина Российской академии наук;Система прижизненного наблюдения клеток ULTRA VIEW EPS 3E EU (PerkinElmer);Для исследования биологических объектов методом конфокальной микроскопии 675;ФГБУН Институт биологии внутренних вод им. И.Д. Папанина Российской академии наук;Электронный микроскоп JSM-25S (JEOL);Предназначен для исследования микрорельефа биологических объектов 676;ФГБУН Институт биологии внутренних вод им. И.Д. Папанина Российской академии наук;Электронный микроскоп LEO-1420 (Сarl Zeiss);Предназначен для исследования микрорельефа биологических объектов 677;ФГБУН Институт биологии внутренних вод им. И.Д. Папанина Российской академии наук;Электронный микроскоп JEM-1011 (JEOL);Для исследования ультраструктуры биологических объектов 678;ФГБУН Институт биологии внутренних вод им. И.Д. Папанина Российской академии наук;Электронный микроскоп JSM-6510VL (JEOL);Для исследования микрорельефа биологических объектов 679;ФГБУН Институт биологии внутренних вод им. И.Д. Папанина Российской академии наук;электронный микроскоп JEM-100C (JEOL);Для исследования ультраструктуры биологических объектов 680;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком VERSA 3D HighVac (FEI);VERSA 3D HighVac – прибор, комбинирующий в себе возможности сканирующего электронного микроскопа и фокусированного ионного источника, предназначен для проведения исследований структуры и элементного состава поверхности образцов, а также их приповерхностных слоев. С помощью системы газо-химии на поверхность образца можно наносить проводящие покрытия и формировать микроструктуры. Специальное программное обеспечение позволяет проводить реконструкцию и визуализацию 3D структуры материала. 681;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Сканирующий тунельный микроскоп OMICRON VT AFM XA;Предназначен для туннельной микроскопии и спектроскопии поверхности металлов и полупроводников в условиях сверхвысокого вакуума (P < 10-10 мбар). Исследование образцов при застабилизированной температуре 35 К < T < 500 K с использованием проточного криостата He-4 и нагревателя. 682;ФГБУН Ботанический сад-институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Сканирующее устройство Scan 7000 (Pentacon);Профессиональный сканер для получения высококачественных изображений морфологии поверхности растений. Прибор оснащен камерой с высоким разрешением (20 000?20 000 пикселей) и программным обеспечением для обработки изображений. 683;ФГБУН Ботанический сад-институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Стереомикроскоп Stemi DV-4 (Carl Zeiss);Компактный стереомикроскоп для подготовки препаратов и рутинных работ с органами растений. Увеличение до х32. 684;ФГБУН Институт теоретической и экспериментальной биофизики Российской академии наук;Инвертированный микроскоп Eclipse Ti-E (Nikon);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 685;ФГБУН Институт теоретической и экспериментальной биофизики Российской академии наук;Система многопараметрического анализа ImageXpress MicroXL (Molecular);Предназначена для биомедицинских исследований методами оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 686;ФГБУН Ботанический сад-институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Стереомикроскоп Stemi 2000 - С (Carl Zeiss);Предназначен для морфологических и микроморфологических исследований при работе с фиксированными и живыми биологическими объектами. Комплектация микроскопа позволяет работать как в отраженном, так и в проходящем свете. Система штативов обеспечивает значительную подвижность головки микроскопа, изменение угла наклона плоскости фокусировки и большое рабочее расстояние (до 1 м). 687;ФГБУН Ботанический сад-институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Стереомикроскоп SteREO Discovery V8 (Carl Zeiss);Предназначен для морфологических и микроморфологических исследований при работе с фиксированными и живыми объектами, наблюдаемыми в проходящем, падающем свете и при косом освещении. 688;ФГБУН Ботанический сад-институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Лабораторный микроскоп PrimoStar (Carl Zeiss);Микроскоп для рутинных исследований гистологических препаратов 689;ФГБУН Ботанический сад-институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Лабораторный микроскоп Axiolab (Carl Zeiss);Предназначен для исследования гистологических срезов в проходящем свете, методом светлого и темного поля 690;ФГБУН Ботанический сад-институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Универсальный исследовательский микроскоп Axioplan 2 (Carl Zeiss);Предназначен для исследования и анализа анатомических, цитоэмбриологических, кариологических препаратов биологических образцов в проходящем и отраженном свете с использованием методов светлого и темного поля, фазового контраста, люминесценции. 691;ФГУП Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химии и технологии элементоорганических соединений;Сканирующий электронный микроскоп PHILIPS SEM505 SEM 505;Исследование поверхностей твердофазных материалов и оценка элементного состава 692;ФГБУН Тихоокеанский институт географии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Микроскоп Axio Imager A2 (Carl Zeiss);Предназначен для изучения и фотодокументация различных объектов 693;ФГБНУ Северо-Кавказский зональный научно-исследовательский институт садоводства и виноградарства;Микроскоп оптический с видеокамерой OLYMPUS BX41;Исследование клеточных структур и микроорганизмов 694;ФГБУН Уфимский научный центр Российской академии наук;Флуоресцентный микроскоп Biozero (Keyence);Исследование биологических объектов 695;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Оптический микроскоп для исследования структуры материалов GX51 (OLYMPUS) 43020705;Исследование структуры материалов 696;ФГБУН Научный центр волоконной оптики Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (JEOL);Сканирующий (растровый) электронный микроскоп предназначен для исследования микро- и наноструктуры поверхности различных образцов. Оснащение приставками для ЭДС, ВДС и ДОРЭ позволяет проводить анализ элементов от бора до урана, изучать структуру и текстуру кристаллов 697;Зоологический институт Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп Morgagni 268-D (FEI);Изучение ультратонкой организации зоологических объектов 698;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Оптический микроскоп Axio Imager z1m (Carl Zeiss);Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне 699;ФГБУН Институт иммунологии и физиологии Уральского отделения Российской академии наук;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LSM-710 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 700;Инновационный медико-технологический центр (Медицинский технопарк);Микроскоп инвертированный для лабораторных исследований со штативом Z1 Axio Observer (Carl Zeiss);Микроскоп инвертированный для лабораторных исследований Axio Observer со штативом Z1 701;Инновационный медико-технологический центр (Медицинский технопарк);Микроскоп лазерный сканирующий для лабораторных исследований серии LMS 700 исполнение LMS 710 (Карл);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 702;Тверской государственный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 703;ФГБУН Лимнологический институт Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп СММ 2000;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 704;ФГБУН Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп биологический лазерный сканирующий LSM700;Исследование нанообъектов 705;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Микроскоп электронный сканирующий с энергодисперсионной приставкой и EBSD детектором Vega 3 LMH (TESCAN);Получение электронно-микроскопических изображений и определение элементного сотава и кристаллической структуры исследуемого вщества 706;Тюменский государственный университет;Нанотехнологический комплекс НаноФаб-100 (НТ-МДТ);НТК предназначен для разработок и серийного производства различных наноструктур, наноэлементов и нанообъектов на их основе, а также для исследования наноструктурированных материалов, измерения состава и визуализации наноэлементов при разработке и создании многофункциональных защитных покрытий с помощью пучково-плазменной технологии ионного легирования. 707;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Исследовательский комплекс аппаратуры для обнаружения нанодефектов;Комплекс для лазерной сканирующей микроскопии, предназначен для возбуждения и регистрации фотолюминесценции металлов 708;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп LIBRA® 200MC (Carl Zeiss);Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения объединяет в себе встроенный в колонну энергетический ОМЕГА-фильтр, высокоэффективный автоэмиссионный эмиттер и систему освещения образца по Кёлеру. Использование ОМЕГА-фильтра позволяет проводить спектральный анализ для определения химического состава вещества при исследованиях полупроводников, материаловедческом анализе и исследованиях в других областях, а также обеспечивает интегральную фильтрацию изображения. 709;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Микроскоп инфракрасный HYPERION 3000 в комплекте;Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 710;ФГБУН Институт химии растворов им. Г.А. Крестова Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп Certus Light;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 711;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss);Отличается большой функциональностью и отвечает новейшим требованиям современного уровня материаловедческих исследований. Используется для исследования и контроля качества материалов. 712;ФГБУН Лимнологический институт Сибирского отделения Российской академии наук;Лазерный сканирующий микроскоп LSM 710 (Carl);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 713;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Сверхвысоковакуумный туннельный сканирующий микроскоп VT-STM (OMICRON);Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной микроскопии 714;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Cверхвысоковакуумный отражательный электронный микроскоп СВВ-ОЭМ на базе ПЭМ JEM-7A;In-situ исследования атомных процессов на поверхности кристаллов в сверхвысоковакууумных условиях. 715;ФГБУН Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники Российской академии наук;Электронно-лучевой нанолитограф Raith 150 - TWO;Сканирующая электронная микроскопия, литография электронным лучем 716;Научный центр клинической и экспериментальной медицины СО РАМН;Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп LSM 710 (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 717;Научный центр клинической и экспериментальной медицины СО РАМН;Микроскоп Axio Imager A1/Z1 + ApoTome (Zeiss);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 718;Научный центр клинической и экспериментальной медицины СО РАМН;Исследовательский микроскоп Axio Observer D1 (Zeiss);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 719;Научный центр клинической и экспериментальной медицины СО РАМН;Микроскоп лабораторный инвертированный Axiovert 40C (Zeiss);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 720;ФГБНУ Всероссийский научно-исследовательский институт риса;Микроскоп Nikon ECLIPSE 50/50i;Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 721;ФГБУН Физико-технический институт имени А.Ф. Иоффе Российской академии наук;Зондовый микроскоп Dimension 3100 (Veeco);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 722;ФГБУН Физико-технический институт имени А.Ф. Иоффе Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM 2100F (JEOL);Исследования методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения 723;Российский университет дружбы народов;Микроскоп цифровой медико-биологический Nikon eclipse 50i;Предназначен для лабораторных исследований биологических объектов в проходящем свете и с использованием люминесценции 724;Воронежский государственный технический университет;Цифровой аналитический металлографический комплекс Альтами MET Axio Imager (Карл);Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 725;Воронежский государственный технический университет;Универсальный СЗМ комплекс Интегра Прима;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 726;Ижевская государственная сельскохозяйственная академия;Микроскоп бинокулярный Микромед 1 (XS-810);Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 727;ФГБУН Институт экологических проблем Севера Уральского отделения Российской академии наук;Микроскоп световой с дозирующим устройством AXIO SKOP A1 (Carl);Технические характеристики: Исследовательский класс. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризация, люминесценция. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 728;ФГБУН Институт экологических проблем Севера Уральского отделения Российской академии наук;Фотомикроскоп Eclipse 50i (Nikon);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 729;Научно-исследовательский институт медицинской генетики СО РАМН;Микроскоп оптический с механическим микроманипулятором Axiovert-200, Narishige (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 730;Научно-исследовательский институт медицинской генетики СО РАМН;Микроскоп Axioscop 50 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 731;Научно-исследовательский институт медицинской генетики СО РАМН;Микроскоп Axioscop 40 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 732;Научно-исследовательский институт медицинской генетики СО РАМН;Флуоресцентный моторизованный микроскоп AxioImager M1 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии 733;ФГБУ Научно-исследовательский институт физиологии и фундаментальной медицины СО РАМН;Рентгеновский компьютерный томограф Aqulion 16 (Toshiba);Оборудование для рентгеновской микроскопии и микротомографии 734;ФГБУ Научно-исследовательский институт физиологии и фундаментальной медицины СО РАМН;Конфокальный микроскоп LSM-510 META (ZEISS);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 735;ФГБУ Научно-исследовательский институт физиологии и фундаментальной медицины СО РАМН;Трансмиссионный электронный микроскоп JEM 1400 (JEOL);Оборудование для микроскопических исследований 736;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп бинокулярный Биомед-4;Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 737;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп люминисцентный Микмед-2 (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рамановской микроскопии 738;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп люминесцентный ЛЮМАМ РПО-11 (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рамановской микроскопии 739;Оренбургский государственный медицинский университет;Электронный микроскоп ЭВМ100АК;Предназначен для биомедицинских исследований с использованием методов электронной микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 740;Оренбургский государственный медицинский университет;Оптические микроскопы Биолам;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 741;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп стереоскопический МБС-10 (ЛОМО);Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 742;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп стереоскопический МБС-9 (ЛОМО);Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 743;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп стереоскопический МБС-2 (ЛОМО);Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 744;Дальневосточный федеральный университет;Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с термическими испарителями Omicron;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 745;Дальневосточный федеральный университет;Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с магнетронными источниками Omicron;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 746;Дальневосточный федеральный университет;Сверхвысоковакуумный комплекс Omicron;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 747;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Установка совмещения фотошаблонов и экспонирования SUSS MJB4;Оборудование для микроскопических исследований 748;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Класс мультимикроскопов и профилометров CM-2000, 130;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 749;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Высокочастотный широкополосный импульсный акустический микроскоп WFPAM-25;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 750;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Микроскоп SZX9 (Olympus);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 751;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Микроскоп BX51 (Olympus);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 752;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Сканирующая зондовая нанолаборатория Интегра-Прима;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 753;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2010 (JEOL);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 754;Южный федеральный университет;Микроскоп МПБ-2;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 755;Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова;Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI);Оборудование для микроскопических исследований 756;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;Программно-аппаратный комплекс зондовой микроскопии Солвер некст;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 757;ГНУ Всероссийский научно-исследовательский институт сельскохозяйственной микробиологии РАСХН;Стереомикроскоп Lumar V-12;Прибор предназначен для наблюдения флуоресценции в крупных объектах, например, репортерных флуоресцирующих белков у трансгенных растений. Возможно получение серии изображений по оси Z, использование опции расширенного фокуса. 758;ГНУ Всероссийский научно-исследовательский институт сельскохозяйственной микробиологии РАСХН;Система лазерной микродиссекции PALM MicroBeam 4.2 (Carl);Одна из важнейших и сложнейших задач при проведении микроопераций с биообъектами – выделение интересующего элемента (например, живой клетки, хромосомы, макромолекулы определенного вида) из имеющегося биологического материала без его загрязнения и повреждения. Лазерная микросистема позволяет успешно решать эту задачу. Сфокусированный УФ-лазерный луч (длина волны не более 350 нм) длительностью всего в 3 наносекунды не только вырезает нужный микрообъект, не повреждая его, но и катапультирует в улавливающий микроконтейнер, отделяя таким образом от остального материала. Мощность лазерного пучка и фокусировка автоматически регулируются с большой точностью. Этим же лазерным лучом можно предварительно разрушить в исследуемом образце те элементы, которые могут мешать выделению (иссечению и катапультированию) нужного объекта. 759;ГНУ Всероссийский научно-исследовательский институт сельскохозяйственной микробиологии РАСХН;Конфокальный микроскоп с полным комплектом программного обеспечения LSM 510 META NLO (Carl);"Анализ распределения и интенсивности флуоресценции в фокальной плоскости и по объему в биологических образцах (клетках и тканях) в диапазонах длин волн: - в конфокальном режиме – от 458 нм до 633 нм; в мультифотонном режиме – в соответствии с диапазоном ИК-лазера (710 – 990 нм). Определение характеристических времен затухания флуоресценции в изучаемом образце. Анализ изображений в режиме FLIM (fluorescence lifetime image microscopy=флуоресцентная микроскопия в реальном времени, дающая возможность определять характеристики затухания флуоресценции). Анализ методом FRAP. Определение колокализации флуоресцентных молекул, как по наложению «красок», так и по данным FRET (флуоресцентного резонансного переноса энергии)" 760;Российский национальный исследовательский медицинский университет имени Н.И. Пирогова;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп Eclipse Ti-E (Nikon);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 761;Всероссийский дважды ордена Трудового Красного Знамени Теплотехнический научно-исследовательский институт;Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 LMН (TESCAN);Электронная микроскопия 762;Всероссийский дважды ордена Трудового Красного Знамени Теплотехнический научно-исследовательский институт;Стереомикроскоп SteREO Lumar.V20 (Discovery) (Carl);Оптическая микроскопия 763;Всероссийский дважды ордена Трудового Красного Знамени Теплотехнический научно-исследовательский институт;Металлографический комплекс на базе микроскопа Leica DMI 5000;Оптическая микроскопия 764;Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы;Метрологический комплекс измерения параметров рельефа и шероховатости на основе атомно-силовой микроскопии НаноСкан-3Д;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 765;Дагестанский научный центр РАН;Сканирующий электронный микроскоп с микрозондовым анализатором ISYS LEO-1450 EDX System (Carl-Zeiss);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 766;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Оптический микроскоп Axio Imager A1 (Carl Zeiss);Технические характеристики: Исследовательский класс. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризация, люминесценция. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 767;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Сканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп LEO SUPRA 25 (Carl Zeiss);Предназначен для общенаучных экспериментов в области автоэмиссионной микроскопии. Разрешение 1.5 нм на 20 кВ, 2 нм на 1 кВ. 768;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Трансмиссионный электронный микроскоп LEO-906 (Carl Zeiss);Трансмиссионный электронный микроскоп Libra-120 оборудован цифровой камерой захвата изображения, криоприставкой, держателем для томографических исследований с целью создания 3-D изображения ультраструктур, приставкой для проведения элементно-дисперсионного анализа тканевых образцов, Омега-фильтром, позволяющим существенно усиливать контраст и исследовать неконтрастированные образцы. Микроскоп, предназначен для проведения биомедицинских исследований с одновременным проведением локального химического анализа, с регулируемым ускоряющим напряжением до 120 кВ. Позволяет работать с фиксированными биологическими образцами низкого контраста в просвечивающем режиме и в режиме томографии с получением серии снимков образцов с дальнейшей возможностью их автоматической реконструкции в трехмерное изображение с отображением внутренней структуры произвольно выбранных участков. Обладает возможностью наблюдать изображение на флуоресцентном экране и мониторе цифровой системы захвата изображений в широком диапазоне увеличений без изменения фокуса и астигматизма, и возможностью независимого управления яркостью пучка и размером освещаемой площади. В комплектацию к микроскопу входит ультрамикротом UMC-6 (Leica, Германия) с набором алмазных ножей, предназначенный для приготовления ультратонких (50-70 нм) срезов. 769;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Лазерный сканирующий микроскоп LSM 710 (Carl);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 770;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный миркоскоп Quanta 200 (FEI);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 771;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Конфокальный люминесцентный время разрешающий микроскоп Micro Time 200 (PicoQuant);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рамановской микроскопии 772;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Cканирующий микроскоп ТМ 3000 (Хитачи);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 773;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;ИК-микроскоп «МИКРАН-2»;научное оборудование 774;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Цифровой микроскоп Motic DMBA;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 775;Северо-Кавказский горно-металлургический институт (государственный технологический университет);Сканирующий электронный микроскоп Phenom (FEI);Предназначен для исследований с применением электронной сканирующей микроскопии высокого разрешения 776;ФГБУН Институт геологии и геохимии им. академика А.Н. Заварицкого Уральского отделения Российской академии наук;Инфракрасный микроскоп Multiscope (PerkinElmer) для работы в комплекте с инфракрасным Фурье-спектрометром;ИК-микроскопия в режимах работы на пропускание, на отражение, методом НПВО. 777;ФГБУН Институт геологии и геохимии им. академика А.Н. Заварицкого Уральского отделения Российской академии наук;Микроскоп электронный сканирующий JSM 6390LV (Jeol);Электронная сканирующая микроскопия 778;Российский национальный исследовательский медицинский университет имени Н.И. Пирогова;Электронный микроскоп LEO-912 AB (Carl Zeiss);Предназначен для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 779;Российский национальный исследовательский медицинский университет имени Н.И. Пирогова;Электронный микроскоп HU-12 и HS-9 (Hitachi);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 780;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Сканирующий зондовый микроскоп Bruker Multimode8;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 781;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Комплексная сверхвысоковакуумная (UHV) установка Compact (OMICRON);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 782;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Сканирующий туннельный микроскоп Multiprobe Compact (OMICRON);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 783;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Сканирующий туннельный микроскоп VT UHV STM (OMICRON);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 784;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Атомный силовой микроскоп SOLVER P-47;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 785;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Микроскоп конфокальный с рамановским спектрометром alpha500-R (WITec);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 786;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Микроскоп биологический Axio Imager Z2 (Carl);Рабочий микроскоп, отличающийся простотой в управлении, прочностью, долговечностью и высококачественной оптикой. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 787;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Универсальный инвертированный микроскоп Axiovert 200 М со сканирующей приставкой ApoTom (Carl);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 788;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Система лазерной микродиссекции PALM MicroBeam (Carl);Оборудование для микроскопических исследований 789;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп BioScope Catalyst (Bruker);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 790;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM 780 NLO (Carl);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 791;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Конфокальный сканирующий лазерный микроскоп LSM 510 META (Carl);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 792;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Конфокальный прямой микроскоп Leica TSC SPE на базе микроскопа DM 2500;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 793;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп Evo 40 (Carl);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 794;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Трансмиссионный электронный микроскоп Libra 200 FE HT (Carl);Оборудование для микроскопических исследований 795;ФГБУН Институт биологии моря им. А.В. Жирмунского Дальневосточного отделения Российской академии наук;Трансмиссионый электронный микроскоп Libra120 (Carl);Оборудование для микроскопических исследований 796;Орловский государственный аграрный университет;Настольный электронный микроскоп Hitachi TM-1000;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 797;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп исследовательский инвертированный “Leica DMI 4000B”;Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 798;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп бинокулярный стереоскопический исследовательский “Leica MZ 16” с цифровой фотокамерой;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 799;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп исследовательский “Leica DM 5000B” с цифровой фотокамерой;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 800;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп стереоскопический Stemi 2000-C с цифровой фотокамерой (Karl);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 801;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп «AxioStar Plus» с цифровой фотокамерой (Karl);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 802;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп исследовательский “Leica DM 5000B” с цифровой фотокамерой (Karl);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 803;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп «AxioImager A1» с цифровой фотокамерой (Karl);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 804;ФГБУН Институт физики металлов имени М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп Quanta 200 (FEI) с системой Pegasus для элементного и текстурного анализа;Предназначен для исследований микроструктуры, текстуры, фазового и элементного состава, фрактографии любых неорганических и органических объектов, включая живые, с высоким разрешением. Оборудован системой PEGASUS (системой сканирования для формирования изображений в обратно отраженных и вторичных электронах, а также в характеристическом рентгеновском излучении, энергодисперсионным спектрометром «EDAX» для элементного анализа, системой EBSD для структурно-текстурного анализа), тремя вакуумными режимами, в том числе в газопаровой среде для живых объектов, непроводящих образцов и изучения коррозии. 805;ФГБУН Институт физики металлов имени М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-200CX (JEOL);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 806;ФГБУН Институт физики металлов имени М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп СМ30 Philips CM30 (FEI);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 807;ФГБУН Институт физики металлов имени М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп G2 Tecnai G2 (FEI);Предназначен для исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры любых объектов (неорганических, органических, металлических, керамических, биологических) с высоким разрешением вплоть до атомного. Оборудован системами сканирования, «GATAN» картирования изображений, спектроскопии потерь энергии электронов «EELS» и энергодисперсионным спектрометром «EDAX» для элементного анализа. Оснащен комплектом приставок для нагрева, охлаждения, деформации in situ. 808;ФГБУН Институт механики сплошных сред Уральского отделения Российской академии наук;Система элементного анализа X-ray nanoanalysis (EDS/EDX) для сканирующего электронного микроскопа Evex MINI-SEM;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 809;ФГБУН Кемеровский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп JSM 6390 (JEOL);Предназначен для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 810;ФГБУН Кемеровский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Атомно - силовой микроскоп Cypher (Asylum);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 811;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LEXT (Olympus) 00010832;Предназначен для исследования структуры материалов 812;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom G2 PRO (Phenom-World) 43016576;Исследование структуры материалов 813;ФГБУН Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения S-5500 (Hitachi);"Получение изображения во вторичных электронах от 100х до 2 000 000х; морфологические исследования микрообразцов" 814;ФГБУН Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Настольный электронный микроскоп SEM ТМ-1000 (Hitachi);"Получение изображения в обратно-отражённых электронах от 20х до 10 000х; морфологические исследования микрообразцов" 815;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Установки анализа структуры поверхности Nano DST (Pacific);Высокоскоростной сканирующий зондовый микроскоп для получения изображений и изучения динамики процессов in situ с высоким временным пространственным наноразмерным разрешением. 816;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Сканирующий электронный микроскоп TM-1000 (HITACHI);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 817;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Приборный комплекс для исследования объектов методом полного внутреннего отражения (с системой двух наноманипуляторов для трехмерного перемещения объектов Nikon Eclipse 90i;Рабочий микроскоп, отличающийся простотой в управлении, прочностью, долговечностью и высококачественной оптикой. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 818;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Универсальный цифровой видео-микроскоп высокого разрешения HIROX KH-7700;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 819;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Сканирующий электронный микроскоп с EDS и WDX детекторами HITACHI S-3400N;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 820;ФГБУН Институт молекулярной биологии им. В.А. Энгельгардта Российской академии наук;Лабораторный инвертированный микроскоп TS100FLED (Nikon);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 821;Ульяновская государственная сельскохозяйственная академия имени П. А. Столыпина;Микроскоп Биомед-6;Рабочий микроскоп, отличающийся простотой в управлении, прочностью, долговечностью и высококачественной оптикой. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 822;Владимирский государственный университет;Пост микроконтроля оптоэлектронных излучающих устройств с системой автоматизации процесса измерения параметров МК-1;Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 823;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Метрологическая станция контроля точности совмещения фотошаблонов IPRO (KLA-Tencor);Оборудование для микроскопических исследований 824;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Программно-аппаратный комплекс для проведения процессов с фотошаблонами размером 7 дюймов 7012 (Vistec);Оборудование для микроскопических исследований 825;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа XeDraw 2 (Xenos);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронно-ионной литографии 826;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Технологический комплекс групповой сборки кристаллов и соединения пластин Substrate bonder SB6 (Suss);Сборка кристаллов и соединения пластин 827;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Сканирующая зондовая нанолаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 828;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Сверхвысоковакуумный многокамерный нанотехнологический комплекс НаноФаб 100 (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронно-ионной литографии 829;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Учебный атомный силовой микроскоп (класс на 6 рабочих мест) Nanoeducator (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 830;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation;Визуализация и исследование геометрического рельефа, поляризационных и физических свойств (анизотропия, показатель преломления, фазовый состав, механическое напряжение) кристаллических и полупроводниковых наноструктур, нанодинамики их изготовления. 831;Воронежская Государственная Медицинская Академия им. Н.Н. Бурденко;Микроскоп МикМед 1(ЛОМО);Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 832;Грозненский государственный нефтяной технический университет им. академика М.Д. Миллионщикова;Система дифракции обратно рассеянных электронов EDAX TSL (EBSD);Для исследования кристаллографических ориентаций многих материалов, которая может использоваться для исследования текстуры или преимущественных ориентаций моно- или поликристаллического материала. 833;Российский национальный исследовательский медицинский университет имени Н.И. Пирогова;Микроскоп Micros 300AT;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 834;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Сканирующая зондовая НаноЛаборатория NTEGRA Aura (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 835;Волгоградский государственный медицинский университет Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию;Микроскоп бинокулярный (со встроенным галогеновым осветителем) XS-910 (15 шт) (Китай);Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 836;Волгоградский государственный медицинский университет Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию;Микроскоп для морфологических исследований Стандарт-20 (Карл);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 837;Волгоградский государственный медицинский университет Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию;Микроскоп Axiostar+ (Карл);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 838;Российский национальный исследовательский медицинский университет имени Н.И. Пирогова;Комплект оборудования для флуоресцентного имидждинга Система Cell-R, IX71 инвертированный микроскоп (Olympus,);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 839;Российский национальный исследовательский медицинский университет имени Н.И. Пирогова;Комплект микроскопов IX71 для Ph, IX71 для DIC, IX51 для Ph, SZ51 (Olympus);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 840;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Интегрированный сверхвысоковакуумный комплекс Omicron;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 841;Красноярский государственный медицинский университет имени профессора В.Ф.Войно-Ясенецкого;Микроскоп медицинский биологический Olympus FV10i (инвертированный с лазерной конфокальной системой и инкубационной камерой для прижизненного наблюдения за биологическими объектами);Рабочий микроскоп, отличающийся простотой в управлении, прочностью, долговечностью и высококачественной оптикой. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 842;Красноярский государственный медицинский университет имени профессора В.Ф.Войно-Ясенецкого;Микроскоп инвертированный Olympus IX 51S8F-3;Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 843;Красноярский государственный медицинский университет имени профессора В.Ф.Войно-Ясенецкого;Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок Olympus СХ41 CX-RFA-2 DP71;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии 844;ФГБУН Институт биохимической физики им. Н.М.Эмануэля Российской академии наук;Оптический микроскоп Axio Imager. Z2m, Carl Zeiss;Исследование объектов в проходящем и отраженном свете: светлое поле, темное поле, поляризация, люминесценция, дифференциально-интеграционный контраст (микроорганизмы, белки и белковые соединения, порошки, углеводородное сырье, композиционные материалы, растительное сырье, дисперсные системы и растворы и др.) 845;ФГБУН Институт биохимической физики им. Н.М.Эмануэля Российской академии наук;Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп TCS SP5 (Leica);Сканирование объекта с последующей реконструкцией трехмерных флуоресцентных изображений, использование методов FLIP (потеря флуоресценции в ходе фотовыжигания), FRAP (восстановление флуоресценции после выжигания) 846;ФГБУН Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп ACM MP 3D c принадлежностями Stand Alone (Asylum Research);Установка АСМ предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многих поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода и др. 847;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп СХ21 (Olympus);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 848;ФГБУН Институт машиноведения Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский волнодисперсионный микроанализатор к сканирующему электронному микроскопу Tescan Vega II XMU INCA WAVE 700 (OXFORD);Рентгеновские микроанализаторы “INCA” позволяют получать информацию о фазовом, качественном и точном количественном химическом составе образца на микроуровне.Программное обеспечение интегрировано на базе единой программной платформы ИНКА. 849;ФГБУН Институт машиноведения Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский энергодисперсионный микроанализатор к сканирующему электронному микроскопу Tescan Vega II XMU INCA ENERGY 450 (OXFORD);Рентгеновские микроанализаторы “INCA” позволяют получать информацию о фазовом, качественном и точном количественном химическом составе образца на микроуровне.Программное обеспечение интегрировано на базе единой программной платформы ИНКА. 850;ФГБУН Институт машиноведения Уральского отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп NT 206;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 851;ФГБУН Институт машиноведения Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп и нанотвердомер Nanoscan (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 852;ФГБУН Институт машиноведения Уральского отделения Российской академии наук;Оптический микроскоп NEOPHOT-21 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 853;ФГБУН Институт машиноведения Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп Tescan Vega II XMU (Tescan);Позволяет исследовать структуру и состояние поверхности с высоким разрешением. 854;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп LEO 1450 VP (Carl Zeiss);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 855;Дальневосточный геологический институт ДВО РАН;Микроскоп сканирующий электронный JSM-6490LV (Jeol) c системой INCA Energy 350 (Oxford Instruments) для рентгеновского энерго-дисперсионного микроанализа и волнодисперсионным спектрометром Inca Wave 700 (Oxford Instruments);Аналитическая сканирующая электронная микроскопия с режимами высокого (разрешение 3,0 нм) и низкого вакуума для исследования морфологии, строения и элементного состава (от бериллия до калифорния с чувствительностью до 0,01 % массы) твердых и водонасыщенных образцов 856;ФГБУН Институт металлургии Уральского отделения Российской академии наук;Инвертированный металлографический микроскоп Olympus GX-51 (Plympus);Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 857;ФГБУН Институт металлургии Уральского отделения Российской академии наук;Электронный сканирующий микроскоп с энергодисперсионным спектрометром Inca X-Act Carl Zeiss Evo 40;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 858;ФГБУН Уфимский научный центр Российской академии наук;Стереомикроскоп Stemi 2000 (Carl Zeiss);Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 859;ФГБУН Уфимский научный центр Российской академии наук;Инвертированный микроскоп AXIO Observer.Z1 (Carl Zeiss);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 860;ФГБУН Уфимский научный центр Российской академии наук;Оптический микроскоп AXIO IMAGER A1 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 861;ФГБУН Институт теоретической и экспериментальной биофизики Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп BS 700 (TESLA);Предназначен для исследования ультраструктуры биологических объектов, а также кристаллографического анализа макромолекул. 862;ФГБУН Институт теоретической и экспериментальной биофизики Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп-микроанализатор JSM 6390A (Jeol);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 863;ФГБУН Институт теоретической и экспериментальной биофизики Российской академии наук;Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп Leica TCS SP5 (Leica Microsystems);Исследования морфологии и функционального состояния клеток и тканей животных и растений с помощью :а) измерения распределения интенсивности флуоресценции в фокальной плоскости и объекта и по объему исследуемых образцовб)Получение трехмерных изображений флуоресцентно меченных преператов.в) Математической обработки изображений (фильтрация, деконволюция/конволюция, контрастирование и т.п. 864;Рязанский государственный радиотехнический университет;Наноизмерительный комплекс зондовой микроскопии на базе АСМ-СТМ NTEGRA-Spectra (НТ-МДТ);Исследование топологических и электрофизических свойств поверхности образца в различных средах – на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости 865;Рязанский государственный радиотехнический университет;Комплекс измерительный электронно-оптический с модулями контроля электрофизических характеристик наноматериалов и наноструктур JSM 6610LV (Jeol);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 866;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп S-3400M тип 2 (Hitachi);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 867;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Комплекс на основе ближнепольной микроскопии (сканирующая зондовая нанолаборатория);Оборудование для микроскопических исследований 868;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция для рентгеновской микроскопии и томографии;Для научных целей 869;ФГБУН Томский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Электронный микроскоп JEM -2100 JEOL JEM -2100 (Tokyo);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 870;ФГБУН Томский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп Электронный сканирующий с приставками ZEISS LEO EVO50 xvp (Carl Zeiss);Предназначен для электронной микроскопии как эффективного инструмента контроля состояния поверхностей различных материалов, структуры вещества. 871;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Нанотехнологический комплекс Нанофаб 100 (НТ-МДТ);Установка позволяет обрабатывать и исследовать образцы диаметром до 100 мм в условиях сверхвысокого вакуума в режимах зондовой микроскопии и фокусированного ионного луча 872;Северо-Осетинский государственный университет им. Коста Левановича Хетагурова;Нанозондовая лаборатория Интегра-Аура (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 873;ФГБОУ Институт высшей нервной деятельности и нейрофизиологии Российской академии наук;Флуоресцентный микроскоп AXIOSCOP 2 FS (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии 874;ФГБОУ Институт высшей нервной деятельности и нейрофизиологии Российской академии наук;микроскоп лазерный (микродиссектор) LMD6000 (Leica);Оборудование для микроскопических исследований 875;ФГБОУ Институт высшей нервной деятельности и нейрофизиологии Российской академии наук;Конфокальный микроскоп LSM5 Live;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 876;ФГБУ Научно-производственный комплекс Технологический центр МИЭТ;Зондовый сканирующий микроскоп Dimension ICON (Bruker);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 877;ФГБУН Институт тектоники и геофизики им. Ю.А. Косыгина Дальневосточного отделения Российской академии наук;Электронный сканирующий микроскоп VEGA, TESCAN (Чехия) с ЭДС X-Max 80, Oxford (Великобритания);Электронная микроскопия и микроанализ химического состава 878;ФГБУН Институт тектоники и геофизики им. Ю.А. Косыгина Дальневосточного отделения Российской академии наук;Электронный сканирующий микроскоп LEO EVO 40HV (Carl Zeiss);Изучение микрорельефа различных материалов 879;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Сканирующий зондовый микроскоп Solwer - Рro;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 880;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Анализатор с сканирующим туннельным микроскопом LAS-2000;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 881;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Микроскоп электронный сканирующий с системой рентгеновского микроанализа SEM-515 (Philips);Исследование веществ методом сканирующей электронной микроскопии и определение состава вещества 882;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Металлографический микроскоп МЕТАМ-ЛВ (ЛОМО);Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 883;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Металлографический микроскоп Neophot-21 (Carl Zeiss);Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 884;ФГБУН Институт молекулярной генетики Российской академии наук;Микроскоп инвертированный Axiovert 35 (Zeiss);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 885;ФГБУН Институт молекулярной генетики Российской академии наук;Лазерный микродиссектор PALM (Zeiss);Оборудование для микроскопических исследований 886;ФГБУН Институт молекулярной генетики Российской академии наук;Микроскоп конфокальный LSM510 (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 887;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 888;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп Ntegra Prima;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 889;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Двухлучевая система с высоким разрешением для исследования и подготовки образцов Neon-40 (Carl Zeiss);Позволяет получать изображения структуры материала с учетом его химического состава. Комбинация двух высокоразрешающих колонн в едином приборе дает пользователям не имеющий прямых аналогов инструмент для наноманипулирования на высоких и сверхвысоких увеличениях. Все процессы, производимые ионным лучом или микро/наноманипулятором, наблюдаются в режиме онлайн. 890;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп Supra 50VP (Carl Zeiss);"Позволяет выполнять многоплановые исследования по созданию и диагностике наноструктур с применением методов сканирующей электронной микроскопии и электронной литографии. Микроскоп оснащен комплектом аналитических модулей (детекторов и программное обеспечение), с помощью которых можно получать разнообразную качественную и количественную информацию об исследуемых объектах: получение изображений объектов без предварительной подготовки (в том числе и непроводящих — возможность использования режимов низкого вакуума (VP) и их комбинаций с работой на низких ускоряющих) во вторичных и отраженных электронах с пространственным разрешением до 1,5 нм; морфометрический анализ субмикронных и нанометровых неоднородностей и частиц; микроанализ элементного состава объектов, включая измерение толщины и состава тонких пленок, с использованием энергодисперсионного рентгеновского спектрометра; сверхстабильный ток пучка — 0,2% в час / до 20 нА, обеспечивает высочайшее качество результатов рентгеновского и дифракционного анализов; анализ спиновой поляризации вторичных электронов и получение изображений поверхности материалов с магнитным контрастом; диагностика полупроводниковых структур с применением методов катодолюминесцентных измерений и т. п." 891;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO-HV (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 892;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47H (НТ-МДТ);Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм. 893;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Аура (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 894;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Растровый электронный микроскоп S-4800 FE-SEM (HITACHI);Предназначен для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 895;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Электронно-ионный микроскоп JIB-4500 c микроманипулятором IB-32010FPUS (JEOL);Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ. Прибор объединяет в себе растровый электронный микроскоп и растровый ионный микроскоп и оснащен системой локального нанесения С и W из газовой фазы. 896;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов;Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0,1 %, исследование спектров микрокатодолюминесцнции в диапазоне 300-900 нм с пространственным разрешением порядка 1 мкм в диапазоне температур 78 -300 К. Исследование дифракции обратно-рассеянных электронов для определения кристаллической структуры изучаемых объектов с локальностью несколько микрометров. 897;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL);Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники. 898;Дальневосточный федеральный университет;Система лазерной микродиссекции LMD6000 (Leika);Оборудование для микроскопических исследований 899;Дальневосточный федеральный университет;Сверхвысоковакуумная напылительная система с магнетронными источниками Omicron;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 900;Дальневосточный федеральный университет;Сверхвысоковакуумный комплекс Omicron;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 901;ФГАНУ «Центральный научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт робототехники и технической кибернетики»;Исследовательский комплекс «Зондовая нано лаборатория» Интегра;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 902;ФГАНУ «Центральный научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт робототехники и технической кибернетики»;Микроскоп ТЕХИНВАЛ (Carl);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 903;ФГАНУ «Центральный научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт робототехники и технической кибернетики»;Микроскоп интерференционный ИНТЕРФАКС (Carl);Визуализация и исследование геометрического рельефа, поляризационных и физических свойств (анизотропия, показатель преломления, фазовый состав, механическое напряжение) кристаллических и полупроводниковых наноструктур, нанодинамики их изготовления. 904;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL);Проведение исследований микроструктуры различных материалов и биологических объектов, энерго-дисперсионного (элементного) анализа материалов. 905;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп электронный сканирующий LEO EVO 50 xvp (Carl Zeiss);"Исследование морфологии поверхностей металлических, керамических, полимерных, порошковых материалов, биологических обектов; проведение энергодисперсионного и волнового анализа (EDS) и анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов." 906;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Оптический микроскоп Axiovert 200MAT (Carl Zeiss);Проведение материаловедческих исследований образцов больших габаритов в отраженном свете по методам светлого поля, темного поля, дифференциально-интерференционного контраста (DIC) 907;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп мультимодовый сканирующий зондовый Solver P47H (НТ-МДТ);Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов). 908;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Сверхвысоковакуумный модуль сканирующего зондового микроскопа SPM01;"Cканирующий зондовый микроскоп Ntegra Aura предназначен для исследования свойств поверхности твердых тел в следующих режимах: сканирующая туннельная микроскопия; атомно-силовая микроскопия; латерально-силовая микроскопия; отображение фазы; модуляция силы; отображение адгезионных сил; магнито-силовая микроскопия; сканирующая ёмкостная микроскопия; метод зонда Кельвина; отображение сопротивления растекания; силовая литография; токовая литография." 909;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro-M (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 910;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Просвечивающий аналитический 200 кВ электронный микроскоп Tecnai G2 20 (FEI);Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 911;ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф.В. Лукина;Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge);Предназначен для исследования топографии и фазового состава поверхности объекта с разрешением не хуже 10 нм. Широкий диапазон ускоряющих напряжений (от 0.5 до 40 кэв.). На основе растрового электронного микроскопа «CAMSCAN-S4» создана измерительная система, допущенная к применению в качестве рабочего средства измерений в диапазоне 0.1 — 20.0 мкм с погрешностью не более 5 — 50 нм. 912;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Атомно-силовой микроскоп Наноскан;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 913;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Комплекс оборудования для неразрушающей металлографии UHL;Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 914;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Микроскоп для исследований морфологии изломов Discovery (ZEISS);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 915;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Оптический металлографический комплекс для исследования в формате 3D AxioObserver.D1m (ZEISS);Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 916;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Инвертированный оптический микроскоп Axiovert-40MAT (ZEISS);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 917;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Низковольтный трансмиссионный микроскоп LVEM-5 (Delong);Оборудование для микроскопических исследований 918;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Сканирующий электронный микроскоп Camscan 4DV+HKL Basic EBSD System + INCA Energy 350 (CABRIDGE);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 919;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Растровый электронный микроскоп Philips 535;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 920;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Просвечивающий электронный микроскоп EM 400T (PHILIPS);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 921;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-200CX (JEOL);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 922;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Инвертированный металлографический микроскоп AxioObserver (Zeiss);Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 923;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Сканирующий электронный микроскоп Vega 5136-LM (Tescan);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 924;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 30F (FEI);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 925;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Электронно-ионный сканирующий микроскопс системой Pegasus Quanta 200 3D FEG (FEI);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 926;ФГБУН Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук;Электронный растровый микроскоп c приставками для измерения катодолюминесценции и элементного анализа методом EDS JSM 7001FA (JEOL);"Наблюдения структуры поверхности образца с разрешением 2нм; локальный анализ элементного состава (1мкм2 ) методом энергодисперсионной спектрометрии (EDX); катодолюминесцентный анализ (CLD)" 927;ФГБУН Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп «Solver Pro»;Для иссследования геометрического и потенциального рельефа поверхности образцов 928;Институт биологии гена Российской академии наук;Мультифотонный микроскоп LSM 510 META NLO (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 929;Институт биологии гена Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп Nanoscope III A (Veeco);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 930;Институт биологии гена Российской академии наук;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп TCS SP2 (Leica-Mirosystems);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 931;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Инвертированный металлографический цифровой оптический микроскоп Eclipse MA100;Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 932;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения с рентгеноспектральной приставкой JSM-7500F (JEOL);Предназначен для анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме «Gentle Beam» (торможение электронов перед образцом и снижение энергии первичного пучка до 100 эВ). В JSM-7500F используется особый электростатический фильтр внутри объективной линзы (r-фильтр) для фильтрации по энергии регистрируемых электронов. С помощью этого фильтра обеспечивается формирование сигнала изображения SE, BE, SE BE с управляемым соотношением отражённых и вторичных электронов. 933;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Просвечивающий электронный микроскоп-электронограф JEM-100CX (JEOL);Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 934;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Атомно-силовой микроскоп Solver-47 (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 935;ФГБУН Институт физиологии им. И.П. Павлова Российской академии наук;Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LSM 710 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 936;ФГБУН Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп LEO-420 (Carl Zeiss);Предназначен для структурных исследований. С помощью LEO-420 были получены важные результаты в различных областях материаловедения, таких как компактирование наноструктурных и внутреннеокисленных порошковых материалов, создание высокопрочных материалов с субмикрокристаллической структурой, разработка композиционных материалов на основе металлических матриц, дискретно-армированных твердыми наночастицами, сварка взрывом. 937;ФГБУН Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича Сибирского отделения Российской академии наук;Электронный просвечивающий микроскоп JEM-2100;Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 938;ФГБУН Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича Сибирского отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп с энергодисперсионным безазотным спектрометром EVO-50WDS-XVP-BU INCA Energy 350 x-MAX (Karl);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 939;Южный федеральный университет;Комплект оборудования для медико-биологических исследований зондовыми методами;Применение в области биологических, биохимических и медицинских исследований. Конструкция объединяет возможности атомного силового микроскопа и инвертированного оптического микроскопа.Размер образцаДо O40 мм, до 15 мм в высотуДиапазон сканирования100x100x10 мкмНелинейность, XY <0.1% 940;ФГБУ Научно-исследовательский институт биомедицинской химии имени В.Н. Ореховича Российской академии медицинских наук;Нанотехнологический комплекс для получения изображений и измерения физических свойств поверхности ИНТЕГРА Аура;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 941;ФГБУ Научно-исследовательский институт биомедицинской химии имени В.Н. Ореховича Российской академии медицинских наук;Автоэмиссионный электронный микроскоп сверхвысокого разрешения S-5500 (Hitachi);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 942;ФГБУ Научно-исследовательский институт биомедицинской химии имени В.Н. Ореховича Российской академии медицинских наук;Система лазерной микродиссекции Arcturus XT;Оборудование для микроскопических исследований 943;ФГБУ Научно-исследовательский институт биомедицинской химии имени В.Н. Ореховича Российской академии медицинских наук;Конфокальный микроскоп Axiovert;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 944;ФГБУ Научно-исследовательский институт биомедицинской химии имени В.Н. Ореховича Российской академии медицинских наук;Сканирующий зондовый микроскоп Nanoman II;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 945;ФГБУ Научно-исследовательский институт биомедицинской химии имени В.Н. Ореховича Российской академии медицинских наук;Атомно-силовой микроскоп SOLVER P47H;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 946;Зоологический институт Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп Hitachi TM-1000;Исследование поверхностных микроструктур зоологических объектов 947;Зоологический институт Российской академии наук;Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп Leica TCS SP5 MP;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 948;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM-510 Meta (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 949;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Сканирующий электронный микроскоп JSM-6380LA (JEOL);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 950;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1011 (JEOL);Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 951;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Исследовательский микроскоп c цифровой фотокамерой и системой обработки изображений Axioplan-2 Imaging (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 952;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Сканирующий зондовый комплекс с регулируемым внешним магнитным полем ИНТЕГРА Аура (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 953;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Металлографический микроскоп с термостатируемым держателем Eclipse 600 pol (Nikon);Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 954;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с системой микроанализа INCA Energy Oxford Supra 50 VP LEO;Предназначен для биомедицинских исследований, включая комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 955;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Электронный просвечивающий микроскоп JEM-2000 FXII (JEOL);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 956;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Сканирующий электронный микроанализатор LEO EVO 50XVP (Carl Zeiss);Исследование морфологии и микроструктуры наноматериалов. Разрешение в высоком вакууме 3 нм, при низком вакууме 4.5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 10В. Увеличение в диапазоне 5 - 1 000 000х 957;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Исследовательский измерительный комплекс сканирующей зондовой микроскопии семейства Integra Aura (НТ-МДТ);Открывает новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 958;ФГБУН Институт геологии и минералогии им. В.С. Соболева Сибирского отделения Российской академии наук;Растровый сканирующий электронный микроскоп LEO 1450 (Carl Zeiss);Предназначен для электронной микроскопии как эффективного инструмента контроля состояния поверхностей различных материалов, структуры вещества. 959;ФГБУН Институт геологии и минералогии им. В.С. Соболева Сибирского отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп с микроанализатором JSM6510LV (JEOL);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 960;ФГБУН Научный центр Российской академии наук в Черноголовке;Сканирующая зондовая нанолаборатория Интегра Аура (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 961;ФГБУН Научный центр Российской академии наук в Черноголовке;Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM 2100 (Jeol);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 962;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI);Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне (паспортное разрешение до 1,6 ангстрема, фактическое – на уровне 2 ангстрема). Микроскоп оснащен приставкой для проведения энергодисперсионного рентгеновского анализа (диапазон фиксируемых элементов от В до U), разрешение по энергии не более 138 эВ, обеспечивает построение двумерных карт распределения элементов, распределения элементов вдоль линии и элементный анализ в точке. Приставка режима сканирования обеспечивает получение изображения с высоким разрешением (разрешение 1 нм). Микроскоп имеет многопользовательский интерфейс с сохранением индивидуальных настроек для каждого вида эксперимента. 963;ФГБУН Институт биохимии и физиологии растений и микроорганизмов Российской академии наук;Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120 (Carl);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 964;ФГБУН Институт биохимии и физиологии растений и микроорганизмов Российской академии наук;Конфокальный микроскоп TCS SP5 (Leica-microsystems);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 965;ФГБУН Институт биохимии и физиологии растений и микроорганизмов Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп Solver Bio P 47;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 966;ФГБУН Институт биохимии и физиологии растений и микроорганизмов Российской академии наук;Система визуализации и анализа изображений Ariol (Genetix);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 967;Воронежский государственный университет;Система энергодисперсионного анализа X-flash (Bruker);Оборудование для микроскопических исследований 968;Институт биологии Карельского научного центра Российской академии наук;Микроскоп Olympus со встроенными: с цифровым модулем СХ41RF-5, VIDI-CAM;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 969;Институт биологии Карельского научного центра Российской академии наук;Микроскоп Olympus СХ41;Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 970;Институт биологии Карельского научного центра Российской академии наук;Микроскоп прямой Axio Scope А1 (Карл);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 971;Институт биологии Карельского научного центра Российской академии наук;Микроскоп оптический Axio Scope 40FL-1 (Карл);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 972;ФГБУН Институт механики Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 973;ФГБУН Институт высокотемпературной электрохимии Уральского отделения Российской академии наук;Cканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп TESCAN MIRA 3 LMU;Позволяет получить изображения изображение поверхности исследуемого объекта с высоким разрешением, особенно при низких ускоряющих напряжениях. 974;ФГБУН Институт высокотемпературной электрохимии Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп JSM-5900LV, оснащенный энерго- и волнодисперсионными спектрометрами INCA Energy 200 и INCA Wave 500 JSM-5900LV, INCA Energy 200, INCA Wave 500 (JEOL);Позволяет: получать изображение поверхности исследуемого объекта с разрешением 3.0 нм в высоковакуумном и 4,5 нм в низковакуумном режимах, исследовать распределение концентрации элементов от B до U на поверхности и вдоль выбранного направления сканирования, проводить количественный анализ в выбранных точках с локальностью до 1 мкм, точностью до 1—2 % и абсолютной чувствительностью до 10-13 г. исследовать структуру, морфологию, распределение и форму частиц для микроанализа в точке с локальностью до 1 мкм, точностью до 1—2 % и абсолютной чувствительностью до 10-13 г и по линии сканирования 975;ФГБОН Бурятский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп с системой энергодисперсионного микроанализа LEO-1430VP Энергодисперсионный анализатор INCA Energy 350 (Carl Zeiss);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 976;ФГБОН Бурятский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Электронный микроскоп SEM TM-1000 (Hitachi) с системой микроанализа;Предназначен для просмотра изображений образца, облучаемого сфокусированным электронным лучом. Изображение получают благодаря регистрации электронов, рассеянных поверхностью образца в обратном направлении. Просмотр образца может проводиться при столь высокой степени увеличения, которая не доступна при работе с обычными оптическими микроскопами. Благодаря большей глубине резкости, удается получать стереоскопическое изображение. Не требуется трудоемкой подготовки образца и осложненной настройки условий наблюдения. Можно исследовать образцы с диаметром до 70 мм и с толщиной до 20 мм. Кроме того, управление микроскопом обеспечивается портативной вычислительной машиной. Удается пользоваться заложенными в нее выгодными функциями (автоматическая фокусировка, автоматическая настройка яркости и др.). Микроскоп ТМ-1000 полезен специалистам, работающим в областях материаловедения, биологии, контроля качества, специалистов ВУЗов и т.д. 977;ФГБУН Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова Российской академии наук;Двухлучевая система с высоким разрешением для исследования и подготовки образцов NVision 40 (Carl Zeiss);Предназначена для микроскопического исследования поверхности и пробоподготовки 978;ФГБУН Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина Российской академии наук;Зондовый микроскоп Enviroscope (Veeco);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 979;Башкирский государственный медицинский университет;Микроскоп МБИ 152;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 980;Башкирский государственный медицинский университет;Микроскоп МИКМЕД 5 (ЛОМО);Рабочий микроскоп, отличающийся простотой в управлении, прочностью, долговечностью и высококачественной оптикой. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 981;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Установка фокусированных ионных пучков CROSS BEAM 1540XB (Carl Zeiss);Cоздание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию. 982;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп электронный сканирующий LEO-1430 (Carl Zeiss) с приставкой ЕDX;Позволяет оперативно проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с разрешением до одного нанометра. Применение источника полевой эмиссий для формирования диагностического пучка, позволяет сканирующей электронной микроскопии визуализировать неоднородности рельефа в пределах одного монослоя, проводить анализ химического состава поверхности с помощью встроенного блока энерго-дисперсионного анализа, определять электрическую активность дефектов по методике наведенного тока и т.д. 983;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп электронный растровый с литографической приставкой Raith-150;Электронный литограф – представляет собой модернизированный сканирующий электронный микроскоп фирмы Zeiss с электронной пушкой Supra. Предназначен для нанолитографии с размерами от 20 нм, создании промежуточных шаблонов для оптической литографии и сканирования поверхности образцов с большим увеличением в автоматическом режиме 984;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующая зондовая нанолаборатория Ntegra Vita;Исследования свойств поверхности 985;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Высокоразрешающий электронный микроскоп JEM-4000EX (JEOL);Исследование объемной структуры материалов 986;ФГБУН Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук;Аналитический высокоразрешающий электронный микроскоп с корректором аберраций объектива и приставками EDX и EELS TITAN 80-300 (FEI);Структурно-химический анализ на атомном уровне 987;Биолого-почвенный институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Конфокальный лезерный микроскоп с VV лазерной системой LSM 510 (Carl);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 988;Биолого-почвенный институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп LEO EVO 40HV (Carl Zeiss);Предназначен для электронной микроскопии как эффективного инструмента контроля состояния поверхностей различных материалов, структуры вещества. 989;Биолого-почвенный институт Дальневосточного отделения Российской академии наук;Программно-технический комплекс для автоматизации научных исследований биологических объектов(клеток) LSM 710 LIVE (Carl);Рабочий микроскоп, отличающийся простотой в управлении, прочностью, долговечностью и высококачественной оптикой. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 990;ФГБУН Институт цитологии Российской академии наук;Микроскоп телевал (Карл);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 991;ФГБУН Институт цитологии Российской академии наук;Инвертированный микроскоп TS100-F (Nicon);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 992;ФГБУН Институт цитологии Российской академии наук;Инвертированный микроскоп Ампливал;Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 993;ФГБУН Институт физико-химических и биологических проблем почвоведения Российской академии наук;Микроскоп поляризационный Axioskop 40 с цифровой камерой AxioCam MRc 5 и программным обеспечением AxioVision Axioskop A1 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 994;ФГБУН Институт физико-химических и биологических проблем почвоведения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп VEGA II LSU с системой энергодисперсионного микроанализа INCA ENERGY 350 (Tescan);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 995;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Лазерный сканирующий мкроскоп LSM 780 NLO (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 996;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп SteREO Lumar V12 (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 997;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп Stemi 2000 (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 998;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп AxioImager.M1 (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 999;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп Axioskop 2 Plus (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1000;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскоп Axioplan 2 Imaging E-mot (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1001;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Лазерный микродиссектор PALM MicroBeam (Zeiss);Оборудование для микроскопических исследований 1002;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Приставка APOTOME на микроскопе AxioImager (Zeiss);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 1003;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM 510 META (Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1004;ФГБУН Институт цитологии и генетики Сибирского отделения Российской академии наук;Электронный микроскоп LIBRA120 (Zeiss);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1005;ФГБУН Институт Физико-Технических Проблем Севера Сибирского отделения Российской академии наук;Комплекс для металлографического анализа включающий микроскоп, шлифовально-полировальный станок, стереомикроскоп Микроскоп Axivert 200 MAT, стереомикроскоп Stemi 2000-C (Carl Zeiss);Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 1006;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Универсальный комплекс сканирующей зондовой микроскопии Ntegra Prima;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 1007;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп с системой волнового и энергодисперсионного микроанализа JSM 6400 (Jeol);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1008;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Микроскопический комплекс на базе поляризационного микроскопа ЛабоПол-3 ЛПО вар.3;Предназначен для лабораторных исследований биологических объектов в проходящем свете и с использованием люминесценции 1009;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп ARIS-3500 (Burleigh);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 1010;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Микроскоп исследовательский поляризационный OLYMPUS BX51;Предназначен для лабораторных исследований биологических объектов в проходящем свете и с использованием люминесценции 1011;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Туннельный микроскоп ARIS-2200 (Burleigh);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1012;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Микроскоп электронный БС-500 (TESLA);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1013;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп Микмед 6;Рабочий микроскоп, отличающийся простотой в управлении, прочностью, долговечностью и высококачественной оптикой. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 1014;Поволжский государственный технологический университет;Универсальная нанолаборатория NTEGRA PRIMA BASIC (НТ-МДТ);Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 1015;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий туннельный микроскоп GPI-300;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1016;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий туннельный микроскоп VT STM Omicron;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1017;ФГБУН Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук;Микроскоп оптический с цифровой регистрацией изображения ST-VS-520 (EC);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1018;ФГБУН Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук;Система 3–х мерно-отображающего анализатора New View 5000 (Zygo);Визуализация и исследование геометрического рельефа, поляризационных и физических свойств (анизотропия, показатель преломления, фазовый состав, механическое напряжение) кристаллических и полупроводниковых наноструктур, нанодинамики их изготовления. 1019;ФГБУН Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп Solver 47p;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 1020;ФГБУН Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM 2100;Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 1021;ФГБУН Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп LEO 982 (Carl Zeiss);Предназначен для электронной микроскопии как эффективного инструмента контроля состояния поверхностей различных материалов, структуры вещества. 1022;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Система визуального контроля Mantis с M009 (Vision);Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 1023;ФГБУН Институт минералогии Уральского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 UB (Tescan);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1024;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп Solver Pro M (НТ-МДТ);Сканирующая головка может использоваться в конфигурации Stand-alone для измерения сверхбольших образцов (до 100 мм). Может использоваться для модифицирования поверхностей, манипуляции частицами до 50 нм в диаметре и литографии высокого разрешения (10 нм). 1025;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Оптический лазерный конфокальный микроскоп Leica TCS SPE (Leica Microsystems);Конфокальная лазерная микроскопия биологических объектов (исследования по визуализации и изучению структуры биологических микрокапсул). 1026;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп JSM-7401F с автоэмиссионным катодом (JEOL);Исследование физических, химических, оптических и морфологических особенностей широкого спектра аморфных и кристаллических материалов с помощью тонко сфокусированного электронного пучка. 1027;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (FEI);Получение электронно-микроскопического изображения аморфных и кристаллических материалов. Подготовка образцов с помощью сфокусированного ионного пучка. 1028;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Исследовательский комплекс NTEGRA prima (НТ-МДТ);Исследование пространственного распределения электрических, магнитных, механических, адгезионных свойств поверхности. 1029;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 (НТ-МДТ) в чистой климатической зоне;Изучение наноструктур, наносистем и поверхности материалов с различным типом проводимости с разрешением 5-10 нм (латеральным) и 0,1 нм (по вертикали). 1030;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI);Исследование твердых тел с высоким (вплоть до атомного) пространственным разрешением. Разрешение по точкам 0,20 нм, информационный предел <0,15 нм, разрешение в режиме STEM-0,17 нм. Поворот образца на /-40°. 1031;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Стереомикроскоп Olympus B061;Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 1032;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Атомно-силовой и туннельный микроскоп АСМ;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 1033;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Универсальный исследовательский микроскоп Olympus BX51M;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1034;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Оптические микроскопы Polivar-Met и MeF3 (Reichert-Jung);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1035;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Сканирующий электронный микроскоп SEM-515 (Phillips);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1036;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Просвечивающий электронный микроскоп 200CX (JEOL);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 1037;Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет»;Инвертированный моторизованный флуоресцентный микроскоп исследовательского класса Olympus IX81;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии 1038;ОАО Технопарк Слава;Туннельный микроскоп Умка;Исследование топологии поверхности проводящих и полупроводящих образцов с атомарным разрешением 1039;ОАО Технопарк Слава;Сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM;Универсальный прибор для проведения комплексных исследований поверхности различных объектов с нанометровым разрешением 1040;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Сканирующий атомно-силовой микроскоп Solver P-47;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 1041;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-100CX-II (JEOL);Методы исследования: светлое поле, темное поле, 1042;Бурятская государственная сельскохозяйственная академия имени В.Р. Филиппова;Микроскоп Микмед 6 (ЛОМО);предназначен для клинической лабораторной диагностики и морфологии при исследованиях объектов в проходящем свете с освещением по методу светлого поля 1043;Северо-Кавказский федеральный университет;Электронный микроскоп ЭВМ-100 ЛМ;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1044;Северо-Кавказский федеральный университет;Оптический микроскоп ПОЛАМ Л-213М (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1045;Северо-Кавказский федеральный университет;Учебная зондовая лаборатория NanoEducator;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 1046;Северо-Кавказский федеральный университет;Зондовый микроскоп INTEGRA;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 1047;Северо-Кавказский федеральный университет;Зондовый микроскоп INTEGRA аура (НТ-МДТ);Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 1048;ФГБУН Лимнологический институт Сибирского отделения Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп Philips SEM 525-M;Сканирующий электронный микроскоп Philips SEM 525-M имеет все возможности необходимые для быстрого неразрушительного контроля больших образцов для всех ориентаций. Технические характеристики Philips SEM 525-M: 1. Увеличения от 20 до 100000 2. Диапазон напряжения от 5 до 30 kV. 3. Максимальное разрешение 9 нм 1049;ФГБУН Лимнологический институт Сибирского отделения Российской академии наук;Трансмиссионный электронный микроскоп LEO 906E (Carl Zeiss);LEO 906E - трансмиссионный электронный микроскоп, созданный для рутинной эксплуатации. Технические характеристики LEO 906E: 1. Увеличения от 40 до 600000 без вращения изображения (патент LEO). 2. В дифракционной камере обеспечивается переменная длина от 180 до 1.600 мм (патент LEO). 3. Диапазон напряжения от 40 до 120 kV. 4. Максимальное разрешение 0,34 нм. 1050;ФГБУН Лимнологический институт Сибирского отделения Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп FEI Company Quanta 200 с приставкой рентгеновского микроанализа EDAX с безазотным охлаждением GENESIS XM 2 60 - Imaging SEM with APOLLO 10;Сканирующий электронный микроскоп Quanta 200 имеет все возможности необходимые для быстрого неразрушительного просмотра поверхности больших образцов. Quanta 200 позволяет работать с разнообразными типами образцов (в том числе непроводящими, загрязненными, влажными образцами и образцами способными к газовыделению при вакумировании, порошками и суспензиями. Имеет три вакуумных режима: 1. высокого вакуума (стандартный режим для сканирующих микроскопов) 2. естественной среды ESEM 3. низкого вакуума (без предварительного напыления) Приставка позволяет проводить качественный и количественный микроанализ в EDS в диапазоне элементов от Bе до U. Технические характеристики Quanta 200: 1. Увеличения от 20 до 1000000 2. Диапазон напряжения от 0,5 до 30 kV. 3. Максимальное разрешение 3,5 нм. 4. Разрешение пиков спектра 0,13 keV 1051;Чеченский государственный университет;Микроскоп МИКМЕД-1;Для исследования прозрачных препаратов в проходящем свете в светлом поле при учебных и лабораторных работах в области биологии, зоологии, медицины и других наук 1052;Чеченский государственный университет;Стереомикроскоп МС -1;Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 1053;Чеченский государственный университет;Микроскоп бинокулярный МИКМЕД – 6;Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 1054;Чеченский государственный университет;Микроскоп бинокулярный МИКМЕД 5;Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 1055;Чеченский государственный университет;Микроскоп монокулярный Микромед;Приборы для микроскопических исследований 1056;Чеченский государственный университет;Микроскоп «Юнат» 2п3;Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 1057;ФГБУН Научно-исследовательский институт физико-химической медицины Федерального медико-биологического агентства;Конфокальный микроскоп Nicon Eclipce 800 Nikon;Прибор для получения многомерные конфокальные флуоресцентные изображения с высоким разрешением и контрастом. 1058;Московский государственный университет пищевых производств;Атомно-силовой микроскоп NT-206;Исследование рельефа поверх-ности образца, определение раз-меров частиц в диапазоне 1-100 нм 1059;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Атомно-силовой микроскоп Nano Rule (Pacific);Для исследования свойств кристаллов и керамик в режимах СТМ и АСМ 1060;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Сканирующий мульти -микроскоп СММ-2000Т (Протон-МИЭТ);Предназначен для исследования свойств кристаллов и керамик в режимах СТМ (разрешение 3А) и АСМ (разрешение до 0.1А) 1061;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Микроскоп инвертированный Axiovert 200 MAT (Carl);Исследование свойств поверхности монокристаллов и керамик 1062;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Микроскоп петрографмческий. со сп. цифровой камерой Lieca DM2500P (Leica);Кристалло-оптический анализ 1063;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Установка для изучения оптической флюоресценции кристаллов;Исследование свойств поверхности монокристаллов и керамик 1064;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп РЭМ 200;Предназначен для исследований методом растровой электронной микроскопии. Обеспечивает увеличение 60-20 тысяч, разрешение 75 ангстрем. 1065;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Малогабаритный растровый электронный микроскоп МРЭМ 100;Растровый электронный микроскоп 1066;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Микрозондовая приставка INKA ENERGY-400 к сканирующему цифровому электронному микроскопу;Является универсальным инструментом для структурных исследований 1067;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Сканирующий цифровой электронный микроскоп с программным обеспечением (Carl);Электронная микроскопия. Постоянный контроль кристалло-химической трансформации поверхности полидисперсных материалов для технологических разработок, для диагностики и прогнозирования свойств мелкодисперсных систем 1068;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Микроскоп металлографический Метам РВ-21 (ЛОМО) с анализатором изображений ВидеоТест;Предназначается для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле. 1069;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп S405-A (Hitachi);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1070;ФГБУН Тюменский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Микроскопы (световые, инвертированные и люминесцентные) Carl Zeiss;Микроскопия просвечивающая для мофологического анализа различных биологических объектов, в том числе культур клеток. 1071;ФГБУН Тюменский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Высокоинтегриро-ванный компактный просвечивающий электронный микроскоп JEM-1011 (Jeol);"Электронная микроскопия клеток, их структур, комплексов макромолекул, бактерий, вирусов и др. биологических объектов, иммунная электронная микроскопия. Позволяет изучить тонкую организацию и структурную динамику внутриклеточных органелл, а так-же общее строение клетки при изменении ее функционального состояния; изменений, вызванных влиянием различных биохимических либо физиологических воз-действий в норме и при патологии." 1072;ФГБУН Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук;Сверхвысоковакуумный низкотемпературный зондововый микроскоп с опцией Qplus sensor Omicron LT SPM;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1073;ФГБУН Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп в комплекте с принадлежностями JSM-6460 (Boeku);Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0,1 %, исследование спектров микрокатодолюминесцнции в диапазоне 300-900 нм с пространственным разрешением порядка 1 мкм в диапазоне температур 78 -300 К. Исследование дифракции обратно-рассеянных электронов для определения кристаллической структуры изучаемых объектов с локальностью несколько микрометров. 1074;ФГБУН Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук;Электронный микроскоп Zeiss 1540 EsB (Carl);Сканирующий электронный микроскоп, разрешение 1.5 нм с фокусированным ионным пучком 1075;ФГБУН Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук;Электронный микроскоп с системой электронной литографии eLine FBMS/ELPHY (RAIS);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронно-ионной литографии 1076;ФГБУН Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук;Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI-300;Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп, позволяющий получать атомно-разрешенные изображения проводящей поверхности при комнатной температуре образца. 1077;ФГБУН Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 H;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 1078;Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники;Микроскоп INM100 UV (Leica);Контроль пластин и фотошаблонов в видимом и УФ диапазонах излучения 1079;Тамбовский государственный технический университет;Микроскоп электронный ЭМВ-100А;Электронный микроскоп для изу-чения морфологии и строения на-ноструктурированных материалов 1080;Тамбовский государственный технический университет;Микроскоп Axiovert-40 MAT (Carl);"Металлографический микроскопэ Конденсоры А0,2, А0,4 и А0,55 с большим рабочим расстоянием; большой выбор вкладышей для крепления специальной посуды; встроенная система для документирования (установка фото- или видеокамеры); встроенный источник света с галогенной лампой 12В 35Вт; окуляр 10х с линейным полем 23мм - 3-х позиционный узел клепления люминисцентных блоков со светофильтрами; ртутная лампа 50Вт и 100Вт" 1081;Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники;Оптический стереомикроскоп МБС-12;Оборудование для микроскопических исследований 1082;Пензенский государственный университет;Микроскоп EPIPHOT 200;"Модель TME200 Фокусировка Диапазон: 4 мм Грубая: 4 мм/оборот Точная: 0.1 мм/оборот Минимальный отсчет: 1 мкм Визирная шкала масштабная линейка для объективов 5/10/20/50/100х гранулометрические сетки (аустенит; No. 1-8; Сетка: 0.5м) Столик прямоугольный, диапазон перемещений 70х70 мм Фотомикрография серия FX-III через тринокуляр Окуляры CFWN 10x (20 мм) Объективы CF IC EPI Plan, CF IC EPI E Plan, CF IC BD E Plan, CF IC BD Plan, CF IC BD Plan DIC увеличения от 1.5x до 200x" 1083;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Сверхвысоковакуумный низкотемпературный с канирующий туннельный микроскоп GPI CRYO;Уникальный для РФ и один из немногих в мире СТМ, позволяющий исследовать образцы при температуре жидкого гелия. Обеспечивает возможности атомного разрешения и туннельной спектроскопии. 1084;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Оптический микроскоп Carl Zeiss Axiotech Vario, совмещенный с АСМ SIS Ultra Objective (Сarl Zeiss);Содержит револьвер с центрированными объективами x5, x20, x50 и x100. Подсветка осуществляется с помощью галогеновой лампы. Подключен к цифровой видеокамере, благодаря чему возможно сохранение микрофотографий на персональном компьютере. 1085;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Сканирующий Зондовый Микроскоп СОЛВЕР P47 (НТ-МДТ);Предназначен для количественных и качественных измерений приповерхностных характеристик и сопутствующих им физических по-лей с разрешением вплоть до атомарных, для проведения с нанометровым разрешением специальных воз-действий и нанолитографических операций, включая токовые, электрополевые, механические, химические воздействия. 1086;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Растровый электронный микроскоп CamScan S4;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии 1087;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Libra-200 FE HR (Carl Zeiss);На сегодняшний день, веро-ятно, новейший и один из самых совершенных ПЭМ высокого разрешения в Рос-сии. Прибор предназначен для исследования структуры материалов с атомным раз-решением. 1088;ФГБУН Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук;Сверхвысоковакуумный сканирующи туннельный микроскоп GPI-300;Комплекс позволяет после-довательно исследовать об-разец различными физиче-скими методами, произво-дить технологические обра-ботки, снова исследовать образец и т.д. При этом об-разец никогда не покидает условий СВВ. Исследования методом ДБОЭ могут про-водиться во время техноло-гических процессов (in situ). Поскольку образец не поки-дает условий СВВ, его ис-следования методом СТМ до и после обработок проводят-ся с атомным разрешением. Качество СТМ столь высо-ко, что атомное разрешение реализуется как на гладкой поверхности образца (на-пример, на чистой поверх-ности монокристаллическо-го Si или Ge), так и при ис-следовании объектов с вы-сокой шероховатостью, та-ких как массивы квантовых точек или нанокристалличе-ские пленки кремния или силицидов металлов. 1089;ФГБУН Институт биохимии и физиологии микроорганизмов им. Г.К.Скрябина Российской академии наук;Электронный микроскоп трансмиссионный JEM-100B/2SP (JEOL);Микроскопия препаратов 1090;ОАО НПО Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения;Просвечивающий электронный микроскоп «JEM-100B» (JEOL);Тонкая структура металлов, увеличение Х 100000 1091;ОАО НПО Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения;Сканирующий электронный микроскоп JED-2300 с микро-рентгеноспектральной приставкой JSM-6060A (JEOL);Тонкая структура, фрактография, элементный состав 1092;ОАО НПО Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения;Металлографический микроскоп “Axiovert 40MAT” (Carl Zeiss);Металлографический анализ металлов и сплавов 1093;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension (Nanoman);"Методы микроскопии, доступные с имеющимся набором модулей: - атомно-силовая (АСМ), поперечно-силовая, магнито-силовая (МСМ), емкостная, туннельная (СТМ), микроскопия сопротивления растекания, туннельная атомно-силовая, проводящая атомно-силовая; - область сканирования, мкм: 90; - максимальный размер образца, мм: 150; максимальная толщина образца, мм: 12; максимально-допустимый перепад высот образца, мкм: 7." 1094;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Растровый электронный микроскоп Quanta 600 FEG (FEI);Микроскоп позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат. Он предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. FEI Quanta 600 FEG позволяют работать с разнообразными типами образцов (в том числе непроводящими, загрязненными, влажными образцами и образцами, способными к газовыделению при вакуумировании). 1095;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Нанотехнологический комплекс Умка-02-L (Наноиндустрия);"Представляет собой сканирующий туннельный микроскоп и предназначен для исследования поверхностей объектов с высоким разрешением вплоть до атомарного. Поле сканирования, мкм: 5x5; - разрешение в плоскости образца, нм, не хуже: 0,02; - разрешение по вертикали, нм, не хуже: 0,01; - ток сканирования, пА: 20...5000; - напряжение на зазоре, В: - 0,01...2,5; - размер образца, мм: 8x8x0,5; - время сканирования кадра с атомарным - разрешением (3x3 нм), с, не более:2; - время сканирования полного кадра (7x7 нм), мин, не более: 4; - время выхода на рабочий режим, мин, не более: 10." 1096;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Модуляционный интерференционный микроскоп MИM-2.1;"- Разрешение по вертикали (Z) в стандартных условиях, нм: 0,4; - разрешение по вертикали (Z) при использовании активной виброзащиты, нм: 0,1; - латеральное разрешение (X, Y), нм: 15-80 (в зависимости от объекта); - оптическое увеличение микроскопа, крат: 1130; - поле зрения с объективом 100х/0,95, мкм : 14,6; - шаг дискретизации в плоскости, нм: 7; - шаг дискретизации по вертикали, нм: 0,01; - максимальная глубина изучаемого рельефа, нм: 260-800 (в зависимости от объекта); - размер растра, точек: от 1x1 до 1024x1024; - скорость съемки, точек/с: 500; - время съемки кадра 128x128 точек, с: 33; - время съемки кадра 1024x1024 точки, мин: 35; - максимальная частота динамических процессов, Гц: 500; - длина волны лазерного излучения, нм: 532; - мощность лазерного излучения, мВт: 40; - тип поляризации: эллиптическая; - степень поляризации: 200:1; - диапазон изменения угла поляризации, °: 0-360; - шаг изменение угла поляризации, °: 3,6±0,1; - максимальный размер образца, мм: 70; - максимальная толщина образца, мм: 16; - скорость фокусировки, мкм/с: 10; - шаг измерения фокусного расстояния, нм: 8." 1097;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Стереоскопический микроскоп Nikon SMZ 1500;"- Оптическая система: параллельно-оптическая система увеличения; - общее увеличение: 5.6x - 506x (с коаксиальным осветителем отраженного света); - угол наклона окуляров: 20°; - регулирование межзрачкового расстояния: 48 - 75 мм." 1098;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Микроскоп металлографический инвертированный GX51 (Olimpus);Наблюдение и съемка микроструктуры материалов, измерение линейных размеров микрообъектов 1099;Дальневосточный федеральный университет;Микроскоп инвертированный эпифлюоресцентный с дифференциальным контрастированием Zeiss Axio Observer A1 (Carl Zeiss);Инвертированный микроскоп для работы в отраженном и проходящем свете соответствует высоким стандартам наблюдения, управления процессом работы и техническим требованиям для точных исследовательских работ. Моторизованная система имеет гибкость конструкции, легко приспосабливаемую для самых сложных исследовательских целей и обеспечивающую эффективность в наблюдении, анализе и микроманипуляции. 1100;Дальневосточный федеральный университет;Атомно-силовой микроскоп SPM-9600 (Shimadzu);Микроскоп SPM-9600 сканирует образец микроскопическим зондом для получения трехмерного изображения. Топографическая карта поверхности с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз может быть получена для нативных образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов без какой-либо их предварительной подготовки.SPM-9600 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой (AFM), латерально-силовой (LFM) или сканирующей туннельной микроскопии (STM). 1101;ФГБУН Новосибирский институт органической химии им. Н.Н.Ворожцова Сибирского отделения Российской академии наук;Электронный микроскоп ТМ-1000 (Hitachi);Предназначен для микроскопических исследований 1102;Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет);Вычислительный томограф ВТ-600ХА;Предназначен для проверки контроля качества изготовления деталей 1103;ФГБУН Институт спектроскопии Российской академии наук;Уникальный многоцелевой аппаратно-программный комплекс - люминесцентный микроскоп-спектрометр высокого разрешения для визуализации одиночных квантовых объектов, регистрации их спектров люминесценции и спектров возбуждения флуоресценции в широком диапазоне низких температур на базе оборудования фирм Coherent, Thorlabs, Perkin Elmer (США), Standa (Литва), PCO, Carl Zeiss Jena (ФРГ), Nikon (Япония), L-Card, Авеста-Проект, Видеоскан, RTI (Россия) и др.;"Регистрация и автоматическое распознавание флуоресцентных изображений, спектров и спектральных историй одиночных примесных хромофорных молекул и других квантовых как в (квази) свободном состоянии на поверхности, так и внедренных в конденсированные среды; исследование локальной динамики и оптическая дальнеполевая нанодиагностика структуры конденсированных сред в широком диапазоне температур (1,5 - 300 К)" 1104;Ботанический институт им. В.Л. Комарова Российской академии наук;Стереомикроскоп с системой осветителей проходящего и падающего света Stemi-2000 CS (Carl Zeiss);"Стереомикроскопы Stemi-2000 CS с системой осветителей проходящего и падающего света (косое и бестеневой освещение; источники холодного света 250Вт), документацией изображения AxioCam MRc5 и мультимодульным программным обеспечением AxioVision (Carl Zeiss). Для документации при различных режимах освещения макроизображения растительных объектов и грибных культур." 1105;Ботанический институт им. В.Л. Комарова Российской академии наук;Универсальный биологический микроскоп с эпифлуоресценцией Axio Imager.А1 (Carl Zeiss);Полумоторизованный универсальный биологический микроскоп с эпифлуоресценцией, системой документации изображения AxioCam MRc5 и мультимодульным программным обеспечением AxioVision (Carl Zeiss) 1106;Ботанический институт им. В.Л. Комарова Российской академии наук;Стереоскопический люминесцентный микроскоп SteREO Lumar.V12 (Carl Zeiss);Полностью моторизованный стереоскопический люминесцентный микроскоп c: системой документации изображения AxioCam MRc5, сервером графической обработки Celsius R650 (Fujitsu Siemens) и мультимодульным программным обеспечением AxioVision (Carl Zeiss) для наблюдения флуоресценции в крупных объектах, например, репортерных флуоресцирующих белков у трансгенных растений. Возможно получение серии изображений по оси Z, использование опции расширенного фокуса. 1107;Ботанический институт им. В.Л. Комарова Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп JSM 6390LA (JEOL);Современный сканирующий (растровый) электронный микроскоп с полностью автоматизированной системой электронной высококачественной оптики для изучения поверхности и анализа элементного состава широкого спектра образцов.Эвцентрический столик образца имеет минимальный сдвиг поля зрения, а также фокуса при вращении образца. Держатель предназначен для наблюдения особенностей поверхности, в том числе, под разными углами. Камера и столик для изучения больших образцов (до 150мм диаметром). Интуитивно понятный интерфейс. Многопользовательская система. Спектрометр с дисперсией по энергиям, по длинам волн и детектор картин дифракции отраженных электронов расширяют возможности микроскопа до аналитических. С помощью аналитических приставок возможно получение информации о морфологии поверхности и составе образца на субмикронном уровне, получать распределения элементов. Ускоряющее напряжение от 0,5 до 30 кВ. Разрешение в режиме высокого вакуума 3 нм при 30 кВ, 8нм при 3кВ, 15нм при 1кВ. Диапазон увеличений от х8 до х300 000 при >11кВ от х5 до х300 000 при <10кВ. 1108;Ботанический институт им. В.Л. Комарова Российской академии наук;Универсальный флуоресцентный моторизованный микроскоп AxioImager.Z1 с системой документации (Carl Zeiss);Полностью моторизованный универсальный биологический моторизованный микроскоп с эпифлуоресценцией, дифференциальным интерференционным контрастом и системой аппаратного контрастирования флуоресцентного сигнала ApoTome. Источник УФ – металгалидная лампа. Объективы Plan-Apochromat с высокой числовой аппертурой, тач-панель для контроля и управления микроскопом, двухкамерная система документации изображения AxioCam MRc5/HRm, большая линейка узкополосных флуоресцентных фильтров с высокой эффективностью пропускания. Сервер графической обработки Celsius R650 (Fujitsu Siemens) и полный мультимодульный программный пакет AxioVision для мультиканальной флуоресценции и 3D / 4D реконструкции (Carl Zeiss), обширный пакет для измерений, включая 3D измерения. 1109;Южный федеральный университет;Поляризационный микроскоп проходящего и отраженного света Axioscop 40 Pol A с камерой Canon (Carl);Предназначена для оптических измерений объектов в проходящем и отраженном свете 1110;Южный федеральный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Multimode V (Veeco);предназначен для исследования топографии поверхности вплоть до нанорамерной шкалы. 1111;Южный федеральный университет;Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп Zeiss Supra 25 (Carl);Исследование морфологии поверхности пленок, нанокристаллов, наночастиц. Определение размеров и химического состава по характеристическим рентгеновским спектрам 1112;Южный федеральный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Интегра-Терма;"Исследование топографии поверхности, измерение размеров поверхностных объектов в микро- и нанометровом диапазонах; Измерение локальных электрических и упругих характеристик поверхности в микро- и нанометровом масштабах;" 1113;ФГБУН Мурманский морской биологический институт Кольского научного центра РАН;Оптический микроскоп с цифровой камерой («Karl);Регистрация микроскопических изображений и количественный анализ клеток крови биообъектов 1114;ФГБУН Мурманский морской биологический институт Кольского научного центра РАН;Микроскоп МИКМЕД1 вар2 (медтех) (ЛОМО);НИР с препаратами крови морских млекопитающих 1115;ФГБУН Мурманский морской биологический институт Кольского научного центра РАН;Микроскоп МБС-10 (ЛОМО);НИР с препаратами крови морских млекопитающих 1116;ФГБУН Мурманский морской биологический институт Кольского научного центра РАН;Бинокулярный микроскоп Микмед 2 вар.2 (ЛОМО);НИР с препаратами крови морских млекопитающих 1117;Палеонтологический институт им. А.А.Борисяка РАН;Сканирующий микротомограф SkyScan 1172;Выявление различных микрообъектов внутри горной породы и выяснение внутреннего строения животных и растений 1118;Палеонтологический институт им. А.А.Борисяка РАН;Сканирующий электронный микроскоп EVO 50 с микроанализатором (Carl Zeiss);Изучение палеонтологических объектов и горных пород при больших увеличениях и проведение качественных и количественных химических анализов 1119;Палеонтологический институт им. А.А.Борисяка РАН;Сканирующий электронный микроскоп CAMSCAN-S4 (Cambridge);Изучение палеонтологических объектов и горных пород при больших увеличениях и проведение качественных химических анализов 1120;Институт биологии Карельского научного центра Российской академии наук;Микроскоп Olympus СХ41RF-5 со встроенными: с цифровым модулем VIDI CAM СХ41RF-5VIDI CAM;Предназначен для микроскопирования образцов, захвата изображений, подготовки баз данных с изображениями, а также морфометрического анализа компьютерных изображений.Программное обеспечение для ПК, дублирующее функции модуля и позволяющее обрабатывать изображение в формате RAW. 1121;Институт биологии Карельского научного центра Российской академии наук;Микроскоп Olympus СХ41со встроенными: 5 гнездовой револьверной головкой;Предназначен для микроскопирования образцов, захвата изображений, подготовки баз данных с изображениями, а также морфометрического анализа компьютерных изображений в ручном режиме (оценка размерных и оптических характеристик, количества объектов, формы, занимаемой площади) 1122;Институт биологии Карельского научного центра Российской академии наук;Микроскоп прямой Axio Scope А1 с цифровой видеокамерой и программным обеспечением AxioVision (Карл);Предназначен для микроскопирования образцов, захвата изображений, подготовки баз данных с изображениями, а также морфометрического анализа компьютерных изображений в ручном режиме (оценка размерных и оптических характеристик, количества объектов, формы, занимаемой площади) Возможно микроскопирование в проходящем свете, в темном поле, с фазовым контрастом и флюоресценцией. Возможность наложения нескольких каналов. 1123;Институт биологии Карельского научного центра Российской академии наук;Оптический микроскоп Axio Scope 40FL-1 с цифровой видеокамерой и программным обеспечением ВидеоТест (Карл);Предназначен для микроскопирования образцов в проходящем свете, захвата изображений, подготовки баз данных с изображениями, а также морфометрического анализа компьютерных изображений в ручном и автоматическом режимах (оценка размерных и оптических характеристик, количества объектов, формы, занимаемой площади) Тех. хар-ка: объективы х5-х100 (с масляной иммерсией), окуляры х10, скорость захвата изображения видеокамерой – 100-500 мс, регистрация видеоизображения. 1124;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Оптический инвертированный микроскоп OLYMPUS GX51;"Исследовательский инвертированный микроскоп с галогеновым осветителем 12В 100Вт, револьвером на 5 объективов, фронтальным фотопортом, столиком с препаратоводителем и центральными вставками, окулярным микрометром (перекрестье). Прибор оснащен цифровой камерой Altra20 (разрешение 2 МП; глубина цвета 10 бит; Piezo-driving technology; Live image display) и предназначен для получения в отражённом свете: светлопольных и темнопольных изображений; изображений дифференциального интерференционного контраста (DIC); изображений в поляризованном свете. Предельное увеличение микроскопа: ?1000 (сменные объективы ?5, ?10, ?20, ?50, ?100)." 1125;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Зондовая лаборатория ИНТЕГРА Аура (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 1126;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. 1127;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 200 3D (FEI);ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1128;Центр Биоинженерия РАН;Лаборатория для исследования физических свойств объектов со сверхвысоким разрешением Интегра Прима (НТ-МДТ);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 1129;Оренбургский государственный университет;Микроскоп электронный растровый JSM-T20;Визуализация поверхности образцов с субмикронным разрешением 1130;ФГБУН Объединенный институт высоких температур Российской академии наук;Установка Наносекундный лазерный пинцет-скальпель PALM Combysystem (Carl Zeiss);"Инвертированный биологический микроскоп Axio Observer Z1 (Carl Zeiss); непрерыв-ный и нано секундный лазеры. Пред-назначен для проведения медико-биологи-ческих исследо-ваний" 1131;ФГБУН Объединенный институт высоких температур Российской академии наук;Атомный силовой микроскоп NS4A-01 (VEECO);Предназначен для измерительных методик 1132;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп TM-1000 (HITACHI);Анализ структуры поверхности твёрдых тел с разрешением от 50 нанометров. 1133;ФГБУН Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова Российской академии наук;Многофункциональный атомно-силовой микроскоп Наноскоп-3а;Сканирующая туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия, магнитно-силовая микроскопия, микроскопия в жидких средах, термонаноскопия. 1134;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Электронный микроскоп BS-301 (Tesla);РЭМ 1135;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Атомно-силовой микроскоп NTEGRA;АСМ, АСМ-ФК 1136;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Система материалографических исследований с высоким разрешением и локальным элементным анализом Vega II (Tescan);Изучение структуры и состава неэлектропроводящих материалов с разрешением до 3,5 нм 1137;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Просвечивающий электронный микроскоп с доп. блоками и системой пробоподготовки Libra 200 (Carl);Исследование и контроль структуры и фазового состава наноматериалов и изделий из них с нанометрическим и субнанометрическим разрешением 1138;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Универсальный оптический микроскоп GX51 (Olympus) с цветной цифровой фотокамерой;Оперативный контроль структуры перспективных высокопрочных сталей и сплавов с наноструктурными компонентами при их термообработке 1139;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Установка оптической литографии в технологически чистом помещении ИФТТ РАН MJB-4 Base Station (SUSS);Выполнение фотолитографии с использованием различных фоторезистов для получения геометрии резистивной маски для последующего структурирования 1140;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с системой микроанализа Supra 50VP, система микроанализа INCA Energy (Oxford);Изображение поверхности. Определение элементного состава материала 1141;ФГБУН Институт биологии развития им. Н.К. Кольцова Российской академии наук;Лазерный микродиссектор LMD 7000 в комплекте Leica;Приготовление образцов тканей и клеток для исследований 1142;ФГБУН Институт биологии развития им. Н.К. Кольцова Российской академии наук;Микроскоп Olympus CКX 31;Предназначен для микроструктурного анализа вещества 1143;ФГБУН Институт биологии развития им. Н.К. Кольцова Российской академии наук;Микроскоп Axio Observer.A1 (Carl Zeiss);Предназначен для микроструктурного анализа вещества 1144;ФГБУН Институт биологии развития им. Н.К. Кольцова Российской академии наук;Микроскоп SteREO Discovery V8 в комплекте;Предназначен для микроструктурного анализа вещества 1145;ФГБУН Институт биологии развития им. Н.К. Кольцова Российской академии наук;Микроскоп Axio Imager.M1 (Carl Zeiss);Предназначен для любых профессиональных и исследовательских задач. Устойчивая конструкция дизайн-проекта «пирамида». IC2S – оптика сверхвысокого разрешения и контраста. Моторизированные системы, управляемые с ЖК-экрана или монитора компьютера. Устройство ApoTome для повышенного контраста при люминесцентных наблюдениях. Может служить базой для LSM 510 (лазерная сканирующая микроскопия). 1146;ФГБУН Институт биологии развития им. Н.К. Кольцова Российской академии наук;Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп TCS SP5 в комплекте Leica;Высокоразрешающая микроскопия 1147;ФГБУН Институт биологии развития им. Н.К. Кольцова Российской академии наук;Исследовательский микроскоп Leica;микроскопия 1148;ФГБУН Институт биологии развития им. Н.К. Кольцова Российской академии наук;Дополнительное оборудование к лазерному микроскопу: СО2 инкубатор;Обеспечение прижизненной микроскопической визуализации клеток 1149;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп бинокулярный «Биомед-4»;Микроскопическое исследование 1150;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп бинокулярный Биолам р-15 (ЛОМО);Микроскопическое исследование образцов 1151;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп люминисцентный Микмед-2 (ЛОМО);Микроскопическое исследование с использованием люминесцентных меток 1152;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп люминесцентный ЛЮМАМ РПО-11 (ЛОМО);Проведение микроскопии 1153;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп * ECLIPSE PO I;Микроскопическое исследование 1154;Оренбургский государственный медицинский университет;Световой микроскоп серии Axio со встроенной системой документирования*;Изучение гистологических срезов 1155;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп с фотокамерой, совмещенный с компьютером*;Изучение гистологических срезов для визуального и фотографического исследования 1156;Оренбургский государственный медицинский университет;Световой микроскоп Axiostar plus* Zeiss;Исследование на световом уровне 1157;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп Биолам р-15;Исследование препаратов на световом уровне 1158;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп ЭМВ 100 АК;Изучение гистологических срезов на электронном уровне с очень высоким разрешением для визуального и фотографического исследования 1159;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп* LEVENHUK Bio View D748E Digital;Исследование на световом уровне 1160;Оренбургский государственный медицинский университет;Цифровая камера-окуляр для микроскопа* DCM800;Проведение микрофотосъемки 1161;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп Микмед-6;Исследование на световом уровне 1162;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп МБС-10;Исследование на световом уровне 1163;Оренбургский государственный медицинский университет;Стереомикроскоп МХ-3 (ЛОМО);Изучение гистологических препаратов 1164;Оренбургский государственный медицинский университет;Стереомикроскоп МХ-4 (ЛОМО);Изучение гистологических препаратов 1165;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп стереоскопический МБС-2;Изучение гистологических препаратов 1166;Оренбургский государственный медицинский университет;Микроскоп операционный;Увеличение области операционного поля при выполнении микрохиргических операций 1167;Бурятский государственный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Solver Next;Атомно-силовая и микроскопия 1168;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR»;Работает в режиме сканирующего зондового и оптического конфокального микроскопа. Необходим для исследований химического состава и топографии поверхности (в нанометровом масштабе) образцов подвергнутых наводораживанию и радиационному воздействию. 1169;Приамурский государственный университет им. Шолом-Алейхема;Микроскоп-бинокуляр Leica;Микроскопия микропрепаратов 1170;Приамурский государственный университет им. Шолом-Алейхема;Сканирующие зондовые микроскопы NanoEducator;Исследование поверхностей методами АСМ и СТМ с разрешением 50-100 нм, проведение учебных занятий 1171;Приамурский государственный университет им. Шолом-Алейхема;Сканирующий микроскоп ИНТЕГРА Прима NTEGRA Prima;Исследование объектов методами атомно-силовой и туннельной микроскопии с атомарным разрешением 1172;Научно-исследовательский институт медицинской генетики СО РАМН;Микроскоп оптический с механическим микроманипулятором Axiovert-200, Narishige (Carl Zeiss);Позволяет производить микроманипуляции с клетками и тканями. Дает возможность проводить все процедуры, связанные с экстракорпоральным оплодотворением (ЭКО). 1173;Научно-исследовательский институт медицинской генетики СО РАМН;Флуоресцентный моторизованный микроскоп Axio Imager M1 (Carl Zeiss);Моторизованный флуоресцентный микроскоп предназначен для работы в проходящем и падающем свете по методам светлого поля, темного поля, фазового контраста, дифференциально -интерференционного контраста (ДИК), поляризации и люминесценции 1174;Ижевская государственная медицинская академия;Микроскоп исследовательский МБИ-15-2;Микроскоп исследовательский 1175;Ижевская государственная медицинская академия;Микроскоп люминесцентный Микмед-2 (РПО-11);Микроскоп люминесцентный 1176;Южный федеральный университет;Установка совмещения и экспонирования ЭМ-576А;совмещение и экспонирование в процессе фотолитографии 1177;Уфимский государственный нефтяной технический университет;Микроскоп EC МЕТАМ РB-21 (ЛОМО);предназначается для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле. 1178;Уфимский государственный нефтяной технический университет;Универсальный модульный томограф Sonic Inspector;11роведение ультразвуковой дефектоскопии 1179;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Рентгеновский томограф «Орел»;дефектоскопия 1180;Камчатский государственный университет им. Витуса Беринга;Микроскоп Микрос МС-300;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1181;Камчатский государственный университет им. Витуса Беринга;Микроскоп бинокулярный Микмед 5;Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 1182;ФГБУН Якутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Комплекс для металлографического анализа PG-S-2 (Carl);Спектрохимическое определение Au, B, Sn, Cu, Cre, Sr, Ba в породе 1183;ФГБУН Якутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Лазерный сканирующий микроскоп LSM-510 (Cazl);Получение конфокальных срезов по оси Z 1184;Научно-исследовательский институт клинической и экспериментальной ревматологии РАМН;Микроскоп биомедицинский ECLIPSE E200 (NIKON);Поляризационная и световая микроскопия 1185;Научно-исследовательский институт клинической и экспериментальной ревматологии РАМН;Микроскоп люминесцентный Биомед-6 Люм;Люминесцентная и световая микроскопия 1186;Бурятский государственный университет;Биологический лабораторный микроскоп CX41;Для работы в биологических лабораториях и лабораториях клинической диагностики, гистологии, цитологии, патанатомии, для иммунологических исследований, для цитогенетических исследований с G-окраской. Оснащен камерой и программным обеспечением для измерений и морфометрического анализа. 1187;Бурятский государственный университет;Флуоресцентный цифровой микроскоп «Olympus» «Olympus» CX41;проведения комплексных экспериментов и исследований в области гематологи, гистологии, цитологии, бактериологии и цитогенетики. 1188;Красноярский государственный аграрный университет;Микроскопы бинокулярные МС 50;используются при лабораторных исследованиях и измерения объектов 1189;Красноярский государственный аграрный университет;Микроскоп Микмед 6 с цифровой системой Canon;используются при лабораторных исследованиях 1190;Красноярский государственный аграрный университет;Микроскоп МИКМЕД-1 вариант 2-6;используются при лабораторных исследованиях и измерения объектов 1191;Красноярский государственный аграрный университет;Микроскоп Микмед 5 с микрофотонасадкой;используются при лабораторных исследованиях и измерения объектов 1192;Орловский государственный аграрный университет;Настольный электронный микроскоп Hitachi TM-1000;Цитологические, гистологические и морфологические исследования 1193;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп исследовательский инвертированный “Leica DMI 4000B”;Цитологические и гистологические исследования 1194;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп бинокулярный стереоскопический исследовательский “Leica MZ 16” с цифровой фотокамерой;Цитологические и гистологические исследования 1195;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп исследовательский “Leica DM 5000B” с цифровой фотокамерой;Цитологические и гистологические исследования 1196;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп стереоскопический Stemi 2000-C с цифровой фотокамерой (Karl);Цитологические и гистологические исследования 1197;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп «AxioStar Plus» с цифровой фотокамерой (Karl);Цитологические и гистологические исследования 1198;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп исследовательский “Leica DM 5000B” с цифровой фотокамерой (Karl);Цитологические и гистологические исследования 1199;Орловский государственный аграрный университет;Микроскоп «AxioImager A1» с цифровой фотокамерой (Karl);Цитологические и гистологические исследования 1200;Российский государственный аграрный университет им. К.А. Тимирязева;Стереомикроскоп Стеми флюоресцентный Германия;Анализ экспрессии трансгенов 1201;Российский государственный аграрный университет им. К.А. Тимирязева;Микроскоп Carl Zeiss;Молекулярная цитогенетика,Анализ геномов межвидовых гибридов растений, визуализация результатов флюоресцентной in situ гибридизации. 1202;Ульяновская государственная сельскохозяйственная академия имени П. А. Столыпина;Микроскоп ПМТ-3;измерен. микротвердости 1203;Ульяновская государственная сельскохозяйственная академия имени П. А. Столыпина;Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000;Для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования. 1204;ФГБУН Институт экспериментальной ветеринарии Сибири и Дальнего Востока;Микроскоп биологический Аксиостар плюс;Микроскопия 1205;ФГБУН Институт экспериментальной ветеринарии Сибири и Дальнего Востока;Микроскоп Аксиостар плюс;Микроскопия 1206;ФГБУН Институт экспериментальной ветеринарии Сибири и Дальнего Востока;Микроскоп Аксиоверт 40 С;Микроскопия 1207;ФГБУН Институт экспериментальной ветеринарии Сибири и Дальнего Востока;Микроскоп Аксиоверт 200;Микроскопия 1208;ФГБУН Институт экспериментальной ветеринарии Сибири и Дальнего Востока;Микроскоп Primo Star (К-цейс);Микроскопия 1209;ФГБУН Институт экспериментальной ветеринарии Сибири и Дальнего Востока;Микроскоп Axio Image М1 (К-Цейс);Гистологические исследования 1210;ФГБУН Институт экспериментальной ветеринарии Сибири и Дальнего Востока;Микроскоп Axio Image D1@ (К-цейс);Микроскопия 1211;ФГБУН Всероссийский научно-исследовательский технологический институт ремонта и эксплуатации машинно-тракторного парка;Зондовый микроскоп SOLVER NEXT;Топография поверхности твердых тел 1212;ГНЦ Научно-исследовательский институт атомных реакторов;Оптический микроскоп в дистанционном исполнении Telatom 4;металлографические исследования структуры образцов преимущественно высоко радиоактивных материалов 1213;ГНЦ Научно-исследовательский институт атомных реакторов;Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2000 FXII;трансмиссионный микроскоп предназначен для микроструктурных исследований и определения элементного состава отдельных элементов микроструктуры 1214;ГНЦ Научно-исследовательский институт атомных реакторов;Растровый электронный микроскоп Philips XL 30 ESEM-TMP в дистанционном исполнении;предназначен для исследования стркутуры и элементного состава высокорадиоактивных образцов 1215;ГНЦ Научно-исследовательский институт атомных реакторов;Растровый электронный микроскоп SUPRA 55VP;"изучение структуры поверхности образцов, в том числе наноструктурированных, при увеличениях от 15 до 900000 крат; изучение элементного состава - благодаря наличию спектрометров с энергетической и волновой дисперсиями, изучение фазового состава образцов - благодаря наличию приставки регистрации картин дифракции отражённых электронов" 1216;ФГБУН Институт микробиологии им. С.Н. Виноградского Российской академии наук;Микроскоп оптический люминесцентный Axio Imager (Carl);исследование образцов на основании флюоресцентного излучения 1217;ФГБУН Институт микробиологии им. С.Н. Виноградского Российской академии наук;Микроскоп электронный SEM-100CX (Jeol);исследование ультратонких срезов образцов 1218;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Просвечивающий электронный микроскоп JEM100 C (Jeol);Исследование внутренней структуры тонкопленочных элементов и структур 1219;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (Jeol);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 1220;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Атомно-силовой микроскоп атомарного разрешения JSPM-4610A (Jeol);Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 1221;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Научно-исследовательский инвертированный микроскоп МИБ-Р, инвертированный бинокулярный микроскоп Ломо (ЛОМО);Проведение микроскопических исследований 1222;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Микроскоп МИКМЕД-5, прямой бинокулярный микроскоп Ломо (ЛОМО);Проведение микроскопических исследований 1223;Санкт-Петербургский государственный университет;Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп Leica TCS SP5 на базе инвертированного микроскопа DIM6000BP;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области лазерной конфокальной микроскопии 1224;Санкт-Петербургский государственный университет;Микроскоп инвертированный, научно-исследовательский, флюоресцентный Leica DMI3000 B;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области флюоресцентной микроскопии 1225;Санкт-Петербургский государственный университет;Электронно-аналитическая рабочая станция микроскопии высокого разрешения на базе автоматизированного микроскопа Leica DMRX A с цветной цифровой камерой Leica DC 500;Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области фото микроскопии 1226;Санкт-Петербургский государственный университет;Полуавтоматизированный флуоресцентный микроскоп Leica 4000 B с цифровой камерой Leica DFC-350 FX и компьютером;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области флуоресцентной микроскопии 1227;Санкт-Петербургский государственный университет;Стереомикроскоп Leica MZ 16;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области стерео микроскопии 1228;Санкт-Петербургский государственный университет;Стереомикроскоп Leica MZ 9;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области стерео-микроскопии 1229;Санкт-Петербургский государственный университет;Электронный микроcкоп BS-500 (Tesla);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии 1230;Тюменский государственный университет;Металлографический микроскоп МЕТАМ-ЛМ (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 1231;Ивановский государственный химико-технологический университет;Сканирующий атомно-силовой микроскоп Solver 47 Pro (NT-MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии 1232;Сибирский государственный индустриальный университет;Металлографический микроскоп GX-51 (Olympus);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 1233;Самарский государственный технический университет;Растровый электронный микроскоп JSM-6390A в комплекте с рентгеновским спектрометром (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии 1234;Дальневосточный федеральный университет;Атомно-силовой микроскоп SPM-9600 (Shimadzu);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1235;Дальневосточный федеральный университет;Поляризационный микроскоп 50iPOL (ECLIPSE);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области поляризационной микроскопии 1236;Дальневосточный федеральный университет;Микроскоп инвертированный эпифлюоресцентный Zeiss Axio Observer D1 (Carl Zeiss) с дифференциальным контрастированием;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии 1237;Дальневосточный федеральный университет;Микроскоп металлографический MT8530F (Meiji Techno);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 1238;Дальневосточный федеральный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Аура (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1239;Дальневосточный федеральный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Спектра (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1240;Дальневосточный федеральный университет;Конфокальный (лазерный сканирующий) микроскоп Zeiss LSM 5 Meta Duo Live;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области лазерной сканирующей микроскопии 1241;Дальневосточный федеральный университет;Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Evo 60 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии 1242;Дальневосточный федеральный университет;Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Crossbeam 1540EX;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1243;Дальневосточный федеральный университет;Просвечивающий электронный микроскоп Zeiss Libra 200FE HR;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии 1244;Дальневосточный федеральный университет;Конфокальный (лазерный сканирующий) микроскоп Zeiss LSM 510 Meta;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области лазерной сканирующей микроскопии 1245;Дальневосточный федеральный университет;Люминесцентный микроскоп Zeiss AxioImager A1 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области люминесцентной микроскопии 1246;Северо-Кавказский федеральный университет;Микроскоп стереоскопический МС-2 (ЛОМО);Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 1247;Северо-Кавказский федеральный университет;Универсальный микроскоп Микмед-2 (ЛОМО);Технические характеристики: Исследовательский класс. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризация, люминесценция. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. 1248;Северо-Кавказский федеральный университет;Микроскоп Primo Star (Carl Zeiss);Рабочий микроскоп, отличающийся простотой в управлении, прочностью, долговечностью и высококачественной оптикой. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 1249;Северо-Кавказский федеральный университет;Микроскоп Axio ZOOM.V16 (Carl Zeiss);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 1250;Северо-Кавказский федеральный университет;Инвертированный биологический микроскоп Axio Observer А1 (Carl Zeiss);Технические характеристики:Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. 1251;Северо-Кавказский федеральный университет;Компьютерный рентгеновский микротомограф SkyScan 1176 (Bruker Corporation);Высокоэффективный сканер для проведения микрокомпьютерной томографии небольших лабораторных животных, в том числе для тестирования лекарственных препаратов. 1252;Северо-Кавказский федеральный университет;Лабораторный бинокулярный микроскоп Axio Imager 2 A2 (Carl Zeiss);Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, 1253;Северо-Кавказский федеральный университет;Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ Ntegra-Spectra;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. 1254;Северо-Кавказский федеральный университет;Нано Лаборатория для биологических и медицинских исследований Лайф;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. 1255;Северо-Кавказский федеральный университет;Оптико-электронная система для диагностики поверхности пластин Ntegra Maximus;Система предназначена для изучения морфологии поверхности различных материалов с разрешением свыше 1 нм методами атомно-силовой микроскопии. Измерения во внешнем поперечном и продольном магнитном поле. Микроскопические исследования поверхности с атомарным разрешением. СЗМ для исследования больших (до 100 мм) образцов. Позволяет проводить серийные измерения в полуавтоматическом режиме. Для многих индустриальных приложений принципиальна возможность исследовать большие образцы, накапливая массивы данных по заранее заданным алгоритмам в автоматическом режиме. 1256;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Микроскоп люминесцентный с блоком фотодокументирования и системой анализа изображений Axio Scope.A1;Микроскопирование препаратов в лабораторных биологических исследованиях 1257;Алтайский государственный университет;Микроскоп металлографический “Метам РВ-23” (ЛОМО);Предназначен для исследования микроструктуры образцов 1258;Алтайский государственный университет;Микроскоп тринокулярный АКСИОСТАР ПЛЮС для светлого поля;Проведения рутинных работ в экологии, когда работа происходит с прозрачными и полупрозрачными объектами. Микроскопический анализ, в том числе пыльцы растений. 1259;Алтайский государственный университет;Микроскоп НЕОФОТ-32;"Исследование: образцов поверхностей полученных методом клиновидной дегидратации; микроструктур поверхностей тонких пленок(металлических и неметаллических), металлических образцов" 1260;Московский государственный университет печати им. Ивана Федорова;Атомно-силовой сканирующий микроскоп АСМ (ИТЭФ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии 1261;Московский государственный университет печати им. Ивана Федорова;Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп JSM-7500 FA (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области эмиссионной электронной микроскопии 1262;Московский государственный университет печати им. Ивана Федорова;Оптический микроскоп Полам Р-312 с цифровыми фото и видео-камерами (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 1263;Алтайский государственный университет;Микроскоп исследовательский МПС-2;Предназначен для исследования структуры тканей растений. 1264;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-4610А (JEOL);Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп JSPM-4610A позволяет исследовать физико-химические свойства, дефектность поверхности и топографию с атомным разрешением. 1265;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Оптико-зондовый комплекс Интегра Спектра (НТ-МДТ);Позволяет исследовать оптические свойства образца за пределом дифракции с использованием методов АСМ, сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (СБОМ) и КР-спектроскопии. 1266;Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана;Лаборатория электроной микроскопии FEI Phenom;Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Phenom позволяет получать изображение поверхности образца с очень большим разрешением. Он предназначен для проведения исследований микро- и наноструктур поверхности исследуемого образца. 1267;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Система бесконтактных измерений Kestrel-200 / Peregrine (Vision Engineering);Проведение широкого диапазона бесконтакных измерений в плоскости 1268;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Инвертированный оптический микроскоп Axio Observer A1 (Zeiss AG);Микроскопические исследования в магнитном поле до 10 кЭ 1269;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Электронный микроскоп низковольтный LVEM5 (DeLong Instruments);Компактный универсальный электронный микроскоп нового поколения 1270;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Электронно-ионный микроскоп Work Station AURIGA CrossBeam (Carl Zeiss NTS);Сканирующий электронный микроскоп для исследования морфологии, химических и структурных свойств материалов с нанометровым пространственным разрешением 1271;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Микроскоп сканирующий зондовый Solver HV-MFM (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой сканирующей микроскопии 1272;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Микроскоп исследовательский универсальный BX61 Olympus;Проведение широкого круга микроскопических исследований 1273;Алтайский государственный университет;Микроскоп биомедицинский с системой визуализации;Изготовление тонких парафиновых срезов. Может работать как с парафином, так и с твердыми материалами в биологии, медицине и промышленной лаборатории. 1274;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Металлографический микроскоп Альтами-МЕТ;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 1275;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Микроскоп лазерный фазово-поляризационный МИМ 320 (АМФОРА);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области лазерной фазово-поляризационной микроскопии 1276;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Микроскоп настольный сканирующий Phenom G2;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 1277;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Микроскоп стереоскопический SZ51/61 ESD;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области стереоскопической микроскопии 1278;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Микроскоп металлографический Olimpus GX71;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 1279;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Стереомикроскоп SZ-61 ESD;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области классической стерео микроскопии 1280;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Микроскоп с видеосистемой Werth ScopeCheck 200;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 1281;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Микроскоп металлургический инвертированный Zeiss Axo Observer Z1 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии 1282;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Микроскоп металлографический Метам РВ-21-2 (ЛОМО);Микроскоп позволяет проводить визуальное наблюдение микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле, а также исследования объектов в поляризованном свете и методом дифференциально-интерференционного контраста. Применяется как для исследований экспресс-методом, так и для контроля качества подготовки образцов. 1283;Новосибирский государственный архитектурно-строительный университет;Склерометр DIGI-Schmidt-2;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа структуры вещества методом склерометрии 1284;Рязанский государственный радиотехнический университет;Атомный силовой микроскоп Смена-B (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1285;Рязанский государственный радиотехнический университет;Микроскоп сканирующий зондовый Solver Pro-М (НТ-МДТ);Сканирующий Зондовый Микроскоп универсальный по своим функциональным и измерительным возможностям. Модульный принцип конструкции обеспечивает уникальную возможность конфигурировать прибор для определённых применений и конкретных методик исследования. Диапазон измерений может варьироваться от 1,3 до 15-ти микронного по Z и от 3мкм до 150 мкм по XY. Высокая степень разрешения от молекулярного до атомарного уровня в режимах СТМ и контактной АСМ достигается за счет применения сканеров с диапазонами: 3х3х1,3мкм и 10х10х2мкм. Атомарное разрешение обеспечивается низким уровнем шумов сканера (0,25 A RMS по Z) и предельно малой величиной шага сканирования (используется 22-х разрядный ЦАП). Управляющая электроника нового поколения позволяет работать в высокочастотных режимах (до 5 мГц). Эта возможность оказывается принципиальной при работе с высокочастотными модами Атомно-Силовой Микроскопии или использовании высокочастотных кантилеверов. Передовые технологии конструирования и изготовления Солвер PRO-М, мощное программное обеспечение, которое легко настраивается на выполнение любой методики измерений, существенно сокращают время, необходимое для всестороннего исследования образца, и позволяют получить полную и достоверную информацию о его свойствах: рельефе поверхности, распределении магнитных и электрических полей, локальной жесткости и эластичности (включая количественную оценку модуля Юнга), вязкости, силе трения, адгезии и т.д. 1286;Рязанский государственный радиотехнический университет;STM-головка с предусилителем Solver-Pro (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области туннельной сканирующей зондовой микроскопии 1287;Рязанский государственный радиотехнический университет;Научная учебная лаборатория NanoEducator (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии 1288;Московский государственный университет леса;Цифровой микроскоп PentaView с LCD-экраном (Celestron);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической видеомикроскопии 1289;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Специализированный сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro М (NT MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии 1290;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Специализированный ближнепольный сканирующий оптический микроскоп Solver SNOM (NT MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей оптической микроскопии 1291;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией JEM-2100F-08 (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии сверхвысокого разрешения 1292;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Jeol JEM-2100;"JEM-2100F – это универсальный 200кВ просвечивающий электронный микроскоп c термополевой пушкой Шоттки. Большое разнообразие полюсных наконечников и приставок позволяет сконфигурировать его для решения практически любых задач. Электронная пушка на основе термополевого катода Шоттки создает намного более яркий и стабильный пучок, нежели обычный термоэмиссионыый источник на основе катода из вольфрама или гексаборида лантана. Это очень важно для исследований методами растровой просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения, работы со спектрометром характеристических потерь энергии электронов, а также элементного анализа наносистем. Очень яркий электронный пучок диаметром менее нанометра позволяет проводить анализ образцов с субнанометровым разрешением и высокой чувствительностью. Также термополевая пушка, благодаря высокой когерентности электронного пучка, позволяет получать высококонтрастные микрофотографии ультравысокого разрешения. По этой же причине, с помощью специальной бипризмы, на JEM-2100F можно работать в режиме электронной голографии. Изучению образцов на наноуровне способствует наличие высокоточного и высокостабильного 5-осевого гониометрического столика образцов с пьезоподвижкой, которая позволяет очень плавно и точно перемещать образец на единицы нанометров при исследованиях с большими увеличениями (500000 крат и более), а также компенсировать его дрейф. В комплект программного обеспечения входит программа, позволяющая по заданному алгоритму автоматически получать изображения вещества под разными углами и затем строить 3D изображение структуры. В программу управления ПЭМ JEM-2100F легко интегрируются аналитические приставки: энергодисперсионный спектрометр (ЭДС), спектрометр характеристических потерь энергии электронов (СХПЭЭ), энергетический фильтр, различные ПЗС-камеры как бокового, так и нижнего крепления, а также многие другие приставки, позволяющие проводить уникальные исследования. Основные технические характеристики: – увеличение до ?1 500 000; – пространственное разрешение по линиям до 0,14 нм; – разрешение по точкам до 0,23 нм; – ускоряющее напряжение от 80 до 200 Кв; – размер пучка: 20-200нм (TEM режим), 1-15нм (STEM режим); – наклон образца: /- 30° ; – регистрация изображения: CCD камера высокого разрешения; – программный комплекс для обработки и анализа микроскопических картин высокого разрешения (HRTEM), расшифровки и моделирования электронограмм; – кристаллические базы дифракционных данных для неорганических кристаллов и порошков." 1293;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Микроскоп электронный сканирующий Jeol JSM-7001F с приставкой EDX анализа Oxford INCA X-max 80, волнодисперсионного анализа WDS Oxford INCA WAVE, системами анализа фазового состава, структуры и текстуры кристаллических материалов методом дифракции обратно рассеянных электронов (детекторы EBSD и HKL);Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JSM-7001F является низковакуумным высокоразрешающим электронным микроскопом с катодом Шоттки. Конструкция микроскопа позволяет получать высокое разрешение даже при низких ускоряющих напряжениях. Отличительной особенность данного прибора является возможность исследования магнитных образцов различного размера благодаря специальной геометрии объективной линзы. Прибор позволяет изучить морфологию и элементный состав поверхности любого образца, способного выдержать вакуум 10–6–10–5 Па. Система картирования позволяет определить не только элементный состав, но и выявить наличие химических соединений. Элементный состав может быть определён как в среднем для всего изучаемого поля, так и для отдельных участков исследуемой поверхности. Основные технические характеристики: Пространственное разрешение: 1,2 нм при 30 кВ, 3 нм при 1 кВ. Диапазон увеличений от х10 до х1 000 000. Ускоряющее напряжение от 0,5кВ до 30 кВ. Ток пучка до 200 нА, при 15 кВ. Максимальный размер образца: диаметр до 100 мм. Максимальный вакуум до 10–6 Па. 1294;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7500FA;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 1295;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронной просвечивающей микроскопии 1296;Грозненский государственный нефтяной технический университет им. академика М.Д. Миллионщикова;Растровый электронный микроскоп Quanta 200i 3D DualBeam с системой фокусированного ионного пучка (FEI);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии высокого разрешения 1297;Грозненский государственный нефтяной технический университет им. академика М.Д. Миллионщикова;Система энергодисперсионного микроанализа Genesis System (EDAX);Энергодисперсионный микроанализ широко применяется для определения элементного состава образцов практически во всех областях науки и промышленности: в горнодобывающей промышленности, машиностроении, металлургии, энергетике, полупроводниковой промышленности, ювелирном деле, полиграфии, криминалистике, геологии, физике, химии, биологии, экологии, археологии. 1298;Грозненский государственный нефтяной технический университет им. академика М.Д. Миллионщикова;Оптический микроскоп с цифровой видеокамерой ЛабоМед-2 (Labor-Microscopes);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 1299;Грозненский государственный нефтяной технический университет им. академика М.Д. Миллионщикова;Оптический микроскоп с цифровой видеокамерой mVizor-103 (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 1300;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Сканирующий зондовый микроскоп Femtoscan;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1301;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Растровый электронный микроскоп JSM-6390 c приставкой ДОРЭ (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии 1302;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER-Pro (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой зондовой микроскопии 1303;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Растровый электронный микроскоп «SUPRA 25» (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии 1304;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Нанотехнологическая приставка «XENOS XeDraw 2» к растровому электронному микроскопу «SUPRA 25»;Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области нано-микроскопии 1305;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Сканирующий электронный микроскоп НТ-МДТ с термоэмиссионным катодом и системой электронной литографии;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей эмиссионной микроскопии 1306;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Сканирующий электронный микроскоп Neon 40 (Carl Zeiss) с EDS детектором;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии 1307;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Сканирующий зондовый микроскоп Di Innova (Veeco-Digital Instruments);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии 1308;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Атомно-силовой микроскоп SmartSPM (AIST-NT);Области применения: 1.Измерение геометрических размеров: латеральных размеров образцов с точностью до 0,5 нм и высоты ступенек профиля с точностью 0,1 нм. 2.Исследование электростатических, магнитных и тепловых полей на поверхности образцов. 3.Измерение локального поверхностного сопротивления 1309;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой микроскопии высокого разрешения 1310;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Микроскоп сканирующий LWM-250UV (Leica);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей конфокальной микроскопии 1311;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Микроскоп сканирующий INM100 (Vistec);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей конфокальной микроскопии 1312;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Микроскоп сканирующий Микро 2001-01 (КБТЭМ-СО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1313;Владимирский государственный университет;Атомно-силовая зондовая станция Ntegra Specta;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии 1314;Владимирский государственный университет;Сканирующая зондовая лаборатория Ntegra Aura (НТ-МДТ);Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1315;Владимирский государственный университет;Микроскоп растровый электронный Quanta 200 3D (FEI);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 1316;Владимирский государственный университет;Микроскоп стереоскопический МСП-2 вар.1 (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области стереоскопической микроскопии 1317;Владимирский государственный университет;Микроскоп металлографический ММН-2 (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 1318;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Атомно-силовой сканирующий микроскоп Smena (NT-MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии 1319;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 Pro (NT-MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой сканирующей микроскопии 1320;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Растровый электронный микроскоп EVO-40 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии 1321;Московский государственный горный университет;Микроскоп сканирующий МИМ-7 (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1322;Московский государственный горный университет;Оптический микроскоп Neofot-32 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1323;Московский государственный горный университет;Автоматизированный оптический микроскоп Epiquant (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1324;Московский государственный горный университет;Растровый электронный микроскоп РЭМ-101м (СЭМЗ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1325;Тольяттинский государственный университет;Микроскоп Axiovert 40 МАТ В 46-0030 е10/04 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1326;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Сканирующая зондовая лаборатория ИНТЕГРА СПЕКТРА (НТ-МДТ);Исследование поверхностей и приповерхностных слоев металлов, полупроводников, диэлектриков, органических материалов и биологических объектов в разных средах. 1327;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Растровый электронный микроскоп с холодноэмиссионной полевой электронной пушкой и приставкой для энергодисперсионного микроанализа JED-2300F (Jeol);Электронно-микроскопические исследования твердых тел 1328;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Просвечивающий электронный микроскоп с системой приготовления образцов Gatan;Электронно-микроскопические исследования твердых тел. 1329;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Растровый электронный микроскоп с приставкой для катодолюминесценции;Электронно-микроскопические исследования твердых тел 1330;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп JEOL JSPM-4610A (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1331;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения 1332;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Просвечивающий электронный микроскоп;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей электронной микроскопии 1333;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Электронно-ионный растровый микроскоп Helios NanoLab 650 (FEI);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронно-ионной микроскопии 1334;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Электронный растровый микроскоп XL 40 (Philips) в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1335;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Система с фокусированным ионным пучком FEI FIB 200 в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1336;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Оптический микроскоп INM 100 (Vistek) с ультрафиолетовым источником в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 1337;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 с дополнительной системой обеспечения термоиспытаний;Проведение исследований в любых областях материаловедения, в области нано- и биотехнологий 1338;Северо-Кавказский горно-металлургический институт (государственный технологический университет);Атомно-силовой микроскоп Solver - NEXT (NT-MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1339;Северо-Кавказский горно-металлургический институт (государственный технологический университет);Оптический микроскоп Биолам (ЛОМО);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1340;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 (NT-MDT);Сканирующий зондовый микроскоп - применяется для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 градусов Цельсия. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик 1341;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company);Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai™ G? F20 с отличными характеристиками формирования изображений в режимах ПЭМ, СПЭМ и наноанализа, сверхвысоким вакуумом, высокой пространственной когерентностью, полной линейкой пробоподготовки, информационным пределом < 0,12 нм и увеличением 25x–1,000 kx (ПЭМ) 150x–230 Mx (СПЭМ) 1342;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Многолучевая система, оснащенная электронной и ионной пушкой JIB-4501 в комплекте с безазотной системой энергодисперсионного микроанализа (JEOL);Изучение физико-химических свойств вещества при помощи электронной сканирующей микроскопии с разрешением до 5 нм, ионного травления с низким уровнем повреждения вещества, системы энергодисперсионного анализа элементного состава вещества в области исследования, системы дифракционного анализа параметров кристаллической решетки вещества 1343;Дагестанский государственный университет;Многоцелевая исследовательская лаборатория зондовой и лазерной конфокальной микроскопии Ntegra Spectra (НТ-МДТ);Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1344;Дагестанский государственный университет;Электронный растровый микроскоп-микроанализатор ExPress VP (FEI inc.);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой микроскопии 1345;Дагестанский государственный университет;Учебно-научная лаборатория зондовой микроскопии NanoEducator-2 (ЗАО НТИ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1346;Дагестанский государственный университет;Программно-аппаратный комплекс оптической микроскопии Мекос-7Ц (ОАО «Мекос»);Микроскопы световые специализированные 1347;Российский государственный технологический университет им. К.Э. Циолковского;Лазерный сканирующий микроскоп LEXT-OLS3100 (Olympus);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1348;Магнитогорский государственный технический университет им. Г.И. Носова;Микроскоп металлографический инвертированный Meiji-7200 Techno с прораммой анализа изображений Thixomet PRO;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 1349;Магнитогорский государственный технический университет им. Г.И. Носова;Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой микроскопии 1350;Магнитогорский государственный технический университет им. Г.И. Носова;Система микроанализа INCA Energy 450 для растрового электронного микроскопа JEOL JSM-6490LV (Oxford Instruments Ltd.);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроанализа 1351;Магнитогорский государственный технический университет им. Г.И. Носова;Анализатор стереоизображений поверхности твердых тел Meiji Techno RZ-B на базе стереомикроскопа с прораммой анализа изображений Thixomet PRO;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа поверхности твердых тел 1352;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;Микроскоп атомно-силовой и туннельный сканирующий СЗМ ФемтоСканОнлайн;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1353;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;Микроскоп металлографический Альтами Мет;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 1354;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Микроскоп просвечивающий электронный JEM-2100 (Jeol);Предназначен для проведения микроскопии сверхвысокого разрешения 1355;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (Jeol);Предназначен для проведения сканирующей микроскопии с высоким разрешением. Метод растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа с использованием растрового электронного микроскопа-микроанализатора JSM позволяет: проводить неразрушающий многоэлементный анализ в области от 3 мкм от натрия до урана 1356;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Микроскоп JSM-7001F (Jeol) растровый с термоэмиссионной пушкой Шотки;Предназначен для проведения микроскопического анализа с высоким разрешением 1357;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Микроскоп сканирующий зондовый JSРM-5400 (Jeol);Предназначен для проведения микроскопического анализа с высоким разрешением 1358;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой;Предназначен для проведения сканирующей микроскопии высокого разрешения 1359;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Система спектрометрии характеристических потерь 863 GIF Tridiem (Gatan);"Для обнаружения малых примесей легких элементов и выявления их влияния на свойства металлов и сплавов;в физике полупроводников и электронике - для исследования электронных свойств различных полупроводниковых и металлических материалов." 1360;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Микроскоп металлографический отраженного света для работ по методам светлое, темное поле, поляризация и исследовательский поляризационный микроскоп для работы в проходящем и отраженном свете;Предназначен для проведения металлографической микроскопии 1361;Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова;Микроскоп растровый электронный Quanta 200 (FEI Company);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой микроскопии 1362;Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова;Микроскоп зондовый сканирующий Solver HV (NT-MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1363;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Микроскоп электронный сканирующий LEO 430 SEM (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1364;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Микроскоп электронный Supra 40 с комплексом диагностики микро- и наноструктур (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1365;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Электронный микроскоп Tecnai G2 F20 U-Twin (TECHNOINFO LTD);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1366;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Двухлучевой электронный микроскоп QUANTA 3D 200i (FEI);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1367;Московский государственный индустриальный университет;Микроскоп исследовательский DM 2500M Leica;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1368;Московский государственный индустриальный университет;Оптический инвертированный микроскоп Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии 1369;Московский государственный индустриальный университет;Стереомикроскоп Stemi 2000-C (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области стерео-микроскопии 1370;Дальневосточный федеральный университет;Магнитный атомно-силовой микроскоп NtegraAura;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1371;Дальневосточный федеральный университет;Атомно-силовой микроскоп Ntegra Spectra с рамановским спектрометром;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей АС-микроскопии 1372;Дальневосточный федеральный университет;Просвечивающий электронный микроскоп Carl Zeiss Libra 200FE;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1373;Дальневосточный федеральный университет;Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss CrossBeam 1540XB;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1374;Дальневосточный федеральный университет;Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss EVO 60;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1375;Дальневосточный федеральный университет;Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss Ultra 55;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1376;Дальневосточный федеральный университет;Лазерный конфокальный микроскоп LSM Meta 500 DUO Live (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1377;Дальневосточный федеральный университет;Оптический микроскоп-диссектор Axio Observer Z1 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1378;Дальневосточный федеральный университет;Атомный силовой микроскоп-томограф IntegraTOMO с системой подготовки проб (NT-MDT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии 1379;Дальневосточный федеральный университет;Металлографический микроскоп Zeiss Observer D1m (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области металлографической микроскопии 1380;Северо-Кавказский федеральный университет;Микроскоп стереоскопический МС-2 (ЛОМО);Технические характеристики: Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060.Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 1381;Северо-Кавказский федеральный университет;Универсальный микроскоп Микмед-2 (ЛОМО);Технические характеристики: Исследовательский класс. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризация, люминесценция. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 1382;Северо-Кавказский федеральный университет;Микроскоп Primo Star Carl Zeiss Microscopy;Рабочий микроскоп, отличающийся простотой в управлении, прочностью, долговечностью и высококачественной оптикой. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 1383;Северо-Кавказский федеральный университет;Микроскоп Axio ZOOM.V16, Carl Zeiss Microscopy;Технические характеристики: Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. Достигает экстремально высоких числовых апертур уже в среднем диапазоне увеличений, обеспечивая непревзойденную яркость на больших полях зрения. Визуализация изображения при помощи специализированной фотокамеры AxioCamMRc5 (Zeiss). Программное обеспечение Zena 2012 Pro. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 1384;Северо-Кавказский федеральный университет;Инвертированный биологический микроскоп Axio Observer А1 Carl Zeiss Microscopy;Технические характеристики: Исследовательский класс. Сочетает в себе систему переменного увеличения с коэффициентом трансфокации 16х и высокую числовую апертуру NA 0.25, оставляя далеко позади традиционные стерео- и макроскопы. Достигает экстремально высоких числовых апертур уже в среднем диапазоне увеличений, обеспечивая непревзойденную яркость на больших полях зрения. Визуализация изображения при помощи специализированной фотокамеры AxioCamMRc5 (Zeiss). Программное обеспечение Zena 2012 Pro. Область использования: клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 1385;Северо-Кавказский федеральный университет;Лабораторный бинокулярный микроскоп Axio Imager 2 (A2) Carl Zeiss Microscopy;Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция. Визуализация изображения при помощи специализированной фотокамеры AxioCam MRc5 (Carl Zeiss Microscopy). Программное обеспечение Zena 2012 Pro. Область использования: Клеточная биология, молекулярная генетика, патанатомия, микробиология. 1386;Северо-Кавказский федеральный университет;Компьютерный рентгеновский микротомограф SkyScan 1176 (Bruker);Высокоэффективный сканер для проведения микрокомпьютерной томографии небольших лабораторных животных, в том числе для тестирования лекарственных препаратов. Крупный формат 11-мегапиксельного детектора создает непревзойденную комбинацию разрешения, размера поля зрения и скорости сканирования. Диаметр поля зрения до 68 мм позволяет проводить сканирование всего тела мыши или крысы и сканирование органов более крупных животных, таких как кролики, с разрешени-ем в 9, 18 и 35 µм. Регулируемое напряжение применяемого рентгеновского излучения обеспечивает гибкость сканирования и позволяет выполнять сканирование широкого ряда образцов от легочной ткани до кости. Встроенная подсистема физиологического контроля обеспечивает синхронизацию с дыханием и сердцебиением для получения неискаженного изображения. В комплект входит полный пакет программного обеспечения, в том числе для быстрой объемной реконструкции, программное обеспечение для двух- и трехмерного количественного анализа и для реалистичной трехмерной визуализации, про-граммное обеспечение для четырехмерной микрото-мографии с разрешением во времени. Сканер может работать в режиме «нажатия кнопки», когда управ-ление началом и концом сканирования, а также настройки протокола задаются на встроенном сенсорном экране. МКТ позволяет проводить исследования различных структур растений и грибов и получать высокоточные изображения сечения объекта и преобразовывать полученную информацию в реалистичные трехмерные модели, рассчитывать морфометрические параметры интересующих структур. Микроморфология живых объектов, фармакология, биотехнология. 1387;Северо-Кавказский федеральный университет;Настольный растровый электронный микроскоп HitachiTM3000;Микроскопические исследования материалов. Разрешение: 30 нм. Максимальный размер образца: 70 мм в диаметре, 50 мм в высоту. Ускоряющее напряжение 5кВ, 15кВ. Увеличение: х15-30000. 1388;Московский государственный университет леса;Стереоскопический микроскоп МС-1 (Биомед);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области стерео-микроскопии 1389;Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого;Комплекс FA1 для исследования динамики нано-био-машин (NanoBio-dynamic);Определение параметров движения любых внутриклеточных частиц, в том числе их положения с точностью не менее 1 нм, проведение лазерных микрохирургических операций в живой клетке, манипулирование и изучение свойств наноструктур небиологической природы. 1390;Северо-Кавказский федеральный университет;Микроскоп Axio Imager. А2;Исследовательский класс. Качественная оптика объективов и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), поляризация, люминесценция. Визуализация изображения при помощи специализированной фотокамеры AxioCam MRc5 (Carl Zeiss Microscopy).Программное обеспечение Zena 2012 Pro. Изучение гистологического строения объектов биологического происхождения. Получение цифровых изображений высокого качества и разрешения. 1391;Северо-Кавказский федеральный университет;Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/NT-MDT;Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. Контактная атомно-силовая микроскопия (c-AFM). Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (sc-AFM). Конфокальная Рамановская и флуоресцентная микроскопия и спектроскопия. 3D распределение неоднородностей фазового и структурного состояния. Определение спектрального состава оптического излучения для каждой точки 3D изображения. Гигантское комбинационное рассеяние и другие оптические методики, связанные с локальным усилением сигнала, в том числе объемное сканирование. Исследования клеточной ткани, ДНК, вирусов и других биологических объектов. 1392;Северо-Кавказский федеральный университет;Междисциплинарная нанолаборатория для биологических медицинских исследований Лайф;ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. Выполняет функции отдельно стоящего Атомно-Силового Микроскопа, Конфокального и флуоресцентного Микроскопа и Конфокального спектроментра комбинационного рассеяния. 1393;Северо-Кавказский федеральный университет;Оптико-электронная система для диагностики поверхности пластин Ntegra Maximus;Предназначена для изучения морфологии поверхности различных материалов с разрешением свыше 1 нм методами атомно-силовой микроскопии. Уникально низкий дрейф при постоянной температуре (<3 нм/ч). Уникально низкий дрейф при меняющейся температуре (<10 нм/градус). Широкодиапазонные термоизмерения с компенсацией дрейфов в диапазоне от -30оС до 200° С. Измерения во внешнем поперечном и продольном магнитном поле. Микроскопические исследования поверхности с атомарным разрешением. СЗМ для исследования больших (до 100 мм) образцов. Позволяет проводить серийные измерения в полуавтоматическом режиме. Для многих индустриальных приложений принципиальна возможность исследовать большие образцы, накапливая массивы данных по заранее заданным алгоритмам в автоматическом режиме. 1394;Воронежский государственный технический университет;Растровый электронный микроскоп BS-300 (Tesla);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой сканирующей микроскопии высокого разрешения 1395;Воронежский государственный технический университет;Просвечивающий электронный микроскоп ПРЭМ-200 (Электрон);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения 1396;Воронежский государственный технический университет;Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 (НТ-МТД);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии 1397;Воронежский государственный технический университет;Просвечивающий электронный микроскоп ЭМ-125 К (Электрон);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения 1398;Воронежский государственный технический университет;Нано-склеро-метрический модуль Интегра (МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии 1399;Воронежский государственный технический университет;Видеомикроскоп оптический ВМ-1 (ВЦМ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 1400;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Оптический микроскоп Микромед Полар 3;Предназначен для общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 1401;Российский университет дружбы народов;Растровый электронный микроскоп Jeol «JSM-6490LV»;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1402;Российский университет дружбы народов;Конфокальный микроскоп Nikon «C1si»;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1403;Южный федеральный университет;Флуоресцентный микроскоп MQA 15000 Nikon Eclipse FNI;Предназначен для общенаучных экспериментов в области флуорисцентной микроскопии 1404;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп с блоком нанолитографии Raith 150 TWO (Raith, Германия);Установка электронно-лучевой нанолитографии на основе автоэмиссионного растрового электронного микроскопа Raith 150 TWO предназначена как для электронной растровой микроскопии высокого разрешения (не хуже 2 - 5 нм), так и для проведения нанолитографии с размерами получаемых элементов не хуже 15 - 20 нм. 1405;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Растровый электронный микроскоп DSM-960 (Opton) с рентгеновским энерго-дисперсионным анализатором Amptek (США) и сканирующим туннельным микроскопом Un-derSEM;Предназначен для анализа морфологии поверхности образцов, тонких пленок. Исследование дефектов интегральных микросхем. Проведение экспресс-анализа элементного состава образцов. Во всех областях промышленности и науки, где требуются исследования внутренней структуры образцов и анализ элементного состава. 1406;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Большой фотомикроскоп отраженного света Neophot 30 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии отраженного света 1407;Южный федеральный университет;Учебный сканирующий зондовый микроскоп с дополнительным оборудованием Nanoeducator -5 штук в комплекте;Предназначен для реализации общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии 1408;Южный федеральный университет;Универсальный оптический микроскоп (для просвечивающего и отраженного света) AXI;Предназначен для общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 1409;Южный федеральный университет;Специализированный исследовательский комплекс на базе сканирующего электронного микроскопа;Предназначен для реализации общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии 1410;Комсомольский-на-Амуре государственный технический университет;Биологический микроскоп Primo Star (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области биологической микроскопии 1411;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Установка автоматизированного оптического контроля печатных плат;Предназначен для оптического контроля печатных плат 1412;Сибирский государственный технологический университет;Оптический микроскоп Olimpus;Предназначен для оптической микроскопии штаммов микроорганизмов, микроспор грибов и др. 1413;Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М.Бербекова;Сканирующий электронный микроскоп Tescan VEGA3LMH c EDX микрозондом для химического анализа;Предназначен для проведения сканирования поверхности электронным микроскопом твердых образцов (металлических, неметаллических) и проведения химического анализа поверхности образца 1414;Тихоокеанский государственный университет;Сканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп с катодом Шоттки «Hitachi SU-70»;Растровый электронный микроскоп. Модель SU-70 – это новая концепция сканирующих электронных микроскопов, в которой для достижения ультра высокого разрешения используется электронная пушка с катодом Шоттки и проверенная временем технология semi-in-lens. Данный микроскоп характеризуется не только ультравысоким разрешением (1 нм при ускоряющем напряжении 15 кВ, 1,6 нм при ускоряющем напряжении 1 кВ), но и возможностью исследования изображений со сниженным зарядом, изображений с контрастной структурой, изображений при ультранизком ускоряющем напряжении, используя достоинства Super ExB фильтра. 1415;Тихоокеанский государственный университет;Модульный атомно-силовой микроскоп «Ntegra Prima»;ИНТЕГРА Прима — НаноЛаборатория, созданная для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. Специальный наносклерометрический модуль позволяет проводить микро-, наноиндентирование и склерометрию с последующим сканированием области индентирования. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования. Области применения ИНТЕГРА Прима охватывают практически все направления современной науки и техники: Биология Нанобиотехнология Материаловедение Магнитные материалы Наноматериалы и наноструктуры Полупроводники Полимеры Органические пленки Запоминающие среды Нанообработка 1416;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Микроскоп медицинский Микмед 6 (ЛОМО);Микроскоп предназначен лабораторной диагностики и морфологии при исследовании объектов в проходящем свете с освещением по методу светлого поля, а также по методу темного поля и фазового контраста. 1417;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Микроскоп для морфологических исследований Микромед-2;Микроскоп предназначен лабораторной диагностики и морфологии при исследовании объектов в проходящем свете с освещением по методу светлого поля, а также по методу темного поля и фазового контраста. 1418;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Лазерный конфокальный микроскоп VL 2000 DХ (Lasertech);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области лазерной микроскопии 1419;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Комплекс оборудования на базе конфокального микроскопа Eclipse Ni-E A1 (Nikon);Комплекс оборудования предназначен для исследования биологических объектов и построения их 3D-изображений 1420;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Микроскоп инвертированный AXIO Imager 2 (Carl Zeiss);Микроскоп предназначен для исследования поверхности металлических материалов на предмет наличия и количества дефектов 1421;Тюменский государственный университет;Растровый электронный микроскоп JSM 6510LV-EDS с рентгеновским энергодисперсионным спектрометром и литографической приставкой NanoMaker Full (JEOL Ltd.);Предназначен для изучения топологии поверхности металлов, полупроводниковых, керамических и органических структур и их элементного и фазового состава. Литографическая приставка NanoMaker Full (Россия, Interface.Ltd, 2012) к этому микроскопу позволяет изготавливать маски для плазмохимического травления интегральных микросхем с разрешением не хуже 20 нм. 1422;Тюменский государственный университет;Универсальный вакуумный сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA Aura (НТ-МДТ);"Cканирующий зондовый микроскоп Ntegra Aura предназначен для исследования свойств поверхности твердых тел в следующих режимах: сканирующая туннельная микроскопия; атомно-силовая микроскопия; латерально-силовая микроскопия; отображение фазы; модуляция силы; отображение адгезионных сил; магнито-силовая микроскопия; сканирующая ёмкостная микроскопия; метод зонда Кельвина; отображение сопротивления растекания; силовая литография; токовая литография." 1423;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Микроскоп электронный ЭМВ -100Бр;Предназначен для общенаучных экспериментов в области микроскопии высокого разрешения 1424;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Металлографический микроскоп Метам ЛВ-41 (ЛОМО);Предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, а также по методу дифференциально-интерференционного контраста 1425;Тверской государственный университет;Программно-аппаратный комплекс для микроанализа и морфологического анализа поверхности NanoEducator2;Предназначен для микроанализа и морфологического анализа поверхности 1426;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Комплекс универсальный СЗМ- Сканирующий зондовый микроскоп ИНТЕГРА;Область применения: материаловедение, биология, нанобиотехнология, магнитные материалы, наноматериалы и наноструктуры и т.д. Оборудование позволяет получать информацию о поверхностной структуре материала с пространственным разрешением в нанометровом диапазоне (Исследование топографии, фазового распределения, локальной жесткости, измерение силы адгезии в различных областях материала и т.д.). 1427;Южный федеральный университет;Комплект оборудования на базе сканирующего хондового микроскопа NANOEDUCATOR;Предназначен для оснащения научно-учебной лаборатории по нанотехнологиям 1428;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Микроскоп Axio imager A2 c цветной цифровой камерой Axio imager A2 1169/2-1 Ca;Для наблюдения препаратов в учебных и научных работах. Исследование растительных и животных тканей, фито- и зоопланктона, микробиоты воды и донных осадков. Получения цифровых изображений высокого качества и разрешения. 1429;Алтайский государственный университет;Микроскоп стереоскопический для лабораторных исследований Stemi 2000-C;Предназначен для исследовательских работ в лаборатории археологии. 1430;Алтайский государственный университет;Микроскоп Микромед Мет с видеоокуляром ToupCam 9,0MP (увеличение 40х-400х, револьверная устр-во на 5 объективов, визуальная насадка бинокулярная);Видеоокуляр ToupCam 9.0 MP предназначен для совместной работы с микроскопами серии Микромед 3, Микромед МЕТ, Микромед ПОЛАР 1 и ПОЛАР 2, Микромед И. Видеоокуляр ToupCam имеет увеличенное поле зрения. Программное обеспечение позволяет отображать наблюдаемый объект на экране монитора, масштабировать его, сохранять для дальнейшей обработки как отдельные кадры в виде файлов изображений, так и их последовательности в виде видеофайлов. 1431;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Низковакуумный растровый электронный микроскоп JSM-6480LV (JEOL);Многоцелевой сканирующий (растровый) микроскоп JSM-6480LV сочетает в себе возможности работы как в стандартном, так и в LV режимах. Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, а также образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов. 1432;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL);Аналитический электронный микроскоп, включающий в себя базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, систему компьютерного управления, в которую интегрировано устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300). 1433;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Модуль электронный микроскопии с термоэмиссионной пушкой Шотки и энергодисперсионным спектрометром JSM-7800F;Растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме «GentleBeam» 1434;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Модуль для тестирования НЕКСТ;Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. 1435;Южный федеральный университет;Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп Zeiss Supra 25;Предназначен для общенаучных экспериментов в области автоэмиссионной микроскопии 1436;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Модуль оптической микроскопии Eclipse LV;"В состав модуля входят 3 микроскопа: - исследовательский промышленного назначения; - металлографический микроскоп; - поляризационный микроскоп." 1437;Южный федеральный университет;Аналитический комплекс для растровой электронной микроскопии LMU.IE 450 XT;Предназначен для общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии 1438;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Модуль с инвертированным оптическим микроскопом для зондовой нанолаборатории СПЕКТРА ИНВ;Оптический инвертированный микроскоп позволяет использовать необходимые оптические методики исследования для выделения интересных с точки зрения исследователя объектов и наведения на них иглы СЗМ. 1439;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Инвертированный биологический микроскоп Axio Observer (Carl Zeiss);Исследование клеточных культур в чашках Петри, микротитрационных планшетах или флаконах. 1440;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy;Анализ поверхности микро- и наноструктур 1441;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Сканирующий АСМ-оптический конфокальный микроспектрометр спектров комбинационнго рассеяния и флуорисцентного для работы в видимом и ультрафиолетовом диапазоне;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии 1442;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп конфокальный ИМЦЛ 150*50В;Точное измерение геометрических размеров образцов 1443;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп электронный ЭМ-200;Исследование тонкой структуры материалов 1444;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический ММИ-200;Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры 1445;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический МИМ-10;Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры 1446;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический вертикальный МИМ-7;Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры 1447;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический вертикальный МИМ8 М;Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры 1448;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический МЕТ-3 (Grochowska);Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры 1449;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический ММУ-3;Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры 1450;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический ЛГ ММН-2;Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры 1451;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический Эпиквант;Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры 1452;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический МГ МЕТАМ ЛВ-34 (ЛОМО);Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры с возможностью цифровой съемки 1453;Липецкий государственный технический университет;Микроскоп металлографический NU-2;Исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры 1454;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Комплекс оптической микроскопии Nikon Eclipse MA200;Определение параметров структуры твердых материалов методом оптической микроскопии 1455;Воронежский государственный архитектурно-строительный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Nano Educator;Предназначен для общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1456;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Настольный сканирующий электронный микроскоп «Aspex EXlorer»;Предназначен для исследования металлических и диэлектрических образцов методом детектирования обратно рассеянных электронов и вторичных электронов, а также характеристического рентгеновского излучения. 1457;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Комплексный коррелятор оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR»;Проведение комплексных исследований свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. Получение полных спектров рамановского рассеяния и/или флюоресценции, конфокальных лазерных и конфокальных спектральных изображений (картирование поверхности), СЗМ изображений 1458;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Сканирующий электронный микроскоп Hitachi S-3400N;Изучение морфологии и химического состава веществ и материалов 1459;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000 (Hitachi);Изучение морфологии поверхности материалов 1460;Челябинский государственный университет;Растровый электронный микроскоп JSM 6510LA (JEOL);Исследование морфологии поверхности, определение элементного состава вещества 1461;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Универсальный аналитический комплекс растровой электронной микроскопии Merlin (Carl Zeiss);Позволяет получать морфологию поверхности с разрешающей способностью 0,8 нм. Комплекс совмещен с энерго-дисперсионным спектрометром для анализа элементного состава исследуемых образцов. Дополнительный HKL-детектор измеряет структурные параметры кристаллов. 1462;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Микроскоп для лабораторных исследований Axio Imager со штативом М2. Блок корреляционной микроскопии для биологических исследований (Carl Zeiss);Корреляционная система, позволяющая ориентировать образец в сканирующем электронном микроскопе по меткам поставленным универсальном моторизованном световом микроскопе с люминесцентной приставкой. 1463;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Сканирующий зондовый микроскоп Dimension FastScan (Bruker Corporation);Высокоскоростной сканирующий зондовый микроскоп для получения изображений и изучения динамики процессов in situ с высоким временным пространственным наноразмерным разрешением. 1464;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Микроскоп лазерный сканирующий для лабораторных исследований LSM 700 (Carl Zeiss);Позволяет получать изображения структурных компонентов и динамических процессов в химически фиксированных или живых клетках и тканях, окрашенных флуоресцентными маркерами, или обладающих автофлуоресценцией. Разрешение до 200 нм. Диапазоны детекции 405 – 700 нм. 1465;Санкт-Петербургский государственный университет;Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп Leica TCS SPE;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области лазерной сканирующей микроскопии 1466;Санкт-Петербургский государственный университет;Комплекс люминесцентной и рамановской микроспектрометрии NTEGRA Spectra Raman (НТ-МДТ);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рамановской микроскопии. Прибор представляет собой комбинацию зондового и спектрального модуля, обеспечивающих одновременную работу применительно к исследуемому образцу и интегрированной системой ближнепольной оптической микроскопии. Прибор оснащен 2 лазерами возбуждения КР с длинами волн видимого диапазона, системой записи спектров КР в видимом диапазоне. Поддерживаемые методики: 1)Конфокальная Рамановская микроскопия 2) TERS (Рамановская микроскопия с АСМ зондом) 2)Конфокальная флюоресцентная микроскопия 3)Конфокальная лазерная микроскопия (отражение, пропускание) 4)Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия 1467;Санкт-Петербургский государственный университет;Аналитический растровый электронный микроскоп субнанометрового разрешения Zeiss Merlin;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1468;Санкт-Петербургский государственный университет;Универсальный электронный микроскоп серии Zeiss Supra 40 VP;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронной сканирующей микроскопии 1469;Санкт-Петербургский государственный университет;Микроскоп универсальный электронный ZeiSS LIBRA 200 FE;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии 1470;Санкт-Петербургский государственный университет;Микроскоп ионный сканирующий Zeiss Orion;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области ионно-гелиевой микроскопии 1471;Санкт-Петербургский государственный университет;Рентгеновский нанотомограф SkySсan2011 (Bruker Corporation);Предназначен для рентгеновской нанотомографии в лабораторных условиях 1472;Санкт-Петербургский государственный университет;Сканирующий электронный микроскоп Hitachi S-3400N;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1473;Юго-Западный государственный университет;Cканирующий зондовый, конфокальный микроскоп и рамановский микроспектрометр OmegaScope™;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1474;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния Alpha 300 AR (WiTec);Неразрушающий химический анализ методом конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния (КР) и получение изображений рельефа поверхности с высоким разрешением 1475;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Микроскоп сканирующий зондовый MFP-3D Classic (Asylum Research);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1476;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер НаноСкан-4Д;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии 1477;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Микроскоп электронный просвечивающий сверхвысокого разрешения Titan3 (Cubed) G2 60-300 (FEI Company);Исследования материалов методом ПЭМ 1478;Санкт-Петербургский государственный университет;Микроскоп инвертированный научно исследовательский флуоресцентный Leica DMI 3000В;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии 1479;Санкт-Петербургский государственный университет;Электронно-аналитическая рабочая станция микроскопии высокого разрешения на базе автоматизированного микроскопа Leica DMRXA с цветной цифровой камерой Leica DC 500;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии высокого разрешения 1480;Санкт-Петербургский государственный университет;Полуавтоматизированный флуоресцентный микроскоп Leica 4000В с цифровой камерой DFC - 350 FX и компьютером;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области флуоресцентной микроскопии 1481;Санкт-Петербургский государственный университет;Стереомикроскоп Leica 165C;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области стерео-микроскопии 1482;Санкт-Петербургский государственный университет;Электронный микроскоп Tesla BS-500;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 1483;Санкт-Петербургский государственный университет;Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп Leica TCS SP5;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области конфокальной сканирующей микроскопии 1484;Санкт-Петербургский государственный университет;Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп Leica TCS SP5 c двухфотонным режимом, модулем STED-CW, белым лазером и модулем FLCS;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии 1485;Санкт-Петербургский государственный университет;Стереомикроскоп рабочий Leica М125С;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области стерео-микроскопии 1486;Санкт-Петербургский государственный университет;Микроскоп исследовательский Leica DM2500 с цифровой камерой;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 1487;Санкт-Петербургский государственный университет;Микроскоп инвертированный для флуоресцентной микроскопии и ратиометрии Leica DMI6000;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии 1488;Санкт-Петербургский государственный университет;Просвечивающий электронный микроскоп Jeol JEM-1400;"Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 с установленной STEM-приставкой обладает высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ. Применяется в исследованиях биологических образцов для: - Изучения тонкой структуры биологических объектов;- Электронно-микроскопической томографии;- Криоэлектронной микроскопии (Cryo-TEM)." 1489;Санкт-Петербургский государственный университет;Универсальный стереоскопический комплекс для макроскопического исследования флуоресценции на базе флуоресцентного моторизованного стереомикроскопа Leica M205 FA;Предназначен для макроскопического исследования флуоресценции 1490;Санкт-Петербургский государственный университет;Сканирующий электронный микроскоп TESCAN MIRA 3 LMU;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии 1491;Петрозаводский государственный университет;Сканирующий электронный микроскоп с ЭДС спектрометром HITACHI SE9010 совместно с модулями пробоподготовки, напыления металлов и охлаждения/нагрева образцов;Исследование поверхности вещества 1492;ООО «Термо Техно»;Лабораторный стереомикроскоп STEMI 2000-C;Микроскоп обладает широкими функциональными возможностями от простой рутинной работы до сложных технологических процессов в материаловедении и биотехнологии и медицине. Методы исследования: светлое поле, темное поле, поляризация, люминесценция в падающем свете. 1493;ООО «Термо Техно»;Стерео микроскоп STEREO DISCOVERY.V8/V12/V20;Предназначен для экспериментов в области стерео микроскопии. Управление микроскопом моторизованное (увеличение, рабочее расстояние, фокус): со встроенных дисплеев, с помощью программного обеспечения компьютера, с помощью контрольного устройства SyCoP (демонстрация на экране текущих данных: дата/время, увеличение микроскопа, поле на предмете, разрешение, глубина, увеличение объектива, увеличение окуляра, z-позиция, контроль света (освещенность в плоскости предмета), функции управления, память, установка). 1494;ООО «Термо Техно»;Лабораторный стереомикроскоп STEMI DV4;Компактный стереомикроскоп для рутинных работ в биологии и медицине, подготовка препаратов, мониторинга производственных процессов. 1495;ООО «Термо Техно»;Оптический микроскоп Axio Zoom.V16 (Carl Zeiss);Предназначен для получения больших обзорных изображений при малом и среднем увеличении, благодаря быстрому и простому сканированию и автоматической сшивке. Высокое значение апертуры объектива зум-микроскопа (по сравнению состереомикроскопами) обеспечивает действительно более высокое разрешение, особенно при малом и среднем увеличении. Получение изображений происходит намного быстрее, ускоряется процедура количественного анализа. 1496;ООО «Токио Боэки (РУС)»;Микроскоп с полевой эмиссией JEOL JSM-7500F;JSM-7500F – это растровый электронный микроскоп с «холодным» (автоэмиссионным) катодом, который сочетает в себе простоту управления, большой срок службы катода, аналитические возможности, а также экономичность в энергопотреблении. Холодный катод и объективная линза открытого типа (semi-in-lens) позволяют получать изображения с высоким разрешением и контрастом при малых токах пучка и низких ускоряющих напряжениях. Это особенно важно при работе с деликатными, чувствительными к пучку, образцами – полимерами, биологическими образцами, полупроводниками и т.п. Также JSM-7500F по умолчанию комплектуется автоматической шлюзовой камерой, что существенно снижает время замены образца, уменьшает скорость загрязнения камеры образцов, нивелирует риск повреждения аналитических приставок из-за резких перепадов давления и продлевает срок службы катода и диафрагм в несколько раз. Однако даже использование шлюза не мешает работать с большими образцами: до 200 мм в диаметре и до 40 мм высотой. 1497;ООО «Токио Боэки (РУС)»;Термо-эмиссионный микроскоп JEOL JSM 6510LV;JSM-6510LV – одна из самых распространенных серий растровых электронных микроскопов. Эти приборы надежны, производительны и недороги. Они позволяют проводить исследования образцов практически любых типов, в широких диапазонах ускоряющих напряжений и токов пучка, в режиме высокого или низкого вакуума. Камера образцов JSM-6510LV обладает солидным количеством портов и позволяет дооснастить РЭМ множеством разнообразных приставок (спектрометрами с дисперсией по энергиям и по длинам волн, системой дифракции отраженных электронов, системой катодолюминесценции, рамановским спектрометром) для решения широкого класса исследовательских задач. 1498;ООО «Токио Боэки (РУС)»;Термоэмиссионный микроскоп JEOL JIB-4000;JIB-4000 – это однолучевая система со сфокусированным ионным пучком, которая может быть использована в режиме ионного микроскопа для анализа морфологии поверхности образцов либо в качестве системы ионного травления для приготовления образцов РЭМ и ПЭМ. Она оснащена ионной колонной специальной конструкции и отличается высокой производительностью и надежностью. Графический интерфейс пользователя прост и понятен, и управление системой не представляет трудностей даже для начинающих операторов. 1499;ООО «Токио Боэки (РУС)»;Просвечивающий электронный микроскоп JEM-ARM1300;Ключевым преимуществом мегавольтных ПЭМ над более низковольтными моделями является высокая проникающая способность высокоэнергетического электронного пучка, что позволяет работать с «толстыми» образцами. Дело в том, что сто-, двухсот- и трехсоткиловольтные модели просвечивающих электронных микроскопов требуют очень сильного утонения образца (до 100-200 нм), и некоторые материалы меняют свои свойства при подобной обработке (они попросту теряют свойства массивных материалов). А не утонять образец для исследований на низковольтных моделях тоже нельзя – энергия пучка электронов будет недостаточна для прохождения через него. Решить данную проблему позволяют JEM-ARM1000 и JEM-ARM1300. В них можно исследовать образцы толщиной до одного микрометра, которые полностью сохраняют свои свойства. 1500;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Электронно-оптический микроскоп FEI PHENOM;Позволяет получать изображение в оптическом режиме (увеличение 20х) и электронно-оптическом режиме (увеличение 250-20000х). Разрешение микроскопа составляет 20 нм. Исследуемые образцы не должна превышать 25 мм в диаметре и 30 мм по высоте. Время загрузки образца для выхода в электронно-оптический режим составляет 30 секунд. В микроскопе используется источник электронов на кристалле CeB6 с ускоряющим напряжением 5 кВ. Полученные изображения могут быть сохранены в форматах JPEG, TIFF и BMP, разрешение изображения: 456?, 684?, 1024?, 2048? пиксел. 1501;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Нано Скретч-Тестер NST и Микро Скретч-Тестер MST;Предназначен для нано-механических испытаний, изучения свойств поверхности тонких пленок и покрытий, таких как адгезия, хрупкость, деформация, отслаивание и износостойкость путем испытания царапаньем. Нано Скретч-Тестер NST предназначены для наномеханических испытаний, изучения свойств поверхности тонких пленок и покрытий, толщиной менее 1000 нм, таких как адгезия, хрупкость, деформация, отслаивание и износостойкость путем испытания царапаньем, а также устойчивость и сопротивление к царапанию, коэффициент трения. 1502;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Просвечивающий электронный микроскоп TECHNAI G2 20 TWIN (FEI);Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне. (паспортное разрешение до 1,6 ангстрема, фактическое – на уровне 2 ангстрема). Микроскоп оснащен приставкой для проведения энергодисперсионного рентгеновского анализа (диапазон фиксируемых элементов от бора до урана), разрешение по энергии не более 138 эВ, обеспечивает построение двумерных карт распределения элементов, распределения элементов вдоль линии и элементный анализ в точке. Приставка режима сканирования обеспечивает получение изображения с высоким разрешением (разрешение 1 нм). Микроскоп имеет многопользовательский интерфейс с сохранением индивидуальных настроек для каждого вида эксперимента. 1503;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Измерительный модуль зондовой нано-лаборатории Ntegra Prima SFV 102;Предназначен для расширения функций зондовой нано-лаборатории 1504;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Голографический микроскоп отраженного света Lyncee Tec SA;Является оптимальным решением для исследования хорошо или средней степени отражающих материалов. Использование технологии голографической микроскопии открывает множество возможностей, недоступных с помощью других методик, а возможность работать с поверхностями с коэффициентом отражения менее 1% делает их применимыми для широкого спектра материалов. Благодаря высокой частоте сбора данных и простоте использования, цифровые голлографические микроскопы Lyncee Tec SA находят свое применение как в рутинном контроле на серийном производстве или отделе ОТК, так и в сложных исследовательских задачах. 1505;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Атомно-силовой микроскоп NanoWizard 3 NanoScience AFM;Идеально подходит для широчайшего круга применений: от изображения единичных молекул, полимеров и наночастиц до электрических, оптических, электрохимических и механических измерений в контролируемой среде. 1506;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Криминалистический микроскоп сравнения Unitron серии CFM CAT;Комбинация высокого качества изготовления и продуманного дизайна представляет беспрецендентные возможности для проведения исследований в области баллистики, изучения огнестрельного оружия и маркировки деталей. 1507;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Криминалистический микроскоп сравнения Unitron серии CFM;Предназначен для идентификации изображений сравниваемых исследуемых объектов. Отличительной особенностью микроскопов сравнения является наличие специального оптико-механического модуля, позволяющего сводить в единое визуальное пространство два изображения, получаемых посредством двух микроскопов. 1508;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Микроскоп для анализа керна Zeiss Axio Imager;Предназначен для анализа керна микроскопическим методом 1509;ООО Ай-Эм-Си (IMC);Цифровой голографический микроскоп проходящего света серии Lyncee Tec DHM T1000;Предназначен для инспекции поверхности в проходящем свете. Принцип работы, основанный на голографической микроскопии, полная бecконтактность метода и полнофункциональность оптического профилометра делают этот прибор идеальным вариантом для количественных динамических и статических измерений прозрачных и полупрозрачных объектов. 1510;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Научно-исследовательский поляризационный микроскоп OLYMPUS BX51;Предназначен для экспериментов в области поляризационной микроскопии 1511;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Микроскоп стереоскопический 170-BD-LED-E;Предназначен для экспериментов в области стерео микроскопии 1512;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Цифровой стереомикроскоп Альтами СМ0745-Т;Предназначен для экспериментов с применением стерео микроскопа 1513;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Микроскоп для лабораторных исследований Axio Lab.A1;Предназначен для общелабораторных экспериментов в области микроскопии 1514;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Электронный микроскоп, Dino-Lite AM7013MZTS;Предназначен для проведения экспериментов в области электронной микроскопии 1515;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Микроскоп SIAMS Минерал С7 (Olympus Corporation);Предназначен для общенаучных экспериментов в области электронной микроскопии 1516;ООО Энергопромавтоматика;Микроскоп бинокулярный Микромед 1 (вариант 2-20);Предназначен для наблюдений и морфологических исследований препаратов в проходящем свете по методу светлого поля, а также по методу темного поля (с конденсором темного поля, поставляемому по дополнительному заказу). Области применения: Медицина, биология, химическая промышленность и др. 1517;Оренбургский государственный университет;Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000;Сканирование поверхностей в туннельной и атомно-силовой моде с нанометровым разрешением 1518;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100 с системой энергодисперсионного микроанализа (JEOL);"Проведение электронно-микроскопических исследований по изучению тонкой структуры материалов, включая дислокационную, зеренную, субзеренную; фазового состава, химического состава отдельных фаз и их кристаллографической ориентации друг относительно друга; изучение морфологических особенностей выделений вторых фаз, вплоть до наноразмерного уровня." 1519;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Растровый электронный микроскоп ZEISS CrossBeam AURIGA с системой комбинированного энергодисперсионного и волнового микроанализа и дифракции обратно рассеянных электронов (Carl Zeiss);Линейные размеры фаз, частиц, включений, параметры кристаллической решетки: тип, период, ориентационные соотношения, химический состав (в весовых и атомных %) конструкционных наноупроченных материалов (металлов, неметаллов), порошковых металлов, порошков на основе керамики, композитных материалов 1520;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Растровый электронный микроскоп JSM 6490 с приставками для энергодисперсионного и волнового микроанализа Oxford Inca (JEOL);Линейные размеры фаз, частиц, включений, параметры кристаллической решетки: тип, период, ориентационные соотношения, химический состав (в весовых и атомных %) конструкционных наноупроченных материалов (металлов, неметаллов), порошковых металлов, порошков на основе керамики, композитных материалов 1521;Юго-Западный государственный университет;Растровый низковакуумный электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом JEOL JS-6610LV (JEOL, Oxford Instruments);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области низковакуумной микроскопии 1522;Юго-Западный государственный университет;Сканирующий зондовый микроскоп AFM SmartSPM (Aist NT);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой, туннельной, магнито-силовой микроскопии 1523;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Электронный микроскоп (комплекс электронно-ионной литографии) серии CrossBeam 1540XB (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронно-ионной литографии 1524;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп SPM Probe VT AFM XA 650 (Omicron Nano Technology);Исследование в условиях сверхвысокого вакуума топографии и локальной плотности электронных состояний полупроводниковых наноматериалов и наноструктур, применяемых в наноэлектронике и нанофотонике. Исследование одноэлектронных и размерных эффектов в наносистемах с пониженной размерностью 1525;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Микроскоп для лабораторных исследований Axio Imager.Z1 (Carl Zeiss);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии 1526;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Микроскоп оптико-электронный Phenom (FEI);Проведение РЭМ-исследований в режиме обратно-отраженных электронов, а также с возможностью совмещения с СЗМ. 1527;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Учебный класс сканирующей зондовой микроскопии Nanoeducator-10 с зондовой нанолабораторией Ntegra-PRIMA (НТ-МДТ);Обучение работе на сканирующих зондовых микроскопах 1528;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-AURA (НТ-МДТ);Предназначен для проведения микроскопических измерений в вакууме и контролируемой атмосфере 1529;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-THERMA (НТ-МДТ);Измерения в широком температурном диапазоне 1530;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-SPECTRA (НТ-МДТ);Интеграция сканирующей зондовой микроскопии с конфокальной микроскопией и спектроскопией комбинационного рассеяния 1531;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Система для высокоскоростной видеосъёмки FC13;Предназначена для высокоскоростной микроскопической видеосъемки 1532;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Cканирующий конфокальный микроскоп OLYMPUS LEXT OLS-300;Бесконтактный анализ шероховатости как гладких, так и грубых поверхностей с использованием интуитивно понятного программного обеспечения. Высокоточные измерения в режиме 2D и 3D в диапазоне от 1 мкм до 1.5 мм по каждой оси, например толщины прозрачных тонких пленок, глубины, площади, периметра, углов, радиусов и др. морфологических характеристик объектов. Воспроизводимость измерений 0,02 мкм по горизонтали и 0,052 мкм по вертикали. 1533;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Сканирующий электронный микроскоп LEO EVO 50 XVP (Carl Zeiss) с энерго- дисперсионным анализатором INCA - energy;Предназначен для определения локального и среднего качественного и количественного состава неорганических образцов, а также для получения и обработки изображений при увеличении до 300000 раз широкого класса объектов: фармацевтических, текстильных, медицинских, биологических и др. Разрешение при высоком вакууме (<10-3 Па) 3.5 nm. Нет ограничений при работе с непроводящими и биологическими образцами. 1534;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000;"Микроскопия, свойства поверхности. Увеличение х15-х30 000; Разрешение 30 нм; Размер образца H<50 мм; D<70 мм Ускоряющее напряжение 5 кВ; 15 кВ." 1535;ООО «Микротрак»;Видеомикроскоп на лазерном светорассеянии Zetaview;Позволяет визуализировать результаты, полученные при измерении светорассеяния на броуновских частицах во внешнем электрическом поле. Микроанализатор Zetaview – это регистрирующий светорассеяние микроскоп, оснащенный видеокамерой для визуализации движения частиц в электрофоретической ячейке. На основании распределения этих частиц по скоростям вычисляется их электрофоретическая подвижность, и по формуле Смолуховского рассчитывается зета-потенциал. 1536;ЗАО Научное оборудование;Атомно-силовой микроскоп Agilent 5500 AFM/SPM;Обеспечивает атомарное разрешение и может быть оснащен множеством дополнительных опций, позволяя решать различные специфические задачи пользователя. Конструкция прибора позволяет осуществлять и комбинировать различные методики сканирования, сочетая легкость использования, а также применять различные способы крепления образца. Использование сканера маятниковой конструкции реализует запатентованную методику сканирования “сверху вниз”, как с системой контроля позиционирования, так и без нее, обеспечивая наибольшую точность и линейность измерений. 1537;ЗАО Научное оборудование;Сканирующий электронный микроскоп Phenom PRO;Phenom Pro – наиболее технически оснащенная и совершенная модель в серии микроскопов Phenom, позволяет получать изображения с увеличением в диапазоне до 100 000x и разрешением до 17нм. Phenom Pro может быть укомплектован программным пакетом автоматизированных решений Pro Suite, позволяющих выделить максимум информации из изображения. 1538;ЗАО Научное оборудование;Микроскоп Olympus SZ61;Передовые технологии и изящный дизайн для достижения лучшего соотношения между эффективностью и ценой. Недорогой стерео микроскоп Olympus SZ61 с плавной сменой увеличения Zoom. Благодаря новой оптике UIS2 обладает прекрасной цветопередачей, высокой четкостью изображений и высокой глубиной резкости. Olympus SZ61 идеально подходит для установки в небольших лабораториях для решения типовых задач, включая фото- и видеорегистрацию. 1539;ЗАО Научное оборудование;Инвертированный микроскоп Olympus CKX31;Позволяет использовать следующие методы обзора: светлое поле, фазовый контраст, Хоффмана модуляционный контраст, флуоресценция. Оригинальная кассета для метода фазового контраста и специальные объективы Olympus позволяют проводить фазовоконтрастные наблюдения с объективами от 10х до 40х без переключения слайдера конденсора. 1540;ЗАО Научное оборудование;Прямой поляризационный микроскоп исследовательского класса Olympus BX51-P;Микроскоп сочетает высокие характеристики скорректированной на бесконечность оптики UIS2 и особенности конструкции микроскопов Olympus. Новая, расширенная линейка компенсаторов позволяет решать с помощью микроскопа BX51-P практически любые задачи поляризационной микроскопии. Применение оптической системы, скорректированной на бесконечность, позволяет предотвратить искажения, возникающие при использовании в оптической схеме поляризационных компонентов, таких как анализаторы, окрашивающие пластины или компенсаторы. Модульная конструкция микроскопа обеспечивает большую гибкость в эксплуатации, в частности, предусмотрена возможность применения любых оптических компонентов для микроскопов серии BX2, цифровых камер, и т.д. 1541;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Поляризационный микроскоп металлографический МЕТАМ РВ-21-1 (ЛОМО);Визуальное наблюдение микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле, а также для исследования объектов в поляризованном свете и методом дифференциально-интерференционного контраста. 1542;Национальный исследовательский ядерный униве