№ п/п;Организация;Наименование оборудования;Назначение 1;АО Научно-производственное предприятие Буревестник;Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (Буревестник);Позволяет проводить рентгено-дифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера. В число опций, которые возможны для аппарата, добавлен четырехосный держатель больших образцов (xy-сканирование, z-перемещение, ?-поворот), что позволит исследовать крупногабаритные объекты различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям. 2;АО Научно-производственное предприятие Буревестник;Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-7М (Буревестник);Предназначен для решения широкого круга задач в области порошковой дифрактометрии. Независимое управление 2? и ? поворотами позволяет применять аппарат к исследованию монокристаллов. Режимы сканирования: пошаговый / непрерывный. Тип детектора: сцинтилляционный NaI (Tl). Методы сканирования: ?-2?, 2?, ?, 2?-? 3;АО Научно-производственное предприятие Буревестник;Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 (Буревестник);Предназначен для решения широкого круга задач в области порошковой дифрактометрии. Независимое управление 2 ? и ? поворотами позволяет применять аппарат к исследованию монокристаллов. Рентгенооптическая схема: Брэгга-Брентано / Дебая-Шеррера / параллельно-лучевая. 4;ФГБУН Институт геологии Карельского научного центра Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Предназначен для определения одной или нескольких фаз в неизвестной пробе. Количественное определение известных фаз в смеси. Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы. Анализ поверхности и тонких пленок. Анализ текстуры 5;ФГБУН Объединенный институт высоких температур Российской академии наук;Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-4-07 (Буревестник);Предназначен для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов. Диапазон углов перемещения блока детектирования: от 5 до 90°C. Шаг углового перемещения блока детектирования в автоматическом режиме: от 0,02 до 30°C. Время накопления сигнала для каждого угла перемещения блока детектирования: от 2 до 3000°C. Исследование хлороформных кристаллосольватов фуллерена:C60 (CHCl3)2, (C60)0.83(C70)0.17 (CHCl3)2 и C70(CHCl3)2, образующих непрерывный ряд твердых растворов с примитивной гексагональной упаковкой молекул фуллерена. 6;ФГБУН Институт электрофизики и электроэнергетики РАН;Дифрактометр рентгеновский двухкристальный ДРОН-3 (Буревестник);Предназначен для прецизионного определения параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью. 7;ФГБУН Институт электрофизики и электроэнергетики РАН;Рентгеновский дифрактометр Geigerflex D/max-RC (Rigaku);"Предназначен для проведения фазового анализа поликристаллических материалов; определения размеров областей когерентного рассеяния и дисторсий в порошковых образцах и монокристаллах; анализа структуры тонких пленок." 8;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Рентгеновский порошковый дифрактометр ДРОН-УМ2 (Буревестник);Позволяет получать дифрактограммы порошковых материалов с высоким угловым разрешением (0.003 градуса). Для управления дифрактометром, накопления данных и фазового анализа порошков используются персональные компьютеры и несколько баз данных, включающих в себя полную базу JCPDS до 1999 года включительно. Имеющееся программное обеспечение позволяет выводить данные в стандарте, принятом для ICDD, а также уточнять параметры элементарной ячейки, рассчитывать теоретические дифрактограммы, определять величину области когерентного рассеяния. Для рентгенофазового анализа, как правило, достаточно 10 мг вещества. 9;ФГБУН Институт земной коры Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 (Буревестник);Предназначен для проведения широкого круга структурных исследований различных природных или полученных экспериментально материалов, горных пород, в т.ч. глинистых минералов. 10;ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский порошковый дифрактометр УРС-55 (Буревестник) с дуговым координатным детектором;Исследование молекулярной и кристаллической структуры пространственно организованных полициклических соединений, а также их супрамолекулярной структуры и молекулярных комплексов 11;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Рентгеновский порошковый дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник);"Предназначен для исследования общего характера (качественный и количественный фазовый анализ; исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и другое); получение полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристаллов; определение ориентации срезов монокристаллов; исследование текстуры" 12;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений;Рентгеновский дифрактометр XRD 6100 (Shimadzu);Предназначен для регистрации дифракционных максимумов, измерения углов и анализа дифракционных картин, получаемых в результате дифракции рентгеновских лучей на узлах кристаллической решетки. Основными задачами являются качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических образцов . Объектами исследования являются порошковые и монолитные образцы минералов, металлов и сплавов, керамики, огнеупоров и других материалов, имеющих кристаллическую структуру. 13;ФГБУН Институт проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук;Дифрактометр ДРОН-3 (НПП Буревестник);Рентгеноструктурные исследования исследования общего характера: качественный и количественный фазовый анализ, определение макро- и микронапряжений, исследование текстуры. 14;ФГБУН Институт проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук;Автоматический рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (НПП БУревестник);Предназначен для широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов: качественный и количественный фазовый анализ, определение макро- и микронапряжений, исследование текстуры и другое. 15;ФГБУН Институт проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук;Дифрактометр ДРОН-4-07 (НПП Буревестник);Предназначен для широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов: качественный и количественный фазовый анализ, определение макро- и микронапряжений, исследование текстуры и другое. 16;ООО «Актив-нано»;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker);Качественный и количественный фазовый анализ проб. Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду. Определение степени кристалличности полимеров. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки. 17;ФГБУН Физико-технологический институт Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр ARL Xtra (Thermo Fisher Scientific);Предназначен для определения одной или нескольких фаз в неизвестной пробе. Количественное определение известных фаз в смеси. Кристаллография: определение (решение) структуры кристаллических материалов. Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы. Анализ поверхности и тонких пленок. Анализ текстуры. 18;ФГБУН Институт химии нефти Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 (Буревестник);Предназначен для прецизионного определения параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью. 19;Новосибирский государственный технический университет;Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA (Thermo Electron SA);Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ материалов. Определение одной или нескольких фаз в неизвестной пробе. Количественное определение известных фаз в смеси. Кристаллография: определение (решение) структуры. кристаллических материалов. Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы. Анализ поверхности и тонких пленок. Анализ текстуры. 20;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4 (Буревестник);Предназначен для исследования структуры, фазового состава твердых тел. Используется для исследования мозаичных монокристаллических образцов с шириной кривой качания более 0,2°, а также текстурированных и поликристаллических образцов. В качестве анализатора здесь использован пиролитический графит. 21;Иркутский институт химии им. А.Е. Фаворского СО РАН;Рентгеновский дифрактометр D2 PHASER (Bruker);Поиск фаз в природных объектах, анализ поликристаллических материалов и контроль качества химических, фармацевтических, геологических и других образцов. 22;Иркутский институт химии им. А.Е. Фаворского СО РАН;Рентгеновский дифрактометр D8 VENTURE (Bruker);Расчёт параметров кристаллических решёток, поиск фаз, деформационных напряжений, величины кристаллитов в порошке вещества, атомного строения вещества, структурных распределённых деформаций. 23;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Автоматический рентгеновский дифрактометр с координатным детектором Single-Crystal System KAPPA APEX II (Bruker);Предназначен для исследования неорганических структур при температурах от 80 до 500 K. Пакет программ APEX II позволяет выполнять автоматический поиск дифракционных пиков с заданными параметрами, автоматически определять и уточнять параметры элементарной ячейки, проводить интегрирование массива дифракционных данных, проводить анализ и обработку данных диффузного рассеяния, профильный анализ с возможностью реконструкции обратного пространства, имеет полную совместимость с форматом комплекса программ SHELXTL. 24;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Автоматический рентгеновский дифрактометр малоуглового рентгеновского рассеяния NanoSTAR SAXS (Bruker);Малоугловое рентгеновское рассеяние. Определение размеров, формы, молекулярно-массового распределения наноразмерных частиц (от 1 до 100 нм) в кристаллических, аморфных, полимерных материалах, в растворах и расплавах. 25;ФГБУН Объединенный институт высоких температур Российской академии наук;Автоматический рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник);"Предназначен для широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов: исследования общего характера (качественный и количественный фазовый анализ, исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и другое); получение полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристаллов; определение ориентации срезов монокристалловисследование текстуры" 26;ООО Центр трансфера технологий;Рентгеновский дифрактометр SmartLab (Rigaku);"Анализ фазового состава сырья и продуктов синтеза наноматериалов, в том числе при изменении температур в диапазоне от -100 до 350 °С; Определение размеров частиц, структурных элементов, фазовых флуктуаций; Контроль остаточных напряжений в различных материалах и готовых изделиях; Исследование углеродных наноструктур различного типа." 27;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker);Предназначен для качественного и количественного фазового анализа кристаллических образцов. Оснащен интегрированным ПК и монитором с плоским экраном. Новое и очень простое в использовании программное обеспечение DIFFRAC.SUITE позволяет быстро и просто проводить измерения и получать результаты. 28;Научно-исследовательский институт Строительных материалов и технологий;Рентгеновский дифрактометр XTRA (ARL);Предназначен для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД), для определения степени кристалличности, кристаллографического анализа, анализа тонких пленок и следов фаз 29;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu);Предназначен для проведения рентгеноструктурного анализа. Технические данные: Материал и тип анода Cu, трубка тип А-40-Cu. Размеры фокуса и максимальная мощность1,0 x 10 мм, максимальная мощность 3 кВт. Максимальные параметры работы 60 кВ – 80 мА. Минимальный шаг сканирования 0,0010. Режимы работы Непрерывное сканирование, пошаговое сканирование, позиционирование, осцилляция по оси. 30;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-2 (Буревестник);Позволяет проводить рентгенодифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера 31;ФГБУН Институт химии твердого тела и механохимии Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-4-07 (Буревестник);Предназначен для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов. В комплектацию входят: устройство угловое сканирующее ГУР-9, трубка рентгеновская БСВ28, источник рентгеновского излучения ИРИС-М7, программный комплекс для управления. 32;ФГБУН Институт химии твердого тела и механохимии Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 Discover (Bruker) c GADDS;"Предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов. Он обладает модульной архитектурой и способен функционировать в широком диапазоне различных конфигураций с быстрым переключением между ними, что делает его весьма универсальным инструментом для материаловедения. Bruker D8 Discover идеально подходит для применений в области нанотехнологий. Благодаря ультрасовременной и весьма совершенной оптической системе он позволяет получать подробную и точную информацию о структуре аморфных, моно- и поликристаллических тонких пленок толщиной всего несколько нанометров, изучать структуру поверхности и прослеживать структурные изменения вглубь образца, проводить неразрушающий контроль качества (совершенства) массивных промышленных монокристаллов для электроники и оптики, а также обнаруживать дефекты в наноразмерных кристаллах катализаторов." 33;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2 (Буревестник);Рентгеновский дифрактометр с высокотемпературной камерой УВД-2000 град 34;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4 (Буревестник);Анализ размера частиц с помощью рентгеновского дифрактометра 35;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Рентгеновский дифрактометр LabX XRD-600 (Shimadzu);Рентгеноструктурные исследования материалов: качественный анализ, количественный, эталонный, прецизионный расчет параметров решетки, определение остаточного аустенита, степени кристаллитов, и искажений решетки, высокотемпературные рентгеновские исследования до 2300 град. 36;ФГБУН Институт химии твердого тела и механохимии Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker);"Предназначен для исследования структуры порошкообразных материалов. С помощью дифрактометра можно: проводить качественный и количественный анализ кристаллических фаз; определять размеры кристаллитов; исследовать изменение структуры кристаллических фаз в зависимости от температуры, влажности и атмосферы." 37;ФГУП НИИ НПО ЛУЧ;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6 (Буревесник);Предназначен для решения научных и прикладных задач в области рентгенодифракционного анализа поликристаллов и ряда задач монокристальной дифрактометрии. Управление дифрактометром, сбор данных и обработка результатов измерений осуществляется с помощью ПЭВМ с OS Windows XP. 38;ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker-AXS);Качественный и количественный фазовый анализ проб. Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду. Определение степени кристалличности полимеров. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки. 39;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3М (НПП Буревестник);Предназначен для прецизионного определения параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью. 40;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский порошковый дифрактометр D8 Advance (Bruker);"Предназначен для исследования структуры порошкообразных материалов. С помощью дифрактометра D8 Advance можно: проводить качественный и количественный анализ кристаллических фаз; определять размеры кристаллитов; исследовать изменение структуры кристаллических фаз в зависимости от температуры, влажности и атмосферы" 41;ФГБУН Институт геологии и геохимии им. академика А.Н. Заварицкого Уральского отделения Российской академии наук;Высокотемпературная камера НТК-1200N (Anton Paar) для рентгеновского дифрактометра;Обеспечение регулируемого нагрева в камере рентгеновского дифрактометра общего назначения для проведения измерений рентгеновской дифракции при температурах до 1200 град.С 42;ФГБУН Институт геологии и геохимии им. академика А.Н. Заварицкого Уральского отделения Российской академии наук;Система анализа дифракции обратно-рассеянных электронов EBSD NordlysNano (Oxford Instruments) для работы с электронным сканирующим микроскопом;Структурный, текстурный, фазовый анализ микрообъектов на основе исследования дифракции обратно-рассеянных электронов 43;Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7 (Буревестник);"Предназначен для качественного анализа фазового состава материалов, продукции, сырья и промышленных отходов; исследование фазовых превращений и реакций; анализ изменений структурных характеристик кристаллических материалов." 44;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский монокристальный дифрактометр D8 Venture (Bruker);Определение кристаллической структуры, определение симметрии, параметров элементарных ячеек, координат атомов, тепловых параметров, длин связей и углов между атомами, структурного мотива, расшифровка структуры, уточнение таких кристаллических особенностей, анализ сверхструктур соединений. 45;ФГБУН Институт проблем комплексного освоения недр Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский порошковый XRD-7000 (Shimadzu);Предназначен для определения фазового состава горных пород, руд техногенного минерального сырья 46;ФГБУН Физико-технический институт имени А.Ф. Иоффе Российской академии наук;Порошковый рентгеновский дифрактометр D2 Phaser (Bruker);Предназначен для исследования структуры вещества методом рентгеновской дифрактометрии 47;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Дифрактометр рентгеновский Miniflex 600;Предназначен для исследования структурно-фазового состояния материалов 48;ФГБУН Институт Химии Коми научного центра Уральского отделения РАН;Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu);Предназначен для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа. В Институте химии прибор в основном используется для рутинного определения фазового состава и кристаллической структуры веществ. 49;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Дифрактометр порошковый рентгеновский XRD 7000S (Shimadzu);Рентгенофазовый анализ и рентгеноструктурные исследования поликристаллических материалов 50;Северо-Осетинский государственный университет им. Коста Левановича Хетагурова;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 MAXIMA (Shimadzu);"Предназначен для стандартного рентгеноструктурного анализа поликристаллических материалов и позволяет: анализировать параметры структуры и фазовый состав объемных материалов и тонких пленок; управлять процессом рентгеновской съемки и обрабатывать полученные рентгенограммы с помощью компьютера; работать с электронными базами данных рентгеновских спектров." 51;Кубанский государственный технологический университет;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7М (Буревестник);Предназначен для определения фазового состава материалов 52;ФГБУН Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии Российской академии наук;Порошковый прецизионный рентгеновский дифрактометр DMax-2200 (Rigaku);Позволяет получать порошковую рентгенограмму в интервале углов 2q от 6-8° до 140-160° с минимальным шагом 0.01-0.005°. Для рентгенографической съёмки в дифрактометре обычно используют плоский препарат. 53;ФГБУН Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker);Качественный и количественный анализ кристаллических фаз, структурный анализ,определение размеров кристаллитов, анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления 54;Уфимский государственный авиационный технический университет;Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku);Область применения: Фазовый анализ проб. Количественный анализ. Определение размеров частиц и пор. Анализ Ритвельда. Анализ кристалличности. Анализ остаточного аустенита. Анализ остаточных напряжений. Построение прямых и обратных полюсных фигур. 55;Грозненский государственный нефтяной технический университет им. академика М.Д. Миллионщикова;Рентгеновский дифрактометр XRD-6100 (Shimadzu);Предназначен для структурного анализа, в котором регистрация дифрагированного рентгеновского излучения осуществляется с помощью дискретных детекторов рентгеновского излучения 56;Омский государственный технический университет;Рентгеновский порошковый дифрактометр Maxima-X XRD-7000S (Shimadzu);Предназначен для решения широкого круга исследовательских и промышленных задач, среди них: качественный и количественный фазовый анализ, рентгеноструктурный анализ, определение остаточного аустенита, степени кристалличности и размеров кристаллитов, исследование тонких пленок, анализ напряжений и их картирование и др. 57;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1 (Carl Zeiss);Позволяет проводить комплексные исследования морфологии, элементного состава, проводящих и низкопроводящих мишеней с разрешением от 2 нм. 58;Санкт-Петербургский государственный университет;Комбинированная система мало- и широкоуглового рассеяния рентгеновского излучения S3-MICROpix;Определение размеров и форм частиц в ультрадисперсных системах (жидких и твердых) в диапозоне от 2 нм до 80 нм. Определение параметров кристалитов с нижним пределом детектирования 500 нм. 59;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Рентгеновский дифрактометр SmartLab (Rigaku);Предназначен для проведения измерений по определению структурных параметров, качественного и количественного фазового состава кристаллических и поликристаллических тонких пленок, дисперсных систем и структур на их основе. 60;Санкт-Петербургский государственный университет;Дифрактометр высокого разрешения STADI-P (STOE);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области дифрактометрии высокого разрешения. Может использоваться для порошковой съемки малых количеств вещества в геометрии Дебая-Шеррера. 61;ГНЦ Научно-исследовательский институт атомных реакторов;Комплекс рентгеновский диагностический ДИАКОМ (Севкаврентген-Д);Предназначен для рентгеновской диагностики 62;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Рентгеновский дифрактометр XDR-7000S (Shimadzu);Предназначен для рентгеноструктурного анализа материалов 63;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Дифрактометр модульной конструкции порошковый рентгеновский D8 ADVANCE (Bruker AXS);Дифрактометр модульной конструкции порошковыйрентгеновский с системой для проведения рентгенодифракционных измерений в широкомдиапазоне температур и комплектомдополнительного оборудования для определения фазового состава неоднородных образцов 64;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Дифрактометр рентгеновский Panalytical X Pert Powder (Nalkho Techno);Предназначен для рентгеновской дифракции 65;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр XRD 6000 (Shimadzu) в комплекте с монохроматором, низкотемпературной камерой и азотной низкотемпературной системой;Предназначен для общенаучных исследований методом рентгеновской дифракции 66;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Приставка к дифрактометру ARL X’TRA - высокотемпературная камера HTK 2000 (Thermo Scientific);Рентгенографическое исследование материалов при высоких температурах 67;ФГБУН Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA (Thermo Scientific);Определение фазового состава поликристаллических материалов 68;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Монокристальный рентгеновский дифрактометр SMART APEX II (Bruker), оборудованный CCD детектором;Позволяет проводить на самом высоком экспериментальном и расчетном уровне рентгендифракционные исследования атомного строения неорганических, органических и гибридных органо-неорганических соединений на монокристаллах 69;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 (Буревесник);Рентгеновские дифракционные исследования поликристаллических веществ, материалов и изделий (неорганических и органических веществ, металлов и сплавов, композитов, пленок и покрытий). Укомплектован гониометрической приставкой ПГТМ, позволяющей производить съемку прямых полюсных фигур в автоматическом режиме. 70;Национальный исследовательский технологический университет МИСиС;Дифрактометр многофункциональный рентгеновский Ultima IV (Rigaku);Фазовый анализ проб, Количественный фазовый анализ проб, Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений, Текстурный анализ и анализ макронапряжений, Малоугловое рентгеновское рассеяние. 71;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр Дрон-2.0 (НПП Буревесник);Рентгенодифракционные исследования эпитаксиальных пленок и квантовых ям полупроводниковых материалов, выросших на разориентированных подложках.Измерения кривых качания для оценки структурного совершенства эпитаксиальных слоев и ям. 72;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Рентгеновский дифрактометр CAD-4 (Enraf-Nonius);"Предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов." 73;Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu);Система поликапиллярной оптики, обеспечивающая параллельный рентгеновский пучок высокой интенсивности и принципиальное улучшение соотношения пик/фон. Приставки для анализа напряжений, тонких плёнок, волокон, измерения микрообразцов с использованием цифровой камеры, текстурного анализа с построением полюсных фигур. 74;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 (Shimadzu), с системой поликапиллярной оптики PCL-1001;Установка для анализа фазового состава, расшифровки минералогического состава веществ, отходов, всех кристаллических полупродуктов и продуктов, антикоррозионных покрытий и т.д. Использование данного прибора позволяет определить вид минералов, кристаллическое строение 75;ФГБУН Институт нефтехимии и катализа Российской академии наук;Монокристалльный рентгеновский дифрактометр XCalibur (Agilent Technologies);Анализ молекулярной структуры веществ в твердом состоянии 76;ООО «Нанодиагностика»;Дифрактометр D2 Phaser (Bruker AXS);Предназначен для проведения качественного и количественного анализа фазового состава, структурных характеристик, анализа степени чистоты и кристалличности порошков, включая системы, содержащие наноразмерные объекты. 77;Дальневосточный геологический институт ДВО РАН;Рентгеновский дифрактометр общего назначения MiniFlex II (Toshiba);Предназначен для определения типов кристаллических структур, качественного и количественного фазового анализа материалов, исследований фазовых превращений, структурных состояний в объеме и приповерхностных областях материалов. 78;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр Дрон-3.0 (НПП Буревестник);Предназначен для определения типов кристаллических структур, качественного и количественного фазового анализа материалов, исследований фазовых превращений, структурных состояний в объеме и приповерхностных областях материалов. 79;ФГБУН Институт нефтехимии и катализа Российской академии наук;Порошковый дифрактометр PW1800 (Philips);Предназначен для анализа размеров, формы, молекулярно-массового распределения наноразмерных частиц в диапазоне 1 – 100 нм, в кристаллических, поликристаллических и аморфных твёрдых телах, а также в расплавах и растворах, методом малоуглового рентгеновского рассеяния 80;ФГБУН Институт нефтехимии и катализа Российской академии наук;Монокристальный дифрактометр Xcalibur Gemini (Oxford diffraction);Предназначен для современного исследования малых молекул в рамках кристаллографической лаборатории. Она была сконструирована ведущими производителями систем с двумя рентгеновскими трубками максимально просто и компактно. 81;ФГБУН Институт гидродинамики им. М.А. Лаврентьева Сибирского отделения Российской академии наук;Порошковый дифрактометр D8 Advance (Bruker);Предназначен для проведения фазового и структурного анализа порошковых или поликристаллических материалов 82;ФГБУН Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-4-07 (ЛНПО Буревесник);Предназначен для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов. В комплектацию входят: устройство угловое сканирующее ГУР-9, трубка рентгеновская БСВ28, источник рентгеновского излучения ИРИС-М7, программный комплекс для управления. 83;ФГБУН Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук;Порошковый дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker);Предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа, индицирования и определения параметров ячейки, определения размеров кристаллитов, определения микронапряжений в образце, определения степени кристалличности, определение структур и их уточнение методом Ритвельда. 84;ФГБУН Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский монокристальный дифрактометр SMART APEX II (Bruker);Предназначен для определения кристаллических и молекулярных структур неорганических, органических и металлоорганических соединений при различных температурах с последующим построением детального распределения электронной плотности. 85;Северо-Кавказский федеральный университет;Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Предназначен для рентгеновского фазового и рентгеновского структурного анализов. Обеспечивает исследование металлических сплавов, керамик, органических и полимерных материалов в различных формах. Возможно исследование порошков, массивных образцов и пленок (толщиной не менее 10 мкм) любых материалов. Полная автоматизация прибора и высокая защищенность персонала от воздействия рентгеновского излучения позволяет использовать его как в научных, так и в учебных целях. Прибор отличает высокая надежность и точность измерений. 86;ФГБУН Институт физико-химических и биологических проблем почвоведения Российской академии наук;Настольный дифрактометр D2 PHASER (BRUKER);Предназначен для анализа поликристаллических материалов. Настольный дифрактометр D2 PHASER оснащен интегрированным ПК и монитором с плоским экраном. Новое и очень простое в использовании программное обеспечение DIFFRAC.SUITE позволяет быстро и просто проводить измерения и получать результаты. D2 PHASER – это самый компактный и самый быстрый дифрактометр типа «все-в-одном» для фазового анализа кристаллических образцов, который только можно приобрести. Прибор мобилен и прост в установке – требуется только стандартная электрическая розетка. Таким образом, D2 PHASER – это идеальное решение для использования в лаборатории или в полевых условиях. Другими словами, это настоящая система типа «подключи и работай». Простота в использовании, высокая производительность и низкая стоимость обслуживания – вот основные достоинства настольного дифрактометра D2 PHASER. По соотношению цена/производительность D2 PHASER – лидер в области порошковой рентгеновской дифракции для исследований в лаборатории и контроля качества, например, в геологии, цементной, горнодобывающей, химической и фармацевтической промышленности, а также для использования в образовательных целях. 87;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Рентгеновский многофункциональный дифрактометр XMD-300 (UNISANTIS);Предназначен для качественного и количественного фазового анализа, анализа профиля пиков и структурной идентификации. Благодаря применению патентованной поликапиллярной оптики Кумахова этот дифрактометр не нуждается в применении коллиматоров для линейного проецирования рентгеновского излучения. 88;ФГБУН Институт проблем химико-энергетических технологий Сибирского отделения Российской академии наук;Портативный рентгеновский дифрактометр РИКОР-5 рентгеновского измерительного комплекса «РИКОР»;Позволяет последовательно определять напряжения в заданных направлениях (метод “синус квадрат пси”), а также сумму главных напряжений в поверхностном слое металла деталей и конструкций. 89;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Рентгеновский монокристальный дифрактометр CAD4 (Enraf-Nonius), излучение MoK;Предназначен для определения кристаллических и молекулярных структур неорганических, органических и металлоорганических соединений при различных температурах с последующим построением детального распределения электронной плотности. 90;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker);"Область применения: Качественный и количественный фазовый анализ проб; Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений; Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду Определение степени кристалличности полимеров; Определение и уточнение параметров кристаллической решетки." 91;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр CAD-4 (Enraf-Nonius);"Предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов." 92;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Система дифракции быстрых электронов RHEED15 (Staib Instruments);Система дифракции быстрых электронов предназначена для оценки качества структур, путем наблюдения дифракции отраженных от поверхности образца электронов. 93;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Рентгеновский дифрактометр высокого разрешения D8 DISCOVER (Bruker);"Предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов. Он обладает модульной архитектурой и способен функционировать в широком диапазоне различных конфигураций с быстрым переключением между ними, что делает его весьма универсальным инструментом для материаловедения." 94;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Порошковый дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu);"Рентгеноструктурный анализ поликристаллов, в том числе: проведение фазового анализа (идентификация веществ по данным о межплоскостных расстояниях и определение их соотношений в смеси); определение параметров элементарной ячейки индивидуальных соединений; определение типа и состава твердого раствора; определение размеров областей когерентного рассеяния (блоков мозаики)." 95;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Автоматический рентгеновский монокристальный дифрактометр Oxford Diffraction Gemini S;"Предназначен для монокристальных и порошковых рентгеновских исследований кристаллических материалов; исследования атомных структур металлорганических кристаллов на основе комплексов переходных и поливалентных химических элементов; прецизионные рентгеновские исследования разупорядоченных неорганических кристаллов применяемых в лазерной технике." 96;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600 (Rigaku);Предназначен для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов. Теперь MiniFlex доступен в двух модификациях. Благодаря мощности трубки 600 Вт, MiniFlex 600 становится вдвое мощнее других настольных моделей. Это позволяет проводить быстрее анализ и повысить общую производительность при проведении исследований. 97;Воронежский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр Empyrean B.V. (PANalytical);Порошковая дифрактометрия, дифрактометрия высокого разрешения, малоугловое рассеяние, рефлектометрия и рентгеновская топография 98;Московский государственный институт электронной техники (НИУ);Дифрактометр многофункциональный Rigaku SmartLab;Предназначен для фазового и структурного анализа кристаллических тонких пленок 99;ФГБУН Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук;Установка для рентгеноструктурного анализа Rigaku Miniflex 600;Предназначена для рентгеноструктурного анализа материалов 100;ФГБУН Институт высокотемпературной электрохимии Уральского отделения Российской академии наук;Автоматический рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник);Основные возможности: исследования общего характера (качественный и количественный фазовый анализ, исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и другое)получение полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристалловопределение ориентации срезов монокристалловисследование текстуры 101;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Настольный рентгеновский дифрактометр MiniFlex 600 (Rigaku);"Проведение качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов; оценка размеров блоков когерентного рассеяния, методов рентгеновской дифрактометрии." 102;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Дифрактометр рентгеновский Bruker D8 Advance Davinci (Bruker);"Порошковая дифрактометрия - фазовый анализ, оценка степени кристалличности, размер кристаллитов / анализ остаточных напряжений, прецизионные измерения параметров решетки, анализ по методу Ритфельда. Программное обеспечение - качественный и количественный анализ; база данных дифрактограмм ICDD PDF-2; кристалличность; анализ остаточных напряжений; построение прямых и обратных полюсных фигур; расчет параметров кристаллической решетки." 103;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция «Дифрактометрия с использованием жесткого рентгеновского излучения»;Предназначена для дифракционных исследований поликристаллических веществ при высоких давлениях и температурах в ячейке с алмазными наковальнями с использованием жесткого рентгеновского излучения. 104;ООО Новоуральский научно-конструкторский центр;Дифрактометр рентгеновский URD-63 (Carl Zeiss);Предназначен для рентгеноструктурного анализа материалов 105;ФГБУН Институт физики металлов имени М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр Empyrean (PANalytical B.V.);Предназначен для фазовых и структурных исследований материалов в интервале температур от -100 до 1100 градусов Цельсия с высоким пространственным разрешением с помощью рассеяния рентгеновского излучения . Данный прибор используется в проекте для характеризации получаемых и исследуемых наноматериалов и микро(нано-)структур при различных внешних условиях: качественный и количественный фазовый анализ пленочных объектов и исследование текстур, шероховатости пленок, определение степени кристалличности и ориентировка монокристальных блоков, определение атомной структуры вещества, включающее в себя пространственную группу элементарной ячейки, её размеры и форму, а также группу симметрии кристалла, уточнение параметров решетки. 106;ООО Институт Рентгеновской Оптики;Рентгеновский дифрактометр с генератором «Ризон 50/50»;Предназначен для исследования белков на базе интегральной линзы Кумахова. Детектирование производится с помощью системы Imaging Plate Detector System Mar 345, которая хорошо себя зарекомендовала и широко используется на рабочих станциях в синхротронных центрах. 107;ФГБУН Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker);Структурные исследования неорганических материалов, порошков, полимеров: качественный и количественный анализы, расчёт параметров решётки, определение размеров кристаллитов и искажений решётки. 108;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Advance (BRUKER AXS);Параметры кристаллической решетки: тип, период, ориентационные соотношения конструкционных наноупроченных материалов (металлов, неметаллов), порошковых металлов, порошков на основе керамики, композитных материалов 109;Сибирский федеральный университет;Рентгеновский дифрактометр XRD 7000 (Shimadzu);"Рентгено-фазовый анализ любых поликристаллических материалов, неорганических порошков, сплавов, минерального сырья, руд, горных пород, некоторых органических материалов; рентгеноструктурный анализ; анализ керамики, огнеупоров, объектов окружающей среды, катализаторов, металлов, сплавов, фармацевтических препаратов" 110;Сибирский федеральный университет;Рентгеновский дифрактометр Advance D8 (Bruker);"Качественный и количественный анализ кристаллических фаз; структурный анализ; определение размеров кристаллов; анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления с использованием соответствующих камер; быстрая съемка с применением позиционно-чувствительного детектора" 111;Башкирский государственный университет;Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН 7;Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных институтов в различных отраслях науки и производства (материаловедение, черная и цветная металлургия, машиностроение, минералогия, кристаллография, химия, фармакология, криминалистика и другие). Схема Брэгг-Брентано, Диапазон углов сканирования, 2? о- 100 165, Минимальный шаг сканирования, 2? о = 0.001, Точность позиционирования, 2? и ? о =± 0.005 112;Петрозаводский государственный университет;Комплекс дифрактометрический рентгеноструктурного анализа ДРОН-6 (Буревестник);Предназначен для проведения исследований структуры и состава веществ 113;Петрозаводский государственный университет;Текстурный дифрактометр со структурным гониометром, модель 4020 (Philips Analytical Systems);"Предназначен для решения широкого круга задач в исследовании конденсированного состояния. Среди них: - определение магнитной и кристаллической структур (т.е. положение атомов и направление их магнитных моментов);- определение магнитных фазовых диаграмм;- изучение анизотропии смещения атомов при изменении температуры." 114;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Низкотемпературная дифрактометрическая камера Cobra (BRUKER);Предназначена для проведения исследований в области низкотемпературной рентгеновской дифрактометрии 115;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Малоугловая установка РМУ-2 с высокотемпературной приставкой до 1200оС;Предназначена для проведения исследований в области рентгеновской дифрактометрии 116;Санкт-Петербургский государственный университет;Дифрактометр высокого разрешения Ultima IV-285 (Rigaku);Предназначен для прецизионного определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических и керамических, материалов, в том числе, с высоким содержанием железа 117;Северо-Кавказский федеральный университет;Рентгеновский дифрактометр Empyrean;Качественный и количественный рентгенофазовый анализ поликристаллических тел и порошков. 118;ФГБУН Научный центр волоконной оптики Российской академии наук;Дифрактометр общего назначения ДРОН-4-13 (Буревесник);Предназначен для количественного и качественного рентгенофазового анализа 119;ФГБУН Научный центр волоконной оптики Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker);Дифрактометр для количественного и качественного рентгенофазового анализа и расшифровки структур методом Ритвельда 120;ФГБУН Научный центр волоконной оптики Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker);Дифрактометр рентгеновский для микроанализа 121;Липецкий государственный технический университет;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4-13;Рентгеноструктурный анализ 122;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-6100;Рентгеновский порошковый дифрактометр позволяет недеструктивно анализировать кристаллические объекты. Прибор позволяет проводить качественный и количественный анализы широкого круга объектов (стали, цветные металлы, керамики, цементы, минералы, промышленные образцы и т.д.). 123;Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского;Рентгеновский порошковый дифрактометр LabX XRD-6000;Рентгеновский порошковый дифрактометр позволяет недеструктивно анализировать кристаллические объекты. Прибор позволяет проводить качественный и количественный анализы широкого круга объектов (стали, цветные металлы, керамики, цементы, минералы, промышленные образцы и т.д.). 124;Тверской государственный университет;Автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2В2 (DSO-2V2).;Автоматическое уточнение ориентации монокристаллических пластин относительно поверхности кристалла, включая уточнение направления базового среза. 125;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Scientific);Фундаментальны исследования: кристаллография, химия твердого тела, твердотельная кинетика…. Прикладные исследования: материаловедение, геология, авиация, исследования керамики… Контроль технологических процессов: цементная отрасль, металлургия, керамическая промышленность 126;Ивановский государственный химико-технологический университет;Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker);Оборудование для рентгеновской дифракции 127;ФГБУН Институт металлоорганической химии им. Г.А. Разуваева Российской академии наук;Дифрактометр Xcalibur E (Agilent);Оборудование для рентгеновской дифракции 128;ГНЦ ФГУП Исследовательский центр имени М.В. Келдыша;Многоцелевой рентгеновский дифрактометр Empyrean PANalytical;Рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения модульной конструкции для научных исследований и для аналитического контроля в промышленности . 129;Российский университет дружбы народов;Порошковый рентгеновский дифрактометр ДРОН-7;Для решения широкого круга аналитических, технологических и научно-исследовательских задач химии, физики, материаловедения, геологии. Ренгенофазовый анализ поли-кристаллических материалов. Исследование нано (микро-структуры) поликристаллических материалов (металлов, катализаторов, полупроводников и др.). Исследование влияния различных технологических обработок на микро-структуру и свойства материалов. Полиморфизм. 130;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Дифрактометр с вращающимся анодом SLS SRL (Bruker);Генератор рентгеновского. излучения 131;ФГБУН Физико-технический институт имени А.Ф. Иоффе Российской академии наук;Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом D8 Discover (Bruker);Исследования методом рентгеновской дифракции высокого разрешения 132;Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ);Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku);Оборудование для рентгеновской дифракции. Анализ тонких пленок. Фазовый анализ, степень кристалличности, размер кристаллитов, анализ остаточных напряжений, прецизионные измерения параметров решетки, оценка толщины пленки (рефлектометрия), текстурный анализ (ориентация зерен, подложки), качество интерфейса. 133;Российский университет дружбы народов;Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima Rigaku «Ultima IV»;Оборудование для рентгеновской дифракции 134;Дальневосточный федеральный университет;Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 ADVANCE Bruker D8 ADVANCE;Оборудование для рентгеновской дифракции 135;ФГБУН Институт химии растворов им. Г.А. Крестова Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский D8 Advance (Bruker);Оборудование для рентгеновской дифракции 136;Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова;Программно-аппаратный комплекс для обеспечения рентгенофазовых исследований ARL Xtra (Thermo Scientific);Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы 137;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Рентгеновский комплекс исследования топографии XRT-100 (RIGAKU/Fuji-Film);Оборудование для рентгеновской дифракции 138;ФГБНУ Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов;Порошковый дифрактометр с детектором Пельтье TETA ARL (Thermo);Оборудование для рентгеновской дифракции 139;Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова;Дифрактометр порошковый рентгеновский ARL XTRA (Thermo Fisher Scietific);Анализ поверхности и тонких пленок, определение одной или нескольких фаз в неизвестной пробе, количественное определение известных фаз в смеси 140;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu);Предназначен для решения широкого круга научно-исследовательских и технологических задач, возникающих при изучении кристаллических и аморфных твердых тел, пленок 141;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-3М;Оборудование для рентгеновской дифракции 142;Российский государственный технологический университет им. К.Э. Циолковского;Автоматический рентгеновский дифрактометр общего назначения ДРОН-7;Оборудование для рентгеновской дифракции 143;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Рентгеновский порошковый дифрактометр ARLXTRA (Thermo Electron);Предназначен для проведения порошковых исследований. При использовании тета:тета гониометра проба остается неподвижной в горизонтальном положении, в то время как перемещаются рентгеновская трубка и детектор. Такая геометрия особенно рекомендуется для трудно устанавливаемых проб (порошки, жидкости, и т.д.). 144;ФГБУН Институт проблем химической физики Российской академии наук;Монокристальный рентгеновский дифрактометр P4 (BRUKER);Предназначен для проведения рентгеновских экспериментов на монокристаллах. Дифрактометр обладает эйлеровской геометрией. Р4 является стандартным дифрактометром. В качестве источника излучения используется Mo рентгеновская керамическая трубка мощностью 2000Вт, для монохроматизации рентгеновского излучения используется графитовый монохроматор. Регистрация отраженного излучения осуществляется стандартным сцинтилляционным точечным детектором. 145;ФГБУН Иркутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker);Предназначен для рентгеновской дифракции 146;ФГБУН Институт геологии и геохимии им. академика А.Н. Заварицкого Уральского отделения Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский общего назначения XRD 7000 (Shimadzu);Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ 147;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Модульная система для структурного анализа наноструктур для работы в режимах точечной и линейной коллимации SAXSess mc2;Предназначена для определения дисперсного состава наноразмерных объектов методом рентгеновской дифрактометрии 148;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Проведение качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД) 149;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Установка для исследования поверхности твердых тел LAS-600 (RIBER);Оборудование для дифракции электронов 150;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Установка для исследования поверхности твердых тел ADES-2 (VARIAN);Оборудование для дифракции электронов 151;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Двухмодульная рентгеновская система для исследования твердотельных материалов STOE STADI P;Исследование поликристаллических твердотельных материалов рентгенодифракционными методами. Модульная система позволяет использовать одновременно два независимых гониометра – в геометрии на пропускание и отражение. 152;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр Kappa APEX2 (BRUKER);Исследование молекулярного и кристаллического строения монокристаллов 153;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (BRUKER);Исследование поликристаллических твердотельных материалов рентгенодифракционными методами. Проведениекачественного и количественного рентгенофазового анализа. Исследование фазовых переходов в широком диапазоне температур. 154;ФГБУН Институт химии Дальневосточного отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр SMART AREX2 CCD (BRUKER);Исследование молекулярного и кристаллического строения монокристаллов 155;ФГБУН Институт физики металлов имени М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук;Автоматизированный рентгеновский дифрактометр ДРОН-6 (Буревестник);Предназначен для исследования структуры, текстуры и фазового состава моно- и поликристаллических образцов. Дифрактометр оснащен высокотемпературной и низкотемпературной вакуумными камерами для изучения фазовых переходов. 156;Московский государственный горный университет;Дифрактометрический комплекс (НПО);Оборудование для рентгеновской дифракции 157;Московский государственный горный университет;Компьютеризированный комплекс рентгеновской дифрактометрии ADP-2;Оборудование для рентгеновской дифракции 158;ФГБУН Кемеровский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Дифрактометр ренгеновский Bruker D8 ADVANCE;Оборудование для рентгеновской дифракции 159;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник) 10009431;Исследование структуры материалов 160;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 инв. 10007012;Исследование структуры материалов 161;ФГБУН Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский порошковый дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker);Предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа 162;ФГБУН Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский монокристальный дифрактометр SMART APEX II (Bruker);Предназначен для поиска кристаллических и молекулярных структур неорганических, органических и металлоорганических соединений при различных температурах, построения детального распределения электронной плотности 163;Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН;Рентгеновская система малоуглового и широкоуглового рассеяния Hecus S3-MICRO;Оборудование для рентгеновской дифракции 164;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Рентгеновский дифрактометр «ДРОН-7»;Оборудование для рентгеновской дифракции 165;Владимирский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker);Позволяет решать практически весь комплекс существующих задач в области порошковой дифрактометрии. В приборе реализована принципиально новая концепция построения модульных систем, которая существенно упрощает процесс конфигурирования дифрактометра. Переход от геометрии Брегг-Брентано к параллельно-лучевой оптике происходит максимально быстро благодаря новой рентгенооптической TWIN-системе, в которой совмещены традиционные щели и зеркало Гёбеля, переключение между которыми происходит автоматически. Новая рентгеновская TWIST-трубка позволяет осуществлять переключение между точечным и линейным фокусом. 166;Владимирский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр (малоуглового рассеяния S3-MICRO HECUS или его аналоги) SAXSess mc?;Предназначен для характеристики структуры в нанометровом диапазоне. Система является идеальным инструментом для анализа наноструктур, присутствующих в различных видах образцов, от жидкостей (например, коллоиды, растворы белков) до твёрдых тел (например, полимерные плёнки, нанокомпозиты). 167;Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина;Порошковый рентгеновский дифрактометр D2 Phaser (Bruker);Предназначен для проведения качественного и количественного анализа фазового состава, структурных характеристик, анализа степени чистоты и кристалличности порошков, включая системы, содержащие наноразмерные объекты 168;Московский государственный университет леса;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2;Оборудование для рентгеновской дифракции 169;ФГБУН Институт машиноведения Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр SHIMADZU XRD-7000;Предназначен для рентгеновской дифракции 170;Дальневосточный геологический институт ДВО РАН;Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker Corporation);Рентгено-фазовый анализ порошков и мелкокристаллических объектов в области размером до 0,05 мм 171;ФГБУН Институт металлургии Уральского отделения Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский с высоко- и низкотемпературными камерами и зеркалом Гебеля D8 Advance (Bruker);Оборудование для рентгеновской дифракции 172;ФГБУН Уфимский научный центр Российской академии наук;Монокристальный рентгеновский дифрактометр XCALIBUR (Agilent);Оборудование для рентгеновской дифракции 173;ФГБУН Уфимский научный центр Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker);Оборудование для рентгеновской дифракции 174;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4;Оборудование для рентгеновской дифракции 175;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция Космос на ВЭПП-4;Оборудование для исследования строения вещества дифракционными методами 176;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция Прецизионная дифрактометрия-2;Оборудование для рентгеновской дифракции 177;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция Малоугловое рассеяние;Оборудование для рентгеновской дифракции 178;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция Дифракционное кино (дифрактометрия с временным разрешением);Оборудование для рентгеновской дифракции 179;ФГБУН Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук;Станция Дифрактометрия при высоких давлениях;Оборудование для рентгеновской дифракции 180;ФГБУН Институт органического синтеза им. И.Я. Постовского Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский монокристальный дифрактометр Xcalibur 3 (Oxford Diffraction);Предназначен для рентгеновской дифракции 181;ФГБУН Томский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Дифрактометр Д8 Discover c с температурными приставками D8DISCOVER (BRUKER);Оборудование для рентгеновской дифракции 182;ФГБУН Институт тектоники и геофизики им. Ю.А. Косыгина Дальневосточного отделения Российской академии наук;Рентгено-фазовый спектрометр Miniflex II (Rigaku);Рентгено-фазовый анализ порошков 183;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-6 (НПО Буревестник);Предназначен для рентгеновской дифракции, качественный и количественный структурный и фазовый анализ, анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления. 184;ФГБУН Физико-технический институт УрО РАН;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker);Предназначен для рентгеновской дифракции, анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления, пакет ПО для обработки дифрактограмм, фазовой идентификации, количественного анализа многофазных образцов по методу Ритвельда, определения размеров кристаллитов и микронапряжений по профилю линий. 185;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский D8 Discover (Bruker);"Прибор обеспечивает возможность рентгено-дифракционного исследования следующих видов материалов: эпитаксиальные многослойные структуры; текстурированные материалы; поликристаллические материалы; покрытия и приповерхностные слои." 186;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский PANalitical XPert PRO MRD (Philips);Установка позволяет производить исследования кристаллических материалов и искусственных многослойных систем методом дифракции рентгеновских лучей, в том числе - малоугловой. Источником рентгеновского излучения с длиной волны Cu K? 0,154 нм служит рентгеновская трубка (напряжение 60 кВ, ток 60 мА). Спектральная и угловая монохроматизация зондового пучка осуществляется с помощью четырехкристального асимметричного монохроматора Ge (220). Образец устанавливается на стол с 6-ю степенями свободы, что позволяет изучать локально по всей поверхности как плоские, так и изогнутые образцы. (Коллиматор Соллера, ограничивающий вертикальную расходимость, установлен за щелями детектора и на рисунке не показан). 187;ФГБУН Институт физики микроструктур Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский XPert PRO MRD (Philips);Установка позволяет производить исследования кристаллических материалов и искусственных многослойных систем методом дифракции рентгеновских лучей 188;Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума;Дифрактометр высокого разрешения D8 DISCOVERY (Bruker);Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов. Определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, параметров элементарной ячейки, микронапряжений в кристаллах. Рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков. Возможность работы в режиме рефлектометра. 189;Дальневосточный федеральный университет;Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker);Оборудование для рентгеновской дифракции 190;Самарский государственный технический университет;Дифрактометр ARL XtrA (Thermo Fisher Scientific);Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы 191;ФГБУН Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 (Буревестник);Предназначен для проведения рентгено-структурных исследований. Проведение количественного и качественного фазового анализа металлов и сплавов 192;Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М.Бербекова;Компактный настольный порошковый дифрактометр D2 PHASER (Bruker);Компактный настольный порошковый дифрактометр 193;Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М.Бербекова;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6 (Буревестник);Предназначен для проведения рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа с обработкой дифрактограмм в программном пакете PDWin 4.0 194;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-УМ-2;Оборудование для рентгеновской дифракции 195;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДАРТ-УМ-1;Оборудование для рентгеновской дифракции 196;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов Прометей;Рентгеновский дифрактометр Ultima IV Тип II (Rigaku);Оборудование для рентгеновской дифракции 197;Тюменский государственный университет;Дифрактометр общего назначения ДРОН-6;Оборудование для рентгеновской дифракции 198;Тюменский государственный университет;Дифрактометр общего назначения ДРОН-3;Оборудование для рентгеновской дифракции 199;Тюменский государственный университет;Дифрактометр общего назначения ДРОН-7;Оборудование для рентгеновской дифракции 200;ФГБУН Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук;Комплекс рентгеновских дифрактометров и двухкристального спектрометра ДРОН-2.0, ДРОН-3;Дифрактометры ДРОН–2.0, ДРОН–3.0 и двухкристальный спектрометр ДТС–1 настроены на работу с медным излучением (l=1.54056 A) с мощностью до 2 кВт каждая 201;ФГБУН Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр X’Pert PRO MRD («PANAlytical);Исследование тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок 202;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревесник);Предназначен для исследования структуры материалов методом рентгеновской дифракции 203;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Дифрактометр рентгеновский URD-63 (Carl Zeiss);Предназначен для рентгеноструктурного анализа материалов 204;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Автоматический рентгеновский поликристаллический дифрактометр D8 ADV (Bruker);Оборудование для рентгеновской дифракции 205;Ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова;Автоматический рентгеновский монокристалльный дифрактометр с низко- и высокотемпературными приставками CAD4 (Enraf);Оборудование для рентгеновской дифракции 206;ФГБУН Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker);Качественный и количественный фазовый анализ проб. Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду. Определение степени кристалличности полимеров. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки. 207;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Рентгеновский дифрактометр c вращающимся анодом ultraX D/MAX-2500V/PC (Rigaku);"Проведение рентгенофазового и рентгенографического анализа веществ и материалов, в т.ч. наноструктурированных, в т.ч. при повышенных темп. до 1500С. Мощность излучения 18 kW, шаг сканирования 0,01о; интервал 2? 1-120 о; координатный детектор, температуры образца во время съемки - от 25 оС до 1500 оС и комплексом приставок, обеспечивающих полный набор рентгенографических методов исследования материалов при различных температурах." 208;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Порошковый дифрактометр системы STOE STADI P (STOE & Cie GmbH);Оборудование для рентгеновской дифракции 209;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Дифрактометр STADI/P CuK (STOE);Оборудование для рентгеновской дифракции 210;ФГБУН Институт геологии и минералогии им. В.С. Соболева Сибирского отделения Российской академии наук;Порошковый дифрактометр ARL-XTRA (Thermo);Оборудование для рентгеновской дифракции 211;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Универсальный порошковый дифрактометр Ultima IV (Rigaku);Представляет собой передовой многоцелевой рентгеновский дифрактометр. Внедрение CBO оптики, запатентованной компанией, на постоянной основе, надолго выровненной и с выбираемыми пользователем геометриями (параллельнного пучка или фокусирующей) - все это позволяет выполнять множество различных измерений. 212;Брянский государственный университет им. академика И.Г. Петровского;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7.0;Оборудование для рентгеновской дифракции 213;Воронежский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр ARL X-TRA (Thermo Fisher Scientifics);Оборудование для рентгеновской дифракции 214;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Дифрактометр ренгеновский ARL X’TRA (Thermo);Оборудование для рентгеновской дифракции 215;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu);Оборудование для рентгеновской дифракции 216;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Дифрактометр ренгеновский DSO-2V2;Оборудование для рентгеновской дифракции 217;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Установка для исследования проникающей способности низкоэнергетических электронов УПРТ-25КУ;Оборудование для дифракции электронов 218;ФГБУН Институт механики Уральского отделения Российской академии наук;Дифрактометр (Phazer);Оборудование для рентгеновской дифракции 219;Кемеровский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр ДР-02 РАДИАН;Оборудование для рентгеновской дифракции 220;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Рентгеновский порошковый дифрактометр ARL X’TRA (Thermo Fisher Scientific);"Позволяет анализировать широкий спектр материалов. Возможные исследования: определение фазового состава пробы; количественное определение известных фаз в смеси; кристаллография — уточнение структуры кристаллов; проведение анализа в различных условиях — изменение температуры, давления или газовой атмосферы; анализ поверхности и тонких пленок; анализ текстуры." 221;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Рентгеновский малоугловой дифрактометр S3-MICRO (Hecus);Рентгеновский малоугловой дифрактометр S3-MICRO фирмы Hecus, позволяет измерять интенсивность рентгеновского рассеяния от исследуемых твердых и жидких образцов в виде пленок, пластин, покрытий, порошков, растворов, золей и гелей в области от самых малых углов до 8°. Для измерения дифрактограмм предусмотрено использование координатных (1D и 2D) детекторов. В качестве источника излучения используется рентгеновская трубка с медным анодом (?CuK? = 0.154 нм). Имеется возможность термостабилизации образцов в диапазоне от -30 до 300 С. 222;ФГБУН Институт высокотемпературной электрохимии Уральского отделения Российской академии наук;Автоматический рентгеновский дифрактометр D/MAX-2200VL/PC (Rigaku);Позволяет осуществлять широкий спектр структурных исследований порошковых, тонкоплёночных и компактных образцов в широком диапазоне температур с высокой степенью точности. С помощью измерительного комплекса можно определить фазовый состав исследуемых проб. Высокотемпературная приставка позволяет исследовать структуру при нагревании образцов до 1500°С. Дополнительный малоугловой гониометр позволяет исследовать субмикронные плёнки. 223;Ульяновский государственный университет;Дифрактометр D2 PHASER (Bruker );Оборудование для рентгеновской дифракции 224;Московский физико-технический институт;Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Рентгеновская дифрактометрия и рефлектометрия. Определение одной или нескольких фаз в неизвестной пробе. Кристаллография: определение (решение) структуры кристаллических материалов. 225;ФГБОН Бурятский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker-AXS);Оборудование для рентгеновской дифракции 226;ФГБУН Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский Smart Apex II (Bruker);Предназначен для исследований методом рентгеновской дифракции 227;ФГБУН Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский P-4 (Bruker);Предназначен для исследований методом рентгеновской дифракции 228;ФГБУН Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр малоуглового рассеяния SAXSess (Anton);Оборудование для рентгеновской дифракции 229;ФГБУН Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина Российской академии наук;Рентгеновский монокристальный дифрактометр KAPPA APЕХ (Bruker);Оборудование для рентгеновской дифракции 230;ФГБУН Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина Российской академии наук;Рентгеновский порошковый дифрактометр Empyrean (PANalytical);Оборудование для рентгеновской дифракции 231;Южный федеральный университет;Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-7;Оборудование для рентгеновской дифракции 232;ФГБУН Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук;Сдвоенный рентгеновский автодифрактометр для съемок образцов в геометриях на прохождение и отражение STADI-P (STOE);Оборудование для рентгеновской дифракции 233;Южный федеральный университет;Дифрактометр ARL X’TRA (THERMO);Оборудование для рентгеновской дифракции 234;ФГБУН Институт Физико-Технических Проблем Севера Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku);Оборудование для рентгеновской дифракции 235;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский монокристалический дифрактометр (Bruker);Оборудование для рентгеновской дифракции 236;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Аппарат рентгеновский ДРОН-4-07;Оборудование для рентгеновской дифракции 237;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Аппарат рентгеновский ДРОН-3;Оборудование для рентгеновской дифракции 238;ФГБУН Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр с высокотемпературной камерой и приставкой для измерения микрообъектов XRD-6000 (Shimadzu);Оборудование для рентгеновской дифракции 239;ФГБУН Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER GADDS (Bruker);Оборудование для рентгеновской дифракции 240;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Рентгеновский малоугловой дифрактометр SAXS-2D (HECUS X-ray system GmbH GRAZ) с двумя позиционно-чувствительными детекторами;Исследование надатомной структуры твердого тела, полимеров, жидкостей, мицелл, биологических макромолекул в растворе, полидисперсных материалов, сплавов, фрактальных систем и других наноматериалов. 241;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр SmartLab 9kW (Rigaku);Изучение планарных тонкоплёночных систем, поликристаллов, монокристаллов с использованием методов стоячих рентгеновских волн, рефлектометрии, двух и многоволновой дифрактометрии, рентгенофазового и рентгенофлуоресцентного анализа. 242;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Порошковый рентгеновский дифрактометр X’PERT PRO MPD (PANalytical);Исследование атомной структуры кристаллов белков, поликристаллов, жидких кристаллов образцов малого объема и др. 243;ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр Xcalibur S™ (Oxford Diffraction);Исследование атомной структуры монокристаллов в широком интервале температур и давлений. 244;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-УМ2;Предназначен для рентгеновской дифракции 245;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-УМ1;Оборудование для рентгеновской дифракции 246;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-2.0;Дифрактометр рентгеновский. Рентгенофазовый анализ. Определение фазового состава неорганических соединений 247;ФГБУН Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук;Установка для исследования оптической однородности монокристаллов;Исследование однородности по точкам рассеяния 248;ФГБУ Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2;Исследования кристаллической структуры вещества на поликри-сталлических образцах 249;ФГБУ Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова;Малоугловой дифрактометр поляризованных нейтронов с 3-х мерным анализатором поляризации (Канал 14);"Исследования магнитных неод-нородностей (магнитные домены ферроманетиках, магнитные кла-стеры в спиновых стеклах и ма-нитных жидкостях, магнитная текстура магнетиков, вихревая структура в сверхпроводниках). Длина волны нейтронов 2.3A; Поляризация пучка 0.95; Поток поляр. нейтронов на об-разце 3•103 н см-2 сек-1; Максимальное сечение пучка 25x3 мм2; Апертура детектора 1•10-5 сте-рад;" 250;ФГБУ Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова;Четырехкружный нейтронный дифрактометр (Канал 13а);"Исследования магнитной и кри-сталлической структуры моно-кристаллов. Монохроматоры CU, GE, PG; Длины волн: 0.72A, 0.89A, 1.02A, 1.1A, 1.66A, 1.73A; Поток нейтронов на образце 2•105 н см-2 сек-1; Сечение пучка на месте образца 10x40 мм2 ;" 251;ФГБУ Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова;Дифрактометр поляризованных нейтронов c трехмерным анализом поляризации (Канал 6);"Исследования магнитной струк-туры вещества на монокристал-лах Максимальный размер пучка на образце 8•50 мм2; Максимальный поток поляризо-ванных нейтронов на образце - 106 н/см2сек ( = 2.0 A); Поляризация падающих на обра-зец нейтронов 95%; Монохроматор с кристаллом сплава Гейслера MnAlCu2: ??/? = 0.3;" 252;ФГБУ Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова;Установка малоуглового рассеяния нейтронов «Мембрана 2» (Канал 5);"Изучение надатомной структуры коденсированных сред на мас-штабах 1-100 нм Диапазон переданных импульсов 0.04 - 2.0 нм-1; Спектры падающего на образец пучка: интегральный спектр: = 0.3 нм, ??/? = 0.3; монохроматический спектр: 2.2" 253;ФГБУ Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова;Установка малоуглового рассеяния поляризованных нейтронов «Тензор» (Канал 4);"Исследования надатомных ядер-ных и магнитых структур мас-штаба 100-5000?. Длина волны нейтронов (7-12)?, ??/? = 10-30%; Lиапазон переданных импульсов (5•10-3-10-1) ? -1; Cредний поток тепловых нейтро-нов на образце 1.7•104 н/см2/сек (при ?= 8?, ??/?= 25%); Максимальный размер пучка на образце - 8•40 мм2; Поляризация падающих на обра-зец нейтронов - 95%;" 254;ФГБУ Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова;Многосчетчиковый порошковый дифрактометр (Канал 1);"Исследования кристаллической и магнитной структуры вещества на поликристаллических образ-цах Длины волн нейтронов: 1.38?, 1.64?, 2.16?, 2.52 ?; Минимальная FWHM - 24 Разрешение ?d/d=0.01; Размер пучка на месте образца 8x40 мм2; 48 счетчиков" 255;ОАО НПО Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3;Рентгеноструктурный анализ 256;ФГБУН Новосибирский институт органической химии им. Н.Н.Ворожцова Сибирского отделения Российской академии наук;Монокристальный дифрактометр CAPPA-APEX (Bruker);Рентгеноструктурный анализ кристаллических материалов 257;Южный федеральный университет;Рентгеновский дифрактометр многоцелевого назначения Ultima IV (Rigaku);Качественный фазовый анализ Количественный фазовый анализ Полнопрофильный анализ порошковых материалов Анализ размеров мелких частиц и пор (наноразмерный масштаб) Анализ текстур Анализ структурытонких пленок как в плоскости образца, так и в других направлениях Исследования порошковых материалов могут проводиться в температурном интервале -180 + 300 С и в высокотемпературной приставке при температурах до 1500С. 258;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Универсальный порошковый дифрактометр Ultima IV (Rigaku);Дифрактометр с полностью автоматической юстировкой всей системы. Благодаря возможности автоматической юстировки системы в сочетании с СВО оптикой и in-plane геометрией этот дифрактометр является наиболее гибкой системой доступной для широкого круга прикладных задач. 259;Липецкий государственный технический университет;Рентгеновский дифрактометр Дрон-4-13;Рентгеноструктурный анализ материала 260;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;Автоматический рентгеновский дифрактометр малоуглового рентгеновского рассеяния NanoSTAR SAXS (Bruker);Малоугловое рентгеновское рассеяние. Определение размеров, формы, молекулярно-массового распределения наноразмерных частиц (от 1 до 100 нм) в кристаллических, аморфных, полимерных материалах, в растворах и расплавах. 261;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;Aвтоматический порошковый рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker);Рентгеноструктурный анализ порошков, рентгенофазовый анализ смесей порошков, исследование структуры поликристаллических веществ и материалов 262;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;автоматический рентгеновский дифрактометр с координатным детектором Single-Crystal System KAPPA APEX II (Bruker);Рентгеноструктурный анализ монокристаллов, исследование молекулярной и кристаллической структуры органических, металлоорганических и металлокомплексных соединений. Установление абсолютной конфигурации хиральных молекул. Для исследования больших молекул, в том числе наноразмерных. 263;ФГБУН Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра Российской академии наук;трехкружный автоматический монокристальный рентгеновский дифрактометр с координатным детектором Smart Apex II (Bruker);Рентгеноструктурный анализ монокристаллов, исследование молекулярной и кристаллической структуры элементоорганических, металлоорганических и металлокомплексных соединений. 264;ФГБУН Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова Российской академии наук;4-х кружный дифрактометр Syntex P21 (Синтекс);Для рентгеноструктурного анализа монокристаллов 265;ФГБУН Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова Российской академии наук;"4-х кружный дифрактометр P3/PC; CAD (Siemens)";Рентгеноструктурный анализ монокристаллов. 266;ФГБУН Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова Российской академии наук;4-х кружный дифрактометр Siemens P3/PC;Рентгеноструктурный анализ монокристаллов. 267;ФГБУН Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова Российской академии наук;Дифрактометр монокристальный Smart 1000 CCD (Bruker);Рентгшеноструктурный анализ монокристаллов. 268;ФГБУН Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова Российской академии наук;Дифрактометр порошковый Advance D8 (Bruker);Изучение кристаллической структуры твердых тел. 269;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3;РФА 270;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Рентгеновский порошковый дифрактометр D-500 (Siemens);РФА 271;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Дифрактометр рентгеновский, порошковый D8-ADVANCE (BRUKER);РФА, РСА 272;Ордена Трудового Красного Знамени Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН;Дифрактометр рентгеновский монокристальный SMART APEX II (BRUKER);Позволяет проводить на самом высоком экспериментальном и расчетном уровне рентген-дифракционные исследования атомного строения неорганических, органических и гибридных органо-неорганических соединений на монокристаллах и мелкокристаллических порошках. 273;ФГБУН Институт металлоорганической химии им. Г.А. Разуваева Российской академии наук;Рентреновский дифрактометр Bruker AXS Smart Apex;Рентгеноструктурный анализ 274;ФГБУН Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук;Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku);Проведение рентгеновских исследований 275;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Рентгеновский порошковый дифрактометр с позиционно-чувствительным детектором и спервичным монохроматором для CuK?1 SIEMENS D-500;Рентгендифракционный спектр материалов, метод полнопрофильного анализа спектров для структурной характеризации материалов 276;ФГБУН Институт физики твердого тела Российской академии наук;Рентгеновский монокристальный дифрактометр с двухкоординатным CCD детектором. Oxford diffraction - Gemini R;Полный набор интенсивностей дифракционных отражений монокристалла, исследование атомно-кристаллической структуры материалов. Двумерная картина рентгеновской дифракции, дифракционный анализ структурно-неупорядоченных состояний. Исследования в широком интервале температур 277;Воронежский государственный университет инженерных технологий;Рентгеновский дифрактометр;измерение интенсивности и направления рентгеновского излучения на кристаллическом объекте 278;Московский государственный технический университет радиотехники электроники и автоматики;Научный комплекс «Рентгеноструктурный анализ» ДРОН-3, ДРОН-4;Оборудование для рентгеновской дифракции 279;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Определение фазового состава пробы, количественное определение известных фаз в смеси, кристаллографический анализ, анализ тонких плёнок. 280;ФГБУН Якутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Рентгеновский дифрактор ДРОН-3М;Гранулометрический экспресс-анализ материалов 281;ФГБУН Якутский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук;Дифрактометр ДРОН-2;Идентификация минералов 282;ФГБУН Всероссийский научно-исследовательский технологический институт ремонта и эксплуатации машинно-тракторного парка;Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu);Фазовый и структурный анализ материалов. Определение размера кристаллов и напряженно-деформированного состояния. 283;ГНЦ Научно-исследовательский институт атомных реакторов;Рентгеновский дифрактометр в дистанционном исполнении ДАРД-5;изучение фазового состава и структуры прежде всего высоко радиоактивных материалов 284;Северо-Кавказский федеральный университет;Дифрактометр ARL Xtra (Thermo Fisher Scientific);Рентгеновский дифрактометр предназначен для качественного и количественного рентгенофазового анализа образцов различной морфологии, изучения толщин и фазового состава тонких плёнок, сбора данных для решения и уточнения кристаллических структур, исследования текстурирования образцов методом порошка. 285;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Рентгеновский дифрактометр EQUINOX 3000 (Enel);Исследование кинетики структурных фазовых переходов в твердых телах, рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ 286;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Монокристальный дифрактометр D8 Quest (Bruker);"Дифрактометр рентгеновский монокристальный D8 QUEST представляет собой стационарный многоцелевой автоматизированный прибор, обеспечивающий измерение, обработку и регистрацию выходной информации. Рентгеновские лучи рассеиваются на кристаллической пробе, регистрация дифракционной картины осуществляется с помощью детектора, позволяющего обеспечить высокую производительность измерений. Конструктивно дифрактометр выполнен в виде отдельных модулей, функционально связанных между собой и управляемых по заданной программе от компьютера В состав дифрактометров входят источник рентгеновского излучения с рентгеновским генератором, прецизионный гониометр, высокочувствительный быстродействующий CMOS-детектор (Complementary m etal-oxidesemiconductor) (КМОП – комплементарный металл-оксид-полупроводниковый детектор), электронный модуль для сбора и обработки данных, система управления-компьютер и пакет прикладных программ. В качестве источника рентгеновского излучения применяется рентгеновская трубка с молибденовым, медным или серебряным анодами, питание которой осуществляется рентгеновским генератором высокого напряжения. Гониометр дифрактометра обеспечивает большую гибкость в выборе взаимного расположения источника излучения, пробы и детектора. Высокую точность отсчёта угла обеспечивают специальные оптические кодовые датчики. Для точной установки пробы дифрактометр комплектуется блоком видео-юстировки. Программное обеспечение Дифрактометр рентгеновский монокристальный D8 QUEST управляются с помощью программы Apex2. Программа Apex2 предназначена для работы с низкомолекулярными соединениями (молекулярная масса менее 1000 а.е.). Данная программа обеспечивает следующие возможности: – установка режимов измерения: параметров источника рентгеновского излучения, времени измерения и т.д.; – отображение и обработка дифракционных данных включает автоматическое индицирование дифрактограмм, автоопределение типа элементарной ячейки, разрешение пиков, масштабирование; – прецизионное определение параметров элементарной ячейки; – редактор отчётов о проделанных измерениях, включая условия проведения экспериментов и параметры элементарной ячейки с указанием погрешности. Для определения параметров элементарной ячейки анализируемого образца используется следующая последовательность действий: позиционирование образца с визуальным наблюдением через видеокамеру, измерение, определение параметров элементарной ячейки на основе полученных дифрактограмм. Дифрактометр рентгеновский монокристальный D8 QUEST имеет защиту программного обеспечения от преднамеренных или непреднамеренных изменений. Уровень защиты «С» по МИ 3286-2010. Основные технические характеристики: Диапазон углового перемещения образца по оси ?,° 360 Диапазон углового перемещения образца по оси ?,° –270… 270 Диапазон углового перемещения блока детектирования (2?),° –148… 159 Точность позиционирования осей 2? и ?,° 0,005 Воспроизводимость положения осей 2? и ?,° 0,0002 Пределы допускаемой основной абсолютной погрешности измерения параметров элементарной ячейки, A ±0,01" 287;Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет);Дифрактометр рентгеновский порошковый Rigaku Ultima IV;Дифрактометр RIGAKU Ultima IV имеет функцию полностью автоматической юстировки гониометра. В дифрактометре Rigaku Ultima IV реализованы все возможные на сегодняшний день опции и приставки для дифрактометров для решения широкого круга задач. Дифрактометр имеет возможность проводить анализ методом малоуглового рентгеновского рассеяния (SAXS) и анализ в плоскости (In-plane). Опция SAXS необходима для исследования наноструктурных материалов. Для лучшего понимания всей морфологии наноструктурной системы необходим анализ и малоуглового и большеуглового диапазона углов кривой рассеивания. Малоугловое рассеивание применяется для определения дальнего порядка, включая определение взаимодействия между частицами и их размер. Большеугловой диапазон открывает фазовый состав анализируемого материала, размер кристаллитов, степень кристаллизации и др. Оба эти метода, также как и другое аналитическое оборудование, помогает охарактеризовать физические размеры наночастиц. SAXS-опция также расширена и для режима отражения при исследовании размера частиц и пор в тонких пленках на подложках, в том числе и в поверхности жидкостей. Приставка In-plane с вращением детектора параллельно поверхности анализируемого образца также расширяют возможности анализа тонких пленок. Такие исследования могут помочь в построении функции фазового состава по глубине анализируемого слоя, в определении преимущественных ориентировок, внутренних напряжений и пр. Ultima IV имеет возможность быстрого изменения схемы фокусировки: расходящегося / параллельного пучка. Новая перекрестная оптика (комбинированная оптическая система) позволяет использовать либо одну, либо другую схему фокусировки в одном оптическом модуле. А изменение схем происходит одним быстрым поворотом фокусирующего зеркала с изогнутой поверхности на плоскую без какой-либо другой дополнительной перестройки оборудования. Основные технические характеристики: Рентгеновская трубка Cu, Fe, Cr, Mo, мощность 1,5-2,5 кВт Мощность генератора 3 кВт Геометрия гониометра Вертикальный, Тета -Тета Радиус гониометра 185 – 285 мм Минимальный шаг (2?) 0,0001° Щели расходимости Автоматические до 20 мм Юстировка рентгеновской оптики Автоматическая 288;Северо-Кавказский федеральный университет;Рентгеновский дифрактометр ARL Xtra (Thermo Fisher Scientific);Предназначен для качественного и количественного рентгенофазового анализа образцов различной морфологии, изучения толщин и фазового состава тонких плёнок, исследования твердофазных реакций и реакций «твёрдое тело – газ», сбора данных для решения и уточнения кристаллических структур, исследования текстурирования образцов, проведения низко- и высокотемпературных исследований (от температуры «жидкого гелия» до 2300 0C). 289;Южный федеральный университет;Дифрактометр рентгеновский порошковый с опциями ARL X TRA;Предназначен для общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии 290;Воронежский государственный архитектурно-строительный университет;"Специализированный комплекс оборудования для анализа структуры строительных материалов (анализатор гранулометрический FRITISCH; порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X,TRA)";"•определение одной или нескольких фаз в неизвестной пробе; •количественное определение известных фаз в смеси; •определение структуры кристаллов и параметров элементарной ячейки; •анализ поведения вещества в различных газовых средах, если структура кристаллов изменяется при изменении температуры, давления или газовой фазы;•анализ поверхности и тонких пленок;•анализ текстуры, возникающей в условиях прокатки, волочения" 291;Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.;Дифрактометр ARL X’TRA (Thermo Fisher Scientific);"Определение фазового состава пробы; Количественное определение известных фаз в смеси; Кристаллография, определение и уточнение структуры кристаллов" 292;Челябинский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 (Буревесник);Структурный анализ порошковых материалов 293;Юго-Западный государственный университет;Дифрактометр малоуглового рентгеновского рассеяния SAXSess mc2 (Anton Paar);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области дифрактометрии 294;Юго-Западный государственный университет;Рентгеновский порошковый дифрактометр GBC EMMA с высокотемпературной камерой (до 1600 С);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области порошковой дифрактометрии 295;Санкт-Петербургский государственный университет;Дифрактометр высокого разрешения Bruker D8 Discover;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области классической дифрактометрии 296;Санкт-Петербургский государственный университет;Монокристальный дифрактометр высокого разрешения R-AXIS RAPID II (Rigaku Corporation);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области монокристальной дифрактометрии 297;Санкт-Петербургский государственный университет;Монокристальный дифрактометр KAPPA APEX II (Bruker);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области монокристальной дифрактометрии 298;Санкт-Петербургский государственный университет;Дифрактометр высокого разрешения с температурными приставками Ultima IV (Rigaku);Предназначен для прецизионного определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических и керамических, материалов, в том числе, с высоким содержанием железа. Пакет программ PDXL – предоставляет возможность проведения различного анализа, например, автоматический качественный фазовый анализ, количественный фазовый анализ, уточнение параметра решетки. 299;Санкт-Петербургский государственный университет;Монокристальный дифрактометр общего назначения Xcalibur Е;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области монокристальной дифрактометрии 300;Санкт-Петербургский государственный университет;Настольный дифрактометр D2 Phaser (Bruker);Предназначен для проведения экспериментов в области дифрактометрии 301;Санкт-Петербургский государственный университет;Настольный дифрактометр MiniFlex II (RIGAKU);Предназначен для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов. В комплекс входит также учебный класс из шести компьютеров с профильным программным обеспечением 302;Санкт-Петербургский государственный университет;Монокристальный дифрактометр SuperNova;Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии 303;Санкт-Петербургский государственный университет;Дифрактометр рентгеновский монокристальный Smart Apex II (Bruker);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии 304;Петрозаводский государственный университет;Дифрактометр Kristalloflex Siemens 5000;Проведение исследований структуры и состава веществ 305;Иркутский национальный исследовательский технический университет;Рентгеновский дифрактометр XStress3000 (Stresstech);Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии 306;Челябинский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE BRUKER;Рентгеноструктурный анализ многофазных материалов 307;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima IV;Качественный и количественный анализ кристаллических фаз. Структурный анализ. Определение размеров нанокристаллитов. Анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления с использованием соответствующих камер Быстрый анализ с примнением позиционно-чувствительного детектора Автоматический режим сбора данных 308;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Дифрактометр рентгеновский D8 Advance (Bruker Corporation);Измерение дифрактограмм порошковых образцов в широком диапазоне, фазовый и структурный анализ, изучение структурных фазовых превращений 309;Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова;Рентгеновский порошковый дифрактометр STADI P (STOE), излучение CoK;Порошковый дифрактометр оборудован рентгеновской трубкой с медным анодом, монохроматором из германия, изогнутым по Иоганну, держателем образцов с вращением, линейным детектором. Съемка образцов может осуществляться в интервале углов 2тета от 0 до 130 градусов с шагом от 0.005. 310;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S с вертикальным высокоточным гониометром;Изучение фазового состава, гониометр с шагом 0.00010 с размером образца до 400 мм х 550 мм х 400 мм - Переменный радиус от 200 до 275 мм 311;ФГУП «Государственный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт химических реактивов и особо чистых химических веществ»;Дифрактометр рентгеновский GBC eMMA;Дифрактометры рентгеновские EMMA предназначены для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов. 312;ФГУП Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4;научно-исследовательское/технологическое (рентгеноструктурный анализ материалов) 313;ФГУП Центральный научно-исследовательский институт черной металлургии им. И.П. Бардина;Дифрактометр Гейгерфлекс D-maх (рентгеновский);Лабораторное (для выполнения НИР и ОТР) 314;Северо-Восточный федеральный университет имени М.К. Аммосова;Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA ThermoScientific;"Функциональные особенности. Определение фазового состава пробы; Количественное определение известных фаз в смеси; Кристаллография, определение и уточнение структуры кристаллов; Определение микроструктуры." 315;Тюменский индустриальный университет;Аппаратно-программный комплекс для управления дифрактометром Дрон-ЗМ;Предназначен для управления дифрактометром “Дрон-ЗМ” 316;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD 7000;Предназначен для проведения измерений дифрактометрическим методом 317;Национальный исследовательский Томский политехнический университет;Рентгеновский порошковый дифрактометр ARLXTRA;Предназначен для проведения дифрактометрических исследований 318;Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М;Проведение рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов, прецизионное определение параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью. 319;Московский государственный университет тонких химических технологий им. М.В. Ломоносова;Рентгеновский дифрактометр порошковый ARL XTRA (Thermo Scientific);Предназначен для рентгеновского фазового и рентгеновского структурного анализов. Обеспечивает исследование металлических сплавов, керамик, органических и полимерных материалов в различных формах. Возможно исследование порошков, массивных образцов и пленок (толщиной не менее 10 мкм) любых материалов. Полная автоматизация прибора и высокая защищенность персонала от воздействия рентгеновского излучения позволяет использовать его как в научных, так и в учебных целях. Прибор отличает высокая надежность и точность измерений. 320;Московский государственный университет тонких химических технологий им. М.В. Ломоносова;Монохроматор к рентгеновскому порошковому дифрактометру XRD-6000 (Shimadzu);Исследование фазового состава порошков, пленочных покрытий, компактных материалов, изучение напряженно-деформированного состояния материалов и другое. 321;Московский государственный университет тонких химических технологий им. М.В. Ломоносова;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2;Предназначен для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. 322;Воронежский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр PANalytical Empyrean;Определение структурных характеристик твердых материалов, исследования химического и фазового состава тонких пленок и наноматериалов, исследования их кристаллической структуры. 323;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр в комплекте с монохроматором, низкотемпературной камерой и азотной низкотемпературной системой;аналитически-испытательное оборудование 324;Национальный исследовательский Томский государственный университет;Дифрактометр рентгеновский X PERT PRO MRD;аналитически-испытательное оборудование 325;Тюменский индустриальный университет;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 (Буревестник);Рентгеноструктурный анализ, возможно определение остаточных напряжений 326;Казанский (Приволжский) федеральный университет;Дифрактометр монокристальный рентгеновский KAPPA APЕХ (Bruker);Проведение фундаментальных и прикладных исследований. 327;Липецкий государственный технический университет;Дифрактометр рентгеновский Дрон-4-13, 101040001281;Рентгеноструктурный анализ 328;Российский университет дружбы народов;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 для поликристаллических материалов;Ренгенофазовый анализ поликристаллических материалов. Исследование нано(микроструктуры) поликристаллических материалов (металлов, катализаторов, полупроводников и др.), влияния различных технологических обработок на микроструктуру и свойства материалов. Полиморфизм. 329;Южный федеральный университет;Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-7;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 330;Ухтинский государственный технический университет;Настольный рентгеновский дифрактометр;Многофункциональный дифрактометр широкого назначения, предназначенный для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов 331;Пермский государственный национальный исследовательский университет;Дифрактометр компактный настольный порошковый для фазового анализа D2 PHASER;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 332;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Рентгеновский порошковый дифрактометр D2 Phaser Bruker AXS;для проведения фазового анализа материалов 333;Московский педагогический государственный университет;Порошковый рентгеновский дифрактометр EMMA;Высоковольтный генератор типа IGBT, среднечастотный, мощность 3кВт (60кВ / 80 мА), стабильность Ѓ}0,005% при изменении внешнего напряжения на10%. Рентгеновская трубка керамическая или стеклянная трубкаматериал анода по умолчанию: Cu, размер фокального пятна – 0.4?12 мм возможные опции: Co, Cr, Fe, мощность: 2.2 кВт Гониометр Twin co-axial Harmonic gearbox, независимые оси, минимальный шаг по каждой оси – 0,002° воспроизводимость: менее 0,0001° отсутствует гистерезис положения, радиус гониометра: 180-250мм диапазон 2q: -30-160° (зависит от конфигурации) Применение для качественного и количественного фазового анализа Качественный и количественный фазовый анализ проводится в фокусирующей геометрии Брэгга- Брентано, с использованием Xe-газонаполненного детектора и графитового вторичного монохроматора, или твердотельного детектора. Представлен пример рентгенофазового анализа минеральных соединений на примере месторождений курской области. 334;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Рентгеновский дифрактометр;Рентгеноструктурный анализ 335;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Портативный рентгеновский дифрактометр;"Портативный рентгеновский дифрактометр «Промконтроль» предназначен для проведения рентгеносруктурного анализа материалов. Дифрактометр позволяет проводить анализ образцов произвольной формы с одной плоской поверхностью, материалов с различным размером зерна, сыпучих проб; проволочных образцов или столбиков (диаметром не более 6 мм); микрообразцов (по методу Гондольфи)." 336;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Настольный порошковый дифрактометр D2 PHASER BRUKER;Для проведения фазового анализа материалов 337;Московский педагогический государственный университет;Дифрактометр рентгеновсий ДРОН-7 c высокотемпературной камерой Anton Paar HTK-1200;Рентгеновский дифрактометр предназначен для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного кристаллическим объектом, при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов. Управление прибором осуществляется от персонального ПК. Прибор оборудован съёмной высокотемпературной камерой Anton Paar HTK-1200, позволяющей проводить измерения в вакууме при температурах до 12000С. 338;Югорский государственный университет;Комплект рентгеновского дифрактометра Х^Pert Pro;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 339;Мордовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.П. Огарёва;Рентгеновский дифрактометр исследовательского типа Еmруrеаn;Для исследования кристалографической структуры материалов 340;Мордовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.П. Огарёва;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6;Для рентгеновского исследования материалов 341;Южный федеральный университет;Дифрактометр ARL X’TRA;Универсальный неразрушающий метод анализа, предоставляющий информацию о структуре и фазовом составе материалов. 342;Южный федеральный университет;Дифрактометр ДРОН-7;Рентгенодифракционные исследования любых поликристаллических материалов. 343;Сахалинский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000;Количественный и качественный рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ 344;Дагестанский государственный технический университет;Дифрактометр рентгеновский ДРОН 4-28;Широкий круг рентгеноструктурных исследований в условиях лаборатории 345;Южный федеральный университет;Рентгеновский дифрактометр Ultima IV;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 346;Новосибирский государственный технический университет;Дифрактометр быстрых электронов;Составная часть установки МЛЭ 347;Российский государственный геологоразведочный университет им. Серго Орджоникидзе;Модернизированный Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4-07 с заменой штатной автоматики микропроцессорной системой автоматизации на базе IBM PC;Установка предназначена для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов. 348;Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет);Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Качественный и количественный рентгенофазовый анализ многокомпонентных сплавов, сложных солевых и оксидных систем, керамических материалов, графитовых материалов. Исследование областей твердых растворов в различных системах путем индицирования рентгенограмм и прецизионного определения параметров элементарных ячеек.Изучение толщины покрытий (3...50 мкм) по поглощению рентгеновских лучей, включая измерения на анодных оксидных пленках, покрытиях графита, металлов и др. Анализ внутренних микронапряжений в образцах металлов и сплавов с применением современных методов профильного анализа. Измерение размеров блоков когерентного рассеяния материалов, размеров частиц высокодисперсных порошков (10...100 нм). 349;Уфимский государственный авиационный технический университет;Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima IV;Многоцелевой рентгеновский дифрактометр с горизонтальным расположением исследуемого образца и функцией автоматической юстировки предназначен для фазового и количественного анализа структуры, анализа тонких пленок, малоуглового рентгеновского рассеяния (SAXS) и др. Оснащен специальной функцией SAXS предназначенной для исследования наноструктурных материалов. 350;Пензенский государственный университет архитектуры и строительства;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 351;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S (Shimadzu);Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 352;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Дифрактометр рентгеновский настольный в комплекте со стендами (3шт) и трубкой рентгеновской;"Исследование микро- и наноструктур и контроль над их получением. Исследование различных твердых материалов, веществ и изделий, имеющих кристаллическую структуру с целью определения их параметров; Изучения профиля дифракционных пиков; Измерение остаточных напряжений в материале; Исследование тонких пленок; Кристаллографические исследования." 353;Национальный исследовательский университет (МЭИ);Система автоматизации измерений и сбора информации САРДОН;Система автоматизации измерений и сбора информации САРДОН предназначена для модернизации рентгеновского дифрактометра общего назначения ДРОН-3 и перевода его на цифровую форму управления и сбора результатов измерений. Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 используется при сьемке порошковых рентгенограмм широкого круга неорганических кристаллических веществ с целью определения фазового состава материалов и измерения величины постоянной кристаллической решетки. 354;Воронежский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA (Thermo Fisher Scientifics);Проводение качественного и количественного фазового анализа сплавов, порошков, кристаллов с автоматическим поиском по дифрактометрической базе данных ICDD по элементам и существующим соединениям. Исследование кинетики фазовых превращений сплавов, порошков, кристаллов при изменении температуры до 1000 0С в вакууме. Проведение фазового анализа с возможностью вращения образцов (для образцов с текстурой). Проведение фазового анализа тонких пленок на подложке с исключением влияния подложки. 355;Ярославский государственный технический университет;Рентгеновский дифрактометр «Дрон»;Рентгеноструктурный анализ фазового состава вещества. 356;Курганский Государственный Университет;ДИФРАКТОМЕТР ИФ-124;Исследование спектра пространственных частот электронно - микроскопических идругих изображений, зарегистрированных на негативных фотоматериалах, а также для преобразования и улучшения качества изображения путем фильтрации пространственных частот 357;Новосибирский государственный технический университет;Система анализа дифракции отраженных электронов HKL Premium EBSD System;Для получения кристаллографической информации одновременно с получением изображений в реальном времени с разрешением 0.5мкм. 358;Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта;Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker AXS);"Предназначен для прецизионного исследования материалов микро- и наноэлектроники. Позволяет проводить рентгенодифракционные исследования материалов, в том числе методами дифрактометрии высокого и низкого разрешения, построения карт обратного пространства, рефлектометрии, дифрактометрии высокого разрешения под скользящими углами, и исследования текстуры и напряжений в автоматическом режиме, с целью обеспечить:XRDфазовый и структурный анализ твердых тел (порошки, поликристаллы);исследование морфологии межслойных границ в многослойных структурах, с толщинами слоев вплоть до нескольких монослоев;изучение особенностей морфологии поверхности и приповерхностных слоев по глубине (от десятых долей нанометра);изучение структурных превращений в твердых растворах." 359;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Исследование рентгено-фазового состава образцов материалов в том, числе при нагревании. 360;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3;Исследование рентгено-фазового состава образцов. 361;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-4;Исследование рентгено-фазового состава образцов. 362;Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3М;Исследование ренгено-фазового состава образцов. 363;Рязанский государственный университет им. С.А. Есенина;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3;Для исследования рентгеновского спектра различных материалов. 364;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (НИУ ИТМО);Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku);Предназначен для пределения размеров нанокристаллитов, анализа структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления. Быстрый анализ с применением позиционно-чувствительного детектора Автоматический режим сбора данных и дальнейшая обработка результатов программным пакетом 365;Северный (Арктический) федеральный университет им. М.В. Ломоносова;Дифрактометр рентгеновский Shimadzu XRD-7000S;Обнаружение и идентификация кристаллических фаз в твердых образцах. Область применения - геология, анализ строительных материалов, металлургия. 366;Северо-Осетинский государственный университет им. Коста Левановича Хетагурова;Дифрактометр рентгеновский Дрон-3;измерение интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Решение различных задач рентгеновского структурного анализа. 367;Национальный исследовательский Московский государственный строительный университет;Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Проведение качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД), для определения степени кристалличности, кристаллографического анализа, анализа тонких пленок и следов фаз 368;Оренбургский государственный университет;Дифрактометр рентгеновский МД-10;Обеспечивает неразрушающий метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических веществ 369;Нижегородский государственный архитектурно-строительный университет;Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-4-07;Установка предназначена для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов 370;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Система для анализа кристаллографических текстур в составе.;Анализ кристаллографических текстур 371;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Дифрактометр рентгеновский X`Pert PRO MPD;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 372;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Дифрактометр порошковый ARL X TRA (Thermo Electron Corporation);Для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД) 373;Белгородский государственный национальный исследовательский университет;Дифрактометр многофункциональный рентгеновский Ultima IV (Rigaku);"Проведение качественного и количественного фазового анализа (в том числе база данных дифрактограмм);" 374;Пермский национальный исследовательский политехнический университет;Ренгеновский дифрактометр с вертикальным гониометром;многоцелевое назначение: малоугловое рентгеновское рассеивание, анализ в плоскости 375;Тюменский государственный университет;Дифрактометр общего назначения ДРОН-3;Исследование крупногабаритных объектов различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям. 376;Тюменский государственный университет;Дифрактометр общего назначения ДРОН-6;Исследование крупногабаритных объектов различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям. 377;Тюменский государственный университет;Дифрактометр общего назначения ДРОН-7;Исследование крупногабаритных объектов различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям. 378;Ивановский государственный университет;Дифрактометр рентгеновский малоугловой КРМ-1 с линейным координатным детектором РКД-1.;Предназначен для дифракционных исследований в малоугловом диапазоне наноструктурированных материалов различной природы. Пригоден для рефлектометрии слоистых систем с малым числом слоев. 379;Дальневосточный федеральный университет;Порошковый рентгеновский дифрактометр D8 Advance;• Проведение качественного и количественного анализа кристаллических фаз, • Установление кристаллической структуры неорганических, органических, элементоорганических и металлокомплексных соединений в поликристаллической форме, состава поликристаллических материалов, степени кристалличности полимеров. • Анализ веществ в порошковом виде Возможные исследования: • исследования состава ЭОС, • исследования физико-химических характеристик ЭОС и материалов на их основе. 380;Российский университет дружбы народов;Рентгеновский дифрактометр Rigaku «Ultima IV»;Инструмент общего применения, предназначенный преимущественно для исследований в материаловедении, разработках в области полупроводников, нанотехнологий, а также для обеспечения качества в производстве. Фазовый анализ проб, количественный фазовый анализ проб, определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений, текстурный анализ и анализ макронапряжений, малоугловое рентгеновское рассеяние. 381;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Настольный анализатор качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов MiniFlex 600;"Эта новая установка пятого поколения представляет собой рентгеновский дифрактометр общего назначения, позволяющий проводить качественный и количественный анализ поликристаллических материалов. Модель MiniFlex 600 позволяет быстрее проводить анализ и повышает общую производительность за счет большей мощности рентгеновской трубки. Настольный дифрактометр MiniFlex 600 состоит из двух частей ? сам дифрактометр и автономная система охлаждения. С помощью установки возможно решение, например, следующих задач:-контроль исходного сырья для получения катализаторов, анализ фазового состава алюмосиликатов, силикатов, цеолитов, а также катализаторов на их основе;-изучение влияния условий синтеза катализаторов, природы и количества допирующих компонентов на степень кристалличности и аморфности, качественный и количественный фазовый состав конечных продуктов;-изучение влияния количественного и качественного фазового состава катализаторов на их эффективность: выход целевых продуктов, селективность и т.д." 382;Российский государственный университет нефти и газа им. И.М. Губкина;Многофункциональный стационарный дифрактометр SmartLab;Многофункциональный стационарный дифрактометр SmartLa предназначен для изучения структуры и свойств глинистых минералов, а также иных кристаллических веществ в порошковых пробах 383;Сибирский государственный индустриальный университет;Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD-6000;"Прибор предназначен для стандартного рентгеноструктурного анализа поликристаллических материалов. Позволяет анализировать параметры структуры и фазовый состав объемных материалов и тонких пленок; управлять процессом рентгеновской съемки и обрабатывать полученные рентгенограммы с помощью компьютера. Применяется для исследования керамик, огнеупоров, строительных материалов, объектов окружающей среды, отходов, черных, цветных, благородных металлов, химикатов, катализаторов, фармацевтических препаратов, природных ресурсов (угля, торфа, руды, минералов)." 384;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Дифрактометр рентгеновский порошковый EQUINOX 3000;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 385;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Дифрактометр рентгеновский D8 Advance (Bruker);Измерение дифрактограмм порошковых образцов в широком температурном диапазоне, фазовый и структурный анализ, изучение структурных фазовых превращений. 386;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Дифрактометр рентгеновский D8 ADVANCE (Bruker);Предназначен для измерения дифрактограмм порошковых образцов в широком температурном диапазоне, фазовый и структурный анализ, изучение структурных фазовых превращений. 387;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Узлы и приставки к порошковому многофункциональному дифрактометру;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 388;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Монокристальный дифрактометр со сменными детекторами;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 389;Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена;Рентгеновский дифрактометр «ДРОН-7»;Точное измерение и обработка результатов дифрактометрии, количественный фазовый анализ 390;Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королёва;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7;"Рентгеновский дифрактометр применяется при решении аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения: создание новых кристаллических материалов; определение структурных характеристик и анализ степени чистоты кристаллических материалов; разработка технологии получения материалов с заданными свойствами; определение ориентировки монокристаллических заготовок; исследование степени текстурированности и анализ дефектности тонких пленок; анализ фазового состава сырья, продукции и промышленных отходов; исследование фазовых превращений и химических реакций; анализ термических деформаций и изменение структурных характеристик кристаллических материалов" 391;Тюменский государственный университет;Аппаратно - программный комплекс для управления дифрактометром “Дрон - ЗМ”;Выполнение всех штатных функций управления дифрактометром “Дрон – 3М. Обеспечение возможности ручного и автоматического управления гониометром. Обеспечение всех режимов съёмки в соответствии со штатными возможностями дифрактометра, регистрация и обработка результатов съемки. Обеспечение всех функций аппаратно-программного комплекса. 392;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Дифрактометр рентгеновский порошковый ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы. Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы. 393;Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;Малоугловой ренгеновский дифрактометр;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 394;Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М.Бербекова;Компактный настольный порошковый дифрактометр D2 PHASER;Предназначен для проведения струкурных и фазовых исследований порошков. 395;Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М.Бербекова;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6 (Буревестник);Предназначен для проведения рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа с обработкой дифрактограмм в программном пакете PDWin 4.0 396;Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М;Рентгеноструктурный анализ кристаллических материалов. Проведение качественного и количественного анализа, определение периода решетки, определение размера ОКР и микродеформаций, другие виды анализов 397;Брянский государственный университет им. академика И.Г. Петровского;Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7.0;Применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии материалов, исследования реальной структуры монокристаллов. 398;Воронежский государственный технический университет;Электронограф ЭГ-100М;"Предназначен для исследования атомной структуры веществ. Он позволяет исследовать структуру:- твердых веществ методом дифракции электронов в проходящих и отраженных лучах;- молекул газов и легколетучих веществ в проходящих лучах; веществ при охлаждении и нагреве." 399;Воронежский государственный технический университет;Рентгеновский дифрактометр ДРОН 4-07;"Дифрактометр позволяет: - проводить исследования общего характера (фа-зовый анализ, исследование твердых растворов, оп-ределение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и др.); - получать полный набор интегральных значений скоростей счета импульсов рентгеновского излучения при отражениях от монокристаллов; - определять ориентацию срезов монокристаллов; - исследовать текстуры." 400;Московский государственный технологический университет СТАНКИН;Рентгеновский дифрактометр EMPYREAN (PANALYTICAL);Предназначен для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте 401;Казанский национальный исследовательский технологический университет;Дифрактометр порошковый D2 Phaser, Bruker;Прибор предназначен для измерения интенсивности и направления излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Объектом исследования является порошок. 402;Северо-Кавказский федеральный университет;Дифрактометр рентгеновский ARL X’TRA;Обеспечивает исследование металлических сплавов, керамик, органических и полимерных материалов в различных формах. Возможно исследование порошков, массивных образцов и пленок (толщиной не менее 10 мкм) любых материалов. 403;Северо-Осетинский государственный университет им. Коста Левановича Хетагурова;Рентгеновский дифрактометр XRD-7000;Предназначен для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа 404;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-7000 (Shimadzu);"Предназначен для прецизионного определения параметров кристаллической решетки порошковых проб; определение соотношения аморфной и кристаллической фаз. Область применения: минералогия, металлургия, разработка новых материалов." 405;Национальный минерально-сырьевой университет Горный;Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu) с высокотемпературной камерой НА1001;"Предназначен для высокотемпературной дифрактометрии в вакууме, инертном газе, воздухе до 1300?С; прецизионное определение параметров кристаллической решетки порошковых проб; определение соотношения аморфной и кристаллической фаз. Область применения: Минералогия, металлургия, разработка новых материалов." 406;Уральский федеральный университет им. Ельцина Б.Н.;Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker);Обеспечивает возможность проведения рентгеноструктурного анализа в широком диапазоне углов отражения в автоматическом режиме. 407;Астраханский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр Дрон-3;Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы 408;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Дифрактометр рентгеновский DSO-2V2;Дифрактометр рентгеновский 409;Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева;Дифрактометр для фазового и структурного анализа;Фазовый и структурный анализ исходных материалов 410;Санкт-Петербургский государственный архитектурно-строительный университет;Настольный порошковый рентгеновский дифрактометр D2Phazer;качественный, количественный фазовый анализы 411;Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова;Дифрактометр порошковый рентгеновский ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific);Предназначен для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД), для определения степени кристалличности, кристаллографического анализа, анализа тонких пленок и следов фаз 412;Уфимский государственный нефтяной технический университет;Рентгеновский дифрактометр D2 Phaser;Рентгеноструктурный анализ состава материалов 413;Рыбинский государственный авиационный технический университет им. П. А. Соловьева;Рентгеновский дифрактометр общего назначения ДРОН-3;Рентгеноструктурные исследования в области физики твердого тела, химии, геологии 414;Воронежский государственный архитектурно-строительный университет;Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X,TRA;Проведение рентгенофазового и рентгеноструктурного анализов в области химии, минералогии, материаловедении, черной и цветной металлургии, машиностроении, фармакалогии. 415;Дагестанский государственный университет;Рентгеновский дифрактометр Emperyan (PANanalytical B.V.);Выполнение качественного и количественного фазового и морфологического анализа порошковых и кристаллических наноструктурированных материалов искусственного и природного происхождения. 416;Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления;Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7;Качественный анализ фазового состава материалов, продукции, сырья и промышленных отходов